JPS627523B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS627523B2 JPS627523B2 JP54005269A JP526979A JPS627523B2 JP S627523 B2 JPS627523 B2 JP S627523B2 JP 54005269 A JP54005269 A JP 54005269A JP 526979 A JP526979 A JP 526979A JP S627523 B2 JPS627523 B2 JP S627523B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photoelectric
- output
- amount signal
- correlation
- focus detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/34—Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Focusing (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は合焦検出装置に関する。
例えば特開昭50−39543号（特願昭49−68068
号）に記載された焦点検出装置は１対の光電素子
アレイ上に、物体の光像を形成し、両光電素子ア
レイの対応する位置にある光電素子の光電出力の
差をとり、それらの絶対値の和として相関出力を
求め、その相関出力の最小値から対物レンズの合
焦状態を検出するものである。ところが、この方
法では、相関出力は規格化されていないので、第
４図に実線と破線で示す如く合焦すべき物体の輝
度分布によつて種々の波形となる。従つて、上述
した相関出力では、被写体の輝度分布すなわちコ
ントラストに影響されて相関出力の値がばらつき
一定した出力を得ることができず、そのために適
正な合焦状態を検出することが困難である。
号）に記載された焦点検出装置は１対の光電素子
アレイ上に、物体の光像を形成し、両光電素子ア
レイの対応する位置にある光電素子の光電出力の
差をとり、それらの絶対値の和として相関出力を
求め、その相関出力の最小値から対物レンズの合
焦状態を検出するものである。ところが、この方
法では、相関出力は規格化されていないので、第
４図に実線と破線で示す如く合焦すべき物体の輝
度分布によつて種々の波形となる。従つて、上述
した相関出力では、被写体の輝度分布すなわちコ
ントラストに影響されて相関出力の値がばらつき
一定した出力を得ることができず、そのために適
正な合焦状態を検出することが困難である。
本発明は、この欠点を解決し、相関出力を規格
化することにより、いかなる被写体に対しても合
焦状態を適正に検出できる焦点検出装置を提供す
ることを目的とする。
化することにより、いかなる被写体に対しても合
焦状態を適正に検出できる焦点検出装置を提供す
ることを目的とする。
第１図において、対物レンズ１の固定焦点面、
又はそれと共役な面に、フイールドレンズ２が設
けられている。カメラ等では、固定焦点面にはフ
イルムが配置されるので、このフイールドレンズ
２は、対物レンズ１の光路を分路し、その分路し
た光路中に設けることになる。再結像レンズ３，
４に関して、フイールドレンズ２即ちレンズ１の
固定焦点面と共役な位置に夫々光電素子アレイ
５，６が設けられている。この例では、各アレイ
５，６は夫々４つの光電素子P1〜P4、P1′〜P4′か
ら成る。対物レンズ１が物体に合焦された場合、
即ちそのレンズ１による物体の像が、フイールド
レンズ２上に形成された場合、対物レンズ１と再
結像レンズ３，４によつて夫夫光電素子アレイ
５，６上に形成される物体の像と、対応するアレ
イ５，６との位置関係は同一となる様に再結像レ
ンズ３，４、アレイ５，６の位置関係等が定めら
れている。従つて、合焦状態のとき、１対の光電
素子アレイ５，６の位置的に対応する位置の光電
素子P1とP1′……P4とP4′への入射光強度は等し
い。また、対物レンズ１による物体の像がフイー
ルドレンズ２の前方に形成されたとき（前ピンの
とき）、光電素子アレイ５上の像は下方へ、他方
光電素子アレイ６上の像は上方へ移動し、逆に対
物レンズ１による像がフイールドレンズ２の後方
に形成された時（後ピンの時）、光電素子アレイ
５，６上の像は夫々前ピンと減方向へ移動する。
光電素子P1〜P4からの光電力又はそれに関連した
電気出力をx1〜x4、同様に光電素子P1′〜P4′から
の光電出力又はそれに関連した電気出力をx1′〜
x4′とすると、これらの光電出力は、信号処理回
路７へ入力される。処理回路７はこれらの光電出
