JPS6235938A - 位置座標測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、タブレット上のポインタの位置座標を測定す
る装置、より詳細には、磁歪作用で誘起された歪波がポ
インタの位置座標に対応する点から磁歪要素の端にある
基準位置まで磁歪要素に沿って移動する時間を測定する
ことにより、各位置座標に関するポインタのそれぞれの
位置座標を測定する二次元位置座標測定装置に関するも
のである。

（従来の技術） デジタイザと呼ばれることもある位置座標測定装置の分
野においては、各座標軸について１本の長い非電気信号
伝播媒体、すなわち磁歪要素と、各導体が磁歪要素に近
い点から横断して延びている平行に間隔をおいて配置さ
れた複数の導体から成る対応する格子とを用いた構造が
知られている。

各磁歪要素に沿って基準位置と格子上のポインタの場所
に対応する位置との間を歪波が移動する時間を測定でき
るように、計時手段が設けられている。

米国特許第４，５１４，６８８号には、上述の′ような
デジタイザが開示されている。この特許は、相互に直交
する第１組、第２組の平行に間隔をおいて配置された導
体の格子回路網と、タブレットとを備えた自動座標測定
装置の構造を開示している。各磁歪要素（すなわち、ワ
イヤ）は、その軸線が対応する組の導線を横切るように
置かれている。ポインタは、導体に近接して動かすこと
ができるようになっている。このポインタには、各組の
平行な導体の少なくとも１本に誘導結合される磁束発生
要素が含まれている。磁束発生要素に電圧が加わると、
近接する導体に電流が誘導される。この電流は電圧が加
えられた磁束発生要素に近い領域においてそれぞれの磁
歪要素の中に歪波を誘起する。２個の磁歪要素は、それ
ぞれ、Ｘ座標とＸ座標に対応する。それぞれの磁歪要素
内に誘起された歪波は、検出手段が配置されている場所
まで軸線に沿って進行する。それぞれの検出手段は、ポ
インタの励起によって生じた進行中の歪波を検出し、そ
れに応じて信号を発生するセンサの働きをする。

また、前記米国特許第４，５１４，６８８号の場合は、
２個の磁歪要素の各端に基準信号誘導コイルが設けられ
ている。これらの基準信号誘導コイルは、カーソルのパ
ルス印加に先立って歪波を発生させるため励起される。

すなわち、双方の基準信号誘導コイルに電圧が印加され
ると、磁歪要素に沿って進行する一対の歪波が発生する
。発生した歪波は磁歪要素の端にある検出手段で受け取
られる。

それぞれの歪波を検出して検出手段が出力した信号は、
計時され２つの歪波を区別する移動時間が測定される。

そのあと、この測定された移動時間と磁歪要素の基準長
さに対応する基準値とが比較される。測定された移動時
間と基準値との差は、補正しなければならない誤差を表
わす。この較正処理は、磁束発生要素に電圧を加えない
で行なわれることに留意されたい。必要な誤差補正値が
記憶されたあと、制？ｆｆ１ｌ論理回路網がポインタの
磁束発生要素に電圧を加える。そのとき、ポインタによ
って誘起された歪波の移動時間が測定される。

各磁歪要素についての後者の移動時間は、ポインタ位置
の対応する未補正座標を表わす。補正後、ポインタ位置
の真の座標がデータ記憶装置または表示装置へ出力され
る。

この従来のデジタイザは、二次元の位置座標を測定する
ために２個の磁歪要素を設置しているという欠点がある
。したがって、各磁歪要素ごとに減衰マウントと検出コ
イルを作るための費用が余分にかかるのは避けられない
。

もう１つの欠点は、検出コイルが配置されている場所に
近いデータ・タブレットの使用面の隅にカーソルを置く
と、強力な遮蔽を設けない限り、カーソルのパルス印加
によって、検出コイルにパルスが誘起されて、そのパル
スが歪波により誘起されたパルスにイ］加されることで
ある。そのような遮蔽がない場合は、回路網が２つのパ
ルス、すなわち、伝播する歪波によって生じた情報信号
と、カーソルによって直接誘起された非情報信号とを正
確に弁別することは不可能であろう。この現象は、過負
荷（ｏｖｅｒｌｏａｄｉｎｇ　）として知られている。

（発明の目的） 本発明の第１の目的は、遅延線として作用する１本のＵ
字形磁歪要素を備え、逐次パルスを印加することにより
ポインタのＸ座標とＹ座標を測定することができる前記
型式のデジタイザを提供することである。

本発明の第２の目的は、第２の磁歪要素（以下、“遅延
線”と呼ぶ）に関連する減衰マウントと検出コイルを省
くことにより、この種の従来デジタイザよりかなり安価
に製造できるデジタイザを提供することである。

本発明の第３の目的は、過負荷（すなわち、カーソルと
検出コイル間の直接相互作用）によって起る問題を解決
した前記型式のデジタイザを提供することである。

本発明の第４の目的は、過負荷のため生したパルスを制
御論理回路で識別し、マスクすることにより、磁束発生
要素から検出コイルを遮蔽する必要がないデジタイザを
提供することである。

（発明の構成） 上記の諸口的は、本発明に従って、Ｕ字形遅延線の２つ
の直線部分とそれぞれ相互に直交する複数の平行導体と
を誘導結合し、検出コイルをＵ字形遅延線の第３の部分
の端に誘導結合することによって達成される。複数の導
線は、データ・タブレット内に格子網を形成し、その面
上で、磁束発生要素を有するポインタが動かされる。磁
束発生要素にパルスが印加されると、各組の少なくとも
１本の近接導線に電流パルスが誘導される。電流パルス
が流れた各導体は、それぞれ、Ｕ字形磁歪要素の第１直
線、部分に沿った点と、第２直線部分に沿った別の点に
、相反する方向に伝播する一対の歪波を誘起する。各一
対の一方の歪波は、検出コイルに向って伝播し、検出コ
イルは各歪波の到達を検出してパルスを出力する。

第１の歪波は、磁歪要素の第２直線部分の一部と第３部
分の全部に沿って伝播したあと検出コイルに達する。第
２の歪波は、第１直線部分の一部と第２直線部分の全部
と第３部分の全部に沿って伝播したあと検出コイルに達
する。第１の歪波が第３部分に沿って伝播するのに要し
た時間は、過負荷のため検出コイルが出力したパルスと
第１の歪波を検出して出力されたパルスとの時間間隔を
表わしている。この時間間隔は、従来のデジタイザの場
合に過負荷によって生じるパルスの重過を除去するので
、制御論理回路網は、位置座標測定のため情報パルスと
非情報パルスとを区別することができる。情報パルス、
すなわち伝播する歪波によって検出コイルに誘起された
パルスの移動時間が測定されたあと、命令プログラムに
従って処理され、パルスを印加したポインタの位置座標
が測定される。

