JPS6237713A - 温度制御装置 - Google Patents
温度制御装置Info
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- JPS6237713A JPS6237713A JP17656685A JP17656685A JPS6237713A JP S6237713 A JPS6237713 A JP S6237713A JP 17656685 A JP17656685 A JP 17656685A JP 17656685 A JP17656685 A JP 17656685A JP S6237713 A JPS6237713 A JP S6237713A
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Landscapes
- Control Of Temperature (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
この発明は、たとえば一般家庭において使用される電気
コタツなどの発熱体の通電を制御する温度制御装置に関
し、とくにその温度検出機構の改良に関ザる。
コタツなどの発熱体の通電を制御する温度制御装置に関
し、とくにその温度検出機構の改良に関ザる。
(ロ)従来の技術
一般に、家庭用の電気コタツなどに使用される温度制御
装置としては、たとえば特開昭58−158722月公
報や特開昭58−165166号公報に記載されている
発明が知られている。
装置としては、たとえば特開昭58−158722月公
報や特開昭58−165166号公報に記載されている
発明が知られている。
前者は、半導体ヒータへの送Ji11hiを送風手段で
あるファンを駆動するモータへの通電を制り1[するこ
とによってJ3こない、その送Jul ffiによって
間?a的に半導体ヒータへの発熱聞を制御しようとづる
乙のである。また1受者(ま、ヒータへの通電をON−
0FFの制御にておこ4家)しのぐある。
あるファンを駆動するモータへの通電を制り1[するこ
とによってJ3こない、その送Jul ffiによって
間?a的に半導体ヒータへの発熱聞を制御しようとづる
乙のである。また1受者(ま、ヒータへの通電をON−
0FFの制御にておこ4家)しのぐある。
さらに第11図J3よび第12図に示1しの6よく知ら
れている。
れている。
第11図のものは、電子制υ0式」タラの回路図ぐ、た
とえば」ントローラ(50) −CI−低1を設定する
と、」ント[」−ラ(50)内のトライアック&41の
位相制御をおJない、設定に対応した通電率(W教生)
に゛Cヒータ(51)を制御する。また第12図のもの
は、いわゆるンイコン制御式半尋体謁旭Mlタツの回路
図て゛、半導体ヒータ(52)を用い、ンイク「】」ン
1ゴ」−タ(53)によって送風用の七−タ(54)と
半導体ヒータ(52)とのそれぞれの通電率を制m’+
するとともに、半導体ヒータ(:+2)自体のワット数
の変化とを交じり合わFIC」タラ内部の温度を制御I
Iづるもの(・ある5、すな1つら第12図におい(,
4瓜設定用のtiJ変抵抗器(55)と抵抗(56)
(57)どコタツ内に設けたり一ミスタ(58)とr
ゾリツジ回路を構成し、温jグ検出+段としC動作し、
その出h(S¥14マイク[−1−]ンピξ5−タ(!
1.’−N )の△/川つ入力端子に入力さねる。なJ
3(59>は室温を検知するための1ノーミスタで他の
ブリッジ回路を構成しでいる。上記用1)信号により、
JなわらA/D人力により」タラ内温度を判定し、コタ
ツ内温度が設定6品1女より6かなり低い場合は、マイ
クロコンピュータ(!+3)のD2出力により1−ラン
ジスタ(60)を介して1ヘライアツク(61)をトリ
ガしてモータ(54)に100%通電をするとともに、
D o出力に五り1・7ノンジスタ(62)を介し′c
’ I−ライアツク(63)を1−リカして半導体と−
タ(52)も + 00 ’No通電する。。
とえば」ントローラ(50) −CI−低1を設定する
と、」ント[」−ラ(50)内のトライアック&41の
位相制御をおJない、設定に対応した通電率(W教生)
に゛Cヒータ(51)を制御する。また第12図のもの
は、いわゆるンイコン制御式半尋体謁旭Mlタツの回路
図て゛、半導体ヒータ(52)を用い、ンイク「】」ン
1ゴ」−タ(53)によって送風用の七−タ(54)と
半導体ヒータ(52)とのそれぞれの通電率を制m’+
するとともに、半導体ヒータ(:+2)自体のワット数
の変化とを交じり合わFIC」タラ内部の温度を制御I
Iづるもの(・ある5、すな1つら第12図におい(,
4瓜設定用のtiJ変抵抗器(55)と抵抗(56)
(57)どコタツ内に設けたり一ミスタ(58)とr
ゾリツジ回路を構成し、温jグ検出+段としC動作し、
その出h(S¥14マイク[−1−]ンピξ5−タ(!
1.’−N )の△/川つ入力端子に入力さねる。なJ
3(59>は室温を検知するための1ノーミスタで他の
ブリッジ回路を構成しでいる。上記用1)信号により、
JなわらA/D人力により」タラ内温度を判定し、コタ
ツ内温度が設定6品1女より6かなり低い場合は、マイ
クロコンピュータ(!+3)のD2出力により1−ラン
ジスタ(60)を介して1ヘライアツク(61)をトリ
ガしてモータ(54)に100%通電をするとともに、
D o出力に五り1・7ノンジスタ(62)を介し′c
’ I−ライアツク(63)を1−リカして半導体と−
タ(52)も + 00 ’No通電する。。
この(す]タタラ温度が設定温度に達づると、半、・り
体ヒータ(52)の通電率は50%に減少させられる5
、さらに設定温度にコタツ内の温度が徨1Yると、[−
タ(54)の通電率を50%に、かつ半導体tl−<a
(52)の通電率を10%にそilぞれ減少さI!ζ温
1會jjシ゛)制御をおこなうものである3、シたが−
)て1.;ν定゛温度に達づるまで(以ト立ら上りと記
1)の時間がλ0く、かつ設定温度に達し−(がら(以
ト安;ip 、l−記M〉の]タタラ湿温度変化が極め
で小さいl’、+ツの温度制鉗ができる。
体ヒータ(52)の通電率は50%に減少させられる5
、さらに設定温度にコタツ内の温度が徨1Yると、[−
タ(54)の通電率を50%に、かつ半導体tl−<a
(52)の通電率を10%にそilぞれ減少さI!ζ温
1會jjシ゛)制御をおこなうものである3、シたが−
)て1.;ν定゛温度に達づるまで(以ト立ら上りと記
1)の時間がλ0く、かつ設定温度に達し−(がら(以
ト安;ip 、l−記M〉の]タタラ湿温度変化が極め
で小さいl’、+ツの温度制鉗ができる。
(ハ)発明が解決しようとする問題点
しかしながら、/、[Iによって温度制御をおこなうも
のにはランプヒータは使用Cきす、あるいはヒータをO
N −、、OF卜して温度ゐり御をおこなう場合には、
コタツ内部の温度が安定した際にON時とOFF時との
温度幅(ディファレンシャル)が生じるとともに、ヒー
タをランプ式とした場合じ一タOFFにおいではランプ
が消灯してしまい、視覚的な暖かさを欠いた感じを使用
品に5えるものぐあった。
のにはランプヒータは使用Cきす、あるいはヒータをO
N −、、OF卜して温度ゐり御をおこなう場合には、
コタツ内部の温度が安定した際にON時とOFF時との
温度幅(ディファレンシャル)が生じるとともに、ヒー
タをランプ式とした場合じ一タOFFにおいではランプ
が消灯してしまい、視覚的な暖かさを欠いた感じを使用
品に5えるものぐあった。
また第11図にij\づもの(゛は、)γら上−り時に
目標温度(設定温度)に到達するまでに時間がかかると
いう問題点があった。
目標温度(設定温度)に到達するまでに時間がかかると
いう問題点があった。
