JPH0129256B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0129256B2 JPH0129256B2 JP19395281A JP19395281A JPH0129256B2 JP H0129256 B2 JPH0129256 B2 JP H0129256B2 JP 19395281 A JP19395281 A JP 19395281A JP 19395281 A JP19395281 A JP 19395281A JP H0129256 B2 JPH0129256 B2 JP H0129256B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- conveyance
- strip
- conveyor
- light
- flaw
- Prior art date
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- Expired
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 30
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 23
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000003708 edge detection Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/898—Irregularities in textured or patterned surfaces, e.g. textiles, wood
- G01N21/8986—Wood
Landscapes
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Wood Science & Technology (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は直線溝状傷検出装置に関するもので
ある。
ある。
一般に、突板単板を生成する場合、切削用ナイ
フに異物が付着したりナイフに刃こぼれがある
と、突板単板上にナイフマーク傷を発生すること
になる。そこで、このナイフマーク傷を検出する
ために、従来はつぎのような装置を用いていた。
すなわち、第１図に示すように、突板単板１をコ
ンベア２により矢符Ａ方向に搬送しながら、白色
光源３から発せられる白色光をシリンドリカルレ
ンズ４でライン光５に変換して、突板単板１上の
ナイフマーク傷６に照射し、そのナイフマーク傷
６で発生する乱反射光を、スリツト７、シリンド
リカルレンズ８、スリツト９を介してホトマル１
０へ導く。第２図は、ホトマル１０の出力信号波
形図を示したもので、ライン光５の照射位置にナ
イフマーク傷６がさしかかつたときに傷検出波形
１１を生じる。そこで、この傷検出波形１１を傷
検出回路で検出することによりナイフマーク傷６
の存在を検知する。
フに異物が付着したりナイフに刃こぼれがある
と、突板単板上にナイフマーク傷を発生すること
になる。そこで、このナイフマーク傷を検出する
ために、従来はつぎのような装置を用いていた。
すなわち、第１図に示すように、突板単板１をコ
ンベア２により矢符Ａ方向に搬送しながら、白色
光源３から発せられる白色光をシリンドリカルレ
ンズ４でライン光５に変換して、突板単板１上の
ナイフマーク傷６に照射し、そのナイフマーク傷
６で発生する乱反射光を、スリツト７、シリンド
リカルレンズ８、スリツト９を介してホトマル１
０へ導く。第２図は、ホトマル１０の出力信号波
形図を示したもので、ライン光５の照射位置にナ
イフマーク傷６がさしかかつたときに傷検出波形
１１を生じる。そこで、この傷検出波形１１を傷
検出回路で検出することによりナイフマーク傷６
の存在を検知する。
この場合、第２図に示すように、ナイフマーク
傷６による光量変化は微少であるため、傷検出を
可能とするためには、両スリツト７，９およびシ
リンドリカルレンズ８の長手方向をナイフマーク
傷６の長手方向と正確に一致させる必要がある。
（突板単板１は、第３図に示すように、フリツチ
１２をナイフ１３でスライスして形成し、この場
合ナイフ１３をフリツチ１２の前端に対し角度α
だけ傾けているため、第１図に示すナイフマーク
傷６の突板単板１側辺に対する角度θは上記の角
度αの余角となる。）そこで、従来は突板単板１
がコンベア２に平行に搬送されてくるものと仮定
