JPS6239380B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6239380B2 JPS6239380B2 JP54015314A JP1531479A JPS6239380B2 JP S6239380 B2 JPS6239380 B2 JP S6239380B2 JP 54015314 A JP54015314 A JP 54015314A JP 1531479 A JP1531479 A JP 1531479A JP S6239380 B2 JPS6239380 B2 JP S6239380B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- scanning beam
- mirror
- plywood board
- plywood
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔技術分野〕
本発明はベニヤ板の色むらや傷を光学的に検査
する方法に関するものである。
する方法に関するものである。
従来のこの種の検査方法は、第１図に示すよう
に、コンベア１で移送されるベニヤ板２に斜め上
方より回転ミラー３によつて走査ビームを照射す
るものであつた。図において、４はガスレーザな
どのビーム投光器、５はフオトセルアレイなどの
受光器である。しかしこの従来方法にあつては、
第２図に示すように、被査体の中央部と側端部と
で走査ビームの入射角が異なるため、受光量に差
を生じ、特に正反射光を利用する傷の検出に支障
があつた。また第１図のように、ベニヤ板を定尺
切断した後に検査を行うと、欠陥が発見された際
に無駄が大きいので、定尺切断前に検査を行つて
欠陥部分のみを切断した方が歩留まりがよいので
あるが、第３図に示すように、ベニヤレースから
巻き取られたベニヤ板２をコンベアで連続移送す
るには、木材の繊維方向と直角に移送する必要が
あるために、走査ビームの入射方向が繊維の向き
と直交することになり、その結果第４図に示すよ
うに、ビームが導管溝６に入り込んで正反射光量
が減少し、欠陥検出のＳ／Ｎ比を低下させるとい
う欠点があつた。すなわち、導管溝は欠陥ではな
いので、それによる反射光量の変化はノイズ成分
となつて、傷などの欠陥の検出精度を低下させる
のである。
に、コンベア１で移送されるベニヤ板２に斜め上
方より回転ミラー３によつて走査ビームを照射す
るものであつた。図において、４はガスレーザな
どのビーム投光器、５はフオトセルアレイなどの
受光器である。しかしこの従来方法にあつては、
第２図に示すように、被査体の中央部と側端部と
で走査ビームの入射角が異なるため、受光量に差
を生じ、特に正反射光を利用する傷の検出に支障
があつた。また第１図のように、ベニヤ板を定尺
切断した後に検査を行うと、欠陥が発見された際
に無駄が大きいので、定尺切断前に検査を行つて
欠陥部分のみを切断した方が歩留まりがよいので
あるが、第３図に示すように、ベニヤレースから
巻き取られたベニヤ板２をコンベアで連続移送す
るには、木材の繊維方向と直角に移送する必要が
あるために、走査ビームの入射方向が繊維の向き
と直交することになり、その結果第４図に示すよ
うに、ビームが導管溝６に入り込んで正反射光量
が減少し、欠陥検出のＳ／Ｎ比を低下させるとい
う欠点があつた。すなわち、導管溝は欠陥ではな
いので、それによる反射光量の変化はノイズ成分
となつて、傷などの欠陥の検出精度を低下させる
のである。
本発明は上記の問題点に鑑み為されたものであ
り、ベニヤ板の傷や色むらを光ビームで検査する
際に、導管溝が反射光量を変化させてＳ／Ｎ比を
低下させるという従来の欠点を解消することを目
的とするものである。
り、ベニヤ板の傷や色むらを光ビームで検査する
際に、導管溝が反射光量を変化させてＳ／Ｎ比を
低下させるという従来の欠点を解消することを目
的とするものである。
しかして本発明によるベニヤ板の検査方法は、
光ビームを放物面鏡の焦点位置に設けた回転ミラ
ーに照射して形成した水平な走査ビームを、コン
ベア移送方向に走査せしめると共に、該移送方向
と直角な方向に走行する細長形の斜面鏡により、