ざらに、第12図に示すものでは、半導体ヒータを用い
ているのぐ輻用熱がなく、ランプヒータV比べて通電初
191の体感的暖房感が劣るものであ(つ、この回路に
1−゛)ン1ヒ・−タを制り11シた場合には、位相制
御の割合が100%、50%、および101%であるた
め、ランプに明暗が生じ−(ON ff、’jと0(〜
F時にJ3ける温度幅が大きくなるとい)/j問題貞が
あった。
ているのぐ輻用熱がなく、ランプヒータV比べて通電初
191の体感的暖房感が劣るものであ(つ、この回路に
1−゛)ン1ヒ・−タを制り11シた場合には、位相制
御の割合が100%、50%、および101%であるた
め、ランプに明暗が生じ−(ON ff、’jと0(〜
F時にJ3ける温度幅が大きくなるとい)/j問題貞が
あった。
この弁明は上記の事情に鑑みてなされたもので、発熱体
にランプヒータを用いた場合に立ちトリ+1.)間が早
く、かつ安定時に発熱体周囲の温度幅を極めC小さくで
きる温度制御装置を提供しよ′、)と・するものである
。
にランプヒータを用いた場合に立ちトリ+1.)間が早
く、かつ安定時に発熱体周囲の温度幅を極めC小さくで
きる温度制御装置を提供しよ′、)と・するものである
。
(ニ)問題点を解決するための手段
この発明の構成は、発熱体と、発熱体による周囲温度の
変化を検知する感温1段とを具備し、感温手段の信号に
対応して発熱体の通電を制御する温度制御装置において
、一定周期で繰り返し光放電がなされるコンデンサと、
その]ンデン4yへの充電開始後所定の時間が経過した
時点でその時点での」ンフ゛ンサの充電電圧と感温手段
のイ5シ」の電圧とを比較する判定手段とを具備し、I
11定1段ノ)1らの出力信号によって発熱体の通電率
を制陣寸を一通市率制御手段を発熱体に電気的に接続し
く設ける(゛とを特徴とする温度ゐり御装置である、。
変化を検知する感温1段とを具備し、感温手段の信号に
対応して発熱体の通電を制御する温度制御装置において
、一定周期で繰り返し光放電がなされるコンデンサと、
その]ンデン4yへの充電開始後所定の時間が経過した
時点でその時点での」ンフ゛ンサの充電電圧と感温手段
のイ5シ」の電圧とを比較する判定手段とを具備し、I
11定1段ノ)1らの出力信号によって発熱体の通電率
を制陣寸を一通市率制御手段を発熱体に電気的に接続し
く設ける(゛とを特徴とする温度ゐり御装置である、。
(ホ)作 用
この発明は上記のように構成され℃いる(f) ’r、
−」ンi−ンサの充電型jlと感温手段の信号電J干ど
が、所定の時間経過後判定手段に−C比較され、判定手
段の出力信号が所定11.1間経過時に高電位レベルで
あるなら、通′市率制御手段は発熱体に約 100%の
通電を、逆に低電位レベルであるなら、高電位し′;ル
になるタイ′ミングにて発熱体への通電を、位相制御に
よっておこない安定に必要な消費電力艶までほぼ直線的
にυIIII]する。
−」ンi−ンサの充電型jlと感温手段の信号電J干ど
が、所定の時間経過後判定手段に−C比較され、判定手
段の出力信号が所定11.1間経過時に高電位レベルで
あるなら、通′市率制御手段は発熱体に約 100%の
通電を、逆に低電位レベルであるなら、高電位し′;ル
になるタイ′ミングにて発熱体への通電を、位相制御に
よっておこない安定に必要な消費電力艶までほぼ直線的
にυIIII]する。
(へ)実施例
以1・この発明の実施例を図面にて詳述するが、この発
明が以1:の実施例に限定されるものではない。
明が以1:の実施例に限定されるものではない。
第1図にJ5いで、(1)はじロクロスパルス発生回路
(′、交流電源(2)の゛電圧〈JがOvになった際に
ニバルス伝号+b+を出ツノ俳る。(3)はディレィ回
路で、ゼ:I′ji l) 、、2パルス発生手段(1
)に電気的に接続され、パルス(21号山〉を一定時間
遅延させてのらパルス信号<〔])を出力する。(4)
はタイマ回路で、ディレィ回路+3) iご電気的に接
続され、コンデンサ(5)の充電開始(す所定の時間”
H″ルベル遅延信号+d>を出力する。」ンデンリ(5
))には、トランジスタ(6)が11し+l+に接続さ
れる。すなわら、」ンデンリ(!5)の−万※η:i、
: l=ラリンスタ((3)の二」レクタが#8続され
るとど0に、使乃端はLミッタが接続されるととしにク
ノウン′ドに接続される。また−1ン′fンリ(5)の
−1ノ9鮒に肩よ1−+J変低抵抗器7)がCI流電源
、メインとの間に接続される。可変(1(機器(7)は
温度調整用である。、+1’4+ +、↓!l(一段(
・、たとえば負特性の+t−ミスタで、+rc抗i9+
1.:直+11に接続されC1−コンデ21月5)と
’J ? II(機器(7)どのル″1列回路とで11
1ツジ回路を(111成1jう、。
(′、交流電源(2)の゛電圧〈JがOvになった際に
ニバルス伝号+b+を出ツノ俳る。(3)はディレィ回
路で、ゼ:I′ji l) 、、2パルス発生手段(1
)に電気的に接続され、パルス(21号山〉を一定時間
遅延させてのらパルス信号<〔])を出力する。(4)
はタイマ回路で、ディレィ回路+3) iご電気的に接
続され、コンデンサ(5)の充電開始(す所定の時間”
H″ルベル遅延信号+d>を出力する。」ンデンリ(5
))には、トランジスタ(6)が11し+l+に接続さ
れる。すなわら、」ンデンリ(!5)の−万※η:i、
: l=ラリンスタ((3)の二」レクタが#8続され
るとど0に、使乃端はLミッタが接続されるととしにク
ノウン′ドに接続される。また−1ン′fンリ(5)の
−1ノ9鮒に肩よ1−+J変低抵抗器7)がCI流電源
、メインとの間に接続される。可変(1(機器(7)は
温度調整用である。、+1’4+ +、↓!l(一段(
・、たとえば負特性の+t−ミスタで、+rc抗i9+
1.:直+11に接続されC1−コンデ21月5)と
’J ? II(機器(7)どのル″1列回路とで11
1ツジ回路を(111成1jう、。
(IO)は比較回路て・、その1−入力端はコンデンサ
(5)とijJ変抵抗器(7)の接続点に、−入力端は
感温1段(ン))と抵抗(9)との接続点に−でれぞれ
接続され(いる、。
(5)とijJ変抵抗器(7)の接続点に、−入力端は
感温1段(ン))と抵抗(9)との接続点に−でれぞれ
接続され(いる、。
inl fよ1′1j定1段ぐ、たどえば、)・K−ノ
リッゾノ1ノ・ンブ−C−その、J入力端(J比較回路
宝〕)の出力りi:に、5(、たクロック(以1・CI
Kと記す)入力端はタイマ回路(4)の出力端にそ才′
)ぞれ接続さ−Cいる。さらに判定手段(11)の(コ
出779E aj Jび心出カ喘に【、1抵抗0;))
’−”;1w:’f1′4− トf13+トノn列回’
M 、j3 、J: U 低1y”t t14i ト昆
毘ダ−イA −ド(15)とのjl +IJl路とがそ
れぞれ接続され(いる。ブで光ダイオード03)は低温
状態て・ある4−とを、発光ダイオード05)は適温状
態であることをそれぞれ発光しで表示する。(5)は通
電率制罪手段テ、2つのAND回路1]7)Q8)とそ
のそれぞれの出7り喘に接続されるダイオード」(イ)
およびそのそれぞれのダイオード8■のカソードがベー
スに接続(きれるトランジスタ&llとで構成されるト
リが手段のつと、ノンブヒータなどの発熱体(至)に直
列に接続される゛、t′導体制御手段圀)とで構成され
る。゛F−導体vItll十段(24+としてはトライ
アックが好適である。
リッゾノ1ノ・ンブ−C−その、J入力端(J比較回路
宝〕)の出力りi:に、5(、たクロック(以1・CI
Kと記す)入力端はタイマ回路(4)の出力端にそ才′
)ぞれ接続さ−Cいる。さらに判定手段(11)の(コ
出779E aj Jび心出カ喘に【、1抵抗0;))
’−”;1w:’f1′4− トf13+トノn列回’
