JPS6230162U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6230162U JPS6230162U JP12096685U JP12096685U JPS6230162U JP S6230162 U JPS6230162 U JP S6230162U JP 12096685 U JP12096685 U JP 12096685U JP 12096685 U JP12096685 U JP 12096685U JP S6230162 U JPS6230162 U JP S6230162U
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- JP
- Japan
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- semiconductor integrated
- power supply
- integrated circuit
- ammeter
- pulse generator
- Prior art date
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Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図は本考案の実施例である半導体集積回路
試験装置のブロツク図、第２図ａ〜ｇは第１図の
本考案の動作原理を説明するための波形図である
。 １…電源、２…試料、３…切替器、４…電流計
、５…切替器、６…パルス発生器、７…制御装置
。
試験装置のブロツク図、第２図ａ〜ｇは第１図の
本考案の動作原理を説明するための波形図である
。 １…電源、２…試料、３…切替器、４…電流計
、５…切替器、６…パルス発生器、７…制御装置
。
Claims (1)
- 半導体集積回路のラツチアツプ試験装置におい
て、半導体集積回路の電源端子にバイアスを印加
する電源と、半導体集積回路の入出力端子にパル
ス電流を印加するパルス発生器と、パルス電流を
検知する電流計及び電流値を記録する記録計と、
試験端子を選択する切替器と、電源、パルス発生
器、電流計、切替器を制御する制御装置とを有す
ることを特徴とする半導体集積回路試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12096685U JPS6230162U (ja) | 1985-08-07 | 1985-08-07 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12096685U JPS6230162U (ja) | 1985-08-07 | 1985-08-07 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6230162U true JPS6230162U (ja) | 1987-02-23 |
Family
ID=31009784
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12096685U Pending JPS6230162U (ja) | 1985-08-07 | 1985-08-07 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6230162U (ja) |
-
1985
- 1985-08-07 JP JP12096685U patent/JPS6230162U/ja active Pending
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