JPS6239829A - Battery checking circuit for camera - Google Patents

Battery checking circuit for camera

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JPS6239829A
JPS6239829A JP60179937A JP17993785A JPS6239829A JP S6239829 A JPS6239829 A JP S6239829A JP 60179937 A JP60179937 A JP 60179937A JP 17993785 A JP17993785 A JP 17993785A JP S6239829 A JPS6239829 A JP S6239829A
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battery
converter
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Hiroshi Hasegawa
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明はカメラのバッテリチェック回路に関するもので
ある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Technical Field of the Invention) The present invention relates to a battery check circuit for a camera.

(発明の背景) 被写体輝度を測定するには、一般に、シリコンフォトダ
イオードや硫化カドミウム等の受光素子が用いられる。
(Background of the Invention) To measure the brightness of a subject, a light receiving element such as a silicon photodiode or cadmium sulfide is generally used.

これらの受光素子の出力は周囲温度に影響されるので、
従来から種々の形態で受光素子出力の温度補償が行われ
ている。
The output of these photodetectors is affected by the ambient temperature, so
Conventionally, temperature compensation for the output of a light receiving element has been performed in various forms.

その温度補償のひとつとして、絶対温度に比例した電圧
を発生する電圧発生回路を設けたものがある。露出制御
等でアナログ系およびデジタル系を用いるものにおいて
は、絶対温度に比例した電圧は、アナログ系の電圧源と
して、また、アナログ−デジタルコンバータ(A/Dコ
ンバータ)やデジタル−アナログコンバータ(D/Aコ
ンバータ)の基準電圧として用いられている。
As one type of temperature compensation, a voltage generating circuit that generates a voltage proportional to absolute temperature is provided. In cases where analog and digital systems are used for exposure control, etc., a voltage proportional to absolute temperature can be used as an analog voltage source, or as an analog-to-digital converter (A/D converter) or digital-to-analog converter (D/A converter). A converter) is used as a reference voltage.

ところで、カメラのバッテリの電圧が所定値より低下す
ると、適正な露出制御等ができなくなるので、自動霧出
制御機能等を有するカメラには、従来からバッテリチェ
ック機構が備えられている。バッテリチェックは、バッ
テリ電圧を基準値と比較して行うが、通常、バッテリ電
圧は周囲温度に影響を受けないので、上述した温度補償
を行うアナログ系とデジタル系とを有するカメラにおい
て、バッテリ電圧を温度に比例する基準電圧によりA/
D変換し、そのデジタル値を基準値と比較してバッテリ
チェックを行う場合には、同一レベルのバッテリ電圧で
も温度によってそのデジタル値が変わってしまい、基準
値そのものを温度に比例して変更させなくてはならず回
路が複雑になり高価なものになってしまう。
By the way, if the voltage of the battery of the camera drops below a predetermined value, proper exposure control etc. cannot be performed, so cameras having an automatic fog control function etc. have conventionally been equipped with a battery check mechanism. A battery check is performed by comparing the battery voltage with a reference value, but since the battery voltage is usually not affected by the ambient temperature, it is necessary to check the battery voltage in cameras that have analog and digital systems that perform temperature compensation as described above. With reference voltage proportional to temperature, A/
When performing a battery check by performing D conversion and comparing the digital value with a reference value, the digital value changes depending on the temperature even if the battery voltage is at the same level, so the reference value itself cannot be changed in proportion to the temperature. Otherwise, the circuit becomes complicated and expensive.

(発明の目的) 本発明の目的は、このような従来の問題点を解消するた
め、絶対温度に比例した電圧を基準電圧とするA/Dコ
ンバータでバッテリ電圧をデジタル変換し、そのデジタ
ル値を基準値と比較してバッテリチェックする際に基準
値を周囲温度に応じて変更する必要のないカメラのバッ
テリチェック回路を提供することにある。
(Objective of the Invention) An object of the present invention is to digitally convert battery voltage using an A/D converter that uses a voltage proportional to absolute temperature as a reference voltage, and convert the digital value into a digital value, in order to solve the problems of the conventional technology. To provide a battery check circuit for a camera that does not require changing a reference value according to ambient temperature when checking a battery by comparing it with a reference value.

