JPS6238324A - フ−リエ変換型分光光度計 - Google Patents
フ−リエ変換型分光光度計Info
- Publication number
- JPS6238324A JPS6238324A JP17825185A JP17825185A JPS6238324A JP S6238324 A JPS6238324 A JP S6238324A JP 17825185 A JP17825185 A JP 17825185A JP 17825185 A JP17825185 A JP 17825185A JP S6238324 A JPS6238324 A JP S6238324A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- memory
- interferogram
- center
- scan
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
- G01J3/453—Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ 産業上の利用分野
本発明はフーリエ変換型分光光度計に関する。
口 従来技術
フーリエ変換型分光光度計では測定波長域よりも短い波
長の光の干渉縞からサンプリングパルスを形成している
。フーリエ変換型遠赤外分光光度計ではＨｅ −Ｎ ｅ
レーザ光の干渉縞からサンプリングパルスを形成するが
、測定しようとする光の波長が長いので、Ｈｅ −Ｎ
ｅレーザ光の干渉縞の複数個毎に一回測光出力をサンプ
リングしてインターフェログラムデータとする。また測
定のＳＺＮ比を高めるため干渉計で複数回走査を行い、
毎回のインターフェログラムを積算するが、この場合、
毎回のインターフェログラムを同じ位相で積算するため
、各インターフェログラムで一つの同一位相点を原点に
決める必要があるが、この原点を正確に決めることは困
難であった。通常はインターフェログラムのセンターバ
ースト（干渉計の二元路の光路差Ｏの位置で現れる干渉
光のピーク）の中心を原点とするが、センターパース内
に何個かのＨｅ −Ｎ ｅレーザ光の干渉縞が存在し、
その内の何れが真のセンターバースト中心か決めるのが
困難である。或は機械的に原点を検出する方法もあるが
、こめ場合でも原点を正確に決めることは困難であった
。
長の光の干渉縞からサンプリングパルスを形成している
。フーリエ変換型遠赤外分光光度計ではＨｅ −Ｎ ｅ
レーザ光の干渉縞からサンプリングパルスを形成するが
、測定しようとする光の波長が長いので、Ｈｅ −Ｎ
ｅレーザ光の干渉縞の複数個毎に一回測光出力をサンプ
リングしてインターフェログラムデータとする。また測
定のＳＺＮ比を高めるため干渉計で複数回走査を行い、
毎回のインターフェログラムを積算するが、この場合、
毎回のインターフェログラムを同じ位相で積算するため
、各インターフェログラムで一つの同一位相点を原点に
決める必要があるが、この原点を正確に決めることは困
難であった。通常はインターフェログラムのセンターバ
ースト（干渉計の二元路の光路差Ｏの位置で現れる干渉
光のピーク）の中心を原点とするが、センターパース内
に何個かのＨｅ −Ｎ ｅレーザ光の干渉縞が存在し、
その内の何れが真のセンターバースト中心か決めるのが
困難である。或は機械的に原点を検出する方法もあるが
、こめ場合でも原点を正確に決めることは困難であった
。
ハ 発明が解決しようとする問題点
本発明はフーリエ変換型分光光度計において、インター
フェログラムの積算を行う場合の原点を正確に検出する
手段を提供しようとするものである。
フェログラムの積算を行う場合の原点を正確に検出する
手段を提供しようとするものである。
二 問題点解決のための手段
干渉計における一回の走査により得られるインターフェ
ログラムのデータを第１メモリに一時的に格納し、イン
ターフェログラムのセンターバーストの基準波形のデー
タを第３メモリに格納しておいて、上記−回の走査によ
るインターフェログラムのセンターバースト付近のデー
タを少しずつずらせて上記第３メモリのデータと重ね、
最も良く一致するずらせ量を検出し、これによって上記
第１メモリ内のインターフェログラムのデータ中でセン
ターバーストの中心位置を検出し、その位置が主メモリ
内の積算されたインターフェログラムのセンターバース
トの中心に対応するようにして、第１メモリ内のデータ
を主メモリに転送して積算するようにした。