以下、添付図面を参照して本発明の好ましい実施例を詳
細に説明する。

（実施例） 本発明の改良型デジタイザは、表面の下にＰＣ格子２が
埋め込まれたデータ・タブレット１を備えている。ＰＣ
格子２は、第１図に示すように、薄い基板にエツチング
され、平行に等間隔で配置された第１組の導体３と、平
行に等間隔で配置された第２組の導体４とで構成されて
いる。図示のように、第１組と第２組は直交している。

平行な導体３の端は、それぞれ導体３′によって連絡さ
れており、平行な導体４の端はそれぞれ導体４′によっ
て連絡されている。

導体に近接しているデータ・タブレットの上面に、磁束
発生要素１０を有するポインタ８を置き、磁束発生要素
にパルスを印加することにより、少なくとも１本の導体
３と、少なくとも１本の導体４に電流パルスを誘導でき
ることは、よく知られている。磁束発生要素１０のパル
ス印加に応じて近接する導体内に電流パルスが誘導され
る。少なくとも１本の導体４内の電流パルスは、磁歪材
料で作られたＵ字形遅延線２２の第２直線部分２２ｂの
電流パルスが誘導された導体４と遅延線２２とが近接し
ている点に、歪波を誘起する。もっと正確に言えば、電
流パルスは、近接点に、相反する方向に伝播する２つの
歪波を誘起する。相反する方向に伝播する２つの歪波は
、遅延線２２のそれぞれの端に向って進行する。同様に
、導体３内に誘導された電流パルスは、遅延線２２の第
１直線部分２２ａに沿った点に、相反する方向に伝播す
る２つの歪波を誘起する。タブレットの一番夕１例の表
面に絶縁層（第１図には図示せず）を形成することによ
り、導体３．４をポインタ８から電気的に絶縁すること
ができる。

第１直線部分２２ａと第２直線部分２２ｂは、曲り部分
２２Ｃで連結されており、歪波はこの曲り部分を通って
両者の間を伝播することができる。

第１直線部分２２ａの端は、減衰ブロック２４の中に取
り付けられている。

遅延線２２の第３部分２２Ｃは、曲り部分２２ｅで第２
直線部分２２ｂに連結されている。好ましい実施例の場
合は、第３部分２２ｃが直線であるが、本発明にとって
、この部分２２ｃの形状は重要でない。第３部分２２Ｃ
は、機能上回等な非線形部分で置き換えることができる
。第３部分２２ｃの端は、端の近くにある基準位置で第
３部分２２ｃを取り囲んでいる検出コイル３０を越えて
自由空間に伸びている。

ポインタ８　（第１図参照）は、データ・タブレットの
上面の端から端まで自動に動かずことができる。このポ
インタは、指針またはカーソルのいずれのタイプでもよ
く、導体３．４の面に垂直な軸線をもつ円形磁束発生要
素１０を有している。

磁束発生要素１０は、タブレットの表面に近接している
結果、タブレットの上面の近くに配列された個々の導体
に誘導結合される。磁束発生要素１０は変成器の一次側
の役目を果し、それぞれの格子導体３．４は二次側の役
目を果す。磁束発生要素１０は電源に直列接続されてい
る。コイルは、一時的に接地され、これにより既存の電
界が消失し、逆極性の電界が導体の格子回路網に誘起さ
れる。この誘起された電界により、磁束発生要素の近く
に位置する導体に電流が流れる。

カーソルは、スイッチ１８の一方の接点に接続されてい
るカーソル点弧回路１４によってパルスが印加される。

スイッチ１８の他方の接点は、あとで詳細に述べる基準
点弧回路１６に接続されている。スイッチ１８は、制御
論理回路２０のＣＰＵ（中央処理装置）（第４図参照）
から受りた信号で制御される。論理制御回路２０は、さ
らに増幅器１９を介して点弧回路１４．１６ヘトリガー
・パルスを出力する。

第２Ａ図は、本発明に従って誘起された電流パルスと歪
波を略図で示す。磁束発生要素１０は、位置１＝　（Ｘ
、Ｙ）に図示されており、原点は一番左の導体３の交点
に位置している。磁束発汁要素にパルスが印加されると
、点Ａで遅延線２２に近接している導体４と、点Ｂで遅
延線２２に近接している導線３に電流パルスが誘導され
る。これらの電流パルスは、それぞれ、点Ａ、Ｂに、相
反する方向に伝播する一対の歪波（ＷＡ、　ＷＡ　′と
ＷＢ、−Ｂ′）を誘起する。歪波Ｗへと畦は、Ｕ字形遅
延線２２に沿って検出コイル３０へ向って伝播する。

ポインタの位置座標（Ｘ、Ｙ）を測定するため歪波のそ
れぞれの伝播時間が処理されるという点で、これらの歪
波ＷＡ、　ＷＢは情報である。歪波ＷＡ’とＷＢ′は、
検出コイル３０から離れる方向に減衰ブロンり２４に向
って伝播し、ここで、これらの歪波は遅延線の端で反射
しないように減衰される。これらの歪波ＷＡ′、ＷＢ’
は、ポインタの位置座標の測定するのにそれらの伝播時
間が使われないので、情報ではない。

以下詳細に検討するように、各情報歪波の伝播時間を測
定するために、クロック手段が設置されている。第１図
の好ましい実施例において、歪波ｋＡと間のそれぞれの
伝播時間は、逐次測定される。

すなわち、磁束発生要素１０は、２回速次パルスが印加
され、初回のパルス印加のあと歪波−への伝播時間ｔｘ
が測定され、そして２回目のパルス印加のあと歪波間の
伝播時間ｔｙが測定される。次に、座標Ｘ、Ｙを得るた
め制御論理回路２０によって値ｔｙ、　ｔｙが処理され
る。この計算を実行するため、記憶装置（すなわち、第
４図のＲＯＭ７６）に記４ａされていた基準時間ｔｒｅ
ｆｘ　、、　ｔｒｅｆｙが処理手段（すなわち、第４図
のＣＰＵ７４）に提供される。

値ｔｒｅｆｘ　、、　ｔｒｅｆｙは、標準状態において
一番左の導体４と一番左の導線３によってそれぞれ誘起
された歪波の伝播時間を表わす。以下、詳細に検討する
ように、時間ｔｘとｔｙは、基準誘起歪波の伝播時間を
使って温度の影響を補償するため、比率比例関係に従っ
て修正される。この比率比例関係から得られた修正値ｔ
ｃｏｒｘとｔｃｏｒｙは、標準状態における歪波ＷＡ、
　ＷＢの仮定の伝播時間を表わす。そのあと、次の関係
式に従って、処理手段により位置座標ｘ、ｙが決定され
る。

