JPS6233437A - 半導体ウエハの整列装置 - Google Patents

半導体ウエハの整列装置

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JPS6233437A
JPS6233437A JP17646985A JP17646985A JPS6233437A JP S6233437 A JPS6233437 A JP S6233437A JP 17646985 A JP17646985 A JP 17646985A JP 17646985 A JP17646985 A JP 17646985A JP S6233437 A JPS6233437 A JP S6233437A
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JP
Japan
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wafers
dummy
chuck
wafer
diffusion
Prior art date
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Pending
Application number
JP17646985A
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English (en)
Inventor
Akimitsu Yamamoto
山本 晃充
Yoichi Mido
御堂 洋一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Publication of JPS6233437A publication Critical patent/JPS6233437A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、例えば半導体シリコンウェハ等の円板状のウ
ェハを整列治具上に整列させる半導体ウェハの整列装置
に関する。
〔従来の技術〕
例えば、IC,)ランジスタ、サイリスク等の半導体装
置は、周知のように円形をなすウェハに対し拡散、写真
製版等の処理を繰り返し施すことによって形成される。
そして、特に拡散処理については一般にバッチ処理され
ることが多く、このバッチ処理のためには、前記ウェハ
を各々に直立支持させるところの1組ずつの細溝を所定
ピッチ毎に多数形成した石英、SiC,ポリシリコン等
からなる整列治具、いわゆる拡散ボートが使用される。
従来、この拡散ボートへのウェハのローディングおよび
アンローディングは、第6図に示すようにして行われて
いた。
すなわち、拡散ボート1からカセット2への、またカセ
ット2から拡散ボート1へのウェハ3の移し替えが、全
て真空ピンセット4による吸着。
あるいは通常のピンセットによる挟持によってなされて
いた。この場合、la、lbおよび2a。
2bは各々拡散ボート1とカセット2に所定ピッチを隔
てて形成された多数組の細溝である。
前述した真空ピンセット4によるウェハ3の移し替えに
際しては、1回の処理ウェハ量を多くし、かつ均一な拡
散を行うために、その相互裏面を狭い間隙まで近付けた
状態でウェハ3を整列させる場合がある。このような場
合、一般にカセット2内でのウェハ3がその表裏を予め
一定方向に揃えて収納されていると、1枚のウェハ3を
移し替える度毎に表裏を交互に反転させなければならな
いため、これに細心の注意を要し、1つの工程毎にこれ
を繰り返すのは膨大な手間となる。この結果きわめて煩
雑な作業となるばかりか、移し替えにはウェハ面を一々
吸着し、あるいは挟むために損傷も多く、かつ人手の介
入によりウェハ表面の汚染もあって製造歩留まりが低下
するという問題があった。
そこで、第7図に示す半導体ウェハの整列装置を用いウ
ェハのローディングおよびアンローディングを行う場合
がある。この整列装置を同図に基づいて説明すると、同
図において、符号11で示すものは整列治具としての拡
散ボートで、ボート受け12上の所定位置に保持されて
おり、円形をなす半導体シリコンウェハ13を支承する
多数組の細溝11a、llbが所定のピッチを隔てて形
成されている。14は前記半導体シリコンウェハ13の
工程間搬送に用いるカセットで、両側に開口し保持装置
15に回動自在に保持されており、その内部には半導体
シリコンウェハ13を挿脱自在に支承する多数の細溝1
4a、14bが形成されている。そして、前記保持装置
15および前記拡散ボート11は各々移動装置16.1
7によって所定のストローク内で移動可能に構成されて
いる。18は前記細溝14a、14bとllaあるいは
14a、14bとIlbとの間で前記半導体シリコンウ
ェハ13の周縁部を案内する案内部材で、各々の開口部
が互いに対向する案内溝19a。
20aを有する2つの上下レール19.20からなり、
前記拡散ボート11と前記保持装置15との間に配設さ
れている。この案内部材18の案内溝19a、20aは
前記カセット14および前記拡散ボート11側からその
