JPS6236716A - 磁気ヘツドのウイグル検出方法 - Google Patents
磁気ヘツドのウイグル検出方法Info
- Publication number
- JPS6236716A JPS6236716A JP17642485A JP17642485A JPS6236716A JP S6236716 A JPS6236716 A JP S6236716A JP 17642485 A JP17642485 A JP 17642485A JP 17642485 A JP17642485 A JP 17642485A JP S6236716 A JPS6236716 A JP S6236716A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiggle
- signal
- magnetic head
- writing
- write
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/455—Arrangements for functional testing of heads; Measuring arrangements for heads
Landscapes
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
磁気ヘッドのウィグル検出方法であって、特に薄膜磁気
ヘッドに固有のウィグル現象の有無およびその程度を、
書き込み周波数の高次高調波成分の時間的変動に基づい
て定量的に測定する。また、磁気ヘッドの選別が確実に
行なえる。
ヘッドに固有のウィグル現象の有無およびその程度を、
書き込み周波数の高次高調波成分の時間的変動に基づい
て定量的に測定する。また、磁気ヘッドの選別が確実に
行なえる。
本発明は、特に薄膜磁気ヘッドのウィグル現象を定量的
に測定するようにした磁気ヘッドのウィグル検出方法に
関するものである。
に測定するようにした磁気ヘッドのウィグル検出方法に
関するものである。
例えば、電気信号を磁気に変換して磁気媒体に書き込む
際に磁気ヘッドが使用されている。このような情報の書
き込みを行なうのには、その電磁変換特性が忠実でなけ
ればならない。現在のように多量の情報を磁気的に書き
込み保存する状況にあっては、忠実に書き込みが行なえ
る磁気ヘッドが要請される。その場合、所望の電磁変換
特性を具えた磁気ヘッドか否かを判別することが必要と
なる。
際に磁気ヘッドが使用されている。このような情報の書
き込みを行なうのには、その電磁変換特性が忠実でなけ
ればならない。現在のように多量の情報を磁気的に書き
込み保存する状況にあっては、忠実に書き込みが行なえ
る磁気ヘッドが要請される。その場合、所望の電磁変換
特性を具えた磁気ヘッドか否かを判別することが必要と
なる。
従来から汎用されている磁気ヘッドの判別は、目視によ
るものであった。そのため、定性的な判断しかできず、
検査者が異なれば、磁気へノドの良否の判断に相違が生
じる。
るものであった。そのため、定性的な判断しかできず、
検査者が異なれば、磁気へノドの良否の判断に相違が生
じる。
ところで、特に薄膜磁気ヘッドにあっては、当該ヘッド
の磁性層に局部的組成の不均一が存在すると、ウィグル
現象と称される固有現象が生じることがある。この現象
は、読み数り波形における一種の歪であり、書き込み直
後に時間的な変化を伴うことを特徴とするものである。
の磁性層に局部的組成の不均一が存在すると、ウィグル
現象と称される固有現象が生じることがある。この現象
は、読み数り波形における一種の歪であり、書き込み直
後に時間的な変化を伴うことを特徴とするものである。
第３図（Ａ）および（Ｂ）はウィグル現象の実際例を示
している。同図（Ａ）は書き込み直後における出力レベ
ルの時間的変化を示す。ここで、一点鎖線で示す特性領
域３１１がウィグルである。
している。同図（Ａ）は書き込み直後における出力レベ
ルの時間的変化を示す。ここで、一点鎖線で示す特性領
域３１１がウィグルである。
また、同図（Ｂ）は、書き込み直後数秒経過し、あるい
は次の書き込み時における出力レベルの特性を示す。図
示するように、一点鎖線で示す特性領域３１３のウィグ
ルは時間的に変化している。
は次の書き込み時における出力レベルの特性を示す。図
示するように、一点鎖線で示す特性領域３１３のウィグ
ルは時間的に変化している。
このようにウィグル現象は書き込み直後に時間的な変化
を伴うことを特徴とするのであり、このような現象があ
ると読み取り時にエラー（障害）が生じるという問題が
ある。そのために、磁気ヘットの選別が不可欠である。
を伴うことを特徴とするのであり、このような現象があ
ると読み取り時にエラー（障害）が生じるという問題が
ある。そのために、磁気ヘットの選別が不可欠である。
しかしながら、前述したように従来は読み取り波形を目
視して選別を行なっていたために検査者によるばらつき
が大きいといった問題点があった。
視して選別を行なっていたために検査者によるばらつき
