JPH0760533A - スリッターのオーバーラップ量測定方法および調整方法 - Google Patents
スリッターのオーバーラップ量測定方法および調整方法Info
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- JPH0760533A JPH0760533A JP22785393A JP22785393A JPH0760533A JP H0760533 A JPH0760533 A JP H0760533A JP 22785393 A JP22785393 A JP 22785393A JP 22785393 A JP22785393 A JP 22785393A JP H0760533 A JPH0760533 A JP H0760533A
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 スリッターの上刃１と下刃２の噛み込み幅ａ
を、投光器と受光器あるいはＣＣＤカメラ等の光学的手
段により測定し、その噛み込み幅ａと、上刃の半径ｒ1
と、下刃の半径ｒ2 とから、次式によりオーバーラップ
量ｘを求める。 【数１】ｘ＝ｒ1 ＋ｒ2 −√（ｒ1 2 −ａ2 ／４）−√
（ｒ2 2 −ａ2 ／４） 【効果】 スリッターの上刃と下刃のオーバーラップ量
を正確に測定することができるため、上刃と下刃のオー
バーラップ量を正確に設定することができ、条材の切断
品質を向上させることができる。
を、投光器と受光器あるいはＣＣＤカメラ等の光学的手
段により測定し、その噛み込み幅ａと、上刃の半径ｒ1
と、下刃の半径ｒ2 とから、次式によりオーバーラップ
量ｘを求める。 【数１】ｘ＝ｒ1 ＋ｒ2 −√（ｒ1 2 −ａ2 ／４）−√
（ｒ2 2 −ａ2 ／４） 【効果】 スリッターの上刃と下刃のオーバーラップ量
を正確に測定することができるため、上刃と下刃のオー
バーラップ量を正確に設定することができ、条材の切断
品質を向上させることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、条材のスリッターにお
ける上刃と下刃のオーバーラップ量の測定方法と、それ
を用いたオーバーラップ量調整方法に関するものであ
る。
ける上刃と下刃のオーバーラップ量の測定方法と、それ
を用いたオーバーラップ量調整方法に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】スリッターは円板状の上刃と下刃を回転
させて条材を切断するものであるが、上刃と下刃のオー
バーラップ量（噛み込み深さ、図１のｘ）は、条材の切
り口形状や残留応力あるいは刃の摩耗寿命に大きく影響
するので、条材の厚さ、材質に応じて適正な値に設定す
ることが重要である。
させて条材を切断するものであるが、上刃と下刃のオー
バーラップ量（噛み込み深さ、図１のｘ）は、条材の切
り口形状や残留応力あるいは刃の摩耗寿命に大きく影響
するので、条材の厚さ、材質に応じて適正な値に設定す
ることが重要である。
【０００３】上刃と下刃のオーバーラップ量は通常、作
業者の目視により勘と経験により調整されることが多い
が、測定器を使う例としては、上刃と下刃の軸間距離を
マグネスケールで測定する方法が公知である（特開昭６
１−２０３２１１号公報）。この方法で直接測定できる
のはオーバーラップ量の変化量であり、軸間距離の測定
からオーバーラップ量を求めるためには、上刃と下刃の
直径を予め正確に測定するか、あるいはオーバーラップ
量零の位置を予め正確に求めておくことが必要である。
業者の目視により勘と経験により調整されることが多い
が、測定器を使う例としては、上刃と下刃の軸間距離を
マグネスケールで測定する方法が公知である（特開昭６
１−２０３２１１号公報）。この方法で直接測定できる
のはオーバーラップ量の変化量であり、軸間距離の測定
からオーバーラップ量を求めるためには、上刃と下刃の
直径を予め正確に測定するか、あるいはオーバーラップ
量零の位置を予め正確に求めておくことが必要である。
【０００４】軸間距離Ｌの測定と、上刃の直径２ｒ1 、