Ｘ　＝　Ｖｐｒｏｐ　（ｔｃｏｒｘ　−ｔｒｅｆｘ　）
　　　（１１Ｙ　−Ｖｐｒｏｐ　（ｔｃｏｒｙ　−ｔｒ
ｅｆｙ　）　　　ｆ２１ここで、Ｖ　ｐｒｏｐは、遅延
線の一様な磁歪媒体の中を歪波が伝播する速度である。

第３図は、遅延線２２と関連部品を詳細に示す。

遅延線２２の一端は減衰ブロック２４で支持され、他端
は検出コイル３０を越えて自由に延びている。

遅延線２２は、導線３．４に近接して、あるいは実際に
接触して支持されているが、電気的には接触していない
ことに留意されたい。遅延線２２は、磁歪性質を示すど
れかの組成物、たとえば、ニッケル・クロム・バナジウ
ム合金または鉄・コバルト・バナジウム合金から作られ
る。磁束発生要素１０によりどれかの導線３．４に電流
が誘導されると、その導線と遅延線２２とが近接してい
る領域に生じた電磁界により、遅延線内に振動、すなわ
ち歪波が発生する。第１の一対の歪波は、遅延線の軸線
に沿って、電流パルスが生じた導体３に近接する点（第
２図の点Ｂ）から相反する方向に伝播し、第２の一対の
歪波は、電流パルスが生じた導体４に近接する点（第２
図の点Ａ）から伝播する。遅延線２２は、細長い管状ジ
ャケットすなわちスリーブ２６で被覆されている。スリ
ーブ２６は低摩擦材料で作られたものが好ましい。テフ
ロンは、磁歪作用で誘起された歪波をほとんど減衰させ
ないので、遅延線２２を被覆するのに適した材料である
ことがわかった。

遅延線２２の第３部分２２Ｃの端の所定位置には、遅延
綿２２を取り囲み、前置増幅器３２の入力側に接続され
た誘導検出コイル３０が設置されている（第１図参照）
。検出コイル３０と前置増幅器３２は、遅延線２２に沿
ってこの点に達した伝播する歪波を検出して電気信号（
すなわち、増幅されたパルス）を出力する回路を形成す
る。代りに、誘導検出コイルを圧電素子で置き換えても
よい。　被覆物、すなわちジャケット２６には、全長に
沿って、導電性らせん形バイアス・コイル３４が巻かれ
ている。バイアス・コイル３４は、銅などの良導体から
作られたものが好ましい。バイアス・コイル３４の一端
はバイアス信号発生器３６の出力側に接続され（第１図
参照）、他端は接地されている。発生器３６からバイア
ス・コイル３４へ印加されたバイアス信号は、遅延線の
周囲に電磁界を発生さセる。この電磁界は、遅延線２２
を初期動作状態に戻すとともに、導体内に生じた電流に
対する遅延線２２の歪波伝播応答を変えるヒステリシス
その他の外部の影響を補償する。

遅延線２２のバイアス印加は、ポインタの測定サイクル
を始める前に行なわれる。バイアス印加操作は、各測定
サイクルの前、あるいは、いくつかの測定サイクルのグ
ループの間に定期的に実行してもよい。バイアス印加は
、測定信号のタイミングとは独立に行なうことが可能で
ある。

第４図に図示した構成は、一対の相互に直交する座標軸
に対するポインタ８の位置を逐次測定するのに適してい
る。ポインタ８の磁束発生要素１０にパルスが印加され
ると、水平導体３の少なくとも１本と垂直導体４の少な
くとも１本に電流パルスが誘導される。前述のように、
各電流パルスは、Ｕ字形遅延線２２内に相反する方向に
伝播する一対の歪波を誘起する。誘起された各歪波の伝
播速度は、検出コイル３０で検出されるまで一定である
から、第１および第２歪波（第２図のＷＡ、　ＷＲ）の
伝播時間を測定し、それを使ってポインタの対応する位
置座標を計算することができる。

以下、詳しく検討するが、カーソル点弧回路１４は、ス
イッチ１８がカーソル点弧位置にあるとき、制御論理回
路２０から増幅器１９を通して送られたトリガー信号に
応答して、磁束発生要素内にパルスを発生する。制御論
理回路２ｏに含まれているカウンタ４２は、カーソルの
点弧と同時に（ずなわち、トリガー信号の出力と同時に
）計数動作を開始し、そして遅延綿２２内に誘起された
歪波の到達を指示する、前置増幅器３２が出力した信号
に応じて計数動作を停止するく第４図参照）。カウンタ
４２については、第５図を検問するとき詳細に述べる。

第４図の実施例においては、前に述べたように、一対の
トリガー信号が逐次出力され、最初のトリガー信号のあ
と到達した第１の歪波の検出に応じて、そして第２のト
リガー信号のあと到達した第２の歪波の検出に応じて計
数動作を停止するように、カウンタ４２が制御される。

各力うントは、カーソルで誘起された歪波が誘起点から
検出コイル設置点まで伝播する時間を表わす。これらの
カウントは、ポインタの位置座標を測定するために使わ
れる。カウンタの計数速度は、所定の周波数のクロック
４４によって制御される。

第１直線部分の端近くの所定基準位置で遅延線２２を取
り囲んでいるのは、基準信号発生用誘導コイル２８であ
る。この基準コイル２８は、基準点弧回路１６に接続さ
れている。基準コイル２８の作用は、遅延線の反対端に
向って伝播してそこに設置された検出コイル３０で検出
される歪波を遅延線２２内に誘起することである。基準
コイル２８のパルス印力旧よ、磁束発生要素１ｏのパル
ス印加の前に行なわれる。以下詳しく述べるように、カ
ウンタ４２は、基準コイル２８が点弧された時点で開始
され、検出コイル３０に基準信号で誘起された歪波が到
達した時点に停止される。基準コイル２８によって誘起
された歪波の伝播時間を使ってデジタイザを自動的に較
正し、温度の影響を補償することができる。基準点弧回
路１６は、スイッチ１８が基準点弧位置にあるとき、制
御論理回路２０から増幅器１９を通して出力されたトリ
ガー信号に応じて基準コイル２８にパルスを印加する。

このように、スイッチ１８を使って基準コイル２８と磁
束発生要素１ｏの点弧を交互に制御することができる。

スイッチ１８の状態は、ＣＰＵ１４によって出力された
制御信号で決められる。

標準温度状態において基準コイル２８によって誘起され
た歪波は、所定の時間の間伝播して検出コイル３０に到
達する。この標準状態における既知の伝播時間と実際の
状態において基準信号で誘起された歪波の伝播時間とを
比較して、温度の影響を補償するため補正が必要かどう
か決めることができる。この補正は、次の比率比例関係
に従って既知のやり方で実行することができる。

