JPS6236208B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6236208B2 JPS6236208B2 JP61008088A JP808886A JPS6236208B2 JP S6236208 B2 JPS6236208 B2 JP S6236208B2 JP 61008088 A JP61008088 A JP 61008088A JP 808886 A JP808886 A JP 808886A JP S6236208 B2 JPS6236208 B2 JP S6236208B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- correlation
- focus detection
- photoelectric
- detection device
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/34—Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は合焦検出装置に関する。
例えば特開昭50―39543号（特願昭49―68068
号）に記載された焦点検出装置は１対の光電素子
アレイ上に、物体の光像を形成し、両光電素子ア
レイの対応する位置にある光電素子の光電出力の
差をとり、それらの絶対値の和として相関出力を
求め、その相関出力の最小値から対物レンズの合
焦状態を検出するものである。
号）に記載された焦点検出装置は１対の光電素子
アレイ上に、物体の光像を形成し、両光電素子ア
レイの対応する位置にある光電素子の光電出力の
差をとり、それらの絶対値の和として相関出力を
求め、その相関出力の最小値から対物レンズの合
焦状態を検出するものである。
本発明は、一対の光電素子アレイの画素出力の
差、すなわち相関量信号に、画素の両端部に対応
する出力とそれ以外の中央部に対応する出力に関
連して乗じる重み係数を変えることにより、より
精度の良い焦点検出装置を提供することを目的と
する。
差、すなわち相関量信号に、画素の両端部に対応
する出力とそれ以外の中央部に対応する出力に関
連して乗じる重み係数を変えることにより、より
精度の良い焦点検出装置を提供することを目的と
する。
第１図において、対物レンズ１の固定焦点面、
又はそれと共役な面に、フイールドレンズ２が設
けられている。カメラ等では、固定焦点面にはフ
イルムが配置されるので、このフイールドレンズ
２は、対物レンズ１の光路を分路し、その分路し
た光路中に設けることになる。再結像レンズ３，
４に関して、フイールドレンズ２即ちレンズ１の
固定焦点面と共役な位置に夫々光電素子アレイ
５，６が設けられている。この例では、各アレイ
５，６は夫々４つの光電素子P1〜P4、P1′〜P4′か
ら成る。対物レンズ１が物体に合焦された場合、
即ちそのレンズ１による物体の像が、フイールド
レンズ２上に形成された場合、対物レンズ１と再
結像レンズ３，４によつて夫夫光電素子アレイ
５，６上に形成される物体の像と、対応するアレ
イ５，６との位置関係は同一となる様に再結像レ
ンズ３，４、アレイ５，６の位置関係等が定めら
れている。従つて、合焦状態のとき、１対の光電
素子アレイ５，６の位置的に対応する位置の光電
素子P1とP1′…P4とP4′への入射光強度は等しい。
また、対物レンズ１による物体の像がフイールド
レンズ２の前方に形成されたとき（前ピンのと
き）、光電素子アレイ５上の像は下方へ、他方光
電素子アレイ６上の像は上方へ移動し、逆に対物
レンズ１による像がフイールドレンズ２の後方に
形成された時（後ピンの時）、光電素子アレイ
５，６上の像は夫々前ピンと逆方向へ移動する。
光電素子P1〜P4からの光電力又はそれに関連した
電気出力をx1〜x4、同様に光電素子P1′〜P4′から
の光電出力又はそれに関連した電気出力をx1′〜
x4′とすると、これらの光電出力は、信号処理回
路７へ入力される。処理回路７はこれらの光電出
力から以下の相関ＩN，ＩDを求める。
又はそれと共役な面に、フイールドレンズ２が設