下刃の直径２ｒ2 の測定からオーバーラップ量ｘを求め
る方法では、オーバーラップ量ｘを次式で算出する。
下刃の直径２ｒ2 の測定からオーバーラップ量ｘを求め
る方法では、オーバーラップ量ｘを次式で算出する。
【０００５】
【数３】ｘ＝ｒ1 ＋ｒ2 −Ｌ
【０００６】またオーバーラップ量零の位置を求めるい
わゆる「零合わせ」は、上刃と下刃の一方を軸方向にほ
ぼ刃の厚さ分ずらし、上刃と下刃の刃先面同士を接触さ
せることにより行う。
わゆる「零合わせ」は、上刃と下刃の一方を軸方向にほ
ぼ刃の厚さ分ずらし、上刃と下刃の刃先面同士を接触さ
せることにより行う。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】オーバーラップ量は一
般に切断する条材の厚さに比例した値に設定される。し
たがって条材の厚さが薄くなると、０．１mm以下のきわ
めて小さい値となるので、オーバーラップ量の測定には
きわめて高い精度が要求される。
般に切断する条材の厚さに比例した値に設定される。し
たがって条材の厚さが薄くなると、０．１mm以下のきわ
めて小さい値となるので、オーバーラップ量の測定には
きわめて高い精度が要求される。
【０００８】しかし、軸間距離Ｌの測定と、上刃の直径
２ｒ1 、下刃の直径２ｒ2 の測定からオーバーラップ量
ｘを求める従来の方法では、数式３からも明らかなよう
に、上刃と下刃の直径の測定誤差がそのままオーバーラ
ップ量の測定誤差となり、オーバーラップ量をきわめて
小さく設定する必要のある薄板切断の場合には、精度の
点で不十分である。
２ｒ1 、下刃の直径２ｒ2 の測定からオーバーラップ量
ｘを求める従来の方法では、数式３からも明らかなよう
に、上刃と下刃の直径の測定誤差がそのままオーバーラ
ップ量の測定誤差となり、オーバーラップ量をきわめて
小さく設定する必要のある薄板切断の場合には、精度の
点で不十分である。
【０００９】また軸間距離の測定と、オーバーラップ量
零の位置を求める零合わせからオーバーラップ量を求め
る方法では、零合わせのために上刃と下刃を接触させる
必要があり、このとき刃先を慎重に軽く接触させないと
刃先を損傷するおそれがある。特に薄板切断に使用する
薄肉の刃では、刃先を損傷する危険性が大きく、刃先の
接触はできるだけ避けるべきである。
零の位置を求める零合わせからオーバーラップ量を求め
る方法では、零合わせのために上刃と下刃を接触させる
必要があり、このとき刃先を慎重に軽く接触させないと
刃先を損傷するおそれがある。特に薄板切断に使用する
薄肉の刃では、刃先を損傷する危険性が大きく、刃先の
接触はできるだけ避けるべきである。
【００１０】軸間距離の測定からオーバーラップ量を求
める方法には以上のような問題があるため、オーバーラ
ップ量を正確に求めることは困難であった。オーバーラ
ップ量が正確に分からないと、オーバーラップ量を適正
に設定することができず、良好な切断状態を得ることが
できない。
める方法には以上のような問題があるため、オーバーラ
ップ量を正確に求めることは困難であった。オーバーラ
ップ量が正確に分からないと、オーバーラップ量を適正
に設定することができず、良好な切断状態を得ることが
できない。
【００１１】本発明の目的は、上記のような問題点に鑑
み、上刃と下刃のオーバーラップ量を正確に測定するこ
とのできるオーバーラップ量測定方法と、それを用いた
オーバーラップ量調整方法を提供することにある。
み、上刃と下刃のオーバーラップ量を正確に測定するこ
とのできるオーバーラップ量測定方法と、それを用いた
オーバーラップ量調整方法を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】図１に示すように、上刃
１の半径をｒ1 、下刃２の半径をｒ2 、上刃１と下刃２
の噛み込み幅をａとすると、オーバーラップ量ｘは次式
で算出することができる。
１の半径をｒ1 、下刃２の半径をｒ2 、上刃１と下刃２
の噛み込み幅をａとすると、オーバーラップ量ｘは次式
で算出することができる。
【００１３】
【数４】 ｘ＝ｒ1 ＋ｒ2 −√（ｒ1 2 −ａ2 ／４）−√（ｒ2 2 −ａ2 ／４）