(発明の概要) 本発明は、第1の温度係数に従って絶対温度に比例する
電圧を発生する電圧発生手段を有し、その出力電圧はア
ナログ−デジタル変換手段の基準電圧とされている。本
発明は更に、第1の温度係数より小さい第2の温度係数
をバッテリ電圧に付与する温度係数付与手段を有し、第
2の温度係数が付与されたバッテリチェック電圧を、基
準電圧に基づいてアナログ−デジタル変換手段でデジタ
ル値に変換し、その値を比較判定手段に予め定められた
基準値と比較し、その比較結果からバッテリ電圧の良否
を判定する。
(Summary of the Invention) The present invention includes voltage generation means that generates a voltage proportional to absolute temperature according to a first temperature coefficient, and the output voltage thereof is used as a reference voltage of the analog-to-digital conversion means. The present invention further includes temperature coefficient imparting means for imparting a second temperature coefficient smaller than the first temperature coefficient to the battery voltage, and the battery check voltage to which the second temperature coefficient has been imparted is based on the reference voltage. The analog-to-digital conversion means converts it into a digital value, the comparison and determination means compares the value with a predetermined reference value, and the quality of the battery voltage is determined from the comparison result.

、 (実施例) 第1図は本発明バッテリチェック回路の一実施例を含む
カメラの露出制御回路の一例を示し、lはバッテリEと
、そのバッテリ電圧を所定の値で取り出すための分圧抵
抗R1およびR2とを有する電源回路であり、バッテリ
Eは、後述する電圧発生回路3に接続されていて、抵抗
R1と抵抗R2の接続点は、トランジスタQlのベース
と接続されている。トランジスタQ1のエミッタはダイ
オードD1の7ノードに接続され、そのカソードは抵抗
R3を介して接地されている。また、ダイオードDIの
カソードはA/Dコンバータ4のチャンネルCH2に接
続されている。ここで、トランジスタQlとダイオード
DIとにより温度係数付与回路2が構成され、その付与
回路2により、抵抗R1とR2の接続点の電圧Vxに所
定の温度係数が付与される。
, (Embodiment) FIG. 1 shows an example of a camera exposure control circuit including an embodiment of the battery check circuit of the present invention, where l represents a battery E and a voltage dividing resistor for extracting the battery voltage at a predetermined value. The battery E is connected to a voltage generation circuit 3, which will be described later, and the connection point between the resistors R1 and R2 is connected to the base of the transistor Ql. The emitter of transistor Q1 is connected to the 7 node of diode D1, and its cathode is grounded via resistor R3. Further, the cathode of the diode DI is connected to the channel CH2 of the A/D converter 4. Here, the transistor Ql and the diode DI constitute a temperature coefficient applying circuit 2, and the applying circuit 2 applies a predetermined temperature coefficient to the voltage Vx at the connection point between the resistors R1 and R2.

電圧発生回路3は絶対温度に比例した電圧を発生するよ
うに構成されている。すなわち、抵抗R4,ダイオード
D2およびD3はバッテリEに直列に接続され、定電流
源C1と抵抗R4との接続点は抵抗R5を介して演算増
幅器AIの反転入力端子に、抵抗R4とダイオードD2
の接続点は演算増幅器Alの非反転入力端子に接続され
ている。演算増幅器Atの出力端子はA/Dコンバータ
4の基準電圧入力端子VRおよび後述の測光回路5に接
続されるとともに抵抗R6およびR7を介して接地され
ている。その抵抗R6とR7どの接続点と演算増幅器A
1の反転入力端子との間にはダイオードD4およびD5
が接続されている。
The voltage generating circuit 3 is configured to generate a voltage proportional to absolute temperature. That is, the resistor R4 and the diodes D2 and D3 are connected in series to the battery E, and the connection point between the constant current source C1 and the resistor R4 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier AI via the resistor R5.
The connection point of is connected to the non-inverting input terminal of operational amplifier Al. The output terminal of the operational amplifier At is connected to a reference voltage input terminal VR of the A/D converter 4 and a photometric circuit 5, which will be described later, and is grounded via resistors R6 and R7. Which connection point of resistors R6 and R7 and operational amplifier A
Diodes D4 and D5 are connected between the inverting input terminal of
is connected.

