JPS6230380A - 電界効果型トランジスタ - Google Patents
電界効果型トランジスタInfo
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- JPS6230380A JPS6230380A JP4798385A JP4798385A JPS6230380A JP S6230380 A JPS6230380 A JP S6230380A JP 4798385 A JP4798385 A JP 4798385A JP 4798385 A JP4798385 A JP 4798385A JP S6230380 A JPS6230380 A JP S6230380A
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- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor layer
- field effect
- conductivity type
- effect transistor
- laminate
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、電界効果型トランジスタに関する。
従来の技術
電界効果型トランジスタとして、従来、第18図を伴な
って次に述べる構成を有するものが提案されている。
って次に述べる構成を有するものが提案されている。
すなわち、例えばGaASでなる半絶縁性半導体基板1
上に、n型不純物及びn型不純物のいずれもドープされ
ていない(n型不純物及びn型不純物のいずれも積極的
にドープさせることなしに形成されている)、または例
えば11014ato 7cm”以下というような十分
低いn型不純物濃度を有する、例えば、GaAsでなる
n型またはp型の半導体層11と、その半導体層11に
比し広い禁制帯幅を有し且つ半導体層11に比し高い不
純物濃度を右する、例えばAI Ga As(0
<x<1)でなるn型のX 1−x 半導体層12とが、それらの順に積層されている構成の
積層体10が形成されている。
上に、n型不純物及びn型不純物のいずれもドープされ
ていない(n型不純物及びn型不純物のいずれも積極的
にドープさせることなしに形成されている)、または例
えば11014ato 7cm”以下というような十分
低いn型不純物濃度を有する、例えば、GaAsでなる
n型またはp型の半導体層11と、その半導体層11に
比し広い禁制帯幅を有し且つ半導体層11に比し高い不
純物濃度を右する、例えばAI Ga As(0
<x<1)でなるn型のX 1−x 半導体層12とが、それらの順に積層されている構成の
積層体10が形成されている。
しかして、その積層体1oの半導体層12上に、その幅
を横切って延長しているゲート電極20が、半導体層1
2との間でショットキ接合21を形成するように、スト
ライプ状に、局部的に、形成されている。 − また、積層体10の半導体層12上に、ゲート電極20
を挟んだ両位置において、ソース電極22及びドレイン
電極23が、半導体層12とオーム接触するように、そ
れぞれ形成されている。
を横切って延長しているゲート電極20が、半導体層1
2との間でショットキ接合21を形成するように、スト
ライプ状に、局部的に、形成されている。 − また、積層体10の半導体層12上に、ゲート電極20
を挟んだ両位置において、ソース電極22及びドレイン
電極23が、半導体層12とオーム接触するように、そ
れぞれ形成されている。
以上が、従来、提案されている電界効果型トランジスタ
の構成である。
の構成である。
このような構成を有する電界効果型トランジスタによれ
ば、ゲート電極20及びソース電極22間に、ゲート電
圧が印加されていない状態で、または、ゲート電極20
側を負とするゲート電圧が所定の値(閾値電圧Vt)以
上の値で印加されている状態では、半導体層12とグー
1〜電極20との間のショットキ接合21から、半絶縁
性半導体基板1側に向って、半導体層11まで広がって
いる空乏層のために、半導体層11の半導体層12側に
は電子ガス層が形成されておらず、このため、ソース電
極22及びドレイン電極23間は、オフの状態である。
ば、ゲート電極20及びソース電極22間に、ゲート電
圧が印加されていない状態で、または、ゲート電極20
側を負とするゲート電圧が所定の値(閾値電圧Vt)以
上の値で印加されている状態では、半導体層12とグー
1〜電極20との間のショットキ接合21から、半絶縁
性半導体基板1側に向って、半導体層11まで広がって
いる空乏層のために、半導体層11の半導体層12側に
は電子ガス層が形成されておらず、このため、ソース電
極22及びドレイン電極23間は、オフの状態である。
しかしながら、このような状態から、ゲート電極20及
びソース電極22間に、ゲート電極20側を正とするゲ
ート電圧を印加させるか、または、ゲート電極20及び
ソース電極22間にゲート電極20側を負として印加し
ているゲート電圧の値を正方向に閾値電圧Vtよりも大
とすれば、ショットキ接合21から、半導体層11の半
導体Fi12側まで広がっている空乏層が、ショットキ
接合21側に後退するため、半導体層12側からの電子
が半導体層11の半導体層12側に蓄積する機構で、半
導体層11の半導体層12側に電子ガス層24が形成さ
れるため、ソース電極22及びドレイン電極23間がオ
ン状態になる。
びソース電極22間に、ゲート電極20側を正とするゲ
ート電圧を印加させるか、または、ゲート電極20及び
ソース電極22間にゲート電極20側を負として印加し
ているゲート電圧の値を正方向に閾値電圧Vtよりも大
とすれば、ショットキ接合21から、半導体層11の半
導体Fi12側まで広がっている空乏層が、ショットキ
接合21側に後退するため、半導体層12側からの電子
が半導体層11の半導体層12側に蓄積する機構で、半
導体層11の半導体層12側に電子ガス層24が形成さ
れるため、ソース電極22及びドレイン電極23間がオ
ン状態になる。
このため、ソース電極22及びドレイン電極23間に負
荷を通じて所要の電源を接続した状態で、ゲート電極2
0及びソース電極22間にゲート電圧を印加させること
によって、そのゲート電圧の値に応じて制御された電流
を、ソース電極22、ドレイン電(セ23及び電子ガス
層24を通じて、負荷に供給する、というnチレンネル
電界効果型トランジスタとしての機能が得られる。
荷を通じて所要の電源を接続した状態で、ゲート電極2
0及びソース電極22間にゲート電圧を印加させること
によって、そのゲート電圧の値に応じて制御された電流
を、ソース電極22、ドレイン電(セ23及び電子ガス
層24を通じて、負荷に供給する、というnチレンネル
電界効果型トランジスタとしての機能が得られる。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、上述した従来の電界効果型トランジスタ
