JPS6238347A - 画像処理装置 - Google Patents
画像処理装置Info
- Publication number
- JPS6238347A JPS6238347A JP60178901A JP17890185A JPS6238347A JP S6238347 A JPS6238347 A JP S6238347A JP 60178901 A JP60178901 A JP 60178901A JP 17890185 A JP17890185 A JP 17890185A JP S6238347 A JPS6238347 A JP S6238347A
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- Japan
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Links
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 7
- 230000006835 compression Effects 0.000 abstract description 10
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- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 3
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- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は紙葉類上の画像パターンの計測を行う画像処理
装置に関する。
装置に関する。
従来、紙Ii類上の画像パターンからその個々の破片面
積あるいは個数等の計測は人手によって計数されていた
。
積あるいは個数等の計測は人手によって計数されていた
。
]−述した従来の人間による計測では、個々の人間の熟
諌度あるいは疲労度によって計測誤差が発生したり、ま
た面積の計測においては時間がかかるという欠点がある
。この欠点を取り除くため、種々の画像処理装置が提案
された。ところが、通常の画像処理装置においてはその
測定領域は固定となっており、また1画面当りの処理を
高速で行うほど価格が高価となっていた。従って、広い
領域の計測を行う時はスキャナと被J11定物の距離を
敲して測定するか、スキャナと被測定物の距離は固定の
まま被測定物あるいはスキャナを移動させ、(全測定領
域÷1画面当りの測定領域)の回数で処理を行なってい
た。この場合も前者においては分解能が低rするため測
定精度が低下するという欠点があり、後者の場合におい
ては時間がかかるほか、移動誤差によって1画面ごとの
測定領域に若丁のずれが生じ、その補正のための時間が
さらにかかるという欠点があった。
諌度あるいは疲労度によって計測誤差が発生したり、ま
た面積の計測においては時間がかかるという欠点がある
。この欠点を取り除くため、種々の画像処理装置が提案
された。ところが、通常の画像処理装置においてはその
測定領域は固定となっており、また1画面当りの処理を
高速で行うほど価格が高価となっていた。従って、広い
領域の計測を行う時はスキャナと被J11定物の距離を
敲して測定するか、スキャナと被測定物の距離は固定の
まま被測定物あるいはスキャナを移動させ、(全測定領
域÷1画面当りの測定領域)の回数で処理を行なってい
た。この場合も前者においては分解能が低rするため測
定精度が低下するという欠点があり、後者の場合におい
ては時間がかかるほか、移動誤差によって1画面ごとの
測定領域に若丁のずれが生じ、その補正のための時間が
さらにかかるという欠点があった。
本発明の画像処理装置は1紙葉類を2次元的に走査する
2次元走査型のスキャナと、スキャナを紙葉類の2次元
方向に移動させる移動手段と、スキャナの出力をA/D
変換する手段と、A/D変換によって得られた原画情報
により2値化のための閾値を求める手段と、(最大測定
領域÷1画面当りのA一定領域)の面積比に応じて1画
面当りの2値化情報を圧縮する手段とを有している。
2次元走査型のスキャナと、スキャナを紙葉類の2次元
方向に移動させる移動手段と、スキャナの出力をA/D
変換する手段と、A/D変換によって得られた原画情報
により2値化のための閾値を求める手段と、(最大測定
領域÷1画面当りのA一定領域)の面積比に応じて1画
面当りの2値化情報を圧縮する手段とを有している。
このように、画像情報をA/D変換し、2値化し、そし
て適切に圧縮を行なうことにより、画像処理時間が短縮
され、画像記憶メモリの容微か減少する。
て適切に圧縮を行なうことにより、画像処理時間が短縮
され、画像記憶メモリの容微か減少する。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の画像処理装置の一実施例の構成図、第