符号5は測光回路を示し、演算増幅器A2の二つの入力
端子間にはフォトダイオードFDが介装されるとともに
、演算増幅器A2の出力端子と反転入力端子との間には
二つのダイオードD6およびD7が直列に接続されてい
る。更に、演算増幅器A2の出力端子は直列接続された
ダイオードD8 、D9と接続され、ダイオードD9の
カソードは定電流源C2を介して接地されるとともに、
A/Dコンバータ4の入力チャンネルCH1に接続され
ている。
Reference numeral 5 indicates a photometric circuit, in which a photodiode FD is interposed between the two input terminals of the operational amplifier A2, and two diodes D6 and D7 are installed between the output terminal and the inverting input terminal of the operational amplifier A2. are connected in series. Furthermore, the output terminal of the operational amplifier A2 is connected to diodes D8 and D9 connected in series, and the cathode of the diode D9 is grounded via a constant current source C2.
It is connected to the input channel CH1 of the A/D converter 4.

A/Dコンバータ4にはマイクロプロセッサ6が後続し
、このマイクロプロセッサ6は周知のように不図示のC
PU、ROM、RAM等から成り、メインルーチンや後
述するバッテリチェックサブルーチン等の各種プログラ
ムがROMに予め格納され、そのプログラムに従って演
算された結果に基づいてカメラの露出制御等の各種制御
が実行される。
The A/D converter 4 is followed by a microprocessor 6, and as is well known, the microprocessor 6 is connected to a C.
It consists of a PU, ROM, RAM, etc., and various programs such as a main routine and a battery check subroutine to be described later are stored in advance in the ROM, and various controls such as camera exposure control are executed based on the results calculated according to the programs. .

第2図のパラテリチェラグサブルーチンを参照して本例
におけるバッテリ電圧のチェックについて説明する。
Checking the battery voltage in this example will be explained with reference to the para-terite cell lag subroutine in FIG.

このサブルーチンは、カメラの電源スィッチ(不図示)
が投入されている間常時起動されているメインルーチン
からジャンプして起動されるものであり、所定のタイミ
ングでメインルーチンからこのルーチンにジャンプする
と、まず、ステップS1において、A/Dコンバータ4
の入力チャンネルCH2の入力電圧、すなわちバッテリ
チェック電圧V ch2を量子化したデジタルデータV
inを読込む。次いで、ステップS2において、そのデ
ジタルデータVinを、予めROMに格納されているバ
ッテリチェック用基準値RNとその大小関係を比較する
。デジタルデータVinが大きければ何もせずにメイン
ルーチンへ戻り、デジタルデータVinが基準値RNよ
り小さい場合には否定判定されてステップS3に進み、
レリーズを禁止するとともにバッテリ交換を表示したリ
バッテリ電圧が低いことを表示したりし、その後メイン
ルーチンへ戻る。
This subroutine switches the camera's power switch (not shown)
It is started by jumping from the main routine which is always started while the A/D converter 4 is turned on. When jumping from the main routine to this routine at a predetermined timing, first, in step S1, the A/D converter 4
The input voltage of input channel CH2, that is, the battery check voltage V ch2 is quantized into digital data V
Read in. Next, in step S2, the digital data Vin is compared in magnitude with a battery check reference value RN stored in the ROM in advance. If the digital data Vin is larger, the process returns to the main routine without doing anything, and if the digital data Vin is smaller than the reference value RN, a negative determination is made and the process proceeds to step S3.
It prohibits the release, displays a message indicating that the battery needs to be replaced, or displays that the battery voltage is low, and then returns to the main routine.

ここで、バッテリチェック用基準値RNを定めるにあた
っては、A/Dコンバータ4の基準電圧として絶対温度
に比例した電圧を用いている点を考慮する必要がある。
Here, in determining the battery check reference value RN, it is necessary to take into account that a voltage proportional to the absolute temperature is used as the reference voltage of the A/D converter 4.