の場合、ソース電極22及びドレイン電極23間がオン
状態であるときの、それらソース電極22及びトレイン
電極23間の内部抵抗が比較的高かったり、0荷に供給
する電流が小さな値でしかjqられなかったり、ゲート
電圧がある値以上になれば負荷に供給する電流が飽和し
たり、また、ゲート電圧がある値以上になれば、半導体
層12を通る電流が生じたりし、よって、ゲート電極2
0及びソース電極22間に印加するゲート電圧に応じて
有効に制御された電流を、負荷に、大なる値で、効果的
に供給することができない、という欠点を有していた。
の場合、ソース電極22及びドレイン電極23間がオン
状態であるときの、それらソース電極22及びトレイン
電極23間の内部抵抗が比較的高かったり、0荷に供給
する電流が小さな値でしかjqられなかったり、ゲート
電圧がある値以上になれば負荷に供給する電流が飽和し
たり、また、ゲート電圧がある値以上になれば、半導体
層12を通る電流が生じたりし、よって、ゲート電極2
0及びソース電極22間に印加するゲート電圧に応じて
有効に制御された電流を、負荷に、大なる値で、効果的
に供給することができない、という欠点を有していた。
また、上述した従来の電界効果型トランジスタの場合、
電子ガス層24が2次元電子ガス層として形成されるた
め、電子ガス層24に移動する電子が広がりを有する。
電子ガス層24が2次元電子ガス層として形成されるた
め、電子ガス層24に移動する電子が広がりを有する。
このため、電子ガス層24に移動する電子が、半導体層
11においてそれに含まれている不純物の散乱の影響を
受は易いため、電子ガス層24に移動する電子の移動度
を速くするのに一定の限度を有し、よって、電界効果型
トランジスタとしての機能を高速度で得るのに一定の限
度を有する、などの欠点を有していた。
11においてそれに含まれている不純物の散乱の影響を
受は易いため、電子ガス層24に移動する電子の移動度
を速くするのに一定の限度を有し、よって、電界効果型
トランジスタとしての機能を高速度で得るのに一定の限
度を有する、などの欠点を有していた。
問題を解決するための手段
よって、本発明は、上述した欠点のない、新規な電界効
果型トランジスタを提案せんとするものである。
果型トランジスタを提案せんとするものである。
本発明による電界効果型トランジスタは、次に述べる構
成を右する。
成を右する。
すなわち、半絶縁性半導体基板上に、■第1の導電型不
純物、及び第1の導電型不純物とは逆の第2の導電型不
純物のいずれもドープされていない、または十分低い不
純物濃度を有する第1または第2の導電型の第1の半導
体層と、■該第1の半導体層に比し広い禁制帯幅を有し
且つ上記第1の半導体層に比し高い不純物濃度を有する
第1または第2の導電型の半導体層とが、■上記第1の
半導体層と上記第2の半導体層との間に、上記第1の半
導体層に比し広い禁制帯幅を有し且つ第1の導電型不純
物、及び第2の導電型不純物のいずれもドープされてい
ない、または十分低い第1または第2の導電型不純物濃
度を有する第1または第2の導電型の第3の半導体層を
介挿して、または介挿することなしに、それらの順に積
層されている構成を有する積層体が形成されている。
純物、及び第1の導電型不純物とは逆の第2の導電型不
純物のいずれもドープされていない、または十分低い不
純物濃度を有する第1または第2の導電型の第1の半導
体層と、■該第1の半導体層に比し広い禁制帯幅を有し
且つ上記第1の半導体層に比し高い不純物濃度を有する
第1または第2の導電型の半導体層とが、■上記第1の
半導体層と上記第2の半導体層との間に、上記第1の半
導体層に比し広い禁制帯幅を有し且つ第1の導電型不純
物、及び第2の導電型不純物のいずれもドープされてい
ない、または十分低い第1または第2の導電型不純物濃
度を有する第1または第2の導電型の第3の半導体層を
介挿して、または介挿することなしに、それらの順に積
層されている構成を有する積層体が形成されている。
また、上記積層体上に、その幅を横切って延長している
ゲート電極が、■上記第2の半導体層と等しいか上記第
2の半導体層に比し狭い禁制帯幅を有し且つ第1の導電
型不純物、及び第2の導電型不純物のいずれもドープさ
れていない、または十分に低い第1または第2の導電型
不純物濃度を有する第3の半導体層を介して、または介
することなしに、且つ■空隙または比較的大なる誘電率
を有する絶縁層を介して、または介することなしに形成
されている。
ゲート電極が、■上記第2の半導体層と等しいか上記第
2の半導体層に比し狭い禁制帯幅を有し且つ第1の導電
型不純物、及び第2の導電型不純物のいずれもドープさ
れていない、または十分に低い第1または第2の導電型
不純物濃度を有する第3の半導体層を介して、または介
することなしに、且つ■空隙または比較的大なる誘電率
を有する絶縁層を介して、または介することなしに形成
されている。
さらに、上記積層体の上記ゲート電極を挟んだ両位置に
おいて、ソース電極及びドレイン電極がそれぞれ形成さ
れている。
おいて、ソース電極及びドレイン電極がそれぞれ形成さ
れている。
また、上記積層体に、その上記半絶縁性半導体基板側と
は反対側から、少なくとも上記グー1〜電極下において
、上記ソース電極及びドレイン電極を結ぶ方向に、上記
積層体の上記半絶縁性半導体基板側の半導体層に終絡す
る深さで、延長している、内面に上記ゲート電極が接し
ている複数の溝、または第2の1電型の゛複数の半導体
領域が、上記ソース電極及びドレイン電極を結ぶ方向に
延長している複数の積層体部を形成するように、上記ソ
ース電極及びドレイン電極を結ぶ方向と直交する方向に
配列して形成されている。
は反対側から、少なくとも上記グー1〜電極下において
、上記ソース電極及びドレイン電極を結ぶ方向に、上記
積層体の上記半絶縁性半導体基板側の半導体層に終絡す
る深さで、延長している、内面に上記ゲート電極が接し
ている複数の溝、または第2の1電型の゛複数の半導体
領域が、上記ソース電極及びドレイン電極を結ぶ方向に
延長している複数の積層体部を形成するように、上記ソ
ース電極及びドレイン電極を結ぶ方向と直交する方向に
配列して形成されている。
以上が、本発明による電界効果型トランジスタの構成で
ある。
ある。
作 用・効果
このような構成をイ1する本発明による電界効果型トラ
ンジスタによれば、第18図で上述した従来の電界効果
型トランジスタの゛場合に準じて、ゲート電極及びソー
ス電極間にゲート電圧を印加していない状態で、または
グー1〜電極側を負(または正)とするゲート電圧が所
定の閾値電圧以上で印加されている状態では第1の半導
体層には電子ガス層が形成されていないが、このような
状態から、ゲート電極及びソース電極間にゲート電極側
を正(または負)どするゲート電圧を印加さけるか、ま
たは、ゲート電極及びソース電極間に印加しているゲー