立ち上がり部19b。
20bに向かって傾斜形成されている。21は支持溝2
1aを有する補助案内部材で、前記両レール19.20
のうち上側のレール19に設けた往復装置22によって
進退するアーム23に設けられており、前記案内部材1
8の終端側から前記拡散ボー1−11の所定位置に半導
体シリコンウェハ13を案内するように構成されている
。24はL字状の突き上げ棒で、前記保持装置15の近
傍に配設されており、駆動装置(図示せず)により前記
カセット14内の半導体シリコンウェハ13を前記立ち
上がり部19b、20bまで突き上げるように構成され
ている。25は前記カセット14を反転させる反転装置
で、円形状の支持台25aを有し前記保持装置15の近
傍に配設されている。
したがって、移動装置16.17が駆動すると、保持装
置15および拡散ボート11が所定ピッチ動作してカセ
ット14の細/#14 aの開口端が上側レール19の
案内溝19aの開口端付近に位置付けられると共に、カ
セット14の細溝14bおよび拡散ボート11の細溝1
1aの開口端が下側レール20の案内a20aの各開口
端付近に位置付けられる。次いで、駆動装置(図示せず
)が動作すると、突き上げ棒24が半導体シリコンウェ
ハ13を立ち上がり部19b、20bまで押し出すため
、半導体シリコンウェハ13が立ち上がり部19b、2
0bから案内/#19a、20aの終端まで転勤降下し
、半導体シリコンウェハ13の一部が支持溝21a内に
支持される。そして、往復装置22が動作すると補助案
内部材21が前進し、半導体シリコンウェハ13が拡散
ボート11側に案内されて細溝11a内に支承される。
一方、拡散ボート11の細溝11b内に半導体シリコン
ウェハ13を反転させて支承するには、カセット14を
支持台25a上に載置して反転装置25を駆動し、次い
で保持装置15によってカセット14を所定位置で把持
して前述と同様に各装置を動作させればよい。
このようにして、拡散ボート11上に半導体シリコンウ
ェハ13をその表裏を交互にして順次整列させることが
できる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところで、この種半導体ウェハの整列装置を用いて炉内
で拡散処理を施す場合、熱分布を均一にするために拡散
ボート11上にダミーウェハを整列することがある。こ
のような場合、そのダミーウェハを一枚ずつカセットよ
り取り出すため、その取出作業に多大の時間を費やすと
いう不都合があった・ また、前述した真空ピンセットを用いる場合は、移し替
え時にダミーウェハを吸着することになり、このため損
傷も多く、かつ人手の介入によりウェハ表面の汚染もあ
って製造歩留まりが低下するという不都合があった。
本発明はこのような事情に鑑みなされたもので、ダミー
ウェハの移し替え時間を短縮することができ、また移し
替え時にウェハの汚染ならびに損傷を防止することがで
きる半導体ウェハの整列装置を提供するものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明に係る半導体ウェハの整列装置は、半導体ウェハ
を支承する多数の細溝を有する整列治具と、この整列治
具の近傍に配設され多数のダミーウェハを把持するチャ
ックを有するダミーウェハ移し替え装置とを備え、移し
替え装置のチャックには整列治具の細溝ピッチと同一の
ピッチを有する細溝が形成されているものである。
〔作 用〕
本発明においては、整列治具の近傍に配設されダミーウ
ェハを把持するチャックを有するダミーウェハ移し替え
装置を備え、この移し替え装置のチャックには整列治具
の細溝ピッチと同一のピッチを有する細溝が形成されて
いるから、人手を介在させることなく整列治具の細溝上
に多数のダミーウェハを一挙に整列させることができる
〔実施例〕
第1図は本発明に係る半導体ウェハの整列装置を示す斜
視図で、同図以下において第7図と同一の部材について
は同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。同図にお
いて、符号31で示すものは多数のダミーウェハ32を
把持するチャック33を有するダミーウェハ移し替え装
置で、前記整列治具11の近傍に配設された基台34お
よびこの基台34に移動自在に設けられた移動台35か
らなり、前記拡散ボート11との間でダミーウェハ32
の移し替えができるように構成されている。
36は前記拡散ボート11の細溝11a、llbのピッ
チと同一のピッチを有する細溝で、前記ダミーウェハ移
し替え装置31のチャック33に形成されている。37
は前記チャック33を両側方に開閉する開閉装置で、前
記ダミーウェハ移し替え装置31の移動台35に設けら
れている。なお、38は前記ダミーウェハ移し替え装置
31の基台34に設けられ前記移動台35を上下方−向
に動作させる作動装置である。
このように構成された半導体ウェハの整列装置において
は、拡散ボート11の近傍に配設されダミーウェハ32
を把持するチャック33を有するダミーウェハ移し替え
装置31を備え、チャック33には拡散ボート11の細