すなわち、電圧発生回路3の出力電圧VAIは、 と表わすことができ、その電圧VAIが供給されている
測光回路5の測光出力VA2は、但し、q:電子電荷 に:ポルツマン定数 T:絶対温度 と表わすことができる。
That is, the output voltage VAI of the voltage generating circuit 3 can be expressed as follows, and the photometric output VA2 of the photometric circuit 5 to which the voltage VAI is supplied is expressed as follows: q: electronic charge: Portzmann's constant T: absolute temperature can be expressed.

従って、抵抗R4〜R7および定電流源C2の電流■2
および光電流ILの各温度係数を同一とすれば、電圧発
生回路3および測光回路5の各出力電圧VAIおよびV
A2は絶対温度Tに比例することがわかる。
Therefore, the current 2 of resistors R4 to R7 and constant current source C2
If the temperature coefficients of the voltage generation circuit 3 and the photocurrent IL are the same, then the output voltages VAI and V of the voltage generation circuit 3 and the photometry circuit 5 are
It can be seen that A2 is proportional to the absolute temperature T.

ここで、フォトダイオードPDへの入射光量が2倍にな
ると光電流ILも2倍となり、その光量変化に伴なう測
光出力、すなわち演算増幅器A2の出力電圧の変化分Δ
VA2は、 KT −一文n2        ・・・・・・(3)と表わ
すことができる。すなわち、入射光量が2倍になると演
算増幅器A2の出力電圧が、KT −見n、2  (V) だけ増加することになる。光量が2倍になることはIE
V相当光量が増加したことに他ならないので、本実施例
においては、周囲温度25℃において、IEV相当の露
出に関係する因子の変動による電圧変化皐を KT −!l n 2 ’、 36  CmV/ EV)とし
ている。また、IEVの1/6の分解能があればカメラ
の露出制御等には十分であるので、A/D変換器4のL
SBに対応する電圧を、に選んでいる。そして、A/D
コンバータ4を8ビツトとすれば、周囲温度25℃にお
けるA/Dコンバータ4の基準電圧Vref(=VAl
)を、≠1.52  (V)        ・・・・
・・(4)とすべく、電圧発生回路3の抵抗R4〜R7
の抵抗値を定め、これにより所望の分解能で各露出因子
を制御している。
Here, when the amount of light incident on the photodiode PD doubles, the photocurrent IL also doubles, and the photometric output due to the change in light amount, that is, the change in the output voltage of the operational amplifier A2 Δ
VA2 can be expressed as KT - one sentence n2 (3). That is, when the amount of incident light is doubled, the output voltage of the operational amplifier A2 increases by KT - n,2 (V). IE that the amount of light is doubled
This is nothing but an increase in the V-equivalent light quantity, so in this example, at an ambient temperature of 25°C, voltage changes due to fluctuations in factors related to IEV-equivalent exposure are expressed as KT -! ln2', 36 CmV/EV). Also, since a resolution of 1/6 of IEV is sufficient for camera exposure control, etc., the L of A/D converter 4 is
The voltage corresponding to SB is selected. And A/D
If the converter 4 is 8 bits, the reference voltage Vref (=VAl
), ≠1.52 (V)...
...(4), resistors R4 to R7 of the voltage generation circuit 3
The resistance value is determined to control each exposure factor with a desired resolution.

今、A/Dコンバータ4の基準電圧入力端子VRに供給
される基準電圧V refの温度係数を求めるため、第
4式の両辺を絶対温度Tで微分すると、 となり、従って、基準電圧Vrefの温度係数は約5.
1 (mV/deg’] テあることがわかる。
Now, in order to find the temperature coefficient of the reference voltage V ref supplied to the reference voltage input terminal VR of the A/D converter 4, by differentiating both sides of the fourth equation with respect to the absolute temperature T, the following is obtained. Therefore, the temperature of the reference voltage V ref is The coefficient is about 5.
1 (mV/deg').