ｔｓｔｄ／１ｆｉｄ＝ｔｃｏｒ／１ｃｕｒ　　　　（３
１ここで、ｔｓ　ｔｄは標準状態において基準信号によ
り誘起された歪波の伝播時間、ｔｆ＋ｄは実際の状態に
おいて基準信号により誘起された歪波の伝播時間、ｔｃ
ｕｒは実際の状態においてカーソルにより誘起された歪
波の伝播時間、そしてｔｃｏｒは標準状態においてカー
ソルにより誘起された歪波の理論的伝播時間を表わす補
正後の伝播時間である。

本発明に従って逐次座標を測定する制御論理回路２０の
好ましい実施例の場合は、歪波が検出コイル３０で検出
されたあと、前置増幅器３２で増幅される。そのあと、
第４図に示すように、増幅された信号がしきい値弁別器
３８へ加えられる。

しきい値弁別器３８は、最小限しきい値に達したあとの
最初の零交差を検知して、零交差の発生に対応するパル
スを出力するように働く。しきい値弁別器３８の出力は
、計数回路、すなわちカウンタ４２へ送られ、カウンタ
停止信号として働く。

同時に、クロック４４は、計数回路４２ヘクロソク信号
を出力する。

スイッチ１８がカーソル点弧位置にあるとき、ＣＰ　Ｕ
　７４により出力された最初のトリガー信号が磁束発生
要素１０にパルスを印加すると、その結果、最初の増幅
されたパルスが前置増幅器３２から出力される。第２の
増幅されたパルスは、ＣＰＵ７４からの第２のトリガー
信号に応じて前置増幅器３２から出力される。最初のト
リガー信号のあとの最初の増幅されたパルスがカウンタ
停止信号として働き、第２のトリガー信号のあとの第２
の増幅されたパルスがカウンタ停止信号として働くよう
に、カウンタ４２は適切に制御される。

この逐次パルス印加法を使えば、制御論理回路２０を構
成する素子の数を減らずことが可能である。

第４図に示す実施例によれば、ＣＰ　Ｕ　７４は、各ト
リガー信号の出力と同時にカウンタ始動信号を出力する
。最初のトリガー信号の出力に続いて、ポインタにパル
スが印加され、前置増幅器３２は最初および第２の増幅
されたパルスをしきい値弁別器３８へ送り、これらの信
号に応じて弁別器３日はそれぞれのカウンタ停止信号を
計数回路４２へ出力する。計数回路４２は、最初のカウ
ンタ停止信号に応じて計数動作を停止するが、第２のカ
ウンタ停止信号は何の効果も有しない。そのあと、この
最初のカウントは、ＣＰＵ７４へ出力され、そこのラン
ダムアリセスメモリに一時的に記憶される。次に、ＣＰ
Ｕ７４は、計数回路４２ヘカウントをゼロにリセットす
るためのリセット（ＲＥＳＥＴ）信号を出力する。その
あと、第２のトリガー信号が第２のカウンタ起動信号と
同時にＣＰＵ７４により出力され、そのあと、前置増幅
器３２から出力さた最初および第２の増幅されたパルス
に応じてしきい値弁別器３８からそれぞれカウンタ停止
信号が出力される。しかし、今度は、第２のカウンタ停
止信号を受け取るまで４数回路４２は計数動作を続ける
。この場合には、第４図に示すように、ＣＰＵ７４が最
初のカウンタ停止信号を受け取った時点で抑止信号を計
数回路４２へ出力する。この抑止信号は、最初のカウン
タ停止信号を無効にする。第６図に示すように、抑止信
号はラッチ５２のＤ端子へ出力され、カウンタ停止信号
器オラソチ５２のＣ端子へ出力される。

最初のカウンタ停止信号に応じて、ＣＰＵ７４が抑止信
号の出力を止めるため、第２のカウンタ停止信号ば効力
を有し、計数回路４２の計数動作を停止させる。この第
２のカウントは、ＣＰＵ７４へ出ノｊされる。次にＣＰ
　Ｕ　７４は、ＲＯＭ７５に記憶されたルーチンに従っ
て、ランダムアリセスメモリに記憶された最初および第
２のカウントを処理して、ポインタ８の位置座標を決定
する。このルーチンは、Ｕ字形遅延線と格子回路網の幾
何学的関係を反映している。

さらに、ＣＰ’Ｕ７４は、時間ｔ　＜　ｔｒｅｆＸのと
き抑止信号を出力丈るよう番こプログラムされているの
で、計数回路は、時間ｔｏ　（第２Ｂ図参照）において
パルス印加されたポインタにより直接誘導された検出コ
イル・パルスに応じて計数動作を停止することありえな
い。

第５図は、前置増幅器３２としきい値弁別器３８を構成
する回路網を詳細に示す。前置増幅器３２ば、検出コイ
ル３０の両端子に接続された１：４の変成器３６を有す
る。変成器３６の両出力端子に＋５にΩ抵抗器が接続さ
れている。変成器二次側の一方の端子は、演算増幅器３
４の正端子に直接接続されている。変成器二次側の他方
の端子は、それぞれの抵抗器を介して演算増幅器３４．
３５の負、端子に接続されている。演算増幅器３４の出
力端子はコンデンサを介して演算増幅器３５の正端子に
接続されている。前置増幅器３２は、検出コイル３０内
にパルスが誘導されると、それに応じて演算増幅器３５
が増幅されたアナログ信号を出力するように動作する。

このアナログ信号は、比較器４０から成るしきい値弁別
器３８によってデジタル・パルスに変換される。しきい
値弁別器３８は、前置増幅器３２から、所定の電圧レベ
ルに等しいか、それ以上のアナログ信号を受け取ると、
それに応じてカウンタ停止信号を出力するように働く。