けられている。カメラ等では、固定焦点面にはフ
イルムが配置されるので、このフイールドレンズ
２は、対物レンズ１の光路を分路し、その分路し
た光路中に設けることになる。再結像レンズ３，
４に関して、フイールドレンズ２即ちレンズ１の
固定焦点面と共役な位置に夫々光電素子アレイ
５，６が設けられている。この例では、各アレイ
５，６は夫々４つの光電素子P1〜P4、P1′〜P4′か
ら成る。対物レンズ１が物体に合焦された場合、
即ちそのレンズ１による物体の像が、フイールド
レンズ２上に形成された場合、対物レンズ１と再
結像レンズ３，４によつて夫夫光電素子アレイ
５，６上に形成される物体の像と、対応するアレ
イ５，６との位置関係は同一となる様に再結像レ
ンズ３，４、アレイ５，６の位置関係等が定めら
れている。従つて、合焦状態のとき、１対の光電
素子アレイ５，６の位置的に対応する位置の光電
素子P1とP1′…P4とP4′への入射光強度は等しい。
また、対物レンズ１による物体の像がフイールド
レンズ２の前方に形成されたとき（前ピンのと
き）、光電素子アレイ５上の像は下方へ、他方光
電素子アレイ６上の像は上方へ移動し、逆に対物
レンズ１による像がフイールドレンズ２の後方に
形成された時（後ピンの時）、光電素子アレイ
５，６上の像は夫々前ピンと逆方向へ移動する。
光電素子P1〜P4からの光電力又はそれに関連した
電気出力をx1〜x4、同様に光電素子P1′〜P4′から
の光電出力又はそれに関連した電気出力をx1′〜
x4′とすると、これらの光電出力は、信号処理回
路７へ入力される。処理回路７はこれらの光電出
力から以下の相関ＩN，ＩDを求める。
ＩN＝｜x1−x1′｜＋２｜x2−x2′｜
＋２｜x3−x3′｜＋｜x4−x4′｜ ……(1)
ＩD＝｜x1−x2｜＋｜x2−x3｜
＋｜x3−x4｜＋｜x1′−x2′｜
＋｜x2′−x3′｜＋｜x3′−x4′｜ ……(2)
ＩNは相互相関関数であり、またＩDは自己相関
関数すなわち像のコントラストを表わしている。
関数すなわち像のコントラストを表わしている。
この両者から規格化された相関関数Ｉp＝ＩN／
ＩDを求めると、前述の如く対物レンズ１の合焦
時にはx1＝x1′、x2＝x2′、x3＝x3′、x4＝x4′なので
ＩN＝０よりＩp＝０ また、合焦状態から、前ピンとなり両アレイ上
の像が変位し相対位置が一光電素子分だけずれた
場合には x2＝x1′、x3＝x2′、x4＝x3′が成立し、逆に後ピ
ンとなり、両アレイ上の像の相対位置が一光電素
子分だけずれた場合、x2′＝x1、x3′＝x2、x4′＝x3
が成立するので、ともにこのとき、ＩN＝ＩDとな
り、Ｉp＝１となる。
ＩDを求めると、前述の如く対物レンズ１の合焦
時にはx1＝x1′、x2＝x2′、x3＝x3′、x4＝x4′なので
ＩN＝０よりＩp＝０ また、合焦状態から、前ピンとなり両アレイ上
の像が変位し相対位置が一光電素子分だけずれた
場合には x2＝x1′、x3＝x2′、x4＝x3′が成立し、逆に後ピ
ンとなり、両アレイ上の像の相対位置が一光電素
子分だけずれた場合、x2′＝x1、x3′＝x2、x4′＝x3
が成立するので、ともにこのとき、ＩN＝ＩDとな
り、Ｉp＝１となる。
こうして、いかなる輝度分布の物体であろう
と、またいかなる輝度レベルの物体であつても、
第２図と実線、破線、及び一点鎖線で示す如く対
物レンズの合焦位置αのとき、相関関数即ち合焦
状態検出信号Ｉpは必ず零になり、また両アレイ
上の像の相対位置が１光電素子分だけずれた様な
前ピンγ、又は後ピンβの場合には、Ｉpは必ず
１となる。従つて、所定程度の前ピン、後ピン状
態と、合焦状態の三状態において、合焦状態検出
信号Ｉpを規格化できることになる。よつて、例
えば、１付近の適当なレベルの閾値を定め、この
閾値と相関関数Ｉpとを比較することにより、合
焦状態近傍を検出できる。
と、またいかなる輝度レベルの物体であつても、
第２図と実線、破線、及び一点鎖線で示す如く対
物レンズの合焦位置αのとき、相関関数即ち合焦
状態検出信号Ｉpは必ず零になり、また両アレイ
上の像の相対位置が１光電素子分だけずれた様な