一方、第1図において、抵抗R1とR2の接続点の電圧
をVx、)ランジスタQlのベース・エミッタ接合電圧
をVe、ダイオードD1の順方向電圧をVdとすると、
A/Dコンバータ4のチャンネルCH2に供給されるバ
ッテリチェック電圧Vcb2は、 Vch2 =Vx−We−Vd      −(El)
と表わすことができる。この第6式を絶対温度Tで微分
すると、 となる。電圧Vxは、 但し、E:バッテリ電圧 と表わすことができるから、抵抗R1およびR2の温度
係数を等しいものとすれば、 となる。また、トランジスタのベース・エミッタ接合電
圧やダイオードの順方向電圧は、−2(mV/deg)
程度の温度係数をもっているので、とおけば、第7式は
、 となる。すなわち本例では、バッテリチェックのために
A/Dコンバータ4の入力チャンネルCH2に供給され
るバッテリチェック電圧Vch2の温度係数が4〔脂V
/deg)であることがわかる。
On the other hand, in FIG. 1, if the voltage at the connection point of resistors R1 and R2 is Vx, the base-emitter junction voltage of transistor Ql is Ve, and the forward voltage of diode D1 is Vd, then
The battery check voltage Vcb2 supplied to channel CH2 of the A/D converter 4 is Vch2 = Vx-We-Vd - (El)
It can be expressed as Differentiating this sixth equation with respect to the absolute temperature T gives the following equation. The voltage Vx can be expressed as: where E: battery voltage, so if the temperature coefficients of the resistors R1 and R2 are made equal, then the following equation is obtained. In addition, the base-emitter junction voltage of a transistor and the forward voltage of a diode are -2 (mV/deg)
Since it has a temperature coefficient of approximately That is, in this example, the temperature coefficient of battery check voltage Vch2 supplied to input channel CH2 of A/D converter 4 for battery check is 4
/deg).

上述したように、本実施例のカメラでは、周囲温度25
℃について考えれば、A/Dコンバータ4の基準電圧V
 refが1.52 (V)以上なければならないから
、そのときのバッテリ電圧もそれに応じた値以上でなけ
ればならない。
As mentioned above, in the camera of this embodiment, the ambient temperature is 25
℃, the reference voltage V of the A/D converter 4
Since ref must be at least 1.52 (V), the battery voltage at that time must also be at least a corresponding value.

そこで、バッテリチェック用基準値RNは、上述した基
準電圧Vretおよびバッテリチェック電圧V ch2
の温度係数を考慮して次のようにして定める。すなわち
、周囲温度25℃のときに基準電圧Vrefが1.52
 (V)となる場合、両者間の温度係数の相違からバッ
テリチェック電圧Vch2は、 となっていればよいことになる。ここで、 A/Dコン
バータ4のフルスケール(258:10進数)ハ1.5
2 (V)に相当するので、チャンネルCH2に1.1
8(V)が入力される場合には、A/D出力は、 となる。従って、本実施例の場合には、基準値RNを2
01(10進数)と定めればよいことになる。
Therefore, the battery check reference value RN is the reference voltage Vret and the battery check voltage V ch2 described above.
It is determined as follows, taking into account the temperature coefficient of In other words, the reference voltage Vref is 1.52 when the ambient temperature is 25°C.
(V), the battery check voltage Vch2 should be as follows due to the difference in temperature coefficient between the two. Here, the full scale (258: decimal number) of A/D converter 4 is 1.5
2 (V), so 1.1 is applied to channel CH2.
When 8 (V) is input, the A/D output is as follows. Therefore, in the case of this embodiment, the reference value RN is set to 2.
It is sufficient to set it as 01 (decimal number).

勿論、電源1の分圧抵抗R1およびR2の値は。Of course, the values of the voltage dividing resistors R1 and R2 of the power supply 1 are as follows.

ダイオードDIの順方向電圧も考慮して、バッテリチェ
ック電圧V ch2が1.1111(V)  (周囲温
度25℃)となるように定めておく必要がある。
It is necessary to take into account the forward voltage of the diode DI and set the battery check voltage V ch2 to 1.1111 (V) (ambient temperature 25° C.).