が大きいといった問題点があった。
本発明はこのような点に鑑みて創作されたものであり、
磁気ヘッドのウィグルを定量的に行なえるウィグル検出
方法を提供することを目的としている。
磁気ヘッドのウィグルを定量的に行なえるウィグル検出
方法を提供することを目的としている。
第１図は本発明に係るウィグル検出過程を示す図である
。
。
図において、書き込みステップ１１１では、磁気ヘッド
に所定周波数の第１信号を供給する。
に所定周波数の第１信号を供給する。
検出ステップ１１３では、書き込みステップ１１１にお
いて行なわれた書き込み直後に、高次高調波成分の第２
信号を読み取り検出する。
いて行なわれた書き込み直後に、高次高調波成分の第２
信号を読み取り検出する。
検出信号供給ステップ１１５では、検出ステップ１１３
において検出された第２信号を、時間的な信号変化でと
らえるような信号観測装置に供給する。
において検出された第２信号を、時間的な信号変化でと
らえるような信号観測装置に供給する。
ウィグル判定ステップ１１７では、第２信号が時間経過
に伴って変動するとき、その変動量を読み取る。
に伴って変動するとき、その変動量を読み取る。
従って、ステップ全体として磁気ヘッドのウィグルを検
出するように構成されている。
出するように構成されている。
書き込みステップ１１１の実行による書き込み直後に、
読み出し検出された高次高調波成分の第２信号が時間経
過に伴って生ずる変動量を読み取ることによって当該磁
気ヘッドのウィグルが検出されることとなる。
読み出し検出された高次高調波成分の第２信号が時間経
過に伴って生ずる変動量を読み取ることによって当該磁
気ヘッドのウィグルが検出されることとなる。
＋１１先ず、検査の対象となっている磁気ヘッド（図示
せず）に、書き込み周波数として例えば２Ｍ１１ｚの書
き込み信号を印加する。つまり、書き込みステップであ
る。磁気ヘッドは、その固有の電磁変換特性に従って、
２ＭＨｚの印加信号を磁気的な情報として変換する。
せず）に、書き込み周波数として例えば２Ｍ１１ｚの書
き込み信号を印加する。つまり、書き込みステップであ
る。磁気ヘッドは、その固有の電磁変換特性に従って、
２ＭＨｚの印加信号を磁気的な情報として変換する。
（２）次いで、前述ステップの書き込み直後に読み出し
て、スペクトラムアナライザ（図示せず）に供給する。
て、スペクトラムアナライザ（図示せず）に供給する。
ここで、スペクトラムアナライザでは４ＭＨｚの信号成
分を検出する。この４ＭＨｚ信号成分は、書き込み周波
数２ＭＩＩｚの２倍波成分（偶数高調波成分）である。
分を検出する。この４ＭＨｚ信号成分は、書き込み周波
数２ＭＩＩｚの２倍波成分（偶数高調波成分）である。
（３）この４ＭＩＩｚ信号成分を測定対象としてスペク
トルラムアナライザでは、時間経過に伴って当該４ Ｍ
ｌｌｚの信号成分のエネルギー量が変化するのを、そ
の表示画面上で観測できるようにする。
トルラムアナライザでは、時間経過に伴って当該４ Ｍ
ｌｌｚの信号成分のエネルギー量が変化するのを、そ
の表示画面上で観測できるようにする。
画面上で観測される４ Ｍ ｆｉｚ信号成分を第２図（
Ａ）〜（Ｃ）に示す。ここで、横軸は信号が変化する時
間パラメータを示し、縦軸は４ Ｍ ｌｌｚ信号のレベ
ル（ｄＢ）を示す。なお、時間「０」は書き込み時点を
示し、Ｔｄは書き込み時のデッドタイムである。
Ａ）〜（Ｃ）に示す。ここで、横軸は信号が変化する時
間パラメータを示し、縦軸は４ Ｍ ｌｌｚ信号のレベ
ル（ｄＢ）を示す。なお、時間「０」は書き込み時点を
示し、Ｔｄは書き込み時のデッドタイムである。
第２図（Ａ）および（１３）の例にて示される磁気ヘッ
ドはウィグル現象がみられるものであり、第２図（Ｃ）
に示すものはウィグル現象がみられない磁気ヘッドであ
る。
ドはウィグル現象がみられるものであり、第２図（Ｃ）
に示すものはウィグル現象がみられない磁気ヘッドであ
る。
（４）続いて、観測画面上でスケールに照らし合わせて
、変動量φを読み取る。ここで、第２図（Ａ）および（
Ｂ）の場合は、その変動量φＡおよびφＢが大きいので
、それらの磁気ヘットは不良品と判定される。また、第
２図（Ｃ）に示すものは変動量φＣが小さく良品の磁気
ヘッドであると判定される。
、変動量φを読み取る。ここで、第２図（Ａ）および（
Ｂ）の場合は、その変動量φＡおよびφＢが大きいので
、それらの磁気ヘットは不良品と判定される。また、第
２図（Ｃ）に示すものは変動量φＣが小さく良品の磁気
ヘッドであると判定される。
このように、本検出方法はウィグル現象が呈する書き込
み直後の数秒間の時間的変動を利用している。読み出し
信号の偶数波成分の波形に歪が生じる場合はウィグルの
発生に対応しているので、その偶数波成分の時間的変動
量をみることによってウィグル検出を定量的に行ない得
る。
み直後の数秒間の時間的変動を利用している。読み出し
信号の偶数波成分の波形に歪が生じる場合はウィグルの
発生に対応しているので、その偶数波成分の時間的変動