した上で、突板単板１のコンベア２への搬入前
に、第１図に示す光学系全体（白色光源３、シリ
ンドリカルレンズ４，８、スリツト７，９、ホト
マル１０）をパルスモータにより回転制御して、
ライン光５の長手方向をナイフマーク傷６の長手
方向と正確に一致させている。ところが、この方
式では非常に厳格な搬送精度が要求され、コンベ
ア２と突板単板１の平行度が損なわれると、ナイ
フマーク傷検出のＳ―Ｎ比すなわち傷検出精度が
著しく低下するという問題を有していた。
傷６による光量変化は微少であるため、傷検出を
可能とするためには、両スリツト７，９およびシ
リンドリカルレンズ８の長手方向をナイフマーク
傷６の長手方向と正確に一致させる必要がある。
（突板単板１は、第３図に示すように、フリツチ
１２をナイフ１３でスライスして形成し、この場
合ナイフ１３をフリツチ１２の前端に対し角度α
だけ傾けているため、第１図に示すナイフマーク
傷６の突板単板１側辺に対する角度θは上記の角
度αの余角となる。）そこで、従来は突板単板１
がコンベア２に平行に搬送されてくるものと仮定
した上で、突板単板１のコンベア２への搬入前
に、第１図に示す光学系全体（白色光源３、シリ
ンドリカルレンズ４，８、スリツト７，９、ホト
マル１０）をパルスモータにより回転制御して、
ライン光５の長手方向をナイフマーク傷６の長手
方向と正確に一致させている。ところが、この方
式では非常に厳格な搬送精度が要求され、コンベ
ア２と突板単板１の平行度が損なわれると、ナイ
フマーク傷検出のＳ―Ｎ比すなわち傷検出精度が
著しく低下するという問題を有していた。
したがつて、この発明の目的は、搬送精度に影
響されることなく帯状検査物表面の直線溝状傷を
精度良く検出できる直線溝状傷検出装置を提供す
ることである。
響されることなく帯状検査物表面の直線溝状傷を
精度良く検出できる直線溝状傷検出装置を提供す
ることである。
この発明の一実施例を第４図ないし第６図を用
いて説明する。すなわち、この直線溝状傷検出装
置は、第１図に示す光学系全体（白色光源３、シ
リンドリカルレンズ４，８、スリツト７，９、ホ
トマル１０）を備えた第４図に示す傷検出ヘツド
１４を、コンベア１５の上方においてパルスモー
タ１６により垂直軸１７の回りに回動自在に保持
し、この傷検出ヘツド１４の搬送前段に、板端検
出センサ１８、レーザー発振器１９、スキヤナ２
０、ラインセンサ２１および時間・パルス変換装
置２２を配する。この場合、ラインセンサ２１
は、複数個の受光素子を直線上に配列して形成し
たものである。
いて説明する。すなわち、この直線溝状傷検出装
置は、第１図に示す光学系全体（白色光源３、シ
リンドリカルレンズ４，８、スリツト７，９、ホ
トマル１０）を備えた第４図に示す傷検出ヘツド
１４を、コンベア１５の上方においてパルスモー
タ１６により垂直軸１７の回りに回動自在に保持
し、この傷検出ヘツド１４の搬送前段に、板端検
出センサ１８、レーザー発振器１９、スキヤナ２
０、ラインセンサ２１および時間・パルス変換装
置２２を配する。この場合、ラインセンサ２１
は、複数個の受光素子を直線上に配列して形成し
たものである。
この装置によるナイフマーク傷の検出はつぎの
ようにして行なう。すなわち、第５図に示す突板
単板２３がコンベア２４により矢符Ｂ方向に搬送
されてくると、突板単板２３の前端２３ａ（第５
図）を板端検出センサ１８により検出し、レーザ
発振器１９によるレーザ光２５をスキヤナ２０に
よりラインセンサ２１上にスキヤンさせ、突板単
板２３のＣ地点およびＤ地点が通過する際のライ
ンセンサ２１の出力信号を時間・パルス変換装置
２２に送り込む。
ようにして行なう。すなわち、第５図に示す突板
単板２３がコンベア２４により矢符Ｂ方向に搬送
されてくると、突板単板２３の前端２３ａ（第５
図）を板端検出センサ１８により検出し、レーザ
発振器１９によるレーザ光２５をスキヤナ２０に
よりラインセンサ２１上にスキヤンさせ、突板単
板２３のＣ地点およびＤ地点が通過する際のライ
ンセンサ２１の出力信号を時間・パルス変換装置
２２に送り込む。
第６図ａはＣ地点通過時におけるラインセンサ
２１の出力信号波形図を示し、第６図ｂはＤ地点
通過時におけるラインセンサ２１の出力信号波形
図を示す。これら両波形図において信号立下がり
部２６，２７は、レーザ光２５が突板単板２３に
遮光されることにより生じたものである。したが
つて、第５図に示すように、突板単板２３の長手
方向がコンベア搬送方向（矢符Ｂ方向）に対し斜
視していると、その傾斜角度に応じ両信号波形図
の遮光開始時間t1，t2に差が生じるため、その両