ログラムのデータを第１メモリに一時的に格納し、イン
ターフェログラムのセンターバーストの基準波形のデー
タを第３メモリに格納しておいて、上記−回の走査によ
るインターフェログラムのセンターバースト付近のデー
タを少しずつずらせて上記第３メモリのデータと重ね、
最も良く一致するずらせ量を検出し、これによって上記
第１メモリ内のインターフェログラムのデータ中でセン
ターバーストの中心位置を検出し、その位置が主メモリ
内の積算されたインターフェログラムのセンターバース
トの中心に対応するようにして、第１メモリ内のデータ
を主メモリに転送して積算するようにした。
ホ 作用
干渉計で一回走査を行うと、そのときのインターフェロ
グラムのデータを第１メモリに一時格納し、このデータ
を主メモリに転送して主メモリで毎回の走査におけるイ
ンターフェログラムの積算を行うのであるが、このとき
、インターフェログラムのセンターバーストの基準とな
る波形を第１メモリ内のインターフェログラムのデータ
中のセンターバースト付近のデータに重ねて少しずつ重
ね位置をずらせて行くと、両方のセンターバーストの波
形が最も良く一致する所が見つかる。このとき基準セン
ターバースト波形における中心位置と重なっている第１
メモリ内のデータ位置が第１メモリ内のインターフェロ
グラムにおけるセンターバーストの中心であるから、こ
の位置が主メモリ内のインターフェログラムにおけるセ
ンターバースト中心位置に対応する関係で、第１メモリ
のデータを主メモリに転送加算すれば、各インターフェ
ログラムを原点を一致させて加算することができる。
グラムのデータを第１メモリに一時格納し、このデータ
を主メモリに転送して主メモリで毎回の走査におけるイ
ンターフェログラムの積算を行うのであるが、このとき
、インターフェログラムのセンターバーストの基準とな
る波形を第１メモリ内のインターフェログラムのデータ
中のセンターバースト付近のデータに重ねて少しずつ重
ね位置をずらせて行くと、両方のセンターバーストの波
形が最も良く一致する所が見つかる。このとき基準セン
ターバースト波形における中心位置と重なっている第１
メモリ内のデータ位置が第１メモリ内のインターフェロ
グラムにおけるセンターバーストの中心であるから、こ
の位置が主メモリ内のインターフェログラムにおけるセ
ンターバースト中心位置に対応する関係で、第１メモリ
のデータを主メモリに転送加算すれば、各インターフェ
ログラムを原点を一致させて加算することができる。
へ 実施例
第１図は本発明の一実施例を示す。■は干渉計でｍｖは
移動鏡である。Ｐは主光源であり、ＬはＨｅ −Ｎ ｅ
レーザである。Ｄｌは主光源の干渉光を受光する光検出
器、Ｄ２はＨｅ−Ｎｅレーザの干渉光を受光する光検出
器である。光検出器Ｄ２の出力波形はレーザの干渉光の
縞が一個分勤（度に一周期の波形を画き、この出力波形
は波形整形器Ｆｔ’矩形波に整形され、サンプリングパ
ルス形成回路Ｃで上記矩形波の立上りを検出してサンプ
リングパルスを出力する。従ってサンプリングパルスは
レーザ干渉縞の一個毎に一個出力される。
移動鏡である。Ｐは主光源であり、ＬはＨｅ −Ｎ ｅ
レーザである。Ｄｌは主光源の干渉光を受光する光検出
器、Ｄ２はＨｅ−Ｎｅレーザの干渉光を受光する光検出
器である。光検出器Ｄ２の出力波形はレーザの干渉光の
縞が一個分勤（度に一周期の波形を画き、この出力波形
は波形整形器Ｆｔ’矩形波に整形され、サンプリングパ
ルス形成回路Ｃで上記矩形波の立上りを検出してサンプ
リングパルスを出力する。従ってサンプリングパルスは
レーザ干渉縞の一個毎に一個出力される。
Ｇはゲート回路で回路Ｃから出力されるサンプリングパ
ルスによって開かれ、光検出器Ｄ１の出力信号をインタ
ーフェースＩｆに送り出す。インターフェースＩｆはゲ
ートＧを通して出力される光検出器Ｄ１の出力信号をホ
ールドしＡ／Ｄ変換する。ＣＰＵはこのＡ／Ｄ変換され
たデータを第１メモリＭｌに格納する。
ルスによって開かれ、光検出器Ｄ１の出力信号をインタ
ーフェースＩｆに送り出す。インターフェースＩｆはゲ
ートＧを通して出力される光検出器Ｄ１の出力信号をホ
ールドしＡ／Ｄ変換する。ＣＰＵはこのＡ／Ｄ変換され
たデータを第１メモリＭｌに格納する。
第１メモリＭ１は干渉計の移動鏡で一回走査を行うとき
のインターフェログラムのブータラ一時的に記憶してお
くメモリであり、このデータは前述したように光検出器
ＤＩの出力をレーザ光の干渉縞の一縞毎にサンプリング