第６図に、計数回路４２の一例を示す。計数回路４２は
、ＣＰＵ７４からリセット信号を受け取るように接続さ
れたリセット端子をもつ３個のＤラッチ４８．５０．５
２を有する。ラッチ４８のＣ端子は、ＣＰｔＪ７４から
カウンタ起動信号を受け取るように接続されている。ラ
ッチ５２のＤ端子はＣＰｔＪ７４から抑止信号を受けを
るように接続され、そのＣ端子ばＡＮＤゲート４６を介
してカウンタ停止信号を受け取るように接続されている
。５４ＭＨｚのクロック４４は、ラッチ５０のＣ端子お
よびＡＮＤゲート４５を介してＡＮＤゲート５４の一方
の入力端子へクロック信号を出力する。ＡＮＤゲート５
４の他方の入力端子ば、ラッチ５２のＣ端子へ接続され
ている。ＡＮＤゲート５４の出力端子は、ラッチ６０の
Ｃ端子へ接続されている。ラッチ６０のＣ端子は、排他
的論理和ゲート６２の入力端子に接続されており、他方
、Ｃ端子はラッチ６０のＤ端子とデュアル２進力うンク
６４に接続されている。排他的論理和ゲート６２の他方
の入力端子は、ＪＫフリップフロップ５８のＣ端子に接
続されている。フリップフロップ５８のＪ端子とに端子
はラッチ５２のＣ端子に、Ｃ端子はＡＮＤゲート５６の
出力端子に、ＣＬ　Ｒ端子はラッチ５０のＣ端子に接続
されている。ＡＮＤゲート５６の２つの入力端子は、そ
れぞれＡＮＤゲート４５の出力端子と、ＩＯＫΩ抵抗器
を介して＋５Ｖ電源に接続されている。計数回路４２ば
、ラッチ４８がカウンタ起動信号を受け取ると、それに
応じて計数動作を開始する。計数速度は、クロック４４
の周波数によって決まる。もしラッチ５２のＤ端子がＣ
ＰＵ７４からの抑止信号によって使用不能であれば、ラ
ッチ５２のＣ端子に出力端子が接続されている排他的論
理和ゲート４６がカウンタ停止信号を受け取ると、それ
に応じて、計数回路４２は計数動作を停止し、そのあと
、計数回路４２は、そのカウントを表わす複数のピント
をＣＰＵ７４へ出力する。排他的論理和ゲート６２の出
力は、最下位のピッ）（ＬＳＢ）を表わし、デュアル２
進カウンタ６４の２Ｄ端子の出力は最下位のビット（Ｍ
ＳＢ）を表わす。

第７図は、本発明の基準点弧回路１６の回昂図である。

基準コイル２８は、遅延線２２に密接しているから、遅
延線内に使用可能なパルスを発生さセるために大きな電
流を必要としない。したがって、基準点弧回路１６は、
増幅器１９からの信号に応じて基準コイル２８を点弧す
る簡単なトランジスタ６６で構成されている。

第８図は、本発明のカーソル点弧回路１４０回路図、で
ある。従来のカーソル点弧回路は、陽極が充電用コンデ
ンサに接続されたシリコン制御整流器で構成されていた
。本発明のカーソル点弧回路、すなわちポインタのパル
ス発生器の場合は、上記の部品がパワーＭＯ３ＦＥＴ６
Ｂで置き換えられている。ＭＯＳＦＥＴの使用によって
ポインタの両端に印加される電流パルスは非常に増強さ
れるので、ポインタはより大きな信号振幅を発生する。

また、従来は、シリコン制御整流器回路のため、サンプ
ルレートが非常に小さかった。第８図に示すように、カ
ーソル点弧回路は、ベースが共通ジャンクション８０に
接続された直列接続のトランジスタ７０．７２と、端子
がジャンクション７４．７６．７８に接続されたパワー
ＭＯ５Ｉ？ＥＴ　６８で構成されている。パワーＭＯ３
ＦＥＴ６８は、増幅器１９から出力信号を受け取ると、
それに応じて磁束発生器１０にパルスを印加する。

第９図は、同時座標測定を実行するのに適した実施例を
示す。この実施例においては、検出コイル３０が到達し
た２つの歪波を検出すると、それに応じて前置増幅器３
２がそれぞれの増幅されたパルスを出力するしきい値弁
別器３８は、増幅された各パルスを受け取ると、それに
応じて第１および第２のカウンタ停止信号をカウンタ４
２．４２′へ出力する。カウンタ４２．４２′は、ＣＰ
Ｕ７４で制御され、カーソル点弧回路１４へ出力された
トリガー信号と同時に、ＣＰＵ７４から出力されたカウ
ンタ起動信号に応じて計数動作を開始する。カウンタ４
２は、しきい値弁別器３８から最初のカウンタ停止信号
を受け取ると、それに応じて、計数動作を停止する、す
なわち、カウンタ４２ば、ＣＰＵ７４から抑止信号を受
け取らない。しきい値弁別器３８からの第２のカウンタ
停止信号は、カウンタ４２になんの効果も及ぼさない。

カウンタ４２′は、ＣＰＵ７４から出力された抑止信号
（第８図参照）のために、最初のカウンタ停止信号を受
け取ったときその計数動作の停止が抑止される。第１０
図かられかるように、２つのカウンタ停止信号はＣＰＵ
７４へも送られる。ＣＰＵ７４は、トリガー信号を出力
した時点からＣＰＵ７４が最初のカウンタ停止信号を受
け取った時点まで（すなわち、ｔｏからｔｘまで）の間
においてのみ、抑止信号を出力するようにプログラムさ
れている。最初のカウンタ停止信号がＣＰＵ７４に受け
取られたあとは、カウンタ４２′に対する抑止ラインが
使用禁止になるので、カウンタ４２゛は、次の（すなわ
ち、第２の）カウンタ停止信号を受け取ったときそれに
応じて計数動作を停止する。また、前に触れたように、
ポインタにより直接誘導される検出コイル・パルスをマ
スクするため、カウンタ４２は、時間ｔｏがらｔｒｅｆ
ｘまでの間ＣＰＵ７４から抑止信号を受け取ることがで
きることに注意されたい。それぞれのカウンタ４２．４
２′から得られた第１および第２のカウント（Ｎ、とＮ
２）は、ＣＰＵ７４へ出力され、ＣＰＵ７４は（１１式
と（２）弐に従ってこのデータを処理し、ポインタ８の
Ｘ座標とＹ座標を得る。

前に触れたように、第４図と第９図に示した２つの実施
例は、減衰ブロックを１個有しているだけである。検出
コイル３０が設置された遅延線の端は、遅延線の“同調
”を可能にするため、空間に自由に浮かせである。遅延
線２２の自由端（第１０Ａ図参照）は減衰ブロックの中
に取り付けられていないから、入射した歪波Ｗは自由端
から反射されて検出コイル３０を通過し、反対端にある
減衰フロック２４に向って伝播する。検出コイル３０を
越えて伸びている自由端２３の長さＤを加減することに
より、反射した歪波を入射した歪波に加え合わすことが
できるので、検出コイル３゜で検出される波のビークビ
ーク信号振幅が２倍になり、プロキシミティ　（ｐｒｏ
ｘｉｍｉｔｙ　）が増える。

検出コイル３０を越えて伸びている遅延線２２（７）長
サバ、カーソルを励起する電流パルスのパルス幅Ｉｃに
正比例する。大ざっばに言えば、電流パルス幅１マイク
ロ秒につき遅延線を検出コイルの外側に３／３２インチ
伸ばさなければならない（検出コイルの中心から測る）
。したがって、Ｉｃ−２マイクロ秒であれば、Ｄを３／
１６インチにしなければならない。