【００１４】そこで、本発明のオーバーラップ量測定方
法は、円板状の上刃１と下刃２の噛み込み幅ａを光学的
手段により測定し、その噛み込み幅ａと、上刃の半径ｒ
1 と、下刃の半径ｒ2 とから、数式４によりオーバーラ
ップ量ｘを求めることを特徴とする。
法は、円板状の上刃１と下刃２の噛み込み幅ａを光学的
手段により測定し、その噛み込み幅ａと、上刃の半径ｒ
1 と、下刃の半径ｒ2 とから、数式４によりオーバーラ
ップ量ｘを求めることを特徴とする。
【００１５】また本発明のオーバーラップ量調整方法
は、スリッターの上刃と下刃のオーバーラップ量を調整
する際に、上刃と下刃の噛み込み幅ａを光学的手段によ
り測定し、その噛み込み幅ａと、上刃の半径ｒ1 と、下
刃の半径ｒ2 とから、数式４によりオーバーラップ量ｘ
を求め、その値を参照しつつオーバーラップ量を適正な
値に設定することを特徴とする。
は、スリッターの上刃と下刃のオーバーラップ量を調整
する際に、上刃と下刃の噛み込み幅ａを光学的手段によ
り測定し、その噛み込み幅ａと、上刃の半径ｒ1 と、下
刃の半径ｒ2 とから、数式４によりオーバーラップ量ｘ
を求め、その値を参照しつつオーバーラップ量を適正な
値に設定することを特徴とする。
【００１６】
【作用】本発明の方法でも、上刃の直径２ｒ1 と下刃の
直径２ｒ2 を測定する必要があるが、ｒ1 、ｒ2 はａに
比べて十分大きく、ｒ1 、ｒ2 の測定誤差が数式４にお
いてオーバーラップ量ｘに与える影響は小さい。例え
ば、ｒ1 ＝７５mm、ｒ2 ＝７５mm、ａ＝１０mmが正確な
値の場合、ｒ1 、ｒ2 を誤って１mm大きく測定し、ｒ1
＝７６mm、ｒ2 ＝７６mm、ａ＝１０mmと測定した場合で
も、ｘの値は正確な測定の場合と同じ０．３mmとなる。
これに対し数式３の場合は測定誤差がそのまま加算され
て２．３mmとなる。また本発明の方法では、オーバーラ
ップ量ｘの変化に伴う噛み込み幅ａの変化が大きいた
め、ａの測定も容易である。したがって本発明の方法に
よれば、オーバーラップ量の正確な測定が可能となり、
またこれによりオーバーラップ量の正確な調整が可能と
なる。
直径２ｒ2 を測定する必要があるが、ｒ1 、ｒ2 はａに
比べて十分大きく、ｒ1 、ｒ2 の測定誤差が数式４にお
いてオーバーラップ量ｘに与える影響は小さい。例え
ば、ｒ1 ＝７５mm、ｒ2 ＝７５mm、ａ＝１０mmが正確な
値の場合、ｒ1 、ｒ2 を誤って１mm大きく測定し、ｒ1
＝７６mm、ｒ2 ＝７６mm、ａ＝１０mmと測定した場合で
も、ｘの値は正確な測定の場合と同じ０．３mmとなる。
これに対し数式３の場合は測定誤差がそのまま加算され
て２．３mmとなる。また本発明の方法では、オーバーラ
ップ量ｘの変化に伴う噛み込み幅ａの変化が大きいた
め、ａの測定も容易である。したがって本発明の方法に
よれば、オーバーラップ量の正確な測定が可能となり、
またこれによりオーバーラップ量の正確な調整が可能と
なる。
【００１７】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細
に説明する。図２および図３は本発明の一実施例を示
す。図において、１は円板状の上刃、１ａは上刃１と同
径のダミー上刃、２は円板状の下刃、２ａは下刃２と同
径のダミー下刃、３は上刃２の間隔を定めるスペーサー
リング、４は下刃２の間隔を定めるスペーサーリング、
５は上刃１とスペーサーリング３とダミー上刃１ａを支
持する上軸、６は下刃２とスペーサーリング４とダミー
下刃２ａを支持する下軸、７と８はダミー上刃１ａとダ
ミー下刃２ａの噛み込み部を挟んで配置された投光器と
受光器、９は受光器８の受光状態から上刃１と下刃２の
オーバーラップ量を演算する演算装置、１０は演算結果
の表示装置である。
に説明する。図２および図３は本発明の一実施例を示
す。図において、１は円板状の上刃、１ａは上刃１と同
径のダミー上刃、２は円板状の下刃、２ａは下刃２と同
径のダミー下刃、３は上刃２の間隔を定めるスペーサー
リング、４は下刃２の間隔を定めるスペーサーリング、