ト電圧の値を正(または負)方向に閾値電圧よりも大に
すれば、第1の半導体層に電子ガス層(または正孔ガス
層)が形成されるため、ソース電極及びドレイン電極間
がオン状態になる。
ンジスタによれば、第18図で上述した従来の電界効果
型トランジスタの゛場合に準じて、ゲート電極及びソー
ス電極間にゲート電圧を印加していない状態で、または
グー1〜電極側を負(または正)とするゲート電圧が所
定の閾値電圧以上で印加されている状態では第1の半導
体層には電子ガス層が形成されていないが、このような
状態から、ゲート電極及びソース電極間にゲート電極側
を正(または負)どするゲート電圧を印加さけるか、ま
たは、ゲート電極及びソース電極間に印加しているゲー
ト電圧の値を正(または負)方向に閾値電圧よりも大に
すれば、第1の半導体層に電子ガス層(または正孔ガス
層)が形成されるため、ソース電極及びドレイン電極間
がオン状態になる。
このため、第18図で上述した従来の電界効果型トラン
ジスタの場合に準じて、ソース電極及びドレイン電極間
に負荷を通じて所要の電源を接続1だ状態で、ゲート電
極及びソース電極間にゲート電圧を印加させることによ
って、そのゲート電圧の値に応じて制御された電流を負
荷に供給する、という電界効果型トランジスタの機能が
得られる。
ジスタの場合に準じて、ソース電極及びドレイン電極間
に負荷を通じて所要の電源を接続1だ状態で、ゲート電
極及びソース電極間にゲート電圧を印加させることによ
って、そのゲート電圧の値に応じて制御された電流を負
荷に供給する、という電界効果型トランジスタの機能が
得られる。
しかしながら、本発明による電界効果型トランジスタの
場合、積層体に、少なくともゲート電極下において、内
面にゲート電極が接触している複数の溝、または第2の
半導体層とは逆の導電型を有する複数の半導体領域が形
成されているので、ゲート電極及びソース電極間に印加
するゲート電圧の値を、ソース電極及びドレイン電極間
がオン状態を保っている範囲で、適当に選ぶことによっ
て、第1の半導体層での電子ガス層(または正孔ガス層
)が、第1の半導体層において不純物の散乱の影響を受
は難い1次元電子ガス層(または1次元正孔ガス層)と
して形成される。
場合、積層体に、少なくともゲート電極下において、内
面にゲート電極が接触している複数の溝、または第2の
半導体層とは逆の導電型を有する複数の半導体領域が形
成されているので、ゲート電極及びソース電極間に印加
するゲート電圧の値を、ソース電極及びドレイン電極間
がオン状態を保っている範囲で、適当に選ぶことによっ
て、第1の半導体層での電子ガス層(または正孔ガス層
)が、第1の半導体層において不純物の散乱の影響を受
は難い1次元電子ガス層(または1次元正孔ガス層)と
して形成される。
このため、電子ガス層(または正孔ガス層)に移動する
電子(または正孔)の移動度を、所期の速い移動度にす
ることができ、よって、電界効果型トランジスタとして
の機能を所期の速い速度で得ることができる。− また、第1の半導体層に、複数の電子ガス層(または正
孔ガス層)が形成されるので、ゲート電極及びソース電
極間に印加するグー1−電圧に応じて有効に制御された
電流を、負荷に大なる値で、効果的に供給することがで
きる、などの優れた作用効果が得られる。
電子(または正孔)の移動度を、所期の速い移動度にす
ることができ、よって、電界効果型トランジスタとして
の機能を所期の速い速度で得ることができる。− また、第1の半導体層に、複数の電子ガス層(または正
孔ガス層)が形成されるので、ゲート電極及びソース電
極間に印加するグー1−電圧に応じて有効に制御された
電流を、負荷に大なる値で、効果的に供給することがで
きる、などの優れた作用効果が得られる。
割1■ユ
次に、第1図、第2図及び第3図を伴なって、本発明に
よる電界効果型トランジスタの第1の実施例を述べよう
。
よる電界効果型トランジスタの第1の実施例を述べよう
。
第1図、第2図及び第3図において、第18図との対応
部分には同一符号を付して示す。
部分には同一符号を付して示す。
第1図、第2図及び第3図に示す本発明による電界効果
型トランジスタの第1の実施例は、次の事項を除いて、
第18図で上述した従来の電界効果型トランジスタの場
合と同様の構成を有する。
型トランジスタの第1の実施例は、次の事項を除いて、
第18図で上述した従来の電界効果型トランジスタの場
合と同様の構成を有する。
づなわら、積層体10が、1つの半導体層11と1つの
半導体層12とがそれらの順に積層されている(i4成
を有しているのに代え、薄い厚さを有する複数例えば3
つの半導体層11と、同様の視故従って3つの半導体層
12とが、積層体11−12の順で交互順次に積層され
“Cいる構成を有している。
半導体層12とがそれらの順に積層されている(i4成
を有しているのに代え、薄い厚さを有する複数例えば3
つの半導体層11と、同様の視故従って3つの半導体層
12とが、積層体11−12の順で交互順次に積層され
“Cいる構成を有している。
また、積層体10に、半絶縁性半導体基板1側とは反対
側から、ソース電極22及びドレイン電極23を結ぶ方
向に、半絶縁性半導体yj板板側側半導体層11に終絡
する深さで、延長している複数例えば4つのp型の半゛
導体領Vi31が、ソース電極22及びドレイン電極2
3を結ぶ方向に延長している4つめ積層体部32を形成
するように、ソース電極22及びドレイン電極23を結
ぶ方向と直交する方向に配列して形成されている。
側から、ソース電極22及びドレイン電極23を結ぶ方
向に、半絶縁性半導体yj板板側側半導体層11に終絡
する深さで、延長している複数例えば4つのp型の半゛
導体領Vi31が、ソース電極22及びドレイン電極2
3を結ぶ方向に延長している4つめ積層体部32を形成
するように、ソース電極22及びドレイン電極23を結
ぶ方向と直交する方向に配列して形成されている。
さらに、積層体10内に、その上方から、ゲート電極2
0下の領域を除く領域に、高いn型不純物濃度を有する
半導体領域51及び52が形成されている。
0下の領域を除く領域に、高いn型不純物濃度を有する
半導体領域51及び52が形成されている。
なお、ゲート電極20は、積層体10の半導体層12に
ショットキ接合21を形成するように形成されていなく
てもよい。。
ショットキ接合21を形成するように形成されていなく
てもよい。。
以上が、本発明による電界効果望1〜ランジスタの第1
の実施例の構成であるが、このような構成を有する本発
明による電界効果型トランジスタは、実際上、第2図〜
第7図を伴なって次のようにしてHBされる。
の実施例の構成であるが、このような構成を有する本発
明による電界効果型トランジスタは、実際上、第2図〜
第7図を伴なって次のようにしてHBされる。
すなわち、半絶縁性半導体基板1上に、3つの半導体層
11と、3つの半導体層12とが、半導体層11−1.