力から以下の相関ＩN、ＩDを求める。
又はそれと共役な面に、フイールドレンズ２が設
けられている。カメラ等では、固定焦点面にはフ
イルムが配置されるので、このフイールドレンズ
２は、対物レンズ１の光路を分路し、その分路し
た光路中に設けることになる。再結像レンズ３，
４に関して、フイールドレンズ２即ちレンズ１の
固定焦点面と共役な位置に夫々光電素子アレイ
５，６が設けられている。この例では、各アレイ
５，６は夫々４つの光電素子P1〜P4、P1′〜P4′か
ら成る。対物レンズ１が物体に合焦された場合、
即ちそのレンズ１による物体の像が、フイールド
レンズ２上に形成された場合、対物レンズ１と再
結像レンズ３，４によつて夫夫光電素子アレイ
５，６上に形成される物体の像と、対応するアレ
イ５，６との位置関係は同一となる様に再結像レ
ンズ３，４、アレイ５，６の位置関係等が定めら
れている。従つて、合焦状態のとき、１対の光電
素子アレイ５，６の位置的に対応する位置の光電
素子P1とP1′……P4とP4′への入射光強度は等し
い。また、対物レンズ１による物体の像がフイー
ルドレンズ２の前方に形成されたとき（前ピンの
とき）、光電素子アレイ５上の像は下方へ、他方
光電素子アレイ６上の像は上方へ移動し、逆に対
物レンズ１による像がフイールドレンズ２の後方
に形成された時（後ピンの時）、光電素子アレイ
５，６上の像は夫々前ピンと減方向へ移動する。
光電素子P1〜P4からの光電力又はそれに関連した
電気出力をx1〜x4、同様に光電素子P1′〜P4′から
の光電出力又はそれに関連した電気出力をx1′〜
x4′とすると、これらの光電出力は、信号処理回
路７へ入力される。処理回路７はこれらの光電出
力から以下の相関ＩN、ＩDを求める。
ＩN＝｜x1−x1′｜＋２｜x2−x2′｜
＋２｜x3−x3′｜＋｜x4−x4′｜ ……(1)
ＩD＝｜x1−x2｜＋｜x2−x3｜
＋｜x3−x4｜＋｜x1′−x2′｜
＋｜x2′−x3′｜＋｜x3′−x4′｜ ……(2)
ＩNは相互相関関数であり、またＩDは自己相関
関数すなわち像のコントスラストを表わしてい
る。
関数すなわち像のコントスラストを表わしてい
る。
この両者から規格化された相関関数ＩO＝ＩN／
ＩDを求めると、前述の如く対物レンズ１の合焦
時にはx1＝x1′、x2＝x2′、x3＝x3′、x4＝x4′なので
ＩN＝０よりＩO＝０ また、合焦状態から、前ピンとなり両アレイ上
の像が変位し相対位置が一光電素子分だけずれた
場合には x2＝x1′、x3＝x2′、x4＝x3′が成立し、逆に後ピ
ンとなり、両アレイ上の像の相対位置が一光電素
子分だけずれた場合、x2′＝x1、x3′＝x2、x4′＝x3
が成立するので、ともにこのとき、ＩN＝ＩDとな
り、ＩO＝１となる。
ＩDを求めると、前述の如く対物レンズ１の合焦
時にはx1＝x1′、x2＝x2′、x3＝x3′、x4＝x4′なので
ＩN＝０よりＩO＝０ また、合焦状態から、前ピンとなり両アレイ上
の像が変位し相対位置が一光電素子分だけずれた
場合には x2＝x1′、x3＝x2′、x4＝x3′が成立し、逆に後ピ
ンとなり、両アレイ上の像の相対位置が一光電素
子分だけずれた場合、x2′＝x1、x3′＝x2、x4′＝x3
が成立するので、ともにこのとき、ＩN＝ＩDとな
り、ＩO＝１となる。
こうして、いかなる輝度分布の物体であろう
と、またいかなる輝度レベルの物体であつても、
第２図と実線、破線、及び一点鎖線で示す如く対
物レンズの合焦位置αのとき、相関関数即ち合焦
状態検出信号ＩOは必ず零になり、また両アレイ
上の像の相対位置が１光電素子分だけずれた様な
前ピンγ、又は後ピンβの場合には、ＩOは必ず
１となる。従つて、所定程度の前ピン、後ピン状
態と、合焦状態の三状態において、合焦状態検出
信号ＩOを規格化できることになる。よつて、例
えば、１付近の適当なレベルの闘値を定め、この
闘値と相関関数ＩOとを比較することにより、合
焦状態近傍を検出できる。
と、またいかなる輝度レベルの物体であつても、
第２図と実線、破線、及び一点鎖線で示す如く対
物レンズの合焦位置αのとき、相関関数即ち合焦
状態検出信号ＩOは必ず零になり、また両アレイ
上の像の相対位置が１光電素子分だけずれた様な
前ピンγ、又は後ピンβの場合には、ＩOは必ず
１となる。従つて、所定程度の前ピン、後ピン状
態と、合焦状態の三状態において、合焦状態検出
信号ＩOを規格化できることになる。よつて、例
えば、１付近の適当なレベルの闘値を定め、この
闘値と相関関数ＩOとを比較することにより、合
焦状態近傍を検出できる。
以上の実施例では、各アレイを４個の光電素子
によつて構成した例であつたが、次に、任意数の
光電素子で構成した場合の相関ＩO、ＩDを説明す