このように本実施例では、トランジスタQlおよびダイ
オードIllを用いてバッテリ電圧に4(+IIV/d
eg)の正の温度係数を付与するとともに。
In this way, in this embodiment, the battery voltage is set to 4(+IIV/d) using the transistor Ql and the diode Ill.
eg) as well as giving a positive temperature coefficient.

A/Dコンバータ4の基準電圧の温度係数を5.1〔厘
V/deg)に設定するとともに、A/Dコンバータ4
の分解能を2 とし、バッテリチェック用基準値RNを と定めた。従って、基準電圧V refおよびバッテリ
チェック電圧V ch2ともに温度係数を有するので、
温度が変わる度毎に基準値RNを変えなくとも正確なバ
ッテリ電圧のチェックが可能となる。
The temperature coefficient of the reference voltage of the A/D converter 4 is set to 5.1 [V/deg], and the temperature coefficient of the A/D converter 4 is
The resolution of is set to 2, and the reference value RN for battery check is set as . Therefore, since both the reference voltage V ref and the battery check voltage V ch2 have a temperature coefficient,
It is possible to accurately check the battery voltage without changing the reference value RN every time the temperature changes.

第1θ式を一般的に表わすと次のようになる。The first θ equation can be generally expressed as follows.

但し、NはA/Dコンバータ4のビット数である。However, N is the number of bits of the A/D converter 4.

ところで、第11式のバッテリチェック電圧の温度係数
は、温度係数付与回路2におけるトランジスタやダイオ
ードの半導体の接合による温度係数であり1本実施例で
は、基準電圧Vrefの有する温度係数よりも小さく設
定している。ここで、温度係数付与回路2でバッテリ電
圧V ch2に付与する温度係数を、A/Dコンバータ
4の基準電圧VreFが有する温度係数より大きくする
と、バラ“テリ電圧の分圧比にもよるがある温度でバッ
テリチェック電圧Vch2が基準電圧Vrerを越えて
しまい、A/Dコンバータ4からのA/D出力はバッテ
リチェック電圧V ch2に反映しなくなり、正確なバ
ッテリチェックができなくなってしまう。従って、バッ
テリチェック電圧V ch2に付与する温度係数は必ず
基準電圧Vrefの温度係数より小さくしなくてはなら
ない、これを一般的に表わすと、 m×α、≦β           ・・・・・・(1
2)但し、mは温度係数付与回路2で用いる半導体の数
、αj は半導体の接合温度係数、βは基準電圧Vre
fの温度係数 と表わすことができる。使用半導体の温度係数がそれぞ
れ異なる場合は、 (α1+α辻・・・・・・α、、l)≦β     ・
・・・・・(13)となる。一方、通常、トランジスタ
やダイオードの接合温度係数は約2 (mV/deg)
であり、温度係数付4回路2で用いる半導体の数は整数
なので、第11式や第12式で示される温度係数付与回
路2の温度係数は任意に選択することのできない不連続
な値である。
By the way, the temperature coefficient of the battery check voltage in Equation 11 is the temperature coefficient due to the junction of semiconductors of transistors and diodes in the temperature coefficient giving circuit 2, and in this embodiment, it is set smaller than the temperature coefficient of the reference voltage Vref. ing. Here, if the temperature coefficient given to the battery voltage V ch2 by the temperature coefficient giving circuit 2 is made larger than the temperature coefficient of the reference voltage VreF of the A/D converter 4, the temperature will rise to a certain temperature depending on the voltage division ratio of the discrete voltage. In this case, the battery check voltage Vch2 exceeds the reference voltage Vrer, and the A/D output from the A/D converter 4 is no longer reflected in the battery check voltage Vch2, making it impossible to perform an accurate battery check. The temperature coefficient given to the voltage V ch2 must be smaller than the temperature coefficient of the reference voltage Vref. Expressing this generally, m×α, ≦β ・・・・・・(1
2) However, m is the number of semiconductors used in the temperature coefficient imparting circuit 2, αj is the junction temperature coefficient of the semiconductors, and β is the reference voltage Vre.
It can be expressed as the temperature coefficient of f. If the temperature coefficients of the semiconductors used are different, (α1+αtsuji...α,,l)≦β・
...(13). On the other hand, normally the junction temperature coefficient of a transistor or diode is approximately 2 (mV/deg)
Since the number of semiconductors used in the 4-circuit with temperature coefficient 2 is an integer, the temperature coefficient of the temperature coefficient giving circuit 2 shown by equations 11 and 12 is a discontinuous value that cannot be arbitrarily selected. .