遮光開始時間の差（ｔ＝t2−t1）を時間・パルス
変換装置２２で計算し、突板単板２３のコンベア
搬送方向（矢符Ｂ方向）に対する搬送ずれ角を検
出する。そして、この搬送ずれ角に応じ、時間・
パルス変換装置２２から正転パルスまたは逆転パ
ルスをパルスモータ１６へ送り込んでパルスモー
タ１６を回転制御し、傷検出ヘツド１４から投射
されるライン光の長手方向をナイフマーク傷２８
（第５図）の長手方向に一致させる。
２１の出力信号波形図を示し、第６図ｂはＤ地点
通過時におけるラインセンサ２１の出力信号波形
図を示す。これら両波形図において信号立下がり
部２６，２７は、レーザ光２５が突板単板２３に
遮光されることにより生じたものである。したが
つて、第５図に示すように、突板単板２３の長手
方向がコンベア搬送方向（矢符Ｂ方向）に対し斜
視していると、その傾斜角度に応じ両信号波形図
の遮光開始時間t1，t2に差が生じるため、その両
遮光開始時間の差（ｔ＝t2−t1）を時間・パルス
変換装置２２で計算し、突板単板２３のコンベア
搬送方向（矢符Ｂ方向）に対する搬送ずれ角を検
出する。そして、この搬送ずれ角に応じ、時間・
パルス変換装置２２から正転パルスまたは逆転パ
ルスをパルスモータ１６へ送り込んでパルスモー
タ１６を回転制御し、傷検出ヘツド１４から投射
されるライン光の長手方向をナイフマーク傷２８
（第５図）の長手方向に一致させる。
このように、突板単板２３長手方向のコンベア
搬送方向（矢符Ｂ方向）に対する搬送ずれ角を検
出し、その搬送ずれ角に応じ傷検出ヘツド１４を
回転制御して傷検出を行なうようにしたため、突
板単板２３の搬送精度に影響されることなくナイ
フマーク傷検出の安定したＳ―Ｎ比を得ることが
できる。
搬送方向（矢符Ｂ方向）に対する搬送ずれ角を検
出し、その搬送ずれ角に応じ傷検出ヘツド１４を
回転制御して傷検出を行なうようにしたため、突
板単板２３の搬送精度に影響されることなくナイ
フマーク傷検出の安定したＳ―Ｎ比を得ることが
できる。
なお、上記実施例ににおいては、突板単板２３
のコンベア搬送方向（矢符Ｂ方向）に対する搬送
ずれ角を、レーザ光２５の突板単板２３による遮
光開始時間t1，t2の差から求めたが、遮光終了時
間t3，t4の差から求めることもできる。また、レ
ーザ光２５に代え、コンベア搬送方向（矢符Ｂ方
向）に対し直角な方向を長手方向とする帯状検査
光線をラインセンサ２１上に照射して、突板単板
２３の前・後端通過時における両検査光線の遮光
位置の相違から突板単板２３の搬送ずれ角を検出
するようにしてもよい。さらに、上記実施例で
は、突板単板２３のナイフマーク傷２８を検出し
ているが、この発明は、帯状検査物の帯縁に対し
所定角をもつ直線溝状傷の検出に広く使用するこ
とが可能である。
のコンベア搬送方向（矢符Ｂ方向）に対する搬送
ずれ角を、レーザ光２５の突板単板２３による遮
光開始時間t1，t2の差から求めたが、遮光終了時
間t3，t4の差から求めることもできる。また、レ
ーザ光２５に代え、コンベア搬送方向（矢符Ｂ方
向）に対し直角な方向を長手方向とする帯状検査
光線をラインセンサ２１上に照射して、突板単板
２３の前・後端通過時における両検査光線の遮光
位置の相違から突板単板２３の搬送ずれ角を検出
するようにしてもよい。さらに、上記実施例で
は、突板単板２３のナイフマーク傷２８を検出し
ているが、この発明は、帯状検査物の帯縁に対し
所定角をもつ直線溝状傷の検出に広く使用するこ
とが可能である。
以上のように、この発明の直線溝状傷検出装置
は、コンベア上方に垂直軸の回りに回動自在に保
持されコンベア上の帯状検査物表面へライン光を
照射してその反射光から検査物帯縁に対し所定角
度をもつ直線溝状傷の存在を検出する傷検出手段
と、この傷検出手段の搬送前段に配され帯状検査
物の前・後端通過時にコンベア搬送方向の直角方
向線上に検査光線を照射する検査光線照射手段
と、前記両検査光線を受光する受光手段と、この
受光手段で受光した両検査光線の帯状検査物によ
る遮光位置の相違から帯状検査物長手方向のコン
ベア搬送方向に対する搬送ずれ角を検出する搬送
ずれ角検出手段と、この搬送ずれ角検出手段の出
力信号に応じライン光が直線溝状傷に一致するよ
うに前記傷検出手段を回転制御する回転制御手段
とを備えたため、搬送精度に影響されることなく
帯状検査物表面の直線溝状傷を精度良く検出でき
るという効果がある。
は、コンベア上方に垂直軸の回りに回動自在に保
持されコンベア上の帯状検査物表面へライン光を
照射してその反射光から検査物帯縁に対し所定角
度をもつ直線溝状傷の存在を検出する傷検出手段