前ピンγ、又は後ピンβの場合には、Ｉpは必ず
１となる。従つて、所定程度の前ピン、後ピン状
態と、合焦状態の三状態において、合焦状態検出
信号Ｉpを規格化できることになる。よつて、例
えば、１付近の適当なレベルの閾値を定め、この
閾値と相関関数Ｉpとを比較することにより、合
焦状態近傍を検出できる。
実施例の如く、所定の重み係数を乗じて相互相
関関数Ｉoを算出すると、±１画素ずれでの前記相
互相関関数値が１画素ずれの自己相関関数値と一
致する為に、±１画素ずれでの値が標準化されて
検出精度の向上と安定化が行える利点がある。
関関数Ｉoを算出すると、±１画素ずれでの前記相
互相関関数値が１画素ずれの自己相関関数値と一
致する為に、±１画素ずれでの値が標準化されて
検出精度の向上と安定化が行える利点がある。
以上の実施例では、各アレイを４個の光電素子
によつて構成した例であつたが、次に、任意数の
光電素子で構成した場合の相関Ｉp、ＩDを説明す
る。
によつて構成した例であつたが、次に、任意数の
光電素子で構成した場合の相関Ｉp、ＩDを説明す
る。
各アレイをＮ個の光電素子で構成し１万のアレ
イの各光電出力をx1，x2…ｘN、他方のアレイの
各光電出力をx1′，x2′…ｘN′とすると このように相関ＩD，ＩNを定めることにより、
丁度１光電素子分だけ、各像がずれた様な後ピン
又は前ピンのとき、x2′＝x1、x3′＝x2，……ｘo′
＝ｘo-1、又は、x2＝x1′、x3＝x3′，……ｘo＝
x′o-1が成立するので、ＩN＝ＩDとなり、Ｉpは１
となる。合焦状態のときはx1＝x1′…ｘo＝ｘo′よ
りＩN＝０となり、Ｉpは零となる。
イの各光電出力をx1，x2…ｘN、他方のアレイの
各光電出力をx1′，x2′…ｘN′とすると このように相関ＩD，ＩNを定めることにより、
丁度１光電素子分だけ、各像がずれた様な後ピン
又は前ピンのとき、x2′＝x1、x3′＝x2，……ｘo′
＝ｘo-1、又は、x2＝x1′、x3＝x3′，……ｘo＝
x′o-1が成立するので、ＩN＝ＩDとなり、Ｉpは１
となる。合焦状態のときはx1＝x1′…ｘo＝ｘo′よ
りＩN＝０となり、Ｉpは零となる。
式(1)、(2)は式(3)、(4)、(5)においてＮ＝４、ｄ＝
１、ｂ＝２、ｃ＝２とした場合である。もちろん
ｄ、ｂ、ｃは整数に限るものでない。
１、ｂ＝２、ｃ＝２とした場合である。もちろん
ｄ、ｂ、ｃは整数に限るものでない。
また、(1)、(2)、(3)式は、両像が丁度光電素子１
個分だけずれた様な前ピン及び後ピン状態につい
て規格化したが、本発明はもちろん、２光電素子
分以上ずれた様な前ピン及び後ピン状態について
も規格化してもよい。この場合、例えば、２光電
素子及び３光電素子分ずれた様な前ピン、後ピン
状態について規格化するにはＩDは、各アレイに
ついて、前述の如き、隣接光電素子の出力差では
なく１つ置き、又は２つ置きの光電素子の出力の
差を夫々求めることになる。１例を記すと、各ア
レイを構成する光電素子の数Ｎを７とし、２光電
素子分ずれた様な前ピン、後ピン状態について規
格化する場合、次のようになる。
個分だけずれた様な前ピン及び後ピン状態につい
て規格化したが、本発明はもちろん、２光電素子
分以上ずれた様な前ピン及び後ピン状態について
も規格化してもよい。この場合、例えば、２光電
素子及び３光電素子分ずれた様な前ピン、後ピン
状態について規格化するにはＩDは、各アレイに
ついて、前述の如き、隣接光電素子の出力差では
なく１つ置き、又は２つ置きの光電素子の出力の
差を夫々求めることになる。１例を記すと、各ア
レイを構成する光電素子の数Ｎを７とし、２光電
素子分ずれた様な前ピン、後ピン状態について規
格化する場合、次のようになる。
ＩN＝｜x1−x1′｜＋｜x2−x2′｜＋２｜x3
−x3′｜＋２｜x4−x4′｜＋２｜x5−x5′｜
＋｜x6−x6′｜＋｜x7−x7′｜
ＩD＝｜x1−x3｜＋｜x2−x4｜＋｜x3−x5｜
＋｜x4−x6｜＋｜x5−x7｜＋｜x1′−x3′｜
＋｜x2′−x4′｜＋｜x3′−x5′｜
＋｜x4′−x6′｜＋｜x5′−x7′｜
第３図に、各光電素子アレイ５，６、信号処理
回路７の具体的回路の一例を示す。