この現象は、反射された波形の位相が入射した波形に対
し１８０°ずれているために起る。自由端２３の長さＤ
を適当に選択することにより、２つの波を“同調”させ
、入射した波の後縁と反射した波の前縁とを加え合わす
ことにより、より大きなビークビーク振幅を有する１個
のパルスを生じさせることができる（第９ｃ図参照）。

好ましい実施例の場合は、 Ｖｐｒｏｐ＝　５（１００メートル／秒−０，０１イン
チ／５０＋１秒 である。もし電流パルス幅１ｃ＝２マイクロ秒であれば
、この時間の間に伝播する歪波の移動距離ｄは、０．４
インチである。ｄ＝２Ｄの関係を使って、Ｄ〜３／１６
インチが得られる。

好ましい実施例の上記説明は、例示の目的で述べたもの
であって、特許請求の範囲に記載した発明の範囲を限定
するものではない。この分野の専門家は、ここに開示し
た発明概念の範囲および精神の中で容易に修正を行なう
ことができよう。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明による導体の格子、Ｕ字形遅延線、カ
ーソルの平面図と、ブロック図で示した制御論理回路、 第２Ａ図は、導体のＰＣ格子とＵ字形遅延線の第３図は
、被覆物を一部除去した遅延線の一部と、それを取り巻
いているコイルの一部を示す斜視図、 第４図は、本発明による逐次座標測定に適している電気
回路網の略ブロック図、 第５図は、第４図にブロックで描かれた前置増幅器とし
きい値弁別器の詳細な回路図、第６図は、第４図にブロ
ックで描かれた計数回路の詳細な回路図、 第７図は、第１図と第４図にブロックで描かれた基準点
弧回路の詳細な回路図、 第８図は、第１図と第４図にブロックで描かれたカーソ
ル点弧回路の詳細な回路図、 第９図は、同時座標測定のための第２の実施例における
データ・タブレットの底面図と、関連電気回路網の略ブ
ロック図、および 第１０図は、検出コイルに向って伝播する誘起された歪
波（Ａ）、磁歪要素の端から反射されて伝播する歪波（
Ｂ）、検出コイルによって検出される、誘起された歪波
と反射された歪波の和（ｃ）の略図である。 １・・データ・タブレット、２・・ＰＣ格子、３．４・
・導線、３゛、４’・・導線、８・・ポインク、１０・
・磁束発生要素、１４・・カーソル点弧回路、１６・・
基準点弧回路、１８・・スイッチ、１９・・増幅器、２
０・・制御論理回路、２２・・遅延線、２２ａ、２２ｂ
　　・・直線部分、２２Ｃ・・第３部分、２２ｄ・・曲
り部分、２３・・自由端、２４・・減衰ブロック、２６
・・管状ジャケット、２Ｂ・・基準コイル、３０・・検
出コイル、３２・・前置増幅器、３４・・バイアス・コ
イル、演算増幅器、３５・・演算増幅器、３６・・変成
器、バイアス信号発生器、３８・・しきい値弁別器、４
０・・比較器、４２．４２　’・・カウンタ（計数回路
）、４４・・クロック、４５．４６　　・・ＡＮＤゲー
ト、４Ｂ、５０．５２・・ランチ、５４．５６　　・・
ＡＮＤゲート、５８・・フリップフロップ、６０・・ラ
ンチ、６２・・排他的論理和ゲート、６４・・デュアル
２進カウンタ、６６・・トランジスタ、６８・・パワー
ＭＯ３ＦＥＴ、　７０．　７２・・トランジスタ、７４
・・ＣＰＵ　　（中央処理装置）、７６・・・ＲＯＭ、
？４．　　７６．７８・・ジャンクション、８０・・共
通ジャンクション。 手続補正書 １．事件の表示　　昭和６１年特許願第１８１８２３号
２、発明の名称　　　　位置座標測定装置３、補正をす
る者 事件との関係　　　出顆人 名称　　　サマグラフィックス　コーポレーション４、
代理人 氏　名（５９９５）弁理士　中　　村　　　　　稔ｊｉ
、−，，，４＋、’・５、補正命令の日付　　自　　発 ６、補正の対象　　　　明細書の特許請求の範囲の欄７
、補正の内容　　　　別紙記載の通り特許請求の範囲 ＋１）　＋８）　　第１の座標軸に直交している平行に
等間隔で配置された第１組の導体と、第２の座標軸に直
交している平行に等間隔で配置された第２Ｍ！ｉの導体
とから成る格子回路網、（１））第１、第２、および第
３直線部分から成り、前記第１直線部分が前記第１組の
導体の少なくとも１本に、そして前記第２直線部分が前
記第２組の導体の少なくとも１本にそれぞれ誘導結合さ
れるように、前記第１直線部分が前記第１組の導体に対
し近接して配置され、そして前記第２直線部分が前記第
２組の導体に対し近接して配置されており、これにより
各導体の付勢に応答して伝播歪波が誘導されるようにな
った磁歪手段、および （ｃ１前記第３直線部分に誘導結合されるように前記第
３直線部分に対し近接して基準位置に配置され、前記第
３直線部分内を伝播する各歪波が前記基準位置に達した
ときそれに応じて信号を出力する検出手段、 から成ることを特徴とする位置座標測定用データ・タブ
レット。 （２）前記第１組の導体の１本に電流が誘導されそれに
応じて前記磁歪手段内に発生した第１の歪波が前記第１
直線部分から第２直線部分をｉｔｌって第３直線部分へ
連続して伝播し、そして前記第２組の導体の１本に電流
が誘導されそれに応じて前記磁歪手段内に発生した第２
の歪波が前記第２直線部分から第３直線部分へ伝播し、
前記基準位置に達したそれぞれの前記第１および第２の
歪波に応じて前記検出手段が信号を出力するように、前
記第１、第２、および第３直線部分は第１および第２曲
り部分で連結されていることを特徴とする特許請求の範
囲第１項記載のデータ・タブレット。 （３）前記第３直線部分は、自由端を有しており、前記
基準位置は前記自由端の近くにあることを特徴とする特
許請求の範囲第２項記載のデータ・タブレット。 （４）前記第１直線部分の端は、減衰手段内に取り付け
られており、前記減衰手段は伝播する歪波が前記第１直