2の順で交互順次に積層されているfa層鉢体10形成
されている構成を1qる(第2図)。
11と、3つの半導体層12とが、半導体層11−1.
2の順で交互順次に積層されているfa層鉢体10形成
されている構成を1qる(第2図)。
次に、積層体10上に、フォトレジストでなるストライ
プ状の4つのマスク層41を、それ自体は公知の種々の
方法で互に平行に並置して形成する(第3図)。
プ状の4つのマスク層41を、それ自体は公知の種々の
方法で互に平行に並置して形成する(第3図)。
次に、積層体10内に、その上方から、マスク層41を
マスクとしてn型不純物イオンを打込み、積層体10内
に、第1図で上述した積層体部31を形成するように、
第1図で上述したp型の半導体領域32を形成する(第
4図)。
マスクとしてn型不純物イオンを打込み、積層体10内
に、第1図で上述した積層体部31を形成するように、
第1図で上述したp型の半導体領域32を形成する(第
4図)。
次に、マスク層41を、積層体10から除去する(第5
図)。
図)。
次に、°積層体10上に、第1図で上述したゲート電極
20を形成する(第6図)。
20を形成する(第6図)。
次に、積層体10内に、その上方から、ゲート電極20
をマスクとしてn型不純物イオンを打込み、積層体10
内に、第1図で上述した高いn型不純物濃度を有する半
導体領域51及び52を形成する(第7図)。。
をマスクとしてn型不純物イオンを打込み、積層体10
内に、第1図で上述した高いn型不純物濃度を有する半
導体領域51及び52を形成する(第7図)。。
次に、半導体領域51及び52上に、それぞれソース電
極22及びドレイン電極23を形成し、第1図に示す本
発明による電界効果型トランジスタの第1の実施例の構
成を得る。
極22及びドレイン電極23を形成し、第1図に示す本
発明による電界効果型トランジスタの第1の実施例の構
成を得る。
以上が、本発明による電界効果型トランジスタの第1の
実施例の構成である。
実施例の構成である。
このような構成を有する本発明による電界効果型トラン
ジスタによれば、グー1〜電t120及びソース電極2
2間にゲート電圧が印加されていない状態で、または、
ゲート電極10側を負とするゲート電圧が閾値電圧Vt
以上の値で印加されている状態では、ゲート電極20丁
における各積層体部32において、その各半導体層11
と半導体領域31との間の接合25から、半導体層11
内に広がっている空乏層のために、半導体層11には電
子ガス層が形成されておらず、このため、ソース電極2
2及びドレイン電極23間は、オフの状態である。
ジスタによれば、グー1〜電t120及びソース電極2
2間にゲート電圧が印加されていない状態で、または、
ゲート電極10側を負とするゲート電圧が閾値電圧Vt
以上の値で印加されている状態では、ゲート電極20丁
における各積層体部32において、その各半導体層11
と半導体領域31との間の接合25から、半導体層11
内に広がっている空乏層のために、半導体層11には電
子ガス層が形成されておらず、このため、ソース電極2
2及びドレイン電極23間は、オフの状態である。
しかしながら、このような状態から、ゲート電極20及
びソース電極22間に、ゲート電極20を正とするゲー
ト電圧を印加させるか、または、ゲート電極20及びソ
ース電極22間にゲート電極20側を負として印加して
いるゲート電圧の値を正方向に閾値電圧Vtよりも大と
すれば、接合25から、半導体層11内に広がっている
空乏層が、接合25側に後退するため、電子が、半導体
層11内に半導体層12側からM積される機構で、半導
体層11に電子ガス層24が形成されるため、ソース電
極22及びドレイン電極23内がオン状態になる。
びソース電極22間に、ゲート電極20を正とするゲー
ト電圧を印加させるか、または、ゲート電極20及びソ
ース電極22間にゲート電極20側を負として印加して
いるゲート電圧の値を正方向に閾値電圧Vtよりも大と
すれば、接合25から、半導体層11内に広がっている
空乏層が、接合25側に後退するため、電子が、半導体
層11内に半導体層12側からM積される機構で、半導
体層11に電子ガス層24が形成されるため、ソース電
極22及びドレイン電極23内がオン状態になる。
従って、第18図で上述した電界効果型トランジスタの
場合と同様に、ソース電極22及びドレイン電極23間
に負荷を通じて所要の電源を接続した状態で、グー1〜
電極20及びソース電極22間にゲート電圧を印加ざ才
ることによって、そのゲート電圧に応じて制御された電
流を、ソース電極22、ドレイン電極23、半導体領域
51及び52、多数の電子ガス層24を通じてゲート電
圧の値に応じて制御された電流を負荷に供給する、とい
うnヂャ゛ンネル電界効果型トランジスタとしての機能
が1qられる。
場合と同様に、ソース電極22及びドレイン電極23間
に負荷を通じて所要の電源を接続した状態で、グー1〜
電極20及びソース電極22間にゲート電圧を印加ざ才
ることによって、そのゲート電圧に応じて制御された電
流を、ソース電極22、ドレイン電極23、半導体領域
51及び52、多数の電子ガス層24を通じてゲート電
圧の値に応じて制御された電流を負荷に供給する、とい
うnヂャ゛ンネル電界効果型トランジスタとしての機能
が1qられる。
しかしながら、第1図に示す本発明による電界効果型ト
ランジスタの場合、第8図に示すように、ゲート電極2
0及びソース電極22間に印加するゲート電圧の値が、
ソース電極22J3よドレイン電極23がオン状態を保
っている範囲で、ある値よりも正方向に人である場合は
、電子ガス層24が、比較的大なる幅に形成されている
ため、2次元電子ガス層として形成されているが、′あ
る1直よりも低い値であれば、電子ガス層24が、十分
小なる幅に形成されるため、1次元電子ガス層として形
成される。
ランジスタの場合、第8図に示すように、ゲート電極2
0及びソース電極22間に印加するゲート電圧の値が、
ソース電極22J3よドレイン電極23がオン状態を保
っている範囲で、ある値よりも正方向に人である場合は
、電子ガス層24が、比較的大なる幅に形成されている
ため、2次元電子ガス層として形成されているが、′あ
る1直よりも低い値であれば、電子ガス層24が、十分
小なる幅に形成されるため、1次元電子ガス層として形
成される。
このため、電子ガス層24が1次元電子ガス層として形
成されている場合、その電子ガス層 。
成されている場合、その電子ガス層 。
24を移動する電子の移動度が、電子ガス腐24が2次
元電子ガス層どして形成されている場合に比し、格段的
に速くなる。