回路７の具体的回路の一例を示す。
アレイ５の各光電素子P1〜P4の光電出力は夫々
対数化回路５１，５２，５３，５４によつて、そ
の光電出力の対数に比例する電気出力x1〜x4に変
換される。他方のアレイ６の介光電素子P1′〜
P4′の光電出力も同様に、対数化回路６１，６
２，６３，６４によつて同様の電気出力x1〜
x4′に変換される。差動増幅器１０〜〜１３は
夫々差（x1−x1′）、（x2−x2′）、（x3−x3′）、（
x4−
x4′）を算出し、差動増幅器１４〜１９は夫々差
（x1−x2）、（x2−x3）、（x3−x4）、（x1′−x2′）
、
（x2′−x3′）、（x3′−x4′）を算出する。
対数化回路５１，５２，５３，５４によつて、そ
の光電出力の対数に比例する電気出力x1〜x4に変
換される。他方のアレイ６の介光電素子P1′〜
P4′の光電出力も同様に、対数化回路６１，６
２，６３，６４によつて同様の電気出力x1〜
x4′に変換される。差動増幅器１０〜〜１３は
夫々差（x1−x1′）、（x2−x2′）、（x3−x3′）、（
x4−
x4′）を算出し、差動増幅器１４〜１９は夫々差
（x1−x2）、（x2−x3）、（x3−x4）、（x1′−x2′）
、
（x2′−x3′）、（x3′−x4′）を算出する。
尚、対数化回路の出力端子５１ａ〜５４ａ、６
１ａ〜６４ａは差動増幅器１０〜１９の同一符号
を付された入力端子５１ａ〜５４ａ、６１ａ〜６
４ａにリード線で接続されているのであるが、第
３図においては図の複雑化を避ける為にリード線
を図示していない。各差動増幅器１０〜１９の出
力端子に互に逆極性に接続されたダイオード対１
０ａ，１０ｂ、１１ａ、１１ｂ…１９ａ，１９ｂ
は上記差の絶対値を得る為のものである。(1)式か
ら明らかな如く、差（x2−x2′）、（x3−x3′）には
係数２が付されているので、これらの差を算出し
た差動増幅器１１，１２の出力端子にはダイオー
ド１１ａ，１１ｂ，１２ａ，１２ｂを介して抵抗
Ｒ／２が接続され、他の増幅器１０，１３〜１９
には、夫々のダイオードを介して、上記抵抗の抵
抗値の２倍の抵抗値の抵抗Ｒが接続されている。
演算増幅器１１は差動増幅器１０〜１３の負の値
の出力を加算し、他方演算増幅器１２は増幅器１
０〜１３の正の値の出力を加算する。同様に演算
増幅器１３，１４は夫々、差動増幅器１４〜１９
の負及び正の値の出力を加算する。演算増幅器１
１の出力はインバータ１５と抵抗１６ａを介し
て、抵抗１６ｂを介して演算増幅器１２の出力
と、接続されるので、この両抵抗１６ａ、１６ｂ
の接続点には相関ＩNが現われる。演算増幅器１
３，１４の出力も同様にインバータ１７、抵抗１
８ａ，１８ｂに接続されているので、抵抗１８
ａ，１８ｂの接続点には相関ＩDが現われる。
１ａ〜６４ａは差動増幅器１０〜１９の同一符号
を付された入力端子５１ａ〜５４ａ、６１ａ〜６
４ａにリード線で接続されているのであるが、第
３図においては図の複雑化を避ける為にリード線
を図示していない。各差動増幅器１０〜１９の出
力端子に互に逆極性に接続されたダイオード対１
０ａ，１０ｂ、１１ａ、１１ｂ…１９ａ，１９ｂ
は上記差の絶対値を得る為のものである。(1)式か
ら明らかな如く、差（x2−x2′）、（x3−x3′）には
係数２が付されているので、これらの差を算出し
た差動増幅器１１，１２の出力端子にはダイオー
ド１１ａ，１１ｂ，１２ａ，１２ｂを介して抵抗
Ｒ／２が接続され、他の増幅器１０，１３〜１９
には、夫々のダイオードを介して、上記抵抗の抵
抗値の２倍の抵抗値の抵抗Ｒが接続されている。
演算増幅器１１は差動増幅器１０〜１３の負の値
の出力を加算し、他方演算増幅器１２は増幅器１
０〜１３の正の値の出力を加算する。同様に演算
増幅器１３，１４は夫々、差動増幅器１４〜１９
の負及び正の値の出力を加算する。演算増幅器１
１の出力はインバータ１５と抵抗１６ａを介し
て、抵抗１６ｂを介して演算増幅器１２の出力
と、接続されるので、この両抵抗１６ａ、１６ｂ
の接続点には相関ＩNが現われる。演算増幅器１
３，１４の出力も同様にインバータ１７、抵抗１
８ａ，１８ｂに接続されているので、抵抗１８