と、この傷検出手段の搬送前段に配され帯状検査
物の前・後端通過時にコンベア搬送方向の直角方
向線上に検査光線を照射する検査光線照射手段
と、前記両検査光線を受光する受光手段と、この
受光手段で受光した両検査光線の帯状検査物によ
る遮光位置の相違から帯状検査物長手方向のコン
ベア搬送方向に対する搬送ずれ角を検出する搬送
ずれ角検出手段と、この搬送ずれ角検出手段の出
力信号に応じライン光が直線溝状傷に一致するよ
うに前記傷検出手段を回転制御する回転制御手段
とを備えたため、搬送精度に影響されることなく
帯状検査物表面の直線溝状傷を精度良く検出でき
るという効果がある。
第１図は従来例の斜視図、第２図はホトマルか
らの出力信号波形図、第３図はフリツチとナイフ
の位置関係を示す斜視図、第４図はこの発明の一
実施例の斜視図、第５図は突板単板へのレーザ光
走査位置を示す平面図、第６図ａ，ｂはそれぞれ
ラインセンサからの出力信号波形図である。 １４…傷検出ヘツド（傷検出手段）、１５…コ
ンベア、１６…パルスモータ（回動制御手段）、
１７…垂直軸、１９…レーザ発振器（検査光線照
射手段）、２０…スキヤナ（検査光線照射手段）、
２１…ラインセンサ（受光手段）、２２…時間・
パルス変換装置（搬送ずれ角検出手段）、２３…
突板単板（帯状検査物）、２８…ナイフマーク傷
（直線溝状傷）。
らの出力信号波形図、第３図はフリツチとナイフ
の位置関係を示す斜視図、第４図はこの発明の一
実施例の斜視図、第５図は突板単板へのレーザ光
走査位置を示す平面図、第６図ａ，ｂはそれぞれ
ラインセンサからの出力信号波形図である。 １４…傷検出ヘツド（傷検出手段）、１５…コ
ンベア、１６…パルスモータ（回動制御手段）、
１７…垂直軸、１９…レーザ発振器（検査光線照
射手段）、２０…スキヤナ（検査光線照射手段）、
２１…ラインセンサ（受光手段）、２２…時間・
パルス変換装置（搬送ずれ角検出手段）、２３…
突板単板（帯状検査物）、２８…ナイフマーク傷
（直線溝状傷）。
Claims (1)
- １ コンベア上方に垂直軸の回りに回動自在に保
持されコンベア上の帯状検査物表面へライン光を
照射してその反射光から検査物帯縁に対し所定角
をもつ直線溝状傷の存在を検出する傷検出手段
と、この傷検出手段の搬送前段に配され帯状検査
物の前・後端通過時にコンベア搬送方向の直角方
向線上に検査光線を照射する検査光線照射手段
と、前記両検査光線を受光する受光手段と、この
受光手段で受光した両検査光線の帯状検査物によ
る遮光位置の相違から帯状検査物長手方向のコン
ベア搬送方向に対する搬送ずれ角を検出する搬送
ずれ角検出手段と、この搬送ずれ角検出手段の出
力信号に応じライン光が直線溝状傷に一致するよ
うに前記傷検出手段を回転制御する回転制御手段
とを備えた直線溝状傷検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19395281A JPS5895252A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 直線溝状傷検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19395281A JPS5895252A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 直線溝状傷検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5895252A JPS5895252A (ja) | 1983-06-06 |
| JPH0129256B2 true JPH0129256B2 (ja) | 1989-06-08 |
Family
ID=16316482
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19395281A Granted JPS5895252A (ja) | 1981-11-30 | 1981-11-30 | 直線溝状傷検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5895252A (ja) |
-
1981
- 1981-11-30 JP JP19395281A patent/JPS5895252A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5895252A (ja) | 1983-06-06 |
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