元電子ガス層どして形成されている場合に比し、格段的
に速くなる。
従って、電界効果型1−ランリスタとしての機能を、第
18図で上述した従来の電界効果型トランジスタの場合
に比し格段的に高速で得ることが′Cきる。
18図で上述した従来の電界効果型トランジスタの場合
に比し格段的に高速で得ることが′Cきる。
また、電子ガス層24が多数(上側の場合4X3 (−
12)個)形成されており、また、それら多数の電子ガ
ス層24が高いn型半導体領域51及び52間に延長し
、そして、それら半導体領域51及び52にそれぞれソ
ース電極22およドレイン電極23が付されているので
、ソース電極22及びドレイン電極23間の内部抵抗が
低く、従ってゲート電極20及びソース電極22間に印
加するゲート電圧の値に応じて制御された電流を、負荷
に、大なる値で供給することができる。
12)個)形成されており、また、それら多数の電子ガ
ス層24が高いn型半導体領域51及び52間に延長し
、そして、それら半導体領域51及び52にそれぞれソ
ース電極22およドレイン電極23が付されているので
、ソース電極22及びドレイン電極23間の内部抵抗が
低く、従ってゲート電極20及びソース電極22間に印
加するゲート電圧の値に応じて制御された電流を、負荷
に、大なる値で供給することができる。
さらに、ゲート電極20及びソース電極22間に印加す
るゲート電極を変化させて、電子ガス層271を、第8
図に示すように、1次元電子ガス層として形成している
状態から、2次元電子ガス層として形成している状態に
遷移させることができ、そして、その遷移領域でドレイ
ン電極23に流れる電流が急速に減少するので。
るゲート電極を変化させて、電子ガス層271を、第8
図に示すように、1次元電子ガス層として形成している
状態から、2次元電子ガス層として形成している状態に
遷移させることができ、そして、その遷移領域でドレイ
ン電極23に流れる電流が急速に減少するので。
すなわち、ゲート電圧に対するドレイン電極23に流れ
る電流の特性が、負性特性を有するので、電界効果型ト
ランジスタを、発振素子として用いることができる。
る電流の特性が、負性特性を有するので、電界効果型ト
ランジスタを、発振素子として用いることができる。
実施例2
次に、第9図を伴なって本発明による電界効果型トラン
ジスタの第2の実施例を述べよう。
ジスタの第2の実施例を述べよう。
第9図において、第1図との対応部分には同−符舟を付
して詳細説明を省略する。
して詳細説明を省略する。
第9図に示す本発明による電界効果型トランジスタは、
第1図で上述した構成において、そのゲート電極20と
、各積層体部32との間に、空隙61が設けられている
ことを除いて、第1図の場合と同様の構成を有する。
第1図で上述した構成において、そのゲート電極20と
、各積層体部32との間に、空隙61が設けられている
ことを除いて、第1図の場合と同様の構成を有する。
以上が、本発明による電界効果型トランジスタの第2の
実施例の構成であるが、このような構成は、実際上、次
に述べるようにしてIL7にとができる。
実施例の構成であるが、このような構成は、実際上、次
に述べるようにしてIL7にとができる。
すなわち、第2図〜第4図で上述したと同様の工程をと
って、半導体領域31及びfi層体部32を形成して後
、マスク層41を除去しない状態で、ゲート電極20を
形成丈る。
って、半導体領域31及びfi層体部32を形成して後
、マスク層41を除去しない状態で、ゲート電極20を
形成丈る。
次に、マスク層41を除去する。このとき、ゲート電極
20と、各積層体部32との間に空隙61が形成される 次に、第6図及び第7図で上述したと同様の工程をとっ
て、第9図に示す本発明による電界効果型1−ランリス
タの第2の実施例の構成を得る。
20と、各積層体部32との間に空隙61が形成される 次に、第6図及び第7図で上述したと同様の工程をとっ
て、第9図に示す本発明による電界効果型1−ランリス
タの第2の実施例の構成を得る。
以上が、本発明による電界効果型トランジスタの第2の
実施例の構成である。
実施例の構成である。
このような構成を有する本発明による電界効果型1−ラ
ンリスタによれば、それが上述した事項を除いて第1図
の場合と同様の構成を右するので、詳細J(明は省略す
゛るが、第1図の場合と同様の優れた作用効果が19ら
れる。
ンリスタによれば、それが上述した事項を除いて第1図
の場合と同様の構成を右するので、詳細J(明は省略す
゛るが、第1図の場合と同様の優れた作用効果が19ら
れる。
しかしながら、第9図に示す本発明による電界効果型ト
ランジスタの第2の実施例の構成の場合、ゲート電極2
0と、各積層体部32どの間に空隙61が設【)られて
いるので、ゲート電極20に印加されるゲート電圧の影
響によって、電子ガス層24が、ゲート電極20側とは
反対側からゲート電極20側に至るに従い、大きく幅狭
となるのが緩和されるので、ゲート電極20及びソース
電極22間に印加するゲート電圧値に応じて制御された
電流を、第1図の場合に比し、大なる値で、負荷に供給
することができる。
ランジスタの第2の実施例の構成の場合、ゲート電極2
0と、各積層体部32どの間に空隙61が設【)られて
いるので、ゲート電極20に印加されるゲート電圧の影
響によって、電子ガス層24が、ゲート電極20側とは
反対側からゲート電極20側に至るに従い、大きく幅狭
となるのが緩和されるので、ゲート電極20及びソース
電極22間に印加するゲート電圧値に応じて制御された
電流を、第1図の場合に比し、大なる値で、負荷に供給
することができる。
実施例3
次に、第10図を伴なって本発明による電界効果型トラ
ンジスタの第3の実施例を述べよう。
ンジスタの第3の実施例を述べよう。
第10図において、第1図との対応部分には同一符号を
付して詳細説明を省略する。
付して詳細説明を省略する。
第10図に示す本発明による電界効果型トランジスタは
、第1図で上述した構成において、そのグー1〜電極2
0と、各積層体部32との間に、比較的大なる誘電率を
有する絶縁層62が設けられていることを除いて、第1
図の場合と同様の構成を有する。
、第1図で上述した構成において、そのグー1〜電極2
0と、各積層体部32との間に、比較的大なる誘電率を
有する絶縁層62が設けられていることを除いて、第1
図の場合と同様の構成を有する。
以上が、本発明による電界効果型トランジスタの第3の
実施例の構成である。
実施例の構成である。
このような構成を有する本発明による電界効果型トラン
ジスタによれば、それが上述した事項を除いて第1図の
場合と同様の構成を有するので、詳細説明は省略するが