る。
によつて構成した例であつたが、次に、任意数の
光電素子で構成した場合の相関ＩO、ＩDを説明す
る。
各アレイをＮ個の光電素子で構成し１方のアレ
イの各光電出力をx1，x2……ｘN、他方のアレイ
の各光電出力をx1′，x2′……ｘN′とすると ただし、ｂ＝１＋ｄ、ｃ＝2d ……(5) このように相関ＩD、ＩNを定めることにより、
丁度１光電素子分だけ、各像がずれた様な後ピン
又は前ピンのとき、x2′＝x1、x3′＝x2、……ｘo′
＝ｘo-1、又は、x2＝x1′、x3＝x3′、……ｘo＝
x′o-1が成立するので、ＩN＝ＩDとなり、ＩOは１
となる。合焦状態のときはx1＝x1′……ｘo＝ｘo′
よりＩN＝０となり、ＩOは零となる。
イの各光電出力をx1，x2……ｘN、他方のアレイ
の各光電出力をx1′，x2′……ｘN′とすると ただし、ｂ＝１＋ｄ、ｃ＝2d ……(5) このように相関ＩD、ＩNを定めることにより、
丁度１光電素子分だけ、各像がずれた様な後ピン
又は前ピンのとき、x2′＝x1、x3′＝x2、……ｘo′
＝ｘo-1、又は、x2＝x1′、x3＝x3′、……ｘo＝
x′o-1が成立するので、ＩN＝ＩDとなり、ＩOは１
となる。合焦状態のときはx1＝x1′……ｘo＝ｘo′
よりＩN＝０となり、ＩOは零となる。
式(1)、(2)は式(3)、(4)、(5)においてＮ＝４、ｄ＝
１、ｂ＝２、ｃ＝２とした場合である。もちろん
ｄ、ｂ、ｃは整数に限るものでない。
１、ｂ＝２、ｃ＝２とした場合である。もちろん
ｄ、ｂ、ｃは整数に限るものでない。
また、(1)(2)(3)式は、両像が丁度光電素子１個分
だけずれた様な前ピン及び後ピン状態について規
格化したが、本発明はもちろん、２光電素子分以
上ずれた様な前ピン及び後ピン状態についても規
格化してもよい。この場合、例えば、２光電素子
及び３光電素子分ずれた様な前ピン、後ピン状態
について規格化するにはＩDは、各アレイについ
て、前述の如き、隣接光電素子の出力差ではなく
１つ置き、又は２つ置きの光電素子の出力の差を
夫々求めることになる。１例を記すと、各アレイ
を構成する光電素子の数Ｎを７とし、２光電素子
分ずれた様な前ピン、後ピン状態について規格化
する場合、次のようになる。
だけずれた様な前ピン及び後ピン状態について規
格化したが、本発明はもちろん、２光電素子分以
上ずれた様な前ピン及び後ピン状態についても規
格化してもよい。この場合、例えば、２光電素子
及び３光電素子分ずれた様な前ピン、後ピン状態
について規格化するにはＩDは、各アレイについ
て、前述の如き、隣接光電素子の出力差ではなく
１つ置き、又は２つ置きの光電素子の出力の差を
夫々求めることになる。１例を記すと、各アレイ
を構成する光電素子の数Ｎを７とし、２光電素子
分ずれた様な前ピン、後ピン状態について規格化
する場合、次のようになる。
ＩN＝｜x1−x1′｜＋｜x2−x2′｜＋２｜x3
−x3′｜＋２｜x4−x4′｜＋２｜x5−x5′｜
＋｜x6−x6′｜＋｜x7−x7′｜
ＩD＝｜x1−x3｜＋｜x2−x4｜＋｜x3−x5｜
＋｜x4−x6｜＋｜x5−x7｜＋｜x1′−x3′｜
＋｜x2′−x4′｜＋｜x3′−x5′｜
＋｜x4′−x6′｜＋｜x5′−x7′｜
第３図に、各光電素子アレイ５，６、信号処理
回路７の具体的回路の一例を示す。
回路７の具体的回路の一例を示す。
アレイ５の各光電素子P1〜P4の光電出力は夫々
対数化回路５１，５２，５３，５４によつて、そ
の光電出力の対数に比例する電気出力x1〜x4に変
換される。他方のアレイ６の各光電素子P1′〜
P4′の光電出力も同様に、対数化回路６１，６
２，６３，６４によつて同様の電気出力x1〜
x4′に変換される。差動増幅器１０〜１３は夫々
差（x1−x1′）、（x2−x2′）、（x3−x3′）、（x4−
x4′）
を算出し、差動増幅器１４〜１９は夫々差（x1−
x2）、（x2−x3）、（x3−x4）、（x1′−x2′）、（x2
′−
x3′）、（x3′−x4′）を算出する。
対数化回路５１，５２，５３，５４によつて、そ
の光電出力の対数に比例する電気出力x1〜x4に変
換される。他方のアレイ６の各光電素子P1′〜
P4′の光電出力も同様に、対数化回路６１，６
２，６３，６４によつて同様の電気出力x1〜
x4′に変換される。差動増幅器１０〜１３は夫々
差（x1−x1′）、（x2−x2′）、（x3−x3′）、（x4−
x4′）
を算出し、差動増幅器１４〜１９は夫々差（x1−
x2）、（x2−x3）、（x3−x4）、（x1′−x2′）、（x2
′−
x3′）、（x3′−x4′）を算出する。
尚、対数化回路の出力端子５１ａ〜５４ａ、６
１ａ〜６４ａは差動増幅器１０〜１９の同一符号
を付された入力端子５１ａ〜５４ａ、６１ａ〜６
