JPS6232307A

JPS6232307A - 真直度測定装置

Info

Publication number: JPS6232307A
Application number: JP17286585A
Authority: JP
Inventors: Hideo Takada; 秀夫高田
Original assignee: JAPAN SENSOR CORP KK
Current assignee: JAPAN SENSOR CORP KK
Priority date: 1985-08-06
Filing date: 1985-08-06
Publication date: 1987-02-12

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］本発明は、棒材の真直度を測定する真直度測定装とに関
する。

［従来の技術］真鍮等の棒材を高速旋盤で加りする場合、その棒材が湾
曲していると、高速回転時に、その棒材が偏心し、遠心
力が増大し、その棒材が旋盤に振動を与え加工精度を低
丁させる。

これを防Ｉトするには、棒材の真直度を検査し、この検
査に合格したもののみを使用するようにすればよく、し
たがって、製造ラインにおいて、その棒材を全数検査す
ればよい。

しかし、１つの棒材の真直度を検査するには、その相応
の時間を要し、製造ラインの中で全数検査することは実
際上不可能であるやつまり、従来は、基準線を設定し、
この基孕線からの距離を多数の点について測定し、その
結果として真直度を測定している。このために、棒材が
製造ラインを波れる時間よりも、その棒ｌの真直度を３
一定する時間が長いので、製造ラインＬで真直度を全数
検査することが実際−１−不ｉｉｉ能であるという問題
がある。

［発明の目的］本発明は、」−記従来例の問題点に着目してなされたも
ので、真直度を高速で測定することができる真直度測定
装置を提供することを［１的とするものである。

［発明のＮ要］本発明は、真直度を高速で測定することができるように
するために、傾君させた平板等の−１−で被測定物を移
動させ、この平板と直角な別の平板等で、被測定物の端
部の移動を規制し、その被測定物の移動中に、被測定物
における突出部の位置を、光センサによって検出するも
のである。

［発明の実施例］第１図は、末完１月の一実施例を示す斜視図であり、第
２図は、その正面図であり、第３図は、その右側面図で
ある。

真直度測定装置Ｍは、第１平板１０と、これと直角をな
す第２ｖ板２０とを有するものである。

また、真直度測定装置Ｍは、第１図には示していないが
、光センサを有している。

第１乎板１０は、」一端部１０ａと、ｆ面部１０ｃと、
下端部１０ｂとを有し、第１平面を形成する第１平面形
成手段の１つである。また、第１平板１０は、図示しな
い支持手段によって、正面からみて、左下がりの傾斜を
有している。この傾斜αによって、第１ｖ板１０の上で
、被測定物である棒材３０を移！！＋（摺動）させてい
る、また、第１平板１０は、上記光センサの光路を形成
するスリット１１を有している。

第２平板２０は、第１−’ｌ”板１０の平面と直角（符
号γで示す角度）な第２平面を形成する第２平面形成手
段の１つである。

また、第１千板１０の上を棒材３０が摺動するときに、
棒材３０の端部３１，３２（第２平板２０側の端部）の
移動を、第２平面（第２ｖ板２０によって形成される平
面）内に規ｖ１するように、第１乎板１０は、第２平板
２０に傾斜している。この傾斜を、第３図において、β
で示１．である。

第４図は、ト記実施例の説明図である。

上記光センサは、発光末子４１と、受光素子アレー４２
とで構成されている。この先センサは、棒材３０がｒＦ
ｆｆｏしているときに、棒材３０の突出部であって、第
２平板の平面と逆方向に位置する突出部３３の位置を検
出するものである。

また、演算回路５０は、受光素子アレー４２からの信号
に基づいて、真直度を演算するものである０、すなわち
、演算回路５０は、受光素子アレー４２の受光状態に応
じて位置検出を行なう位置検出手段の１つである。

真直度表示回路５１は、得られた真直度を表示するもの
である０判別回路う２は、演算回路５０で得られた真直
度が所定の値以内であるか否かを判別するものであり、
棒材選別手段５３は、検査した棒材３０の良品、不良品
を選別するものである。

次に、Ｌ記実施例の動作について説明する。

まず、真直度測定装置Ｍは、棒材３０が通過する経路中
に設けられている。棒材３０は、上端部ｌＱａで第１平
板ｌＯと接触を開始し、その平板１０上を下端部１０ｂ
に向かって摺動する。

このときに、第１平板１０が第２１Ｐ板２０に向かって
傾斜しているので、棒材３０は、その端部３１．３２が
第２平板２０の平面と接触しながら、自毛摺動する。

−・方、第１平板１０の途中に設けられたスリット１１
を介して、発光素子４１からの光が受光素子アレー４２
に向かう、棒材３０が、スリット１１の上を通過するの
で、棒材３０がその光路を遮断する。