ａ，１８ｂの接続点には相関ＩDが現われる。
対数化回路２０，２１は夫々相関ＩN，ＩDの対
数に比例した出力を発生する。差動増幅器２２
は、両方の対数出力の差を算出し、Iog（ＩN／Ｉ
D）に比例した出力を発生する。こうして、差動
増幅器２２の出力が相関関数Ｉpを表わすものと
なる。尚、ＩDは像のコントラストを表わしてい
るので、相関関数Ｉpにより合焦状態の検出の際
に、このＩDを利用してもよい。
数に比例した出力を発生する。差動増幅器２２
は、両方の対数出力の差を算出し、Iog（ＩN／Ｉ
D）に比例した出力を発生する。こうして、差動
増幅器２２の出力が相関関数Ｉpを表わすものと
なる。尚、ＩDは像のコントラストを表わしてい
るので、相関関数Ｉpにより合焦状態の検出の際
に、このＩDを利用してもよい。
尚、この回路例では、最初の増幅段に、対数増
幅器を用いたが、光電素子アレイとして例えばフ
オトダイオードアレイを用い、光電出力を時系列
化して読み出しこの出力をホールドしてから、上
と同様の演算を行つてもよいし、また、この時系
列化された出力をAD変換し、同様なデイジタル
演算を行つてもよい。
幅器を用いたが、光電素子アレイとして例えばフ
オトダイオードアレイを用い、光電出力を時系列
化して読み出しこの出力をホールドしてから、上
と同様の演算を行つてもよいし、また、この時系
列化された出力をAD変換し、同様なデイジタル
演算を行つてもよい。
(4)、(5)式のＩN，ＩDの右辺の各項の係数は、一
定量の前ピン、後ピン状態において、相関関数Ｉ
pを１とする為に定めたものであるので、Ｉpの概
略的な規格化の為には、例えば(3)，(4)式のｂ、
ｃ、ｄの関係を(5)式の如く厳密に定める必要もな
く、上記係数はかなり任意に選定できるものであ
る。
定量の前ピン、後ピン状態において、相関関数Ｉ
pを１とする為に定めたものであるので、Ｉpの概
略的な規格化の為には、例えば(3)，(4)式のｂ、
ｃ、ｄの関係を(5)式の如く厳密に定める必要もな
く、上記係数はかなり任意に選定できるものであ
る。
また、相関ＩN，ＩDは夫々、所定の光電素子の
光電出力又はその関連電気出力の差の絶対値に所
定の係数を乗じて加算しているが、このことは、
その差の正負の符号に無関係に、その大きさに関
する量を加算するためであるから、絶対値をとる
代りに、例えばその各差の自乗に、所定の係数を
かけて、加算してもよい。
光電出力又はその関連電気出力の差の絶対値に所
定の係数を乗じて加算しているが、このことは、
その差の正負の符号に無関係に、その大きさに関
する量を加算するためであるから、絶対値をとる
代りに、例えばその各差の自乗に、所定の係数を
かけて、加算してもよい。
１対のアレイトに物体の像を形成する光学系
は、対物レンズの合焦状態に応じて、１対のアレ
イ上の像の相対位置関係を変化させ得るものであ
れば、第１図のものに限らず、例えば前述の特開
昭50―39543号に開示の光学系を含めいかなるも
のであつてもよい。
は、対物レンズの合焦状態に応じて、１対のアレ
イ上の像の相対位置関係を変化させ得るものであ
れば、第１図のものに限らず、例えば前述の特開
昭50―39543号に開示の光学系を含めいかなるも
のであつてもよい。
以上のように、本発明によれば光像の変位を検
出するための相互相関関数を演算するに当たつ
て、光電素子アレイの対となる画素出力の差に対
応する複数の相関量信号を算出し、これに前記所
定の重み係数を乗じた後に加算して相関量信号を
合成するので、こうして得られた相関量信号は被
写体によらず、被写体の光像の正負方向の所定画
素ずれに対して標準化されており、この相関量信
号を用いれば従来のものより、被写体によらず精
度の良い安定した結果が得られる効果を奏する。
出するための相互相関関数を演算するに当たつ
て、光電素子アレイの対となる画素出力の差に対
応する複数の相関量信号を算出し、これに前記所
定の重み係数を乗じた後に加算して相関量信号を
合成するので、こうして得られた相関量信号は被
写体によらず、被写体の光像の正負方向の所定画
素ずれに対して標準化されており、この相関量信