したものである。第２メモリＭ２は同様にしてインター
フェログラムのセンターバースト付近のデータを一時格
納してお（メモリである。従ってその内容は第１メモリ
内のデータ中センターバースト付近のデータと同じもの
である。第３メモリＭ３は干渉計の一走査毎のインター
フェログラムのセンターバースト付近のデータを原点を
合せて積算したデータを格納するものである。第４メモ
リＭ４はインターフェログラムを積算する主メモリで、
干渉計の一走査毎に第１のメモリからレーザ光干渉縞ｎ
個飛びのデータを読出し、第４メモリ内のデータに積算
して行くものである。
のインターフェログラムのブータラ一時的に記憶してお
くメモリであり、このデータは前述したように光検出器
ＤＩの出力をレーザ光の干渉縞の一縞毎にサンプリング
したものである。第２メモリＭ２は同様にしてインター
フェログラムのセンターバースト付近のデータを一時格
納してお（メモリである。従ってその内容は第１メモリ
内のデータ中センターバースト付近のデータと同じもの
である。第３メモリＭ３は干渉計の一走査毎のインター
フェログラムのセンターバースト付近のデータを原点を
合せて積算したデータを格納するものである。第４メモ
リＭ４はインターフェログラムを積算する主メモリで、
干渉計の一走査毎に第１のメモリからレーザ光干渉縞ｎ
個飛びのデータを読出し、第４メモリ内のデータに積算
して行くものである。
以上の構成でＣＰＵは次のような制御及びデー夕処理を
行ってインターフェログラムの積算を行う。以下の説明
で単にサンプリングデータと云うのはレーザ光干渉縞の
一縞分毎にサンプリングされたインターフェログラムデ
ータであり、ｎ飛びのサンプリングデータと云うのはレ
ーザ干渉縞ｎ個分の間隔でサンプリングされたインター
フェログラムデータのことである。
行ってインターフェログラムの積算を行う。以下の説明
で単にサンプリングデータと云うのはレーザ光干渉縞の
一縞分毎にサンプリングされたインターフェログラムデ
ータであり、ｎ飛びのサンプリングデータと云うのはレ
ーザ干渉縞ｎ個分の間隔でサンプリングされたインター
フェログラムデータのことである。
干渉計のＮ回目の走査において、第４メモリＭ４にはＮ
−１回目の走査までのｎ飛びのサンプリングデータを原
点を一致させて積算した結果が格納されている。また第
３メモリＭ３にはＮ−１回までの走査におけるインター
フェログラムのセンターバーストの中心を中央にして前
後７点におけるサンプリングデータを積算したデータが
格納されている。Ｎ回目の走査において、ＣＰＵはサン
プリングデータを第１メモリＭ１に格納して行（。
−１回目の走査までのｎ飛びのサンプリングデータを原
点を一致させて積算した結果が格納されている。また第
３メモリＭ３にはＮ−１回までの走査におけるインター
フェログラムのセンターバーストの中心を中央にして前
後７点におけるサンプリングデータを積算したデータが
格納されている。Ｎ回目の走査において、ＣＰＵはサン
プリングデータを第１メモリＭ１に格納して行（。
併せて走査の始点から引続く２１個のサンプリングデー
タをその中の最大値を１として法化した上で第２メモリ
Ｍ２に格納する。干渉計の移動鏡が走査の始点に戻って
行（間にＣＰＵは、第２メモリＭ２のデータを−サンプ
リング点ずつずらせながら第３メモｌＪＭ３のデータに
重ねて、最も良く一致するときのずらせ点数を検出する
。このようにして第１メモリＭｌ内のデータにおいて走
査の始点に当るデータから何番目のサンプリングデータ
がセンターバーストの中心かが判るので、そのサンプリ
ングデータをＮ回目の走査におけるインターフェログラ
ムの原点のデータとして、そこからｎ飛びのサンプリン
グデータを読〜稚し、第４メモリＭ４の各対応アドレス
のデータに加算し、第４メモリの内容をこの加算結果に
置換える。また上述動作によって決められた原点を合せ
て第２メモリＭ２内の相続く７個のサンプリングデータ
を第３メモリの対応アドレスのデータに加算し、加算結
果をｌ／２した値に第３メモリの内容を書替える。
タをその中の最大値を１として法化した上で第２メモリ
Ｍ２に格納する。干渉計の移動鏡が走査の始点に戻って
行（間にＣＰＵは、第２メモリＭ２のデータを−サンプ
リング点ずつずらせながら第３メモｌＪＭ３のデータに
重ねて、最も良く一致するときのずらせ点数を検出する
。このようにして第１メモリＭｌ内のデータにおいて走
査の始点に当るデータから何番目のサンプリングデータ
がセンターバーストの中心かが判るので、そのサンプリ