量をみることによってウィグル検出を定量的に行ない得
る。
なお、上述した実施例にあっては、書き込み周波数の２
倍の周波数に着目したが他の偶数高調波成分に着目して
もよい。
倍の周波数に着目したが他の偶数高調波成分に着目して
もよい。
また、読み出し波形の観測を表示画面で行なって変動量
の大小を判別するようにしたが、これに限られることは
ない。例えば、変動量を電気的に検出することによって
検査対象磁気ヘッドのウィグルの大小を検出するように
してもよい。
の大小を判別するようにしたが、これに限られることは
ない。例えば、変動量を電気的に検出することによって
検査対象磁気ヘッドのウィグルの大小を検出するように
してもよい。
以上詳述した如く本発明によれば、書き込み周波数の高
次高調波に着目して、その変動量をみることによってウ
ィグルの有無およびその程度を定量的に検出し得る。従
って、ヘッドの選別が確実に行なえるので、ウィグル現
象による障害を防止することができる。
次高調波に着目して、その変動量をみることによってウ
ィグルの有無およびその程度を定量的に検出し得る。従
って、ヘッドの選別が確実に行なえるので、ウィグル現
象による障害を防止することができる。
第１図は本発明のウィグル検出過程を示すブロック図、
第２図（Ａ）〜（Ｃ）は本発明実施例方法によって観測
される４ Ｍ ｌｌｚ信号成分の波形図、第３図（Ａ）
および（Ｂ）は薄膜磁気ヘッドにおいて生じるウィグル
現象例を説明するための波形図である。 第１図において、 １１１は書き込みステップ、 １１３は検出ステ・７プ、 １１５は検出信号供給ステップ、 １１７はウィグル判定ステップである。 第２図（Ａ）〜（Ｃ）において、 φＡ、φＢ、φＣは変動量である。
される４ Ｍ ｌｌｚ信号成分の波形図、第３図（Ａ）
および（Ｂ）は薄膜磁気ヘッドにおいて生じるウィグル
現象例を説明するための波形図である。 第１図において、 １１１は書き込みステップ、 １１３は検出ステ・７プ、 １１５は検出信号供給ステップ、 １１７はウィグル判定ステップである。 第２図（Ａ）〜（Ｃ）において、 φＡ、φＢ、φＣは変動量である。
Claims (2)
- （１）磁気ヘッドに、所定周波数の第１信号を書き込み
用信号として供給して書き込みを行ない（１１１）、 その書き込み直後に、前記所定周波数の高次高調波成分
の第２信号を読み取り検出し（１１３）、該第２信号の
時間的変化をとらえる信号観測装置に当該第２信号を供
給し（１１５）、 前記信号観測装置において前記第２信号の時間的変動量
を読み取り（１１７）、 該読み取り結果にて、前記磁気ヘッドのウィグルを検出
するようにしたことを特徴とする磁気ヘッドのウィグル
検出方法。 - （２）前記高次高調波は、前記書き込み周波数の偶数高
調波であることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
の磁気ヘッドのウィグル検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17642485A JPS6236716A (ja) | 1985-08-10 | 1985-08-10 | 磁気ヘツドのウイグル検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17642485A JPS6236716A (ja) | 1985-08-10 | 1985-08-10 | 磁気ヘツドのウイグル検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6236716A true JPS6236716A (ja) | 1987-02-17 |
Family
ID=16013454
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17642485A Pending JPS6236716A (ja) | 1985-08-10 | 1985-08-10 | 磁気ヘツドのウイグル検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6236716A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100492997B1 (ko) * | 1998-03-04 | 2005-08-01 | 삼성전자주식회사 | 하드 디스크 자기 헤드의 위글 제거 방법 및 그 장치 |
-
1985
- 1985-08-10 JP JP17642485A patent/JPS6236716A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100492997B1 (ko) * | 1998-03-04 | 2005-08-01 | 삼성전자주식회사 | 하드 디스크 자기 헤드의 위글 제거 방법 및 그 장치 |
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