、第1図の場合と同様の優れた作用効果が得られる。
ジスタによれば、それが上述した事項を除いて第1図の
場合と同様の構成を有するので、詳細説明は省略するが
、第1図の場合と同様の優れた作用効果が得られる。
しかしながら、第10図に示す本発明による電界効果型
トランジスタの第2の実施例の構成の場合、ゲート電極
20と、各積層体部32との間に、第9図で上述した本
発明による電界効果型トランジスタの第3の実施例にお
ける空隙61に対応している絶縁層62が設けられてい
るので、第9図で上述した本発明による電界効果型トラ
ンジスタの第3の実施例の場合と同様に、ゲー゛ト電極
20に印加されるゲート電圧の影響によって、電子ガス
層24が、ゲート電極20側とは反対側からゲート電極
20側に至るに従い、大きく幅狭となるのが緩和される
ので、ゲート電極の値に応じて制御された電流を、第1
図の場合に比し、大なる値で、負荷に供給することがで
きる。
トランジスタの第2の実施例の構成の場合、ゲート電極
20と、各積層体部32との間に、第9図で上述した本
発明による電界効果型トランジスタの第3の実施例にお
ける空隙61に対応している絶縁層62が設けられてい
るので、第9図で上述した本発明による電界効果型トラ
ンジスタの第3の実施例の場合と同様に、ゲー゛ト電極
20に印加されるゲート電圧の影響によって、電子ガス
層24が、ゲート電極20側とは反対側からゲート電極
20側に至るに従い、大きく幅狭となるのが緩和される
ので、ゲート電極の値に応じて制御された電流を、第1
図の場合に比し、大なる値で、負荷に供給することがで
きる。
大川1牝」
次に、第11図を伴なって本発明よる電界効果型トラン
ジスタの第4の実施例を述べよう。
ジスタの第4の実施例を述べよう。
第11図に示す本発明による電界効果型トランジスタは
、第1図で上述した本発明による電界効果型1〜ランジ
スタの第1の実施例の構成において、その各半導体層1
1と半導体層12との間に、半導体層11に比し広い禁
制帯幅を有し■つn型不純物及びn型不純物のいずれも
ドープされていない、または十分低いn型不純物濃度を
有するn型の半導体層63が介挿されていることを除い
て、第1図で上述した本発明による電界効果型トランジ
スタの第1の実施例と同様の構成を有する。
、第1図で上述した本発明による電界効果型1〜ランジ
スタの第1の実施例の構成において、その各半導体層1
1と半導体層12との間に、半導体層11に比し広い禁
制帯幅を有し■つn型不純物及びn型不純物のいずれも
ドープされていない、または十分低いn型不純物濃度を
有するn型の半導体層63が介挿されていることを除い
て、第1図で上述した本発明による電界効果型トランジ
スタの第1の実施例と同様の構成を有する。
この場合、半導体層63の禁制帯幅は、半々体層12と
同じとし得、従って、半導体層11と同じ材料で形成し
得る。
同じとし得、従って、半導体層11と同じ材料で形成し
得る。
以上が、本発明による電界効果型トランジスタの第4の
実施例の構成である。
実施例の構成である。
このような構成を有する本発明による電界効果型トラン
ジスタによれば、それが、上述した事項を除いて、第1
図で上述した本発明による電界効果型トランジスタの第
1の実施例と同様の構成を有するので、詳細説明は省略
するが、第1図で上述した場合と同様の優れた作用効果
が得られる。
ジスタによれば、それが、上述した事項を除いて、第1
図で上述した本発明による電界効果型トランジスタの第
1の実施例と同様の構成を有するので、詳細説明は省略
するが、第1図で上述した場合と同様の優れた作用効果
が得られる。
しかしながら、本発明による電界効果型トランジスタの
第4の実施例によれば、半導体N11及び12間に介挿
されている半導体層63を有するため、電子ガス層24
が形成される半々体層11内に、半導体層12側からの
n型不純物による散乱や拡散を防ぐことができるので、
電界効果型トランジスタとしての機能が、第1図で上述
した本発明による電界効果型トランジスタの第1の実施
例の場合に比し、より優れた特性で得られる。
第4の実施例によれば、半導体N11及び12間に介挿
されている半導体層63を有するため、電子ガス層24
が形成される半々体層11内に、半導体層12側からの
n型不純物による散乱や拡散を防ぐことができるので、
電界効果型トランジスタとしての機能が、第1図で上述
した本発明による電界効果型トランジスタの第1の実施
例の場合に比し、より優れた特性で得られる。
実施例5
次に、第12図を伴なって本発明よる電界効果型トラン
ジスタの第5の実施例を述べよう。
ジスタの第5の実施例を述べよう。
第12図において、第1図との対応部分には同一符号を
付して詳細説明を省略する。
付して詳細説明を省略する。
第12図に示す本発明による電界効果型l・ランリスタ
の第5の実施例は、第1図で上述した本発明による電界
効果型トランジスタの第1の実施例において、イのゲー
ト電極20と、各積層体部32との間に、n型不純物及
びn型不純物のいずれもドープされていない、または」
−分低い不純物濃度を有するn型またはp型の半導体層
64が介挿されていることを除いて、第1図で上述した
本発明による電界効果型1−ランリスタの第1の実施例
と同様の構成を有する。
の第5の実施例は、第1図で上述した本発明による電界
効果型トランジスタの第1の実施例において、イのゲー
ト電極20と、各積層体部32との間に、n型不純物及
びn型不純物のいずれもドープされていない、または」
−分低い不純物濃度を有するn型またはp型の半導体層
64が介挿されていることを除いて、第1図で上述した
本発明による電界効果型1−ランリスタの第1の実施例
と同様の構成を有する。
以上が、本発明による電界効果型トランジスタの第5の
実施例の構成である。
実施例の構成である。
このような構成を有する本発明による電界効果型トラン
ジスタによれば、それが上述した事項を除いて、本発明
による電界効果型トランジスタの第1の実施例と同様の
構成を有するので、詳1説明は省略するが、本発明によ
る電界効果型トランジスタの第1の実施例と同様の優れ
た作用効果が得られる。
ジスタによれば、それが上述した事項を除いて、本発明
による電界効果型トランジスタの第1の実施例と同様の
構成を有するので、詳1説明は省略するが、本発明によ
る電界効果型トランジスタの第1の実施例と同様の優れ
た作用効果が得られる。
しかしながら、本発明による電界効果型トランジスタの
第5の実施例の場合、各積層体部32とグー1〜電極2
0との間に、半導体層64が介挿されている構成を有す