ングデータをＮ回目の走査におけるインターフェログラ
ムの原点のデータとして、そこからｎ飛びのサンプリン
グデータを読〜稚し、第４メモリＭ４の各対応アドレス
のデータに加算し、第４メモリの内容をこの加算結果に
置換える。また上述動作によって決められた原点を合せ
て第２メモリＭ２内の相続く７個のサンプリングデータ
を第３メモリの対応アドレスのデータに加算し、加算結
果をｌ／２した値に第３メモリの内容を書替える。
初回の走査（Ｎ＝１）においては第３．第４メモリの内
容はＯであり、この場合は特に、サンプリングデータが
第１メモリＭ１に格納され、量データ中最大値を含む前
後７点のサンリングデータが法化されて第３メモリＭ３
に格納され、上記最大値のサンプリングデータを原点と
してｎ飛びのサンプリングデータが第１メモリから読出
されて以上の動作を図解すると第２図のようになる。
容はＯであり、この場合は特に、サンプリングデータが
第１メモリＭ１に格納され、量データ中最大値を含む前
後７点のサンリングデータが法化されて第３メモリＭ３
に格納され、上記最大値のサンプリングデータを原点と
してｎ飛びのサンプリングデータが第１メモリから読出
されて以上の動作を図解すると第２図のようになる。
第２図でＭｌは第１メモリＭ１に格納されたデータを示
し、横軸目盛の０． ｌ、 ２・・・はアドレス番
号である。同様にしてＭｌは第２メモリＭ２に格納され
たデータ、Ｍ３は第３メモリＭ３内のデータ、Ｍ４は第
４メモリＭ４内のデータである。第２図Ｍ３で点線で示
されるカーブは第２メモリＭ２から第２図Ｍ２でｉ番目
からｉ ＋ ６番目までのテ” ７−タをとってＭ３内のデータと重ねた状態を示す。ｉ
を１から１５まで変えて両者が一番良く一致する所を探
す。そのときのｉ麦ｉｏとするとインターフェログラム
の原点はＭｌにおいてｉｏ＋３番目と云うことになる。
し、横軸目盛の０． ｌ、 ２・・・はアドレス番
号である。同様にしてＭｌは第２メモリＭ２に格納され
たデータ、Ｍ３は第３メモリＭ３内のデータ、Ｍ４は第
４メモリＭ４内のデータである。第２図Ｍ３で点線で示
されるカーブは第２メモリＭ２から第２図Ｍ２でｉ番目
からｉ ＋ ６番目までのテ” ７−タをとってＭ３内のデータと重ねた状態を示す。ｉ
を１から１５まで変えて両者が一番良く一致する所を探
す。そのときのｉ麦ｉｏとするとインターフェログラム
の原点はＭｌにおいてｉｏ＋３番目と云うことになる。
そこでＭｌのデータでｉ ｏ −）−３番目のデータを
Ｍ４における１番地に入れ、以下ｉｏ＋３番地からｎ番
地飛びにＭｌのデータを読出してＭ４のデータに積算し
て行く。
Ｍ４における１番地に入れ、以下ｉｏ＋３番地からｎ番
地飛びにＭｌのデータを読出してＭ４のデータに積算し
て行く。
ＭｌのデータをずらせてＭ３のデータと重ね一番良く一
致する所を検索する動作はＭｌの各番地のデータを（Ｄ
ｉ＋ｋ）とし、Ｍ３の各番地のデータをＥｋとする。こ
＼でｋはＯ〜６の数、ｉは１から１５まで順次変えて行
（数である。
致する所を検索する動作はＭｌの各番地のデータを（Ｄ
ｉ＋ｋ）とし、Ｍ３の各番地のデータをＥｋとする。こ
＼でｋはＯ〜６の数、ｉは１から１５まで順次変えて行
（数である。
ｋ＝。
ｉを１から１５まで変えて上式のＫｉが最小になるｉを
探せばよい。
探せばよい。
ト 効果
本発明によればインターフェログラムの積算において原
点合せが正確にできるので、Ｓ／Ｎ比の向上と共に得ら
れるスペクトルの歪がなくなり再現性、試料濃度と吸光
度との間の直線性等の向上が得られる。
点合せが正確にできるので、Ｓ／Ｎ比の向上と共に得ら
れるスペクトルの歪がなくなり再現性、試料濃度と吸光
度との間の直線性等の向上が得られる。
第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図は同実
施例の作用を説明するグラフである。 代理人 弁理士 縣 浩 介第１図 第２図 １２３ ■ １１
施例の作用を説明するグラフである。 代理人 弁理士 縣 浩 介第１図 第２図 １２３ ■ １１
Claims (1)
- 干渉計における一回の走査により得られるインターフェ
ログラムのデータを一時的に格納しておく第１メモリと
、干渉計の毎回の走査におけるインターフェログラムを
積算した積算データを格納しておく主メモリと、基準と
なるインターフェログラムのセンターバーストにおける
データを格納しておく第３メモリを有し、一走査毎にそ
の回のインターフェログラムのセンターバースト付近の