号を用いれば従来のものより、被写体によらず精
度の良い安定した結果が得られる効果を奏する。
第１図は本発明の原理を説明するための概要
図、第２図は対物レンズの位置に対する相関出力
が本発明により正規化されたものを示す線図、第
３図は本発明の装置に含まれた信号処理回路の一
実施例を示す回路図、第４図は対物レンズの位置
に対する相関出力をプロツトした線図である。 主要部分の符号の説明、１……対物レンズ、５
……第１光電素子アレイ、６……第２光電素子ア
レイ、１０―１３，１１，１２……第１手段、１
４―１９，１３，１４……第２手段、２２……第
３手段。
図、第２図は対物レンズの位置に対する相関出力
が本発明により正規化されたものを示す線図、第
３図は本発明の装置に含まれた信号処理回路の一
実施例を示す回路図、第４図は対物レンズの位置
に対する相関出力をプロツトした線図である。 主要部分の符号の説明、１……対物レンズ、５
……第１光電素子アレイ、６……第２光電素子ア
レイ、１０―１３，１１，１２……第１手段、１
４―１９，１３，１４……第２手段、２２……第
３手段。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 空間的に異なる２光路を通して、被写体の同
一部分からの一対の光像をそれぞれ光電変換する
一対の光電素子アレイと、該一対の光電素子アレ
イのそれぞれ対となる画素出力の差に対応する複
数の相関量信号を算出する相関演算手段とを有
し、該相関演算手段の出力に基づき焦点検出を行
う焦点検出装置において、 前記相関演算手段により得られた複数の相関量
信号に重み係数を乗じる手段を有し、 前記相関演算手段により得られた複数の相関量
信号を画素の並び順に並べた時に、その並びの両
端近傍に対応する該相関量信号に乗ずる重み係数
を上記並びの中央部に対応する該相関量信号に乗
ずる重み係数よりも小さくすることを特徴とする
合焦検出装置。 ２ 前記複数の相関量信号に、前記光電素子アレ
イの画素の並び順に順次、１，ｂ，ｃ，……，
ｃ，ｂ，１（所定係数ｂ，ｃは、 ｂ≒１＋ｄ，ｃ≒2d、但しｄは任意の値）なる
複数の所定係数を乗じて加算して相関出力信号と
して出力することを特徴とする特許請求の範囲第
１項記載の合焦検出装置。 ３ 前記相関量信号に、前記光電素子アレイの画
素の並び順に順次、１，２，……，２，１（所定
係数ｂ，ｃは、ｂ≒１＋ｄ，ｃ≒2d、但しｄ＝
１）なる複数の所定係数を乗じて加算して相関出
力信号として出力することを特徴とする特許請求
の範囲第１項記載の合焦検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP808886A JPS61209412A (ja) | 1986-01-20 | 1986-01-20 | 合焦検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP808886A JPS61209412A (ja) | 1986-01-20 | 1986-01-20 | 合焦検出装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP526979A Division JPS5598709A (en) | 1979-01-20 | 1979-01-20 | Focusing detector |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61209412A JPS61209412A (ja) | 1986-09-17 |
| JPS6236208B2 true JPS6236208B2 (ja) | 1987-08-06 |
Family
ID=11683567