５は上刃１とスペーサーリング３とダミー上刃１ａを支
持する上軸、６は下刃２とスペーサーリング４とダミー
下刃２ａを支持する下軸、７と８はダミー上刃１ａとダ
ミー下刃２ａの噛み込み部を挟んで配置された投光器と
受光器、９は受光器８の受光状態から上刃１と下刃２の
オーバーラップ量を演算する演算装置、１０は演算結果
の表示装置である。
【００１８】ダミー上刃１ａおよびダミー下刃２ａは一
番端に装着され、条材の切断には寄与しないオーバーラ
ップ量測定用の刃である。投光器７と受光器８は一体と
なって上下方向の位置を調整できる機構を有しており、
この機構によりダミー上刃１ａとダミー下刃の噛み込み
部に正確に光軸を合わせられるようになっている。
番端に装着され、条材の切断には寄与しないオーバーラ
ップ量測定用の刃である。投光器７と受光器８は一体と
なって上下方向の位置を調整できる機構を有しており、
この機構によりダミー上刃１ａとダミー下刃の噛み込み
部に正確に光軸を合わせられるようになっている。
【００１９】受光器８は図３に示すように微小な受光素
子１１を微小間隔で直線状に配置した、いわゆる一次元
ＣＣＤイメージセンサーである。投光器７より平行光線
がダミー上刃１ａとダミー下刃２ａの噛み込み部に水平
に投光され、その光がダミー上刃１ａとダミー下刃２ａ
によって遮光されるため、その遮光幅から噛み込み幅ａ
を検出できる。受光器８の出力は演算装置９に入力され
る。演算装置９では、受光器８から入力された噛み込み
幅ａの値と、予め入力されているダミー上刃１ａの半径
ｒ1 （上刃１の半径と等しい）、ダミー下刃２ａの半径
ｒ2 （下刃２の半径と等しい）とから、前記数式４によ
りオーバーラップ量ｘを算出する。その結果は表示装置
１０に表示される。
子１１を微小間隔で直線状に配置した、いわゆる一次元
ＣＣＤイメージセンサーである。投光器７より平行光線
がダミー上刃１ａとダミー下刃２ａの噛み込み部に水平
に投光され、その光がダミー上刃１ａとダミー下刃２ａ
によって遮光されるため、その遮光幅から噛み込み幅ａ
を検出できる。受光器８の出力は演算装置９に入力され
る。演算装置９では、受光器８から入力された噛み込み
幅ａの値と、予め入力されているダミー上刃１ａの半径
ｒ1 （上刃１の半径と等しい）、ダミー下刃２ａの半径
ｒ2 （下刃２の半径と等しい）とから、前記数式４によ
りオーバーラップ量ｘを算出する。その結果は表示装置
１０に表示される。
【００２０】オーバーラップ量の調整を行うときは、こ
の表示装置１０に表示された値を参照しながら上軸５ま
たは下軸６を上下方向に移動させ、オーバーラップ量を
適正な値に設定する。
の表示装置１０に表示された値を参照しながら上軸５ま
たは下軸６を上下方向に移動させ、オーバーラップ量を
適正な値に設定する。
【００２１】次に上記実施例の方法と従来の方法の比較
結果を説明する。スリッターは、上刃と下刃の直径が共
に１５０mmで、厚さ０．１mmの銅条を幅３０mmに毎分１
５０ｍの速度で切断するものである。従来の作業者が目
視によりオーバーラップ量を設定する方法では、銅条の
切り口のだれ（かえり）は平均０．０２mmであったが、
上記実施例の方法でオーバーラップ量を測定し、オーバ
ーラップ量を０．０８mmに設定して切断した結果では、
銅条の切り口のだれ（かえり）は平均０．０１mm以下と
なり、品質の向上が認められた。
結果を説明する。スリッターは、上刃と下刃の直径が共
に１５０mmで、厚さ０．１mmの銅条を幅３０mmに毎分１
５０ｍの速度で切断するものである。従来の作業者が目
視によりオーバーラップ量を設定する方法では、銅条の
切り口のだれ（かえり）は平均０．０２mmであったが、
上記実施例の方法でオーバーラップ量を測定し、オーバ
ーラップ量を０．０８mmに設定して切断した結果では、
銅条の切り口のだれ（かえり）は平均０．０１mm以下と
なり、品質の向上が認められた。
【００２２】なお上記実施例では、ダミー上刃１ａとダ
ミー下刃２ａのオーバーラップ量を測定するようにした
が、ダミー上刃１ａとダミー下刃２ａを設けずに、上刃
１と下刃２のオーバーラップ量を直接測定することもで