M 、j3 、J: U 低1y”t t14i ト昆
毘ダ−イA −ド(15)とのjl +IJl路とがそ
れぞれ接続され(いる。ブで光ダイオード03)は低温
状態て・ある4−とを、発光ダイオード05)は適温状
態であることをそれぞれ発光しで表示する。(5)は通
電率制罪手段テ、2つのAND回路1]7)Q8)とそ
のそれぞれの出7り喘に接続されるダイオード」(イ)
およびそのそれぞれのダイオード8■のカソードがベー
スに接続(きれるトランジスタ&llとで構成されるト
リが手段のつと、ノンブヒータなどの発熱体(至)に直
列に接続される゛、t′導体制御手段圀)とで構成され
る。゛F−導体vItll十段(24+としてはトライ
アックが好適である。
ぞして発熱体(至)と半導体制御手段(、’4)との直
列回路が、交流電源(2)に並クリに接続されている。
列回路が、交流電源(2)に並クリに接続されている。
またAND回路(+71の一方の入力端は、判定手段(
11)のQ出力端に、他方の入力端はワンショットマル
チバイブレータ囚の出力端にそれぞれ接続されう1.ま
たAND回路錦1の一方の入力端は、判定11Q fl
l)のQ出力端に、他方の入力端はワンショットンルヂ
バイル−タ人の出力端にそれぞれ接続され〔いる。ワン
ショットマルチバイブレータ(ハ)のへり端はぜ[]り
[」スバルス発生回路(1)の出ツノ端にまたワンシ」
ットフルヂバイブレータ(至)の入力端は比較回路00
)の出力端にそれぞれ接続されている。
11)のQ出力端に、他方の入力端はワンショットマル
チバイブレータ囚の出力端にそれぞれ接続されう1.ま
たAND回路錦1の一方の入力端は、判定11Q fl
l)のQ出力端に、他方の入力端はワンショットンルヂ
バイル−タ人の出力端にそれぞれ接続され〔いる。ワン
ショットマルチバイブレータ(ハ)のへり端はぜ[]り
[」スバルス発生回路(1)の出ツノ端にまたワンシ」
ットフルヂバイブレータ(至)の入力端は比較回路00
)の出力端にそれぞれ接続されている。
つぎに第2図A2[3を交えてこの実施例の動作につい
て説明する。
て説明する。
コンデンサ(5)はディレィ回路(3)が出力するパル
ス信号(C1によって、一定周期で充電と放電とが繰り
返しおこなわれる。ずなわら、トランジスタi6)がO
F r:の時に可変抵抗2!i (7+を介して充電が
なされ、パルス信号(C)によってトランジスタ(8)
がONの時に放電がおS二りわれる。この充放電1に5
の]ン子゛ンサ(5)の充電電圧を(q)とする。
ス信号(C1によって、一定周期で充電と放電とが繰り
返しおこなわれる。ずなわら、トランジスタi6)がO
F r:の時に可変抵抗2!i (7+を介して充電が
なされ、パルス信号(C)によってトランジスタ(8)
がONの時に放電がおS二りわれる。この充放電1に5
の]ン子゛ンサ(5)の充電電圧を(q)とする。
いま、発熱体内の周囲温度が低いものとする3゜比較回
路(ト))は、充電電圧(jJ)と感温手段(8)とI
lt I+’i’(IJ)とで分圧された電ftE (
f+とを比較し、それぞれの電圧が101−であれば高
電位レベルの出力信Q (h+を出力する。出力仁号市
)か、コンデンサ(5))の充tB l1il始後所定
の時間が経過しlεε自白高電位レベルて・あるな1う
、判定手段(11)の0出力端から出力信号〈!1が出
jJされる。ごの出力信号tit fffよっ(発光ダ
イオード&41が発光し、(It温状態で・あることを
表1i1−づろ。また出力信号(1)はAND回路a力
に人力されて、ワンショットマルヂパイブレータ囚がゼ
ロクロスパルス発生回路(1)からのパルス信号+b+
の(り縁でトリガされて出力するワンショットパルス信
号telのパルス幅時間だけAND回路07) 、J:
り出力信号り)どして出力され、トランジスタ31)を
ONさせる。トランジスタ&I)がONすることによっ
て半導体υ制御手段Q勺がトリガされて発熱体(至)に
通電される。半導体制御手段&41がトリガされるタイ
ミングは、ワンショットパルス信号+01に依存してい
るため、第2図Aからもわかるように、光熱体■へは約
100%の通電率(通電波形をmとし通電を実線で示す
)どなる。なお上記の状態において、A N I)回路
部)は、その一方の入力端に入力される判定手段(11
)か5 ’7) 出力(g 号(11) lfi ”
l ” T”あるため、出力は’ l−1”とならない
。
路(ト))は、充電電圧(jJ)と感温手段(8)とI
lt I+’i’(IJ)とで分圧された電ftE (
f+とを比較し、それぞれの電圧が101−であれば高
電位レベルの出力信Q (h+を出力する。出力仁号市
)か、コンデンサ(5))の充tB l1il始後所定
の時間が経過しlεε自白高電位レベルて・あるな1う
、判定手段(11)の0出力端から出力信号〈!1が出
jJされる。ごの出力信号tit fffよっ(発光ダ
イオード&41が発光し、(It温状態で・あることを
表1i1−づろ。また出力信号(1)はAND回路a力
に人力されて、ワンショットマルヂパイブレータ囚がゼ
ロクロスパルス発生回路(1)からのパルス信号+b+
の(り縁でトリガされて出力するワンショットパルス信
号telのパルス幅時間だけAND回路07) 、J:
り出力信号り)どして出力され、トランジスタ31)を
ONさせる。トランジスタ&I)がONすることによっ
て半導体υ制御手段Q勺がトリガされて発熱体(至)に
通電される。半導体制御手段&41がトリガされるタイ
ミングは、ワンショットパルス信号+01に依存してい
るため、第2図Aからもわかるように、光熱体■へは約
100%の通電率(通電波形をmとし通電を実線で示す
)どなる。なお上記の状態において、A N I)回路
部)は、その一方の入力端に入力される判定手段(11
)か5 ’7) 出力(g 号(11) lfi ”
l ” T”あるため、出力は’ l−1”とならない
。
この後周囲4度が高くなると、第2図Bに示す、ように
、比較回路(ト))の出力信号<tnが、充電開始後r
fr定の時間を経過したのちn電位レベルとなる。
、比較回路(ト))の出力信号<tnが、充電開始後r
fr定の時間を経過したのちn電位レベルとなる。
すイ5わら、温度が高くなる(適温)になることによっ
て、感温手段(8)の抵抗値がさがり、したがって比較
回路00)の−入力端へ印加される1°hル(f+が1
−nする口とによって、光電重重(す)が一致するまで
に時間がかかるものである。T11定手段(11)は、
J入力端に入力される出力信号山〉が所定の時間経過し
た84点で低電位レベルであるため、Q出力端から出力
信号(k)を出力する。この時出力信号(1)はl−”
となる。そして発光ダイオード05)に電圧が印加され
ることによって発光し適温表示をする。ざらに出力信号
+に+は、AN +)回路部)の一方の入力端に人力さ
れ、他方の入力端に入力される出力信舅面の前縁にてト
リガされたワンショットマルチバイブレーク(ト)が出
力するワンショットパルス43号〈1)と論理積をどら
れて、AN D回路[18)から出力信号(J)を出力
4る。そして上記の低温時と同様、出力(8号り)によ
ってトランジスタ(21)がONL、、このタイミング
で半導体制御手段&4)が位相制御されて発熱体(ハ)
の通電が制御される。
て、感温手段(8)の抵抗値がさがり、したがって比較
回路00)の−入力端へ印加される1°hル(f+が1
−nする口とによって、光電重重(す)が一致するまで
に時間がかかるものである。T11定手段(11)は、
J入力端に入力される出力信号山〉が所定の時間経過し
た84点で低電位レベルであるため、Q出力端から出力
信号(k)を出力する。この時出力信号(1)はl−”
となる。そして発光ダイオード05)に電圧が印加され