４ａにリード線で接続されているのであるが、第
３図においては図の複雑化を避ける為にリード線
を図示していない。各差動増幅器１０〜１９の出
力端子に互に逆極性に接続されたダイオード対１
０ａ，１０ｂ，１１ａ，１１ｂ……１９ａ，１９
ｂは上記差の絶対値を得る為のものである。(1)式
から明らかな如く、差（x2−x2′）、（x3−x3′）に
は係数２が付されているので、これらの差を算出
した差動増幅器１１，１２の出力端子にはダイオ
ード１１ａ，１１ｂ，１２ａ，１２ｂを介して抵
抗Ｒ／２が接続され、他の増幅器１０，１３〜１
９には、夫々のダイオードを介して、上記抵抗の
抵抗値の２倍の抵抗値の抵抗Ｒが接続されてい
る。演算増幅器１１は差動増幅器１０〜１３の負
の値の出力を加算し、他方演算増幅器１２は増幅
器１０〜１３の正の値の出力を加算する。同様に
演算増幅器１３，１４は夫々、差動増幅器１４〜
１９の負及び正の値の出力を加算する。演算増幅
器１１の出力はインバータ１５と抵抗１６ａを介
して、抵抗１６ｂを介した演算増幅器１２の出力
と、接続されるので、この両抵抗１６ａ，１６ｂ
の接続点には相関ＩNが現われる。演算増幅器１
３，１４の出力も同様にインバータ１７、抵抗１
８ａ，１８ｂに接続されているので、抵抗１８
ａ，１８ｂの接続点には相関ＩDが現われる。
１ａ〜６４ａは差動増幅器１０〜１９の同一符号
を付された入力端子５１ａ〜５４ａ、６１ａ〜６
４ａにリード線で接続されているのであるが、第
３図においては図の複雑化を避ける為にリード線
を図示していない。各差動増幅器１０〜１９の出
力端子に互に逆極性に接続されたダイオード対１
０ａ，１０ｂ，１１ａ，１１ｂ……１９ａ，１９
ｂは上記差の絶対値を得る為のものである。(1)式
から明らかな如く、差（x2−x2′）、（x3−x3′）に
は係数２が付されているので、これらの差を算出
した差動増幅器１１，１２の出力端子にはダイオ
ード１１ａ，１１ｂ，１２ａ，１２ｂを介して抵
抗Ｒ／２が接続され、他の増幅器１０，１３〜１
９には、夫々のダイオードを介して、上記抵抗の
抵抗値の２倍の抵抗値の抵抗Ｒが接続されてい
る。演算増幅器１１は差動増幅器１０〜１３の負
の値の出力を加算し、他方演算増幅器１２は増幅
器１０〜１３の正の値の出力を加算する。同様に
演算増幅器１３，１４は夫々、差動増幅器１４〜
１９の負及び正の値の出力を加算する。演算増幅
器１１の出力はインバータ１５と抵抗１６ａを介
して、抵抗１６ｂを介した演算増幅器１２の出力
と、接続されるので、この両抵抗１６ａ，１６ｂ
の接続点には相関ＩNが現われる。演算増幅器１
３，１４の出力も同様にインバータ１７、抵抗１
８ａ，１８ｂに接続されているので、抵抗１８
ａ，１８ｂの接続点には相関ＩDが現われる。
対数化回路２０，２１は夫々相関ＩN、ＩDの対
数に比例した出力を発生する。差動増幅器２２
は、両方の対数出力の差を算出し、log（ＩN／Ｉ
D）に比例した出力を発生する。こうして、差動
増幅器２２の出力が相関関数ＩOを表わすものと
なる。尚、ＩDは像のコントラストを表わしてい
るので、相関関数ＩOにより合焦状態の検出の際
に、このＩDを利用してもよい。
数に比例した出力を発生する。差動増幅器２２
は、両方の対数出力の差を算出し、log（ＩN／Ｉ
D）に比例した出力を発生する。こうして、差動
増幅器２２の出力が相関関数ＩOを表わすものと
なる。尚、ＩDは像のコントラストを表わしてい
るので、相関関数ＩOにより合焦状態の検出の際
に、このＩDを利用してもよい。
以上のように本発明によれば、合焦すべき被写
体の輝度分布によつて影響されることなく、いか
なる被写体に対しても合焦状態を適正に検出でき
ることを保証する。
体の輝度分布によつて影響されることなく、いか
なる被写体に対しても合焦状態を適正に検出でき
ることを保証する。
尚、この回路例では、最初の増幅段に、対数増
幅器を用いたが、光電素子アレイとして例えばフ
オトダイオードアレイを用い、光電出力を時系列
化して読み出しこの出力をホールドしてから、上
と同様の演算を行つてもよいし、また、この時系
列化された出力をAD変換し、同様なデイジタル
演算を行つてもよい。
幅器を用いたが、光電素子アレイとして例えばフ
オトダイオードアレイを用い、光電出力を時系列
化して読み出しこの出力をホールドしてから、上
と同様の演算を行つてもよいし、また、この時系
列化された出力をAD変換し、同様なデイジタル
演算を行つてもよい。
(4)、(5)式のＩN、ＩDの右辺の各項の係数は、一
定量の前ピン、後ピン状態において、相関関数Ｉ
Oを１とする為に定めたものであるので、ＩOの概
略的な規格化の為には、例えば(3)(4)式のｂ、ｃ、
ｄの関係を(5)式の如く厳密に定める必要もなく、