線部分の端から反射されるのを阻止することを特徴とす
る特許請求の範囲第２項記載のデータ・タブレット。 （５）前記検出手段は、前記磁歪手段の周囲に巻かれた
誘導コイルから成ることを特徴とする特許請求の範囲第
１項記載のデータ・タブレット。 （６）前記検出手段は、圧電変換器から成ることを特徴
とする特許請求の範囲第１項記載のデータ・タブレット
。 ＋７１　（ａｌ　　第１の座標軸に直交している平行に
等間隔で配置された第１組の導体と、第２の座標軸に直
交している平行に等間隔で配置された第２組の導体とか
ら成る格子回路網、 （ｂ）　　第１、第２、および第３直線部分がら成り、
前記第１直線部分が前記第１組の導体の少なくとも１本
に、そして前記第２直線部分が前記第２組への少なくと
も１本にそれぞれ誘導結合導体されるように、前記第１
直線部分が前記第１＆Ｉｌの導体に対し近接して配置さ
れ、そして前記第２直線部分が前記第２組の導体に対し
近接して配置されており、これにより各導体の付勢に応
答して伝播歪波が誘導されるようになった磁歪手段、 ｆｃｌ　　前記第３直線部分に誘導結合されるように前
記第３直線部分に対し近接して基準位置に配置され、前
記第３直線部分を伝播する各歪波が前記基準位置に達し
たときそれに応じて信号を出力する検出手段、 （ｄｌ　　電流パルスを出力するパルス発生手段、ｔａ
）前記パルス発生手段に電気的に接続され、前記格子回
路網に対し誘導結合されるように近接して配置され、前
記電流パルスに応じて磁束を発生する磁束発生手段、 から成り、前記検出手段は、前記パルス発生手段による
電流パルスの出力に応じて第１および第２の信号を直列
に出力することを特徴とする位置座標測定装置。 （８）前記第１組の導体の１本に電流が誘導されそれに
応じて前記磁歪手段内に発生した第１の歪波が前記第１
直線部分から第２直線部分を通って第３直線部分へ連続
して伝播し、そして前記第２組の導体の１本に電流が誘
導されそれに応じて前記磁歪手段内に発生した第２の歪
波が前記第２直線部分から第３直線部分へ伝播し、前記
第１および第２の歪波のそれぞれが前記基準位置に到達
するのに応じて前記検出手段が信号を出力するように、
前記第１、第２、および第３直線部分は、第１および第
２曲り部分で接続されていることを特徴とする特許請求
の範囲第７項記載の位置座標測定装置。 （９）さらに、前記パルス発生手段による電流パルスの
出力に応じて計数動作を開始するように動作上接続され
ている計数手段を備えており、前記計数手段は前記検出
手段による信号の出力に応じて計数動作を停止するよう
に動作上接続されていることを特徴とする特許請求の範
囲第８項記載の位置座標測定装置。 ＯＩ　　さらに、プログラムを記憶する記憶手段と、前
記プログラムに従って計算を実行する計算手段とを備え
ており、前記計算手段は前記１数手段から前記停止上さ
れたカウントを表わす信号を受け取るように接続されて
おり、前記プログラムにより、前記計算手段は前記停止
されたカウント値から前記第１座標軸に対する前記ポイ
ンタの第１位置座標を計算できることを特徴とする特許
請求の範囲第９項記載の位置座標測定装置。 ０υ　さらに、前記検出手段の出力を増幅する増幅手段
と、前記増幅手段および前記計数手段に接続されていて
、所定のしきい値より大きな特性値を有する増幅された
信号を弁別し、前記弁別に応じて前記計数手段ヘカウン
タ停止信号を出力する弁別手段とを備えていることを特
徴とする特許請求の範囲第９項記載の位置座標測定装置
。 （１２１さらに、前記パルス発生手段による電流パルス
の出力に応じて計数動作を開始するように動作−Ｌ接続
された第１および第２計数手段を備えており、前記第１
および第２計数手段は、前記検出手段による前記第１お
よび第２の歪波のそれぞれの検出に応じて計数動作を停
止するように動作上接続されていることを特徴とする特
許請求の範囲第８項記載の位置座標測定装置。 ０勇　さらに、前記検出手段の出力を増幅する増幅する
手段と、前記増幅手段と前記第１および第２計数手段に
接続され、しきい値を有する増幅された信号を弁別し、
前記弁別に応じて前記第１および第２計数手段ヘカウン
タ停止信号を出力する弁別手段とを備えていることを特
徴とする特許請求の範囲第１２項記載の位置座標測定装
置。 （１０　　さらに、プログラムを記憶する読出し専用記
憶装置と、前記プログラムに従って計算を実行する計算
手段とを備えており、前記計算手段は前記第１および第
２計数手段から停止されたカウントを表わすそれぞれの
信号を受け取るように接続されており、前記プログラム
により、前記計算手段は前記停止された第１および第２
カウント値から前記第１および第２座標に対する前記ポ
インタの第１および第２位置座標をそれぞれ計算できる
ことを特徴とする特許請求の範囲第１３項記載の位置座
標測定装置。 ０５１　　さらに、所定のルーチンに従ってカウンタ始
動信号と抑止信号とを出力する計算手段と、前記計算手
段によるカウンタ始動信号の出力に応じて計数動作を開
始するように動作上接続された計数手段とを備えており
、前記ｉ１（数千段は前記計算手段が抑止信号を出力し
ていない場合にのみ、前記検出手段による信号の出力に
応じて計数動作を停止するように動作上接続されている
ことを特徴とする特許請求の範囲第８項記載の位置座標
測定装置。 Ｏｅ　　さらに、前記検出手段が出力した信号を増幅す
る増幅手段と、前記増幅手段および計数手段に接続され
、所定のしきい値より大きな特性値を有する増幅された
信号を弁別し、前記弁別に応じて前記計数手段ヘカウン
タ停止信号を出力する弁別手段とを備えていることを特
徴とする特許請求の範囲第１５項記載の位置座標測定装
置。