ることによって発光し適温表示をする。ざらに出力信号
+に+は、AN +)回路部)の一方の入力端に人力さ
れ、他方の入力端に入力される出力信舅面の前縁にてト
リガされたワンショットマルチバイブレーク(ト)が出
力するワンショットパルス43号〈1)と論理積をどら
れて、AN D回路[18)から出力信号(J)を出力
4る。そして上記の低温時と同様、出力(8号り)によ
ってトランジスタ(21)がONL、、このタイミング
で半導体制御手段&4)が位相制御されて発熱体(ハ)
の通電が制御される。
以上に述べたようにして発熱体(ハ)の通電が制御され
るが、さらに畠い温度を必要とする場合あるいは温度を
低くしたい場合は、可変抵抗器(71を操作して好みの
温度設定ができる。すなわち可変抵人器(7)を操作す
ることによって抵抗値が可変され、したがってコンデン
サ(5)の充電電圧の立ら上つ方が変って設定温度が変
えられるものである。たとえば温度設定「高」の場合に
は、可変抵抗器(7)の抵抗値VRをVR=Oとし、逆
に1低」の場合にはVR=MAXとすれば、「高」では
急激に立ら上り、「低」では緩かに立ち上るものである
。
るが、さらに畠い温度を必要とする場合あるいは温度を
低くしたい場合は、可変抵抗器(71を操作して好みの
温度設定ができる。すなわち可変抵人器(7)を操作す
ることによって抵抗値が可変され、したがってコンデン
サ(5)の充電電圧の立ら上つ方が変って設定温度が変
えられるものである。たとえば温度設定「高」の場合に
は、可変抵抗器(7)の抵抗値VRをVR=Oとし、逆
に1低」の場合にはVR=MAXとすれば、「高」では
急激に立ら上り、「低」では緩かに立ち上るものである
。
ここで設定温度付近でバランスのとれた安定状態を作り
だすためのブリッジ回路を構成乃るコンデン(月5)、
可変抵抗器(刀、感温手段(8)および抵抗(9)の定
数を実験的に求める方法について、第3図(二で説明す
る。
だすためのブリッジ回路を構成乃るコンデン(月5)、
可変抵抗器(刀、感温手段(8)および抵抗(9)の定
数を実験的に求める方法について、第3図(二で説明す
る。
第3図のグラフIは、この実施例をJタラに使用した場
合において、発熱体内に一定電力を通電した場合の、電
力とコタツ内温度Tkj3よび感温手段(8)が検知す
る温度T【との関係を示すグラフ、グラフ■はeoHz
の交流電源(2)を使用した場合の発熱体内の消費電力
の時間的変化を示すグラフ、グラフ■は感温手段(8)
のコタツ内温度1”kに対する電位の比率を示すグラフ
、グラフIVは可変抵抗器(刀を可変した場合の、コン
デン1す(5)の充電電f−+Fの比率の充電開始後の
時間的変化を示すグラフである。
合において、発熱体内に一定電力を通電した場合の、電
力とコタツ内温度Tkj3よび感温手段(8)が検知す
る温度T【との関係を示すグラフ、グラフ■はeoHz
の交流電源(2)を使用した場合の発熱体内の消費電力
の時間的変化を示すグラフ、グラフ■は感温手段(8)
のコタツ内温度1”kに対する電位の比率を示すグラフ
、グラフIVは可変抵抗器(刀を可変した場合の、コン
デン1す(5)の充電電f−+Fの比率の充電開始後の
時間的変化を示すグラフである。
まず、グラフ■において、コタツ内温度T kを67℃
(希望する「高」温度)に保つためには165w必要で
あることがわかる。この165Wを得るための発熱体Z
l)の通電時間は、グラフ■よりゼロクロスから5.2
1 sec 、後に位相制御をおこなえばよいことがわ
かる。つぎに5.2m sec 、経過後のコンデンサ
(5)の充電電圧比率を求めるためにグラフ■よりグラ
フ■に向けて垂直線■を引く。一方、グラフ■において
、コタツ内温度を67℃にした場合に感温+段(8)は
77℃を検知した。ここでグラフ■からグラフ■に対し
77℃を通る垂線を引さ゛、グラフ■における交点を求
めると、電位の比率は0.76となる。この比率からこ
の実施例では雷Jf(「)(よりX O,76= 6,
84とすればよいことがわかる。すなわち、グラフ■は
感温手段(8)の抵抗−温度特triが決定されれば抵
抗(9)の抵抗値により求められる曲線である。つぎに
グラフ■の0.76の直線■と水平線■の交点(it通
過する可変抵抗器(7)とコンデン+j(5)との定数
を決定フればコタツ内は(−高」(67℃)で安定する
ことがわかる。
(希望する「高」温度)に保つためには165w必要で
あることがわかる。この165Wを得るための発熱体Z
l)の通電時間は、グラフ■よりゼロクロスから5.2
1 sec 、後に位相制御をおこなえばよいことがわ
かる。つぎに5.2m sec 、経過後のコンデンサ
(5)の充電電圧比率を求めるためにグラフ■よりグラ
フ■に向けて垂直線■を引く。一方、グラフ■において
、コタツ内温度を67℃にした場合に感温+段(8)は
77℃を検知した。ここでグラフ■からグラフ■に対し
77℃を通る垂線を引さ゛、グラフ■における交点を求
めると、電位の比率は0.76となる。この比率からこ
の実施例では雷Jf(「)(よりX O,76= 6,
84とすればよいことがわかる。すなわち、グラフ■は
感温手段(8)の抵抗−温度特triが決定されれば抵
抗(9)の抵抗値により求められる曲線である。つぎに
グラフ■の0.76の直線■と水平線■の交点(it通
過する可変抵抗器(7)とコンデン+j(5)との定数
を決定フればコタツ内は(−高」(67℃)で安定する
ことがわかる。
同様にして、コタツ内温度Tkを34℃く[低コ)とし
たい場合には50wが必要であり、以下上記とめる。こ
こで交点ω′と交点O″において変化するのはriJ変
抵抗器(7)の抵抗値であり、コンデンサ(5)の定数
を決定すれば可変lI(波器(刀に必要な抵抗変化量が
決定される。
たい場合には50wが必要であり、以下上記とめる。こ
こで交点ω′と交点O″において変化するのはriJ変
抵抗器(7)の抵抗値であり、コンデンサ(5)の定数
を決定すれば可変lI(波器(刀に必要な抵抗変化量が
決定される。
以上のように、立ちトリ時には約100%通電し、設定
温度に近づくと通電率は50%から安定に必要な最小通
電率(この実施例の場合は、[低l設定にて50wであ
り 100%通電時500Wに設定しているので50w
/ 500w = 10%)まで位相制御をすること
ができる。
温度に近づくと通電率は50%から安定に必要な最小通
電率(この実施例の場合は、[低l設定にて50wであ
り 100%通電時500Wに設定しているので50w
/ 500w = 10%)まで位相制御をすること
ができる。
つぎにこのざt明の他実施例について第4〜6図にて説
明する。
明する。
第4図(Jこの発明の温度制御[!装置を使用した電子
制御式コタツの全体を示す回路図で、いはマイクロコン
ピュータである。この他実施例eは、判定手段および通
電率制御手段にマイクロコンビュータロを使用するしの
である。第5図は温度検知および半導体制御手段に)の
トリガ信号を制御するこの発明の特徴的な回路を抜粋し
たものである。
制御式コタツの全体を示す回路図で、いはマイクロコン
ピュータである。この他実施例eは、判定手段および通
電率制御手段にマイクロコンビュータロを使用するしの
である。第5図は温度検知および半導体制御手段に)の
トリガ信号を制御するこの発明の特徴的な回路を抜粋し
たものである。
以■この他実施例の動作を第5図および第6図Mで詳述
覆る。
覆る。
第6図に示ザ波形図は、第5図の制御回路のそれぞれの
入・出力端子および各部の電圧の波形を示したものぐあ
る。
入・出力端子および各部の電圧の波形を示したものぐあ
る。
マイクロコンピュータ(271がゼロクロスパルスPz
を検出し、その結束端子「く 4からリセットパルスp