溝のピンチと同一のピッチを有する細溝36が形成され
ているから、人手を介在させることなく拡散ボート11
の細溝11a、llb上に多数のダミーウェハ32を一
挙に整列させることができる。
次に、前記構成による半導体ウェハの整列装置を用いて
半導体シリコンウェハ13の移し替えについて説明する
先ず、第2図に示すように予め各々が互いに間隔を隔て
た拡散ボートll上に2組のダミーウェハ32を支承さ
せる。次に、第3図に示すように両組のダミーウェハ3
2間に半導体シリコンウェハ13を支承させる。このと
き、一方のダミーウェハ32が半導体シリコンウェハ1
3に隣接している。そして、第4図に示すように他方の
ダミーウェハ32をチャック33で把持して第5図に示
すように半導体シリコンウェハ13に隣接させる。
このようにして多数のダミーウェハ32を拡散ボート1
1上に確実に支承させることができる。
なお、本発明においては、ダミーウェハ移し替え装置3
1を移動可能な構造とすれば、ダミーウェハ32の移し
替え時に拡散ボート11を移動させなくて済む。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、半導体ウェハを支
承する多数の細溝を存する整列治具と、この整列冶具の
近傍に配設され多数のダミーウェハを把持するチャック
を有するダミーウェハ移し替え装置とを備え、この移し
替え装置のチャックには整列治具の細溝ピッチと同一の
ピッチを有する細溝が形成されているので、人手を介在
させることなく整列治具の細溝上に多数のダミーウェハ
を一挙に整列させることができる。したがって、ダミー
ウェハの移し替え時間を短縮することができ、また従来
のようにウェハの移し替えに真空ビンセットを使用する
ものではないから、移し替え時にウェハの汚染ならびに
損傷を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る半導体ウェハの整列装置を示す斜
視図、第2図〜第5図はダミーウェハの移し替えを説明
するための断面図、第6図および第7図は従来の半導体
ウェハの整列装置を示す斜視図である。 11・・・・拡散ボート、lla、11.b・・・・細
溝、13・・・・半導体シリコンウェハ、31・・・・
ダミーウェハ移し替え装置、32・・・・ダミーウェハ
、33・・・・チャック、36・・・・細溝。 代   理   人   大 岩 増 IJit第2図 第3図 ]] 第5図 手続補正書(自発)  5 H3和  6是  2月 24日 待1′19官′                  
      力ε1、事件の表示   特願昭 60−
176469号2、発明の名称 半導体ウェハの整列装置 3、補正をする者 代表者 志 岐 守 哉 、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 、補正の内容 (1)明細書2頁10行の「第6図」を「第7図」と補
正する。 (2)同書3頁14行の「第7図」を「第6図」と補正
する。 (3)同書6頁17行の「交互にして」を「自在に」と
補正する。 (4)  同書10真12行の「チャック33ぞ把持し
て」の次に「拡散ボート11を移動させ」を挿入する。 以上

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体ウェハを支承する多数の細溝を有し移動装置によ
    って所定のストローク内で移動する整列治具と、この整
    列治具の近傍に配設され多数のダミーウェハを把持する
    チャックを有するダミーウェハ移し替え装置とを備え、
    この移し替え装置のチャックには前記整列治具の細溝ピ
    ッチと同一のピッチを有する細溝が形成されていること
    を特徴とする半導体ウェハの整列装置。
JP17646985A 1985-08-07 1985-08-07 半導体ウエハの整列装置 Pending JPS6233437A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02106923A (ja) * 1988-10-17 1990-04-19 Tel Sagami Ltd 基板の熱処理方法
JPH0496217A (ja) * 1990-08-03 1992-03-27 Kokusai Electric Co Ltd ウェーハ移載制御装置及び半導体製造装置
US8002511B2 (en) * 2005-10-28 2011-08-23 Tokyo Electron Limited Batch forming apparatus, substrate processing system, batch forming method, and storage medium

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5085275A (ja) * 1973-11-28 1975-07-09

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