データをずらせて上記第３メモリの基準センターバース
トのデータに重ね最も良い一致を示すずらせ量によつて
その回の走査によるインターフェログラムの原点を検出
して上記主メモリ内のデータに加算するようにしたフー
リエ変換型分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17825185A JPH0668458B2 (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | フ−リエ変換型分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17825185A JPH0668458B2 (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | フ−リエ変換型分光光度計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6238324A true JPS6238324A (ja) | 1987-02-19 |
| JPH0668458B2 JPH0668458B2 (ja) | 1994-08-31 |
Family
ID=16045224
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17825185A Expired - Lifetime JPH0668458B2 (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | フ−リエ変換型分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0668458B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02102425A (ja) * | 1988-10-11 | 1990-04-16 | Advantest Corp | 光スペクトラムアナライザ用光干渉計 |
| WO2012137470A1 (ja) * | 2011-04-05 | 2012-10-11 | コニカミノルタオプティクス株式会社 | フーリエ変換型分光計およびフーリエ変換型分光方法 |
| WO2012164810A1 (ja) * | 2011-05-31 | 2012-12-06 | コニカミノルタオプティクス株式会社 | フーリエ変換型分光計およびフーリエ変換型分光方法 |
-
1985
- 1985-08-12 JP JP17825185A patent/JPH0668458B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02102425A (ja) * | 1988-10-11 | 1990-04-16 | Advantest Corp | 光スペクトラムアナライザ用光干渉計 |
| WO2012137470A1 (ja) * | 2011-04-05 | 2012-10-11 | コニカミノルタオプティクス株式会社 | フーリエ変換型分光計およびフーリエ変換型分光方法 |
| JP5725165B2 (ja) * | 2011-04-05 | 2015-05-27 | コニカミノルタ株式会社 | フーリエ変換型分光計およびフーリエ変換型分光方法 |
| US9442014B2 (en) | 2011-04-05 | 2016-09-13 | Konica Minolta, Inc. | Fourier transform spectrometer and fourier transform spectroscopic method |
| WO2012164810A1 (ja) * | 2011-05-31 | 2012-12-06 | コニカミノルタオプティクス株式会社 | フーリエ変換型分光計およびフーリエ変換型分光方法 |
| JP5846202B2 (ja) * | 2011-05-31 | 2016-01-20 | コニカミノルタ株式会社 | フーリエ変換型分光計およびフーリエ変換型分光方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0668458B2 (ja) | 1994-08-31 |
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