2図は被測定物lを示す図である。
2図は被測定物lを示す図である。
被測定物lは例えば金属の製造工程で発生する傷を撮影
したものとする。なお、本実施例は具体例として金属表
面傷について述べたものであってその他の応用、例えば
細胞境界の抽出会測定等にも+r(能であるのは当然で
ある。そして、被測定物lはその大きさがXPIAx
X YM^Iの大きさを有するものとし、他方後述する
2次元走査型スキャナ3はその分解能からX5canX
Yscanの大きさしかないものとする。ここで、被
測定物lに傷2a。
したものとする。なお、本実施例は具体例として金属表
面傷について述べたものであってその他の応用、例えば
細胞境界の抽出会測定等にも+r(能であるのは当然で
ある。そして、被測定物lはその大きさがXPIAx
X YM^Iの大きさを有するものとし、他方後述する
2次元走査型スキャナ3はその分解能からX5canX
Yscanの大きさしかないものとする。ここで、被
測定物lに傷2a。
2b、2c、2d、2e、2fがあり、その総数および
傷の面積を計δ調するためには第2図に示したような2
次元走査型のスキャナ3をXY2軸ロボロボット4って
被測定物lの全領域(XM^!IIYMAりをカバーす
るように移動させる。なお、XM^!;looms、
YMA! = 100mm、 X5can=
long、 Yscan = 10m■とじ、
2次元走査型のスキャナ3は1024X 1024の分
解能を有するものとすると、このまま繰り返し測定した
のでは必要な画像記憶情報量がXNA xm Ynax
/ X5cana Yscan X l024X l
024= 108メガバイト以上となるばかりでなく画
像処理に要する時間も極めて長時間必要となってしまう
。そこで、2次元走査型のスキャナ3のビデオ信号出力
をA/D変換回路5によって多値化し、次にモード法等
を使用した2値化回路6によって2値化を行う0次に2
値化された情報を圧縮回路7によって情報圧縮を行う、
なお、圧縮比はX5can/XMA !がX方向Ysc
an/ YsAxとする。ただし。
傷の面積を計δ調するためには第2図に示したような2
次元走査型のスキャナ3をXY2軸ロボロボット4って
被測定物lの全領域(XM^!IIYMAりをカバーす
るように移動させる。なお、XM^!;looms、
YMA! = 100mm、 X5can=
long、 Yscan = 10m■とじ、
2次元走査型のスキャナ3は1024X 1024の分
解能を有するものとすると、このまま繰り返し測定した
のでは必要な画像記憶情報量がXNA xm Ynax
/ X5cana Yscan X l024X l
024= 108メガバイト以上となるばかりでなく画
像処理に要する時間も極めて長時間必要となってしまう
。そこで、2次元走査型のスキャナ3のビデオ信号出力
をA/D変換回路5によって多値化し、次にモード法等
を使用した2値化回路6によって2値化を行う0次に2
値化された情報を圧縮回路7によって情報圧縮を行う、
なお、圧縮比はX5can/XMA !がX方向Ysc
an/ YsAxとする。ただし。
この圧縮比は画像記憶可能情報量等によって変化させて
も良い、また、圧縮は被測定物によって次のように変化
させるのが望ましい、まず被測定物lは通常傷がないも
のであり、傷のない部分(地色)を白、傷の部分を黒と
すると、傷のある部分は総面積に比較すると少なくなる
。従って、この場合は黒を優先する。なお、この例と逆
の場合においては白を優先させる。この黒を優先させる
とは先に述べた本実施例における圧縮率X方向1/10
、Y方向1/10(7)IIは原2値化情報をX方向1
0画素、Y方向10画素の中にある一定以上黒があった
時圧縮結果を黒とするという方法をとることを示す、な
お、この圧縮を行うことによりA/D変換あるいは2(
In化の時に濃度差がとれないために生じる線のかすれ
等が補1できる他、ロボット4の移動誤差による1画面
ごとの視野ずれも補正ができる。この圧縮された情報は
画像処理回路8に送られ、画像処理回路8はl視野ごと
の情報が取りこんだ後に次の移動命令をXYZ軸ロボロ
ボット4る。この操作を圧縮面数行なった後1画像処理
回路8は傷の個数、面積を外部へ出力する。なお、この
ような傷等はある一定以−ヒの大きさの面積情報を必要
とする時はこのままでも良いが、もしより精度をヒげた
い時は、圧縮情報に基づいて2次元走査型のスキャナ3
を傷の中心まで移動させ、圧縮回路7を経由せずに処理
すれば良い。
も良い、また、圧縮は被測定物によって次のように変化
させるのが望ましい、まず被測定物lは通常傷がないも
のであり、傷のない部分(地色)を白、傷の部分を黒と
すると、傷のある部分は総面積に比較すると少なくなる
。従って、この場合は黒を優先する。なお、この例と逆