移送中のベニヤ板の表面に上記走査ビームを照射
せしめ、適宜の受光器によりベニヤ板からの反射
光あるいは透過光の光量の変化を検出せしめるも
のであり、走査ビームの入射方向が導管溝と平行
であるために、導管溝によつて反射光量が変化し
ない点に特徴を有するものである。
光ビームを放物面鏡の焦点位置に設けた回転ミラ
ーに照射して形成した水平な走査ビームを、コン
ベア移送方向に走査せしめると共に、該移送方向
と直角な方向に走行する細長形の斜面鏡により、
移送中のベニヤ板の表面に上記走査ビームを照射
せしめ、適宜の受光器によりベニヤ板からの反射
光あるいは透過光の光量の変化を検出せしめるも
のであり、走査ビームの入射方向が導管溝と平行
であるために、導管溝によつて反射光量が変化し
ない点に特徴を有するものである。
第５図は本発明方法の実施例を示したもので、
ビーム投光器４から光ビームを放物面鏡７の焦点
位置に設けた回転ミラー３に照射して、水平面内
を平行移動する走査ビームＬを形成し、ベニヤ板
２の表面に近接して走行する細長形の斜面鏡８に
よつて、走査ビームＬをベニヤ板２の表面に照射
せしめ、適当な受光器５によりベニヤ板２からの
反射光あるいは透過光の光量の変化を検出せしめ
るものである。斜面鏡８はベニヤ板２の移送方向
（矢印ａ）と直角な方向（矢印ｂ）にスライドす
る可動枠９に取り付けられており、斜面鏡８の長
手方向がベニヤ板２の移送方向に一致している。
可動枠９は下方に開口したチヤネル状に形成され
て外来光を遮蔽するカバーを兼ねており、その側
板に走査ビームＬの入射するスリツト１０が設け
られ、天板の下面にフオトセルアレイよりなる受
光器５が取り付けられている。また天板の上面か
らは検出信号を欠陥判別装置に送るケーブル１１
が導出されている。
ビーム投光器４から光ビームを放物面鏡７の焦点
位置に設けた回転ミラー３に照射して、水平面内
を平行移動する走査ビームＬを形成し、ベニヤ板
２の表面に近接して走行する細長形の斜面鏡８に
よつて、走査ビームＬをベニヤ板２の表面に照射
せしめ、適当な受光器５によりベニヤ板２からの
反射光あるいは透過光の光量の変化を検出せしめ
るものである。斜面鏡８はベニヤ板２の移送方向
（矢印ａ）と直角な方向（矢印ｂ）にスライドす
る可動枠９に取り付けられており、斜面鏡８の長
手方向がベニヤ板２の移送方向に一致している。
可動枠９は下方に開口したチヤネル状に形成され
て外来光を遮蔽するカバーを兼ねており、その側
板に走査ビームＬの入射するスリツト１０が設け
られ、天板の下面にフオトセルアレイよりなる受
光器５が取り付けられている。また天板の上面か
らは検出信号を欠陥判別装置に送るケーブル１１
が導出されている。
第６図の実施例は、受光器５を可動枠９に取り
付けずに固定式にしたもので、反射光用の受光器
５及び透過光用の受光器５′の受光面を半透明の
光散乱板１２で形成することにより、光電変換素
子１３への入射光量を走査ビームＬの照射位置に
関係なくほぼ一定になるようにし、それによつて
光電変換素子１３の所要個数を節減したものであ
る。
付けずに固定式にしたもので、反射光用の受光器
５及び透過光用の受光器５′の受光面を半透明の
光散乱板１２で形成することにより、光電変換素
子１３への入射光量を走査ビームＬの照射位置に
関係なくほぼ一定になるようにし、それによつて
光電変換素子１３の所要個数を節減したものであ
る。
上述のように本発明方法は、回転ミラーによつ
て放射状に投射された走査ビームを放物面鏡によ
り平行なビームに変えるものであるから、被査体
表面への入射角は常に一定に保たれ、従つて第２
図の従来例のように被査体の端部において受光レ
ベルが低下することがなく、またベニヤレースか
ら削出されたベニヤ板を連続移送しながら検査す
る際に、第５図に示したように、走査ビームのベ
ニヤ板への入射方向を導管溝の長手方向と一致さ
せることができ、従つて導管溝により反射光量が
変化して欠陥検出信号のＳ／Ｎ比を低下させると
いう従来方法の欠点を解消し得るものであり、ま
たそれにより、ベニヤ板を定尺切断する前に検査
することができるので、製品の歩留まりを向上し
得るという利点がある。
て放射状に投射された走査ビームを放物面鏡によ