上記係数はかなり任意に選定できるものである。
定量の前ピン、後ピン状態において、相関関数Ｉ
Oを１とする為に定めたものであるので、ＩOの概
略的な規格化の為には、例えば(3)(4)式のｂ、ｃ、
ｄの関係を(5)式の如く厳密に定める必要もなく、
上記係数はかなり任意に選定できるものである。
また、相関ＩN、ＩDは夫々、所定の光電素子の
光電出力又はその関連電気出力の差の絶対値に所
定の係数を乗じて加算しているが、このことは、
その差の正負の符号に無関係に、その大きさに関
する量を加算するためであるから、絶対値をとる
代りに、例えばその各差の自乗に、所定の係数を
かけて、加算してもよい。
光電出力又はその関連電気出力の差の絶対値に所
定の係数を乗じて加算しているが、このことは、
その差の正負の符号に無関係に、その大きさに関
する量を加算するためであるから、絶対値をとる
代りに、例えばその各差の自乗に、所定の係数を
かけて、加算してもよい。
１対のアレイトに物体の像を形成する光学系
は、対物レンズの合焦状態に応じて、１対のアレ
イ上の像の相対位置関係を変化させ得るものであ
れば、第１図のものに限らず、例えば前述の特開
昭50−39543号に開示の光学系を含めいかなるも
のであつてもよい。
は、対物レンズの合焦状態に応じて、１対のアレ
イ上の像の相対位置関係を変化させ得るものであ
れば、第１図のものに限らず、例えば前述の特開
昭50−39543号に開示の光学系を含めいかなるも
のであつてもよい。
第１図は本発明の原理を説明するための概要
図、第２図は対物レンズの位置に対する相関出力
が本発明により正規化されたものを示す線図、第
３図は本発明の装置に含まれた信号処理回路の一
実施例を示す回路図、第４図は対物レンズの位置
に対する相関出力をプロツトした線図である。 〔主要部分の符号の説明〕、１……対物レン
ズ、５……第１光電素子アレイ、６……第２光電
素子アレイ、１０−１３，１１，１２……第１手
段、１４−１９，１３，１４……第２手段、２２
……第３手段。
図、第２図は対物レンズの位置に対する相関出力
が本発明により正規化されたものを示す線図、第
３図は本発明の装置に含まれた信号処理回路の一
実施例を示す回路図、第４図は対物レンズの位置
に対する相関出力をプロツトした線図である。 〔主要部分の符号の説明〕、１……対物レン
ズ、５……第１光電素子アレイ、６……第２光電
素子アレイ、１０−１３，１１，１２……第１手
段、１４−１９，１３，１４……第２手段、２２
……第３手段。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被写体の同一部分から発せられ、それぞれ異
なる経路を介して視差を有する光学的開口を通つ
た光束から作られる一対の光像をそれぞれ光電変
換する光電変換手段と、前記光電変換手段上の一
対の光像の相対的変位から焦点検出演算を行なう
焦点検出手段とを有する焦点検出装置において、 前記光像の鮮明度を示すコントラスト量信号を
出力するコントラスト演算手段と、 前記一対の光像の相対的変位に関連した相関量
信号を出力する相関演算手段と、 前記コントラスト量信号に基づき、前記相関量
信号を前記コントラスト量信号の影響が除去され
た規格相関量信号に変換する信号変換手段とを有
することを特徴とする焦点検出装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP526979A JPS5598709A (en) | 1979-01-20 | 1979-01-20 | Focusing detector |
| US06/109,282 US4297571A (en) | 1979-01-20 | 1980-01-03 | Focus detecting device |
| DE19803001412 DE3001412A1 (de) | 1979-01-20 | 1980-01-16 | Fokussiererfassungsvorrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP526979A JPS5598709A (en) | 1979-01-20 | 1979-01-20 | Focusing detector |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP808886A Division JPS61209412A (ja) | 1986-01-20 | 1986-01-20 | 合焦検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5598709A JPS5598709A (en) | 1980-07-28 |