の場合においては白を優先させる。この黒を優先させる
とは先に述べた本実施例における圧縮率X方向1/10
、Y方向1/10(7)IIは原2値化情報をX方向1
0画素、Y方向10画素の中にある一定以上黒があった
時圧縮結果を黒とするという方法をとることを示す、な
お、この圧縮を行うことによりA/D変換あるいは2(
In化の時に濃度差がとれないために生じる線のかすれ
等が補1できる他、ロボット4の移動誤差による1画面
ごとの視野ずれも補正ができる。この圧縮された情報は
画像処理回路8に送られ、画像処理回路8はl視野ごと
の情報が取りこんだ後に次の移動命令をXYZ軸ロボロ
ボット4る。この操作を圧縮面数行なった後1画像処理
回路8は傷の個数、面積を外部へ出力する。なお、この
ような傷等はある一定以−ヒの大きさの面積情報を必要
とする時はこのままでも良いが、もしより精度をヒげた
い時は、圧縮情報に基づいて2次元走査型のスキャナ3
を傷の中心まで移動させ、圧縮回路7を経由せずに処理
すれば良い。
C発IJJの効果〕
以り説明したように本発明は、画像情報をA/D変換し
、2値化し、そして適切に圧縮を行うことにより1画像
処理時間の短縮、画像記憶メモリの減少という効果があ
る。
、2値化し、そして適切に圧縮を行うことにより1画像
処理時間の短縮、画像記憶メモリの減少という効果があ
る。
第1図は本発明の画像処理装置の一実施例の構成IA、
第214は被測定物lの平面図である。 l・・・被測定物、 2a、2b、2c、2d、2e、2f ・−傷、3・・
・2次元走査型スキャナ。 4・・・XYZ軸ロボロボッ ト・・・A/D変換回路、 6・・・2値化回路、 7・・・圧縮回路。 8・・・画像処理回路。
第214は被測定物lの平面図である。 l・・・被測定物、 2a、2b、2c、2d、2e、2f ・−傷、3・・
・2次元走査型スキャナ。 4・・・XYZ軸ロボロボッ ト・・・A/D変換回路、 6・・・2値化回路、 7・・・圧縮回路。 8・・・画像処理回路。
Claims (1)
- 紙葉類上の画像パターンの計測を行う装置において、前
記紙葉類を2次元的に走査する2次元走査型のスキャナ
と、スキャナを前記紙葉類の2次元方向に移動させる移
動手段と、スキャナの出力をA/D変換する手段と、A
/D変換によって得られた原画情報より2値化のための
閾値を求める手段と、2値化情報を最大計測領域と2次
元走査型のスキャナの視野領域の面積比に応じて圧縮す
る手段を備えたことを特徴とする画像処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60178901A JPS6238347A (ja) | 1985-08-13 | 1985-08-13 | 画像処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60178901A JPS6238347A (ja) | 1985-08-13 | 1985-08-13 | 画像処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6238347A true JPS6238347A (ja) | 1987-02-19 |
Family
ID=16056665
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60178901A Pending JPS6238347A (ja) | 1985-08-13 | 1985-08-13 | 画像処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6238347A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04277877A (ja) * | 1991-03-05 | 1992-10-02 | Hamamatsu Photonics Kk | 画像処理装置 |
| JPH07113753A (ja) * | 1993-10-15 | 1995-05-02 | Touyoko Erumesu:Kk | ひび割れ測定装置 |
-
1985
- 1985-08-13 JP JP60178901A patent/JPS6238347A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04277877A (ja) * | 1991-03-05 | 1992-10-02 | Hamamatsu Photonics Kk | 画像処理装置 |
| JPH07113753A (ja) * | 1993-10-15 | 1995-05-02 | Touyoko Erumesu:Kk | ひび割れ測定装置 |
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