rを出力する。リセットパルスprが°゛L″L″レベ
ルと、端子R1からの電圧により、可変抵抗器(ハ)、
抵抗((1011を介してコンデンサ(5)に充電が開
始される。ここで可変抵抗器内は上記実施例の可変抵抗
器(71同様、温度設定用の可変ポリュ−1いであり、
コンデンサ(5)への充電抵抗の値を変化させ得るもの
である。この時の充電電圧をVcとする。つぎにリセッ
トパルスprが゛ト]″レベルになると、トランジスタ
MがONしコンデンサ(5)の充電電圧Vcは放電され
る。
を検出し、その結束端子「く 4からリセットパルスp
rを出力する。リセットパルスprが°゛L″L″レベ
ルと、端子R1からの電圧により、可変抵抗器(ハ)、
抵抗((1011を介してコンデンサ(5)に充電が開
始される。ここで可変抵抗器内は上記実施例の可変抵抗
器(71同様、温度設定用の可変ポリュ−1いであり、
コンデンサ(5)への充電抵抗の値を変化させ得るもの
である。この時の充電電圧をVcとする。つぎにリセッ
トパルスprが゛ト]″レベルになると、トランジスタ
MがONしコンデンサ(5)の充電電圧Vcは放電され
る。
一方コタツの内部温度を検出するため、コタツ内の所定
の位置に設置された感温手段(8)のたとえば負特性を
有する1ノーミスタ(以下サーミスタと記す)は、抵抗
(至)と直列に接続されているとともに、その接続が比
較回路色の一入力端に接続されている。したがってコタ
ツ内温度の上昇とともに上記接続点の電圧VThのレベ
ルが[背する。
の位置に設置された感温手段(8)のたとえば負特性を
有する1ノーミスタ(以下サーミスタと記す)は、抵抗
(至)と直列に接続されているとともに、その接続が比
較回路色の一入力端に接続されている。したがってコタ
ツ内温度の上昇とともに上記接続点の電圧VThのレベ
ルが[背する。
ここでコタツ温度が低い場合、すなわち温度数jE[高
1の場合の1作について、第6図の第1部分を交えて説
明する。
1の場合の1作について、第6図の第1部分を交えて説
明する。
充電電圧VCと電圧Vvhとは比較回路色にて比較され
る。この比較結果は、トランジスタ(至)を介してマイ
クロコンビュータロの端子に4に入力される。マイクロ
コンピュータいは、交流電圧波形の90°ごとに比較結
果がパトードルベルであるかをp1定し、この1.1点
で比較結果が″“L゛ルベルあるなら、すなわち充電電
圧Vc>電圧V丁りならば、端子R2にパルス信号[〕
R2を出力する。このパルス信号PR’2は発熱体(至
)が約100%通電されるタイミングにて出力される。
る。この比較結果は、トランジスタ(至)を介してマイ
クロコンビュータロの端子に4に入力される。マイクロ
コンピュータいは、交流電圧波形の90°ごとに比較結
果がパトードルベルであるかをp1定し、この1.1点
で比較結果が″“L゛ルベルあるなら、すなわち充電電
圧Vc>電圧V丁りならば、端子R2にパルス信号[〕
R2を出力する。このパルス信号PR’2は発熱体(至
)が約100%通電されるタイミングにて出力される。
すなわち、ゼロクロスパルスPzが出力された直後にこ
のパルス信号PI112を出ツノすれば、比較回路ηか
らの比較出力をコンデンサ(ト)を介して得られる、ト
リガパルスV Elより早いタイミングでトランジスタ
(ト)のベースに印加できるためである。このトランジ
スタ(1)のコレクタは、抵抗(3乃を介して半導体制
御手段241のゲートに接続されでおり、上記パルス信
号PR2のタイミングで半導体制御手段241はトリガ
され、発熱体(至)への通電がなされる。
のパルス信号PI112を出ツノすれば、比較回路ηか
らの比較出力をコンデンサ(ト)を介して得られる、ト
リガパルスV Elより早いタイミングでトランジスタ
(ト)のベースに印加できるためである。このトランジ
スタ(1)のコレクタは、抵抗(3乃を介して半導体制
御手段241のゲートに接続されでおり、上記パルス信
号PR2のタイミングで半導体制御手段241はトリガ
され、発熱体(至)への通電がなされる。
つぎに温度設定U高」において、コタツ内温度が設定温
度に近づくと、第6図の第2部分および第38I1分に
示すように、交流電圧波形90°の時点で充電電圧VC
<電圧■Thとなり、したがってマイクロコンビュータ
ロの端子に4には“H11レベルの信号が入力される。
度に近づくと、第6図の第2部分および第38I1分に
示すように、交流電圧波形90°の時点で充電電圧VC
<電圧■Thとなり、したがってマイクロコンビュータ
ロの端子に4には“H11レベルの信号が入力される。
よってマイクロコンビュータ弼は充電電圧VCが電圧v
Thに達していtいため、端子R2からパルス信f7
r)p2を出力しない。しかしながら、充電電圧Vcと
電圧vThか一致した時点で、比較手段(ト))は高電
位レベルの信号を出力し、端子R1の電圧がコンデンサ
(至)と抵抗(1)によって微分されて、トリガパルス
VBを得う。このトリがパルスVBによってトランジス
タ(ト)がONLで、Vc=Vrhの交点角度にて半導
体制御手段I24)にゲート信号が流れ、発熱体(至)
がONL、U位相制御される。この時の通電率(W数)
は、コタツ内温度をN持安定さぼるW数よりも大きいの
で、コタツ内温度は上昇しつづけ、したがって電圧V[
hも増加しつづける。その結果充電電圧Vcと電圧VT
hとの交点く一致点)は、第6図の第2部分と第3部分
とに示すように、右側に移行するので通電率は徐々に低
下する。第6図第3部分は、温度設定「高」でコタツ内
温度が設定温度に達した場合で、通電率(W数)が減少
してコタツ内温度を維持し得るW数まで下がると、コタ
ツ内温度の上昇がとまるものである。
Thに達していtいため、端子R2からパルス信f7
r)p2を出力しない。しかしながら、充電電圧Vcと
電圧vThか一致した時点で、比較手段(ト))は高電
位レベルの信号を出力し、端子R1の電圧がコンデンサ
(至)と抵抗(1)によって微分されて、トリガパルス
VBを得う。このトリがパルスVBによってトランジス
タ(ト)がONLで、Vc=Vrhの交点角度にて半導
体制御手段I24)にゲート信号が流れ、発熱体(至)
がONL、U位相制御される。この時の通電率(W数)
は、コタツ内温度をN持安定さぼるW数よりも大きいの
で、コタツ内温度は上昇しつづけ、したがって電圧V[
hも増加しつづける。その結果充電電圧Vcと電圧VT
hとの交点く一致点)は、第6図の第2部分と第3部分
とに示すように、右側に移行するので通電率は徐々に低
下する。第6図第3部分は、温度設定「高」でコタツ内
温度が設定温度に達した場合で、通電率(W数)が減少
してコタツ内温度を維持し得るW数まで下がると、コタ
ツ内温度の上昇がとまるものである。
また温度設定を1低」に変えた場合、第6図第4部分に
承りように、充電型Ff:、 v cのピークが低トし
、電圧V[11との交点りなわら一致点がなくなり、発
熱体(財)への通電はなくなる。すなわち発熱体(至)
がランプヒータの場合には、ランプヒータは消灯状態と
なる。この場合は、コタツ使用者が温度をトげたいため
にUli設定を「低」側に変更したので、ランプヒータ
は消灯した方が使用者にコタツ温度がトがったという感
じを与え(実際に温度し一■・がる)のC,d″1幻と
なるtようがよいものである。そしてランプヒータが消
灯しているのでコタツ内温度(よ徐々に低]ミし、「低
コの設定温度に近づくと、充電電圧Vcと雷汁v1hと
は一致(交差)するが、この交差角度は通電率O%に近
いのでコタツ内Hia Ifはさらにイ1(トしつづけ
る。 1タラ内温度の低下に伴なって光′#i電圧Vc
と電r1hV1hとの交点は、第6図において、左側に
移1jするので通電率が増加し、やがで1低1の設定設
度を維持するのに必要なワッl〜数に−C安定する3゜