るので、本発明による電界効果型トランジスタの第1の
実施例の場合に比し、ゲート電極20に印加するゲート
電圧に対する耐圧が高く、また、半導体層64によって
各積層体部32の表面が、保護される、という特徴を有
づる。
第5の実施例の場合、各積層体部32とグー1〜電極2
0との間に、半導体層64が介挿されている構成を有す
るので、本発明による電界効果型トランジスタの第1の
実施例の場合に比し、ゲート電極20に印加するゲート
電圧に対する耐圧が高く、また、半導体層64によって
各積層体部32の表面が、保護される、という特徴を有
づる。
実施例6.7.8.9及び10
次に、第13図、第14図、第15図、第16図及び第
17図を伴なって、本発明による電界効果型トランジス
タの第6、第7、第8、第9及び第10の実施例を述べ
よう。
17図を伴なって、本発明による電界効果型トランジス
タの第6、第7、第8、第9及び第10の実施例を述べ
よう。
第13図、第14図、第15図、第16図及び第17図
において、第1図、第9図、第10図、第11図及び第
12図との対応部分には同一符号を付して詳細説明を省
略する。
において、第1図、第9図、第10図、第11図及び第
12図との対応部分には同一符号を付して詳細説明を省
略する。
第13図〜第17図に示す本発明による第6〜第10の
実施例は、本発明による電界効果型トランジスタの第1
〜第5の実施例にd3ける上述した半導体層31が、満
65に代えられ、これに応じてその満65の内面にゲー
ト電極2゜が接していることを除いて、本発明による電
界効果型トランジスタの第1〜第5の実施例と同様の構
成を有する。
実施例は、本発明による電界効果型トランジスタの第1
〜第5の実施例にd3ける上述した半導体層31が、満
65に代えられ、これに応じてその満65の内面にゲー
ト電極2゜が接していることを除いて、本発明による電
界効果型トランジスタの第1〜第5の実施例と同様の構
成を有する。
なお、この場合、ゲート電極204よ、半導体層11と
の間でショットキ接合66を形成するように、満64の
内面に接している。
の間でショットキ接合66を形成するように、満64の
内面に接している。
以上が、本発明による電界効果型トランジスタの第6、
第7、第8、第9及び第10の実施例の構成であるが、
それらがそれぞれ、上述した事項を除いて、本発明によ
る電界効果型1−ランジスタの第1、第2、第3、第4
及び第5の実施例と同様の構成を有するので、詳細説明
は省略するが、ゲート電極20及びソース電極22間に
印加するゲート電極の値に応じてゲート電極20と半導
体層11との間のショットキ接合66から半導体層11
内に広がる空乏層の広がりが変更する様構で、本発明に
よる電界効果型トランジスタの第1、第2、第3、第4
及び第5の実施例の場合と同様の優れた作用効果が19
られる。
第7、第8、第9及び第10の実施例の構成であるが、
それらがそれぞれ、上述した事項を除いて、本発明によ
る電界効果型1−ランジスタの第1、第2、第3、第4
及び第5の実施例と同様の構成を有するので、詳細説明
は省略するが、ゲート電極20及びソース電極22間に
印加するゲート電極の値に応じてゲート電極20と半導
体層11との間のショットキ接合66から半導体層11
内に広がる空乏層の広がりが変更する様構で、本発明に
よる電界効果型トランジスタの第1、第2、第3、第4
及び第5の実施例の場合と同様の優れた作用効果が19
られる。
なお、上述においては、積層体10が、複数の半導体層
11と複数の半導体層12とが、半導体層11−12の
順で交互順次に積層されている場合を述べたが、1つの
半導体層11と、1つの半導体層12とがそれらの順に
積層されCいる構成として、上述したと同様の作用効果
をiワることもでさる。
11と複数の半導体層12とが、半導体層11−12の
順で交互順次に積層されている場合を述べたが、1つの
半導体層11と、1つの半導体層12とがそれらの順に
積層されCいる構成として、上述したと同様の作用効果
をiワることもでさる。
また、上述したfJ n型jをFp型1、「電子ガス位
」を「正孔ガス層」、「電子」を「正孔」と読み代えた
構成として、p ft□ンネルネル界効果型トランジス
タの機能を得るようにでることもできる。
」を「正孔ガス層」、「電子」を「正孔」と読み代えた
構成として、p ft□ンネルネル界効果型トランジス
タの機能を得るようにでることもできる。
その仙、本発明による電界効果型トランジスタの僅かな
例を示したに止まり、本発明の精神を脱することなしに
、種々の変型、変更をなし1!?るであろう。
例を示したに止まり、本発明の精神を脱することなしに
、種々の変型、変更をなし1!?るであろう。
第1図A、B及びCは、本発明による電界効果型トラン
ジスタの第1の実施例を示す平面図、第1図AのB−8
線上の断面図、第1図AのC−C線上の断面図である。 第2図〜第7図は、第1図に示す本発明の製法の実施例
を示す順次の工程を示し、各図において、Aは平面図、
BはAのB−B#Q上の断面図、CはΔのC−C線上の
断面図である。 第8図は、第1図に示す本発明のゲート電極に印加する
ゲート電圧に対するドレイン電接に流れる電流の関係を
示す図である。 第9図、第10図、第11図及び第12図は、それぞれ
本発明による電界効果型トランジスタの第2、第3、第
4及び第5の実施例を示す図である。 第13図A、B及びCは、本発明による電界効果型トラ
ンジスタの第6の実施例を示す平面図、第13図への(
3−B線上の断面図及び第13図AのC−C線上の断面
図である。 第14図、第15図、第16図及び第17図は、それぞ
れ本発明による電界効果型1−ランリスタの第7、第8
、第9及び第10の実施例を示し、各図において、Aは
平面中央横断面図、Bは平面中央縦断面図である。
ジスタの第1の実施例を示す平面図、第1図AのB−8
線上の断面図、第1図AのC−C線上の断面図である。 第2図〜第7図は、第1図に示す本発明の製法の実施例
を示す順次の工程を示し、各図において、Aは平面図、
BはAのB−B#Q上の断面図、CはΔのC−C線上の
断面図である。 第8図は、第1図に示す本発明のゲート電極に印加する
ゲート電圧に対するドレイン電接に流れる電流の関係を
示す図である。 第9図、第10図、第11図及び第12図は、それぞれ
本発明による電界効果型トランジスタの第2、第3、第
4及び第5の実施例を示す図である。 第13図A、B及びCは、本発明による電界効果型トラ
ンジスタの第6の実施例を示す平面図、第13図への(
3−B線上の断面図及び第13図AのC−C線上の断面
図である。 第14図、第15図、第16図及び第17図は、それぞ