きる。その場合は、条材切断時に投光器７と受光器８を
取り外せるようにしておく必要がある。また投光器７と
受光器８の上下位置調整機構は、上軸５または下軸６の
上下位置調整機構に連動させることも可能である。
ミー下刃２ａのオーバーラップ量を測定するようにした
が、ダミー上刃１ａとダミー下刃２ａを設けずに、上刃
１と下刃２のオーバーラップ量を直接測定することもで
きる。その場合は、条材切断時に投光器７と受光器８を
取り外せるようにしておく必要がある。また投光器７と
受光器８の上下位置調整機構は、上軸５または下軸６の
上下位置調整機構に連動させることも可能である。
【００２３】またダミー上刃１ａとダミー下刃２ａの噛
み込み部付近で投光器７と受光器８を上または下へ移動
させながら連続的に受光器８の出力を検出し、その検出
出力の最小値を噛み込み幅ａとすることもできる。また
表示装置１０には、オーバーラップ量ｘを表示せずに、
噛み込み幅ａを表示し、それをオーバーラップ量ｘの管
理値とすることも可能である。
み込み部付近で投光器７と受光器８を上または下へ移動
させながら連続的に受光器８の出力を検出し、その検出
出力の最小値を噛み込み幅ａとすることもできる。また
表示装置１０には、オーバーラップ量ｘを表示せずに、
噛み込み幅ａを表示し、それをオーバーラップ量ｘの管
理値とすることも可能である。
【００２４】次に図４を参照して本発明の他の実施例を
説明する。図において、１は上刃、２は下刃、３、４は
スペーサーリング、５は上軸、６は下軸である。ここで
はダミー上刃およびダミー下刃を使用せず、一番端の上
刃１と下刃２の噛み込み部を、その真横に設置したＣＣ
Ｄカメラ１２により撮影する。ＣＣＤカメラ１２は微小
な受光素子を平面配置した二次元ＣＣＤイメージセンサ
ーである。
説明する。図において、１は上刃、２は下刃、３、４は
スペーサーリング、５は上軸、６は下軸である。ここで
はダミー上刃およびダミー下刃を使用せず、一番端の上
刃１と下刃２の噛み込み部を、その真横に設置したＣＣ
Ｄカメラ１２により撮影する。ＣＣＤカメラ１２は微小
な受光素子を平面配置した二次元ＣＣＤイメージセンサ
ーである。
【００２５】ＣＣＤカメラ１２の画像信号は画像処理装
置１３に入力され、そこで上刃１と下刃２の輪郭抽出を
行い、噛み込み幅ａを算出する。この噛み込み幅ａから
前記数式４によりオーバーラップ量ｘを算出することは
前記実施例と同じである。算出したオーバーラップ量ｘ
は表示装置１４に表示される。
置１３に入力され、そこで上刃１と下刃２の輪郭抽出を
行い、噛み込み幅ａを算出する。この噛み込み幅ａから
前記数式４によりオーバーラップ量ｘを算出することは
前記実施例と同じである。算出したオーバーラップ量ｘ
は表示装置１４に表示される。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ス
リッターの上刃と下刃のオーバーラップ量を正確に測定
することができるため、上刃と下刃のオーバーラップ量
を正確に設定することができ、条材の切断品質を向上さ
せることができる。
リッターの上刃と下刃のオーバーラップ量を正確に測定
することができるため、上刃と下刃のオーバーラップ量
を正確に設定することができ、条材の切断品質を向上さ
せることができる。
【図１】 スリッターの上刃と下刃のオーバーラップ量
を示す説明図。
を示す説明図。
【図２】 本発明に係るオーバーラップ量測定方法の一
実施例を示す説明図。
実施例を示す説明図。
【図３】 図２のＰ−Ｐ線矢視図。
【図４】 本発明に係るオーバーラップ量測定方法の他
の実施例を示す説明図。
の実施例を示す説明図。
１：上刃 １ａ：ダミー上刃 ２：下刃 ２ａ：ダミー下刃 ３、４：スペーサーリング ５：上軸 ６：下軸 ７：投光器 ８：受光器 ９：演算装置 １０：表示装置 １１：受光素子 １２：ＣＣＤカメラ １３：画像処理装置 １４：表示装置
Claims (2)
- 【請求項１】スリッターの上刃と下刃の噛み込み幅ａを
光学的手段により測定し、その噛み込み幅ａと、上刃の
半径ｒ1 と、下刃の半径ｒ2 とから、次式によりオーバ
ーラップ量ｘを求めることを特徴とするスリッターのオ