なj5この信実施例では、端子に4の入力を90″′c
検出してるが、マイクロコンピュータ処理しているため
、コタツの大きさ、発熱体(ハ)のW数に応じた検出角
度に変えることで、約100%の通電範囲をコタツ使用
に見合った範囲に容易に設定することができる。
承りように、充電型Ff:、 v cのピークが低トし
、電圧V[11との交点りなわら一致点がなくなり、発
熱体(財)への通電はなくなる。すなわち発熱体(至)
がランプヒータの場合には、ランプヒータは消灯状態と
なる。この場合は、コタツ使用者が温度をトげたいため
にUli設定を「低」側に変更したので、ランプヒータ
は消灯した方が使用者にコタツ温度がトがったという感
じを与え(実際に温度し一■・がる)のC,d″1幻と
なるtようがよいものである。そしてランプヒータが消
灯しているのでコタツ内温度(よ徐々に低]ミし、「低
コの設定温度に近づくと、充電電圧Vcと雷汁v1hと
は一致(交差)するが、この交差角度は通電率O%に近
いのでコタツ内Hia Ifはさらにイ1(トしつづけ
る。 1タラ内温度の低下に伴なって光′#i電圧Vc
と電r1hV1hとの交点は、第6図において、左側に
移1jするので通電率が増加し、やがで1低1の設定設
度を維持するのに必要なワッl〜数に−C安定する3゜
なj5この信実施例では、端子に4の入力を90″′c
検出してるが、マイクロコンピュータ処理しているため
、コタツの大きさ、発熱体(ハ)のW数に応じた検出角
度に変えることで、約100%の通電範囲をコタツ使用
に見合った範囲に容易に設定することができる。
つぎにさらに他の実施例について第7〜11図にで説明
する。
する。
この信実施例は、上記実施例における温度設定用可変抵
抗器(7)の設定抵抗値による温度検出におよぼす影響
を小さくするためのものである。つまり第3図において
、グラフ■に示すように、充電電圧Vcの比率は、可変
抵抗器(7)の設定抵抗値により種々の傾きをもち、そ
れぞれの設定点の、■′、Gを通る直線Yは斜めに傾い
ている。そのため所定の時間(この場合5■SeC、と
する)を経過した時に充電電圧VCと電圧Vrhの電圧
レベルを比較すると、可変抵抗器(力の抵抗値が#li
n、(グラフIVにvRagin、で示す)の時はr高
」安定点との差■は少なくて安定温度よりもやや低い温
度で検出しているが、可変抵抗器(7)の抵抗値がm1
d(グラフ1VGCVRIllid 、テ示V)および
maX (グラフrvにv)’imax、で示す)と
大きくするにつれCU中」安定点どの差ホおよび[低J
安定y、−どの差へは大きくなり、可変抵抗器(7)を
最大にした低温度安定時にはかなり低温のときに充電型
J、、l−V Cと電圧Vrhの電圧を比較することに
なる。
抗器(7)の設定抵抗値による温度検出におよぼす影響
を小さくするためのものである。つまり第3図において
、グラフ■に示すように、充電電圧Vcの比率は、可変
抵抗器(7)の設定抵抗値により種々の傾きをもち、そ
れぞれの設定点の、■′、Gを通る直線Yは斜めに傾い
ている。そのため所定の時間(この場合5■SeC、と
する)を経過した時に充電電圧VCと電圧Vrhの電圧
レベルを比較すると、可変抵抗器(力の抵抗値が#li
n、(グラフIVにvRagin、で示す)の時はr高
」安定点との差■は少なくて安定温度よりもやや低い温
度で検出しているが、可変抵抗器(7)の抵抗値がm1
d(グラフ1VGCVRIllid 、テ示V)および
maX (グラフrvにv)’imax、で示す)と
大きくするにつれCU中」安定点どの差ホおよび[低J
安定y、−どの差へは大きくなり、可変抵抗器(7)を
最大にした低温度安定時にはかなり低温のときに充電型
J、、l−V Cと電圧Vrhの電圧を比較することに
なる。
上記の内容を考慮してこの信実mF’Aでは、」ンデン
サ(5)への充電開始後、充電電圧Vcの電圧が所定の
レベルに達した時点より:l 31’lを開始し、更に
所定の時間が経過した時点で充電電圧VCと電圧vrh
を比較シーるbの(゛ある。
サ(5)への充電開始後、充電電圧Vcの電圧が所定の
レベルに達した時点より:l 31’lを開始し、更に
所定の時間が経過した時点で充電電圧VCと電圧vrh
を比較シーるbの(゛ある。
第7図に示すものは、第1図の実施例にJ3いで、コン
デンサ(芝))の充電電圧VCが所定のレベルに遂した
かどうかを検知する比較回路(至)を追加したものであ
る。比較回路艶を追加することによってディレィ回路(
3)の出力端はトランジスタ(6)のベースにのみ接続
される。またタイマ回路(4)の入力端(こは比較回路
CBの出力端が接続される。
デンサ(芝))の充電電圧VCが所定のレベルに遂した
かどうかを検知する比較回路(至)を追加したものであ
る。比較回路艶を追加することによってディレィ回路(
3)の出力端はトランジスタ(6)のベースにのみ接続
される。またタイマ回路(4)の入力端(こは比較回路
CBの出力端が接続される。
この信実施例の動作を第8図および第9図を交えて説明
りる9 まず比較回路(1)の基tI!電圧VSを第9図グラフ
IVより求める。
りる9 まず比較回路(1)の基tI!電圧VSを第9図グラフ
IVより求める。
可変抵抗器(7)をU高j温度設定にした場合の安定点
は図中■となる。つぎに可変抵抗器(7)を徐々に大ぎ
くし、1−低」温度設定にした場合の安定点を求めると
図中■となる。安定点■と安定点@との時間差を図中@
で示す。ここで可変抵抗器(7)の抵抗値V Rmin
、とVRIIlaX、のそれぞれと交差しかつそのれぞ
れの交点の間隔が時間差■と同じ時間差■′とtKるよ
うな充電電JfV Cの比率をW出すると、直線Zが得
られる。この直線Zの電圧レベルが基準゛電圧VSとな
る。
は図中■となる。つぎに可変抵抗器(7)を徐々に大ぎ
くし、1−低」温度設定にした場合の安定点を求めると
図中■となる。安定点■と安定点@との時間差を図中@
で示す。ここで可変抵抗器(7)の抵抗値V Rmin
、とVRIIlaX、のそれぞれと交差しかつそのれぞ
れの交点の間隔が時間差■と同じ時間差■′とtKるよ
うな充電電JfV Cの比率をW出すると、直線Zが得
られる。この直線Zの電圧レベルが基準゛電圧VSとな
る。
今、可変抵抗器(7)をVRmin、にセットする。
=1ンデンサ(5)の充¥1雷圧VcはVRmin、の
曲線に沿って立ち上り、LtrV−電圧VSを越える。
曲線に沿って立ち上り、LtrV−電圧VSを越える。
越えた時点で計測を開始し、時間■を経過した後に充電
電圧VCと電圧Vvhとを比較する。この場合の安定点
■との差は図中@となる。
電圧VCと電圧Vvhとを比較する。この場合の安定点
■との差は図中@となる。
つぎに可変抵抗器(刀をV)tlllax、にセットす
る。
る。
コンデンサ(5)の光電電圧VcはVRnax、の曲線
に沿って立ち上り基準電圧VSを越える。上記同様、越
えた時点でみ1側を開始し、時間■を経過した(腿に充
電電圧と電圧VThとを比較すると、安定点■どの差は
図中■となる。
に沿って立ち上り基準電圧VSを越える。上記同様、越
えた時点でみ1側を開始し、時間■を経過した(腿に充
電電圧と電圧VThとを比較すると、安定点■どの差は
図中■となる。
ここで基準電圧VSを越える時間差Gは、安定時の安定
点■、■の時間差■と同一の設定となり、かつ時間■=
待時間′であるから、差■と差■は同一時間となり、可
変抵抗器(7)の設定に影響されずに温度検出がなされ
る。
点■、■の時間差■と同一の設定となり、かつ時間■=
待時間′であるから、差■と差■は同一時間となり、可
変抵抗器(7)の設定に影響されずに温度検出がなされ
る。
第7図において、比較回路(至)によってコンデンサ(