り平行なビームに変えるものであるから、被査体
表面への入射角は常に一定に保たれ、従つて第２
図の従来例のように被査体の端部において受光レ
ベルが低下することがなく、またベニヤレースか
ら削出されたベニヤ板を連続移送しながら検査す
る際に、第５図に示したように、走査ビームのベ
ニヤ板への入射方向を導管溝の長手方向と一致さ
せることができ、従つて導管溝により反射光量が
変化して欠陥検出信号のＳ／Ｎ比を低下させると
いう従来方法の欠点を解消し得るものであり、ま
たそれにより、ベニヤ板を定尺切断する前に検査
することができるので、製品の歩留まりを向上し
得るという利点がある。
第１図は従来例の概略斜視図、第２図は第１図
におけるＡ―Ａ矢視図、第３図は同上の他の使用
例を示す概略斜視図、第４図は第３図のＡ―Ａ矢
視図、第５図は本発明の実施例を示す概略斜視
図、第６図は同上の他の実施例の要部断面図であ
る。 １…コンベア、２…ベニヤ板、３…回転ミラ
ー、４…ビーム投光器、５…受光器、６…導管
溝、７…放物面鏡、８…斜面鏡、９…可動枠、１
０…スリツト、１１…ケーブル、１２…光散乱
板、１３…光電変換素子、Ｌ…走査ビーム。
におけるＡ―Ａ矢視図、第３図は同上の他の使用
例を示す概略斜視図、第４図は第３図のＡ―Ａ矢
視図、第５図は本発明の実施例を示す概略斜視
図、第６図は同上の他の実施例の要部断面図であ
る。 １…コンベア、２…ベニヤ板、３…回転ミラ
ー、４…ビーム投光器、５…受光器、６…導管
溝、７…放物面鏡、８…斜面鏡、９…可動枠、１
０…スリツト、１１…ケーブル、１２…光散乱
板、１３…光電変換素子、Ｌ…走査ビーム。
Claims (1)
- １ 光ビームを放物面鏡の焦点位置に設けた回転
ミラーに照射して形成した水平な走査ビームを、
コンベア移送方向に走査せしめると共に、該移送
方向と直角な方向に走行する細長形の斜面鏡によ
り、上記走査ビームを移送中のベニヤ板の表面に
照射せしめ、適宜の受光器によりベニヤ板からの
反射光あるいは透過光の光量の変化を検出せしめ
ることを特徴とするベニヤ板の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1531479A JPS55107941A (en) | 1979-02-13 | 1979-02-13 | Inspecting method of sheet |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1531479A JPS55107941A (en) | 1979-02-13 | 1979-02-13 | Inspecting method of sheet |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55107941A JPS55107941A (en) | 1980-08-19 |
| JPS6239380B2 true JPS6239380B2 (ja) | 1987-08-22 |
Family
ID=11885314
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1531479A Granted JPS55107941A (en) | 1979-02-13 | 1979-02-13 | Inspecting method of sheet |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55107941A (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50151189A (ja) * | 1974-05-24 | 1975-12-04 |
-
1979
- 1979-02-13 JP JP1531479A patent/JPS55107941A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55107941A (en) | 1980-08-19 |
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