ーバーラップ量測定方法。 【数１】 ｘ＝ｒ1 ＋ｒ2 −√（ｒ1 2 −ａ2 ／４）−√（ｒ2 2 −ａ2 ／４） - 【請求項２】スリッターの上刃と下刃のオーバーラップ
量を調整する際に、上刃と下刃の噛み込み幅ａを光学的
手段により測定し、その噛み込み幅ａと、上刃の半径ｒ
1 と、下刃の半径ｒ2 とから、次式によりオーバーラッ
プ量ｘを求め、その値を参照しつつオーバーラップ量を
適正な値に設定することを特徴とするスリッターのオー
バーラップ量調整方法。 【数２】 ｘ＝ｒ1 ＋ｒ2 −√（ｒ1 2 −ａ2 ／４）−√（ｒ2 2 −ａ2 ／４）
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22785393A JPH0760533A (ja) | 1993-08-23 | 1993-08-23 | スリッターのオーバーラップ量測定方法および調整方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22785393A JPH0760533A (ja) | 1993-08-23 | 1993-08-23 | スリッターのオーバーラップ量測定方法および調整方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0760533A true JPH0760533A (ja) | 1995-03-07 |
Family
ID=16867400
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22785393A Pending JPH0760533A (ja) | 1993-08-23 | 1993-08-23 | スリッターのオーバーラップ量測定方法および調整方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0760533A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002126938A (ja) * | 2000-10-26 | 2002-05-08 | Toyota Motor Corp | 切裂加工装置 |
| CN114309780A (zh) * | 2020-09-30 | 2022-04-12 | 宝山钢铁股份有限公司 | 一种基于大数据理论的圆盘剪剪切力反馈控制方法 |
| KR20230092001A (ko) * | 2020-12-15 | 2023-06-23 | 아르셀러미탈 | 트리밍 나이프 위치의 마스터링 |
| WO2025100670A1 (ko) * | 2023-11-09 | 2025-05-15 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | 배터리 슬리터 검사 장치 |
-
1993
- 1993-08-23 JP JP22785393A patent/JPH0760533A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| CN114309780A (zh) * | 2020-09-30 | 2022-04-12 | 宝山钢铁股份有限公司 | 一种基于大数据理论的圆盘剪剪切力反馈控制方法 |
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| WO2025100670A1 (ko) * | 2023-11-09 | 2025-05-15 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | 배터리 슬리터 검사 장치 |
| EP4641179A4 (en) * | 2023-11-09 | 2025-12-31 | Lg Energy Solution Ltd | BATTERY SPLITTER INSPECTION DEVICE |
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