5)の充電電圧Vc (以下充電電圧(9〉と記す)
と基準電圧Vs (以下73準電圧(n)と記す)と
を比較する。比較回路(31は充電電圧(9)が基準電
圧+n+以下の状態で゛H″レベル出力信号(p)を出
力し、その(り縁にてタイマ回路(4)がトリガされて
遅延信号+d+を出力する。遅延信号+d+の時間幅1
1は一定であるが、出力信号(ρ)の時間幅T2は、充
電電圧+(J)、いいかえれば可変抵抗器(7)の設定
に対応して変化する。そして比較回路Mの出力信号(h
)が時間幅T1の間に゛トドルベルとなれば、判定手段
(1υは” H”レベルの出力信号(1〉を出力し、上
記実施例同様低温表示をするとともに発熱体(支)の通
電を制御する。
5)の充電電圧Vc (以下充電電圧(9〉と記す)
と基準電圧Vs (以下73準電圧(n)と記す)と
を比較する。比較回路(31は充電電圧(9)が基準電
圧+n+以下の状態で゛H″レベル出力信号(p)を出
力し、その(り縁にてタイマ回路(4)がトリガされて
遅延信号+d+を出力する。遅延信号+d+の時間幅1
1は一定であるが、出力信号(ρ)の時間幅T2は、充
電電圧+(J)、いいかえれば可変抵抗器(7)の設定
に対応して変化する。そして比較回路Mの出力信号(h
)が時間幅T1の間に゛トドルベルとなれば、判定手段
(1υは” H”レベルの出力信号(1〉を出力し、上
記実施例同様低温表示をするとともに発熱体(支)の通
電を制御する。
第10図に示すものは、第5図に示す実施例にE記の比
較回路艶を設けたもので、したがって発熱体色への温度
制御はマイクロコンピュータQ力によっておこなわれる
ものである。
較回路艶を設けたもので、したがって発熱体色への温度
制御はマイクロコンピュータQ力によっておこなわれる
ものである。
この信実側倒では、基準電圧(n)を抵抗端と抵抗(ト
)とで+9vを分圧して得ている。そして充電電圧〈9
)と基準電圧(n+とを比較回路(ト)が比較し、その
比較結果はトランジスタ(41)で反転されてマイク[
1コンピユータ弼の端子に4に入力される。従って充電
電圧(9)が基tl!電圧を越えた時点から端子に4人
力されて、所定時間を計測し、この所定時間経過後に充
電電圧(fJ)と感温手段(8)に対応する電圧vTh
とが比較検出され、その結束によって第4図および第5
図で示した信実側倒と同様に発熱体(支)の通電が制御
されるものである。
)とで+9vを分圧して得ている。そして充電電圧〈9
)と基準電圧(n+とを比較回路(ト)が比較し、その
比較結果はトランジスタ(41)で反転されてマイク[
1コンピユータ弼の端子に4に入力される。従って充電
電圧(9)が基tl!電圧を越えた時点から端子に4人
力されて、所定時間を計測し、この所定時間経過後に充
電電圧(fJ)と感温手段(8)に対応する電圧vTh
とが比較検出され、その結束によって第4図および第5
図で示した信実側倒と同様に発熱体(支)の通電が制御
されるものである。
以上のような構成によって、温度設定用の可変抵抗器(
71の設定にかかわらず、常に安定時よりも温度的にや
や低い位置で周囲温度を検出できる。
71の設定にかかわらず、常に安定時よりも温度的にや
や低い位置で周囲温度を検出できる。
また可変抵抗器(刀の抵抗値を読み取って、抵抗値に対
応した時間経過後に充電電圧と感温手段(8)に対応す
る電圧とを比較する構成にしていないので、可変抵抗器
の抵抗値読取回路、各種時間の設定などが不要となり、
回路的にもマイクロコンピュータのソフトウェアである
プログラム的にも簡素となりコストダウンがはかれる。
応した時間経過後に充電電圧と感温手段(8)に対応す
る電圧とを比較する構成にしていないので、可変抵抗器
の抵抗値読取回路、各種時間の設定などが不要となり、
回路的にもマイクロコンピュータのソフトウェアである
プログラム的にも簡素となりコストダウンがはかれる。
(1−)発明の効果
この発明によれば、安定に近い温度までは発熱体に 1
00%通電づるので立ち上り時間が早く、以模安定温度
に達するまでは瀬次リニアに通電率を減少させるので、
周囲温度、たとえばコタツに使用された場合はコタツ内
温度のオーバーシュートがなく、安定温度に達すると安
定維持に必要な最小通電率で制御するので、温度変化幅
の極めて小ざい温度制御装置が得られる。また立ち上り
時から安定時にかけて発熱体には通電率θ%がないので
、発熱体としてランプヒータを使用したコタツなどにお
いても、ランプが消灯することがなく(明るさは変化す
る)、使用者に視覚的な冷却値を感じさけない効果もあ
る。
00%通電づるので立ち上り時間が早く、以模安定温度
に達するまでは瀬次リニアに通電率を減少させるので、
周囲温度、たとえばコタツに使用された場合はコタツ内
温度のオーバーシュートがなく、安定温度に達すると安
定維持に必要な最小通電率で制御するので、温度変化幅
の極めて小ざい温度制御装置が得られる。また立ち上り
時から安定時にかけて発熱体には通電率θ%がないので
、発熱体としてランプヒータを使用したコタツなどにお
いても、ランプが消灯することがなく(明るさは変化す
る)、使用者に視覚的な冷却値を感じさけない効果もあ
る。
さらにマイクロコンピュータを使用するしのにおいては
、感温手段の温度(抵抗値)をマイクロコンピュータが
常に検出づる必要はなく、プログラムが簡素になるとと
もに、通N率50%以下ではコンデンサの充電電圧と感
温手段の抵抗値に対応する電圧との交点の位相角度で制
御するので、安定時のワット数までリニアに通電率を変
化させることができる。位相制御は上記したように充電
電圧と抵抗値に対応する電圧との交点にて回路的な処理
をしているので、たとえばこの発明の温度制御袋2をコ
タツに使用した場合、コタツの大きさく内容積)が異な
るときは、r+J変抵抗抵抗器ンデンサ、感温手段J3
よびこれらとブリッジ回路を構成する抵抗の定数を、そ
のコタツに見合った値に実験的に求めて選定でき、プロ
グラムを変えるといった煩雑さがなくなる効果もあった
。
、感温手段の温度(抵抗値)をマイクロコンピュータが
常に検出づる必要はなく、プログラムが簡素になるとと
もに、通N率50%以下ではコンデンサの充電電圧と感
温手段の抵抗値に対応する電圧との交点の位相角度で制
御するので、安定時のワット数までリニアに通電率を変
化させることができる。位相制御は上記したように充電
電圧と抵抗値に対応する電圧との交点にて回路的な処理
をしているので、たとえばこの発明の温度制御袋2をコ
タツに使用した場合、コタツの大きさく内容積)が異な
るときは、r+J変抵抗抵抗器ンデンサ、感温手段J3
よびこれらとブリッジ回路を構成する抵抗の定数を、そ
のコタツに見合った値に実験的に求めて選定でき、プロ
グラムを変えるといった煩雑さがなくなる効果もあった
。
第1図はこの発明の実施例回路図、第2図△。
Bはそれぞれこの実施例の動作を説明するための波形図
、第3図は感温手段aLJ、びコンデンサを含むブリッ
ジ回路の定数を求めるためのグラフ、第4図および第5
図はそれぞれ信実側倒回路図および要部回路図、第6図
は信実側倒の動作を説明するための波形図、第7図およ
び第8図はさらなる信実側倒の回路図およびその動作を
説明するための波形図、第9図は第7図の比較回路田の
基準電圧を求めるためのグラフ、第10図は比較回路C
1])を設けた信実側倒回路図、第11図および第12
図はそれぞれ従来例回路図である。 (5)・・・・・・コンデンサ、(8)・・・・・・感
温手段、(1ト=−・・判定手段、 色・・・・・・
通′市挙制御手段、■・・・・・・発熱体。
、第3図は感温手段aLJ、びコンデンサを含むブリッ
ジ回路の定数を求めるためのグラフ、第4図および第5
図はそれぞれ信実側倒回路図および要部回路図、第6図
は信実側倒の動作を説明するための波形図、第7図およ