| JPS627523B2 true JPS627523B2 (ja) | 1987-02-18 |
Family
ID=11606502
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP526979A Granted JPS5598709A (en) | 1979-01-20 | 1979-01-20 | Focusing detector |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
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| JP (1) | JPS5598709A (ja) |
| DE (1) | DE3001412A1 (ja) |
Families Citing this family (16)
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|---|---|---|---|---|
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| JPS5887512A (ja) * | 1981-11-19 | 1983-05-25 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 焦点検出装置 |
| US4559446A (en) * | 1982-02-18 | 1985-12-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Focus detecting system using light from an imaging optical system for focus detection |
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| JP2572372B2 (ja) * | 1985-05-23 | 1997-01-16 | 株式会社ニコン | 焦点検出装置 |
| JPH0727107B2 (ja) * | 1985-07-26 | 1995-03-29 | ミノルタ株式会社 | 相関像比較装置及びそれを用いた焦点検出装置及び測距装置 |
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| JPH0333708A (ja) * | 1990-07-03 | 1991-02-14 | Minolta Camera Co Ltd | ピント検出装置 |
Family Cites Families (7)
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|---|---|---|---|---|
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| CA1007906A (en) * | 1973-07-09 | 1977-04-05 | Norman L. Stauffer | Signal processor for focus detecting apparatus |
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| US4250376A (en) * | 1979-07-20 | 1981-02-10 | Honeywell Inc. | Apparatus for range finding equipment |
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- 1979-01-20 JP JP526979A patent/JPS5598709A/ja active Granted
-
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- 1980-01-16 DE DE19803001412 patent/DE3001412A1/de not_active Withdrawn
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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| DE3001412A1 (de) | 1980-07-31 |
| JPS5598709A (en) | 1980-07-28 |
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