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP808886A Granted JPS61209412A (ja) | 1986-01-20 | 1986-01-20 | 合焦検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61209412A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS643012U (ja) * | 1987-06-25 | 1989-01-10 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6320195B2 (ja) * | 2014-06-24 | 2018-05-09 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、制御装置、制御方法、プログラム、および、記憶媒体 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5418891B2 (ja) * | 1973-06-30 | 1979-07-11 | ||
| CA1007906A (en) * | 1973-07-09 | 1977-04-05 | Norman L. Stauffer | Signal processor for focus detecting apparatus |
| JPS6236208A (ja) * | 1985-08-09 | 1987-02-17 | Nec Kyushu Ltd | 半導体製造装置 |
-
1986
- 1986-01-20 JP JP808886A patent/JPS61209412A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS643012U (ja) * | 1987-06-25 | 1989-01-10 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61209412A (ja) | 1986-09-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS627523B2 (ja) | ||
| JP5733970B2 (ja) | 焦点検出装置 | |
| JPS6036905A (ja) | 焦点測定装置 | |
| JPS60235110A (ja) | 焦点検出装置の温度補償装置 | |
| US4559446A (en) | Focus detecting system using light from an imaging optical system for focus detection | |
| JPS6355043B2 (ja) | ||
| JP2003247823A (ja) | 位相差検出方法、位相差検出装置、測距装置および撮像装置 | |
| US6396588B1 (en) | Hybrid curvature-tilt wave front sensor | |
| JPH0328691B2 (ja) | ||
| JPS6236208B2 (ja) | ||
| JPS58142306A (ja) | 焦点検出方法 | |
| JPH0875986A (ja) | 焦点検出装置 | |
| JPS6236206B2 (ja) | ||
| JP3197979B2 (ja) | 位相差距離検出装置および方法 | |
| JPS60262004A (ja) | 焦点検出装置 | |
| US7016604B2 (en) | Autofocus using a holographic aperture element | |
| US4267440A (en) | Focus detecting system | |
| JP4045649B2 (ja) | 焦点検出装置 | |
| JP2008102537A (ja) | 焦点検出装置を備えたカメラ | |
| JP2916202B2 (ja) | 合焦位置検出装置 | |
| JP3414500B2 (ja) | 焦点検出装置 | |
| JP3678438B2 (ja) | 測距装置 | |
| JP4069476B2 (ja) | 焦点検出装置を備えたカメラ | |
| JP3291996B2 (ja) | 測距装置 | |
| JPS6237364B2 (ja) |