れ本発明による電界効果型1−ランリスタの第7、第8
、第9及び第10の実施例を示し、各図において、Aは
平面中央横断面図、Bは平面中央縦断面図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 半絶縁性半導体基板上に、(1)第1の導電型不純物、
及び第1の導電型不純物とは逆の第2の導電型不純物の
いずれもドープされていない、または十分低い不純物濃
度を有する第1または第2の導電型の第1の半導体層と
、(2)該第1の半導体層に比し広い禁制帯幅を有し且
つ上記第1の半導体層に比し高い不純物濃度を有する第
1または第2の導電型の半導体層とが、(3)上記第1
の半導体層と上記第2の半導体層との間に、上記第1の
半導体層に比し広い禁制帯幅を有し且つ第1の導電型不
純物、及び第2の導電型不純物のいずれもドープされて
いない、または十分低い第1または第2の導電型不純物
濃度を有する第1または第2の導電型の第3の半導体層
を介挿して、または介挿することなしに、それらの順に
積層されている構成を有する積層体が形成され、 上記積層体上に、その幅を横切って延長しているゲート
電極が、(1)上記第2の半導体層と等しいか上記第2
の半導体層に比し狭い禁制帯幅を有し且つ第1の導電型
不純物、及び第2の導電型不純物のいずれもドープされ
ていない、または十分に低い第1または第2の導電型不
純物濃度を有する第3の半導体層を介して、または介す
ることなしに、且つ(2)空隙または大なる誘電率を有
する絶縁層を介して、または介することなしに形成され
、 上記積層体の上記ゲート電極を挟んだ両位置において、
ソース電極及びドレイン電極がそれぞれ形成され、 上記積層体に、その上記半絶縁性半導体基板側とは反対
側から、少なくとも上記ゲート電極下において、上記ソ
ース電極及びドレイン電極を結ぶ方向に、上記積層体の
上記半絶縁性半導体基板側の半導体層に終絡する深さで
、延長している、内面に上記ゲート電極が接している複
数の溝、または第2の導電型の複数の半導体領域が、上
記ソース電極及びドレイン電極を結ぶ方向に延長してい
る複数の積層体部を形成するように、上記ソース電極及
びドレイン電極を結ぶ方向と直交する方向に配列して形
成されていることを特徴とする電界効果型トランジスタ
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4798385A JPS6230380A (ja) | 1985-03-11 | 1985-03-11 | 電界効果型トランジスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4798385A JPS6230380A (ja) | 1985-03-11 | 1985-03-11 | 電界効果型トランジスタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6230380A true JPS6230380A (ja) | 1987-02-09 |
Family
ID=12790546
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4798385A Pending JPS6230380A (ja) | 1985-03-11 | 1985-03-11 | 電界効果型トランジスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6230380A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05102198A (ja) * | 1991-10-04 | 1993-04-23 | Nec Corp | 擬1次元電界効果トランジスタとその製造方法 |
| US6530671B2 (en) | 1997-01-30 | 2003-03-11 | Hitachi Electronic Devices Co. Ltd. | Liquid crystal display |
| JP2016512927A (ja) * | 2013-03-14 | 2016-05-09 | ノースロップ グラマン システムズ コーポレイションNorthrop Grumman Systems Corporation | 超格子凹凸状ゲート電界効果トランジスタ |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5851573A (ja) * | 1981-09-22 | 1983-03-26 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
| JPS5931071A (ja) * | 1982-08-13 | 1984-02-18 | Oki Electric Ind Co Ltd | 電界効果トランジスタ |
-
1985
- 1985-03-11 JP JP4798385A patent/JPS6230380A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5851573A (ja) * | 1981-09-22 | 1983-03-26 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
| JPS5931071A (ja) * | 1982-08-13 | 1984-02-18 | Oki Electric Ind Co Ltd | 電界効果トランジスタ |
Cited By (3)
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|---|---|---|---|---|
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| US6530671B2 (en) | 1997-01-30 | 2003-03-11 | Hitachi Electronic Devices Co. Ltd. | Liquid crystal display |
| JP2016512927A (ja) * | 2013-03-14 | 2016-05-09 | ノースロップ グラマン システムズ コーポレイションNorthrop Grumman Systems Corporation | 超格子凹凸状ゲート電界効果トランジスタ |
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