び第8図はさらなる信実側倒の回路図およびその動作を
説明するための波形図、第9図は第7図の比較回路田の
基準電圧を求めるためのグラフ、第10図は比較回路C
1])を設けた信実側倒回路図、第11図および第12
図はそれぞれ従来例回路図である。 (5)・・・・・・コンデンサ、(8)・・・・・・感
温手段、(1ト=−・・判定手段、 色・・・・・・
通′市挙制御手段、■・・・・・・発熱体。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、発熱体と、発熱体による周囲温度の変化を検知する
感湿手段とを具備し、感温手段の信号に対応して発熱体
の通電を制御する温度制御装置において、一定周期で繰
り返し充放電がなされるコンデンサと、そのコンデンサ
への充電開始後所定の時間が経過した時点でその時点で
のコンデンサの充電電圧と感温手段の信号の電圧とを比
較する判定手段とを具備し、判定手段からの出力信号に
よって発熱体の通電率を制御する通電率制御手段を発熱
体に電気的に接続して設けることを特徴とする温度制御
装置。 2、通電率制御手段が、発熱体に直列に接続される半導
体制御手段と、判定手段の出力信号が所定時間を経過す
るまでに反転したときには約100%の通電となるよう
半導体制御手段をトリガあるいは位相制御するとともに
、判定手段の出力信号が所定時間を経過した後に反転し
たときには半導体制御手段をトリガして位相制御あるい
は約100%の通電をおこなうトリガ手段とからなる特
許請求の範囲第1項記載の温度制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60176566A JPH0715651B2 (ja) | 1985-08-10 | 1985-08-10 | 温度制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60176566A JPH0715651B2 (ja) | 1985-08-10 | 1985-08-10 | 温度制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6237713A true JPS6237713A (ja) | 1987-02-18 |
| JPH0715651B2 JPH0715651B2 (ja) | 1995-02-22 |
Family
ID=16015806
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60176566A Expired - Lifetime JPH0715651B2 (ja) | 1985-08-10 | 1985-08-10 | 温度制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0715651B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63187019U (ja) * | 1987-05-26 | 1988-11-30 | ||
| WO2007000981A1 (ja) * | 2005-06-29 | 2007-01-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 便座装置およびそれを備えるトイレ装置 |
| JP2007229494A (ja) * | 2005-08-22 | 2007-09-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 便座装置およびそれを備えるトイレ装置 |
| US7498074B2 (en) | 2003-01-17 | 2009-03-03 | Toppan Printing Co., Ltd. | Metal photoetching product and production method thereof |
| CN104635803A (zh) * | 2014-12-10 | 2015-05-20 | 广东美的制冷设备有限公司 | 遥控器及温度取样控制方法 |
| CN104731129A (zh) * | 2015-01-31 | 2015-06-24 | 广东美的制冷设备有限公司 | 遥控器、温度采样控制系统及控制方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58129513A (ja) * | 1982-01-27 | 1983-08-02 | Sharp Corp | 温度制御装置 |
| JPS59177619A (ja) * | 1983-03-28 | 1984-10-08 | Shimadzu Corp | 温度制御装置 |
-
1985
- 1985-08-10 JP JP60176566A patent/JPH0715651B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58129513A (ja) * | 1982-01-27 | 1983-08-02 | Sharp Corp | 温度制御装置 |
| JPS59177619A (ja) * | 1983-03-28 | 1984-10-08 | Shimadzu Corp | 温度制御装置 |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63187019U (ja) * | 1987-05-26 | 1988-11-30 | ||
| US7498074B2 (en) | 2003-01-17 | 2009-03-03 | Toppan Printing Co., Ltd. | Metal photoetching product and production method thereof |
| US8110344B2 (en) | 2003-01-17 | 2012-02-07 | Toppan Printing Co., Ltd. | Metal photoetching product and production method thereof |
| WO2007000981A1 (ja) * | 2005-06-29 | 2007-01-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 便座装置およびそれを備えるトイレ装置 |
| US8117683B2 (en) | 2005-06-29 | 2012-02-21 | Panasonic Corporation | Toilet seat device and toilet seat apparatus having the same |
| JP2007229494A (ja) * | 2005-08-22 | 2007-09-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 便座装置およびそれを備えるトイレ装置 |
| CN104635803A (zh) * | 2014-12-10 | 2015-05-20 | 广东美的制冷设备有限公司 | 遥控器及温度取样控制方法 |
| CN104731129A (zh) * | 2015-01-31 | 2015-06-24 | 广东美的制冷设备有限公司 | 遥控器、温度采样控制系统及控制方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0715651B2 (ja) | 1995-02-22 |
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