もし、棒材３０に湾曲が無いならば、遮断する光路の位
置に変化が無い、しかし、棒材３０に湾曲が有れば、そ
の湾曲した酸に応じて、光路を遮断する位δが変換する
。この光路位鐙の変化は、受光素子アレー４２によって
検出される。すなわち、棒材３０の中心から突出部３３
までの距離が長ければ長い程、第４図において、受光素
子アレー４２の右端位置で、その突出ｆｉ３３を検出で
きる。このようにして、受光素子アレー４２が、棒材３
０のピークの突出部分を検出したときに、真直度を検出
したことになる。

なお、第４図においては、スリット１１を通過する光束
の幅を実際よりも長く示しであるが、この光束の幅は、
棒材３０の直径とほぼ同じであることが好ましい。

そして、棒材３０の湾曲量が許容量以内であれば、光源
４１からの光が棒材３０−の左側を通過して受光ぶ子ア
レー４２に到達しないようにしであることが好ましい。

このようにすれば、許容ｌ以北の湾曲値を有する棒材３
０に対しては、受光素、Ｔ−アレー４２の左側で受光し
、この現象をとらえて、不良品であると判断することが
できる。なお、上記の場合、棒材３０の直径が大きくな
る程、光源４１の位ごを、第４図において、右側に移動
する。

第４図の実施例においては、受光素子として、受光妻子
アレー４２を使用しているが、アレー以外の受光妻子を
使用し、その受光の面積率によって、上記突出部３３の
ピークの位置を検出するようにしてもよい、この場合、
アナログ的ニ膓定するので、その応答速度は早い。

第５図は、本発明の他の実施例を示す斜視図である。

この実施例において、第１図に示した実施例と異なる点
は、第１ｆ板１０、第２平板２０の代りに、それぞれ、
多数のコロベアリング６０．７０を使用した点である。

また、複数のコロベアリング６０によって形成される平
面は、その端部６０ａと６０ｂとの間では高低差がない
、しかシ、コロベアリンク６０　＋ｉ　、コロベアリン
ク７０に対して傾斜している。なお、複数のコロベアリ
ング６０によって形成される平面と、複数のコロベアリ
ング７０によって形成される平面とは、直角である。

フロベアリング６０が多数であれば（たとえば、１０ｍ
−間隔で設置されていれば）、棒材３０がその上を搬送
されるときの面（棒材３０とフロベアリング６０とが接
触した点が含まれる面）は、平面である。

コロベアリング７０が多数である場合も、上記と同様で
あり、棒材３０がコロベアリング７０に沿って移動する
ときに、その棒材３０の端部３１または３２は直線の軌
跡を描く、つまり、コロベアリング７０を直線上に多数
段こすると、平板２０を設置した場合と同じ作用をする
。これは、最近のコロベアリングの精度が非常に高いこ
とに依存する。

一方、コロベアリング６０を使用すると、棒材３０との
摩擦が減少するので、スムースな動作を行なう。

［発明の効果］本発明によれば、真直度を高速で測定することができる
・

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一実施例を示す斜視図である。第２図は、上記実施例の正面図である。第３図は、−上記実施例の右側面図である。第４図は、上記実施例における説明図である。第５図は、本発明の他の実施例を示す斜視図である。１０・・・第１平板、２０・・・第２モ板、３０・・・被測定物としての棒材、４２・・・受光素子アレー、特許出願人　　株式会社ジャパン曇センサー・コーポレ
ーション０ｂ

Claims

【特許請求の範囲】

（１）第１平面を形成する第１平面形成手段と；前記第
１平面上で被測定物を移動させる移動手段と；前記第１平面と直角な第２平面を形成する第２平面形成
手段と；前記第１平面上を前記被測定物が移動するときに、前記
被測定物の端部であって前記第２平面側の端部の移動を
、前記第２平面内に規制する移動規制手段と；前記被測定物における前記第２平面と逆方向に位置する
突出部の位置を検出する光センサと；を有することを特
徴とする真直度測定装置。
（２）特許請求の範囲第１項において、前記移動手段は、前記第１平面が傾斜している平板、ま
たは、複数のコロベアリングであることを特徴とする真
直度測定装置。
（３）特許請求の範囲第１項において、前記第２平面形成手段は、平板、または、複数のコロベ
アリングであることを特徴とする真直度測定装置。
（４）特許請求の範囲第１項において、前記移動規制手段は、前記第１平面形成手段を、前記第
２平面形成手段側の方向に傾斜させたものであることを
特徴とする真直度測定装置。
（５）特許請求の範囲第１項において、前記光センサの光は、前記第１平面形成手段に設けられ
たスリットを通過するものであることを特徴とする真直
度測定装置。
（６）特許請求の範囲第１項において、前記光センサは、発光素子と、受光素子と、この受光素
子の受光状態に応じて、位置検出を行なう位置検出手段
とを有することを特徴とする真直度測定装置。
（７）特許請求の範囲第６項において、前記受光素子は、１つの受光素子、または、受光素子ア
レーであることを特徴とする真直度測定装置。