Claims (16)

【特許請求の範囲】
1. （１）（ａ）第１の座標軸に直交している平行に等間隔
   で配置された第１組の導体と、第２の座標軸に直交して
   いる平行に等間隔で配置された第２組の導体とから成る
   格子回路網、 （ｂ）第１、第２、および第３直線部分から成り、前記
   第１直線部分が前記第１組の導体の少なくとも１本に、
   そして前記第２直線部分が前記第２組の導体の少なくと
   も１本にそれぞれ誘導結合されるように、前記第１直線
   部分が前記第１組の導体に対し近接して配置され、そし
   て前記第２直線部分が前記第２組の導体に対し近接して
   配置されている磁歪手段、および （ｃ）前記第３直線部分に誘導結合されるように前記第
   ３直線部分に対し近接して基準位置に配置され、前記第
   ３直線部分内を伝播する歪波が前記基準位置に達したと
   きそれに応じて信号を出力する検出手段、 から成ることを特徴とする位置座標測定用データ・タブ
   レット。
2. （２）前記第１組の導体の１本に電流が誘導されそれに
   応じて前記磁歪手段内に発生した第１の歪波が前記第１
   直線部分から第２直線部分を通って第３直線部分へ連続
   して伝播し、そして前記第２組の導体の１本に電流が誘
   導されそれに応じて前記磁歪手段内に発生した第２の歪
   波が前記第２直線部分から第３直線部分へ伝播し、前記
   基準位置に達したそれぞれの前記第１および第２の歪波
   に応じて前記検出手段が信号を出力するように、前記第
   １、第２、および第３直線部分は第１および第２曲り部
   分で連結されていることを特徴とする特許請求の範囲第
   １項記載のデータ・タブレット。
3. （３）前記第３直線部分は、自由端を有しており、前記
   基準位置は前記自由端の近くにあることを特徴とする特
   許請求の範囲第２項記載のデータ・タブレット。
4. （４）前記第１直線部分の端は、減衰手段内に取り付け
   られており、前記減衰手段は伝播する歪波が前記第１直
   線部分の端から反射されるのを阻止することを特徴とす
   る特許請求の範囲第２項記載のデータ・タブレット。
5. （５）前記検出手段は、前記磁歪手段の周囲に巻かれた
   誘導コイルから成ることを特徴とする特許請求の範囲第
   １項記載のデータ・タブレット。
6. （６）前記検出手段は、圧電変換器から成ることを特徴
   とする特許請求の範囲第１項記載のデータ・タブレット
   。
7. （７）（ａ）第１の座標軸に直交している平行に等間隔
   で配置された第１組の導体と、第２の座標軸に直交して
   いる平行に等間隔で配置された第２組の導体とから成る
   格子回路網、 （ｂ）第１、第２、および第３直線部分から成り、前記
   第１直線部分が前記第１組の導体の少なくとも１本に、
   そして前記第２直線部分が前記第２組への少なくとも１
   本にそれぞれ誘導結合導体されるように、前記第１直線
   部分が前記第１組の導体に対し近接して配置され、そし
   て前記第２直線部分が前記第２組の導体に対し近接して
   配置されている磁歪手段、 （ｃ）前記第３直線部分に誘導結合されるように前記第
   ３直線部分に対し近接して基準位置に配置され、前記第
   ３直線部分を伝播する歪波が前記基準位置に達したとき
   それに応じて信号を出力する検出手段、 （ｄ）電流パルスを出力するパルス発生手段、 （ｅ）前記パルス発生手段に電気的に接続され、前記格
   子回路網に対し誘導結合されるように近接して配置され
   、前記電流パルスに応じて磁束を発生する磁束発生手段
   、 から成り、前記検出手段は、前記パルス発生手段による
   電流パルスの出力に応じて第１および第２の信号を出力
   することを特徴とする位置座標測定装置。
8. （８）前記第１組の導体の１本に電流が誘導されそれに
   応じて前記磁歪手段内に発生した第１の歪波が前記第１
   直線部分から第２直線部分を通って第３直線部分へ連続
   して伝播し、そして前記第２組の導体の１本に電流が誘
   導されそれに応じて前記磁歪手段内に発生した第２の歪
   波が前記第２直線部分から第３直線部分へ伝播し、前記
   第１および第２の歪波のそれぞれに応じて前記検出手段
   が信号を出力するように、前記第１、第２、および第３
   直線部分は、第１および第２曲り部分で接続されている
   ことを特徴とする特許請求の範囲第７項記載の位置座標
   測定装置。
9. （９）さらに、前記パルス発生手段による電流パルスの
   出力に応じて計数動作を開始するように動作上接続され
   ている計数手段を備えており、前記計数手段は前記検出
   手段による信号の出力に応じて計数動作を停止するよう
   に動作上接続されていることを特徴とする特許請求の範
   囲第８項記載の位置座標測定装置。
10. （１０）さらに、プログラムを記憶する記憶手段と、前
    記プログラムに従って計算を実行する計算手段とを備え
    ており、前記計算手段は前記計数手段から前記停止され
    たカウントを表わす信号を受け取るように接続されてお
    り、前記プログラムにより、前記計算手段は前記停止さ
    れたカウント値から前記第１座標軸に対する前記ポイン
    タの第１位置座標を計算できることを特徴とする特許請
    求の範囲第９項記載の位置座標測定装置。
11. （１１）さらに、前記検出手段の出力を増幅する増幅手
    段と、前記増幅手段および前記計数手段に接続されてい
    て、所定のしきい値より大きな特性値を有する増幅され
    た信号を弁別し、前記弁別に応じて前記計数手段へカウ
    ンタ停止信号を出力する弁別手段とを備えていることを
    特徴とする特許請求の範囲第９項記載の位置座標測定装
    置。
12. （１２）さらに、前記パルス発生手段による電流パルス
    の出力に応じて計数動作を開始するように動作上接続さ
    れた第１および第２計数手段を備えており、前記第１お
    よび第２計数手段は、前記検出手段による前記第１およ
    び第２の歪波のそれぞれの検出に応じて計数動作を停止
    するように動作上接続されていることを特徴とする特許
    請求の範囲第８項記載の位置座標測定装置。
13. （１３）さらに、前記検出手段の出力を増幅する増幅す
    る手段と、前記増幅手段と前記第１および第２計数手段
    に接続され、しきい値を有する増幅された信号を弁別し
    、前記弁別に応じて前記第１および第２計数手段へカウ
    ンタ停止信号を出力する弁別手段とを備えていることを
    特徴とす特許請求の範囲第１２項記載の位置座標測定装
    置。
14. （１４）さらに、プログラムを記憶する読出し専用記憶
    装置と、前記プログラムに従って計算を実行する計算手
    段とを備えており、前記計算手段は前記第１および第２
    計数手段から停止されたカウントを表わすそれぞれの信
    号を受け取るように接続されており、前記プログラムに
    より、前記計算手段は前記停止された第１および第２カ
    ウント値から前記第１および第２座標に対する前記ポイ
    ンタの第１および第２位置座標をそれぞれ計算できるこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第１３項記載の位置座標
    測定装置。
15. （１５）さらに、所定のルーチンに従ってカウンタ始動
    信号と抑止信号とを出力する計算手段と、前記計算手段
    によるカウンタ始動信号の出力に応じて計数動作を開始
    するように動作上接続された計数手段とを備えており、
    前記計数手段は前記計算手段が抑止信号を出力していな
    い場合にのみ、前記検出手段による信号の出力に応じて
    計数動作を停止するように動作上接続されていることを
    特徴とする特許請求の範囲第８項記載の位置座標測定装
    置。
16. （１６）さらに、前記検出手段が出力した信号を増幅す
    る増幅手段と、前記増幅手段および計数手段に接続され
    、所定のしきい値より大きな特性値を有する増幅された
    信号を弁別し、前記弁別に応じて前記計数手段へカウン
    タ停止信号を出力する弁別手段とを備えていることを特
    徴とする特許請求の範囲第１５項記載の位置座標測定装
    置。