なお、第3図および第4図に、温度係数付与回路2の他
の2例を示す。第3図では2個のトランジスタQl、Q
l’を用い、第4図では2個のダイオードD I 、 
D I’を用いた場合を示す。
Note that two other examples of the temperature coefficient imparting circuit 2 are shown in FIGS. 3 and 4. In Figure 3, two transistors Ql, Q
In FIG. 4, two diodes D I ,
The case where DI' is used is shown.

(発明の効果) 本発明によれば、第1の温度係数を有する基準電圧に従
って、第1の温度係数より小さい第2の温度係数を有す
るバッテリチェック電圧をA/D変換し、予め第1およ
び第2の温度係数に応じて定められたバッテリチェック
用基準値とそのA/D変換値とを比較することによりバ
ッテリ電圧をチェックするようにしたので、バッテリチ
ェック用基準値を温度に応じて変える必要がなく構成が
簡素化される。
(Effects of the Invention) According to the present invention, a battery check voltage having a second temperature coefficient smaller than the first temperature coefficient is A/D converted according to a reference voltage having a first temperature coefficient, and the first and second temperature coefficients are Since the battery voltage is checked by comparing the battery check reference value determined according to the second temperature coefficient and its A/D conversion value, the battery check reference value is changed according to the temperature. This simplifies the configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図はバッ
テリチェックの処理手順例を示すフローチャート、第3
図および第4図は温度係数付与回路の2実施例を示す回
路図である。 ■=主電 源:バッテリ  R1,R2:抵抗 2:温度係数付与回路 Ql:)ランジスタ  Dl:ダイオードR3:抵抗 3:基準電圧発生回路 D2〜D5:ダイオード R4−R7:抵抗 C1:定電流源 4 : A/Dコンバータ 5:測光回路 D6〜D9:ダイオード PD:フォトダイオード C2:定電流源 6:マイクロプロセッサ 出 願 人  日本光学工業株式会社 代理人弁理士  永  井  冬  紀第5図 第4図
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a flowchart showing an example of a battery check processing procedure, and FIG.
4 and 4 are circuit diagrams showing two embodiments of the temperature coefficient imparting circuit. ■=Main power source: Battery R1, R2: Resistor 2: Temperature coefficient imparting circuit Ql: ) Ransistor Dl: Diode R3: Resistor 3: Reference voltage generation circuit D2-D5: Diode R4-R7: Resistor C1: Constant current source 4: A/D converter 5: Photometric circuit D6 to D9: Diode PD: Photodiode C2: Constant current source 6: Microprocessor Applicant: Nippon Kogaku Kogyo Co., Ltd. Representative Patent Attorney Fuyuki Nagai Figure 5 Figure 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】 電源と接続され、第1の温度係数に従って絶対温度に比
例した電圧を発生する電圧発生手段と、 前記電源の電圧に前記第1の温度係数より小さい第2の
温度係数を付与する温度係数付与手段と、 前記電圧発生手段からの電圧を基準電圧として、前記温
度係数付与手段からの電圧をデジタル値に変換するアナ
ログ−デジタル変換手段と、その変換手段で得られたデ
ジタル値を、前記第1および第2の温度係数に基づいて
定められた基準値と比較して前記電源の電圧を判定する
比較判定手段と、を具備したことを特徴とするカメラの
バッテリチェック回路。
[Scope of Claims] Voltage generating means connected to a power supply and generating a voltage proportional to absolute temperature according to a first temperature coefficient; and a second temperature coefficient smaller than the first temperature coefficient applied to the voltage of the power supply. a temperature coefficient applying means for applying a temperature coefficient; an analog-to-digital converting means for converting the voltage from the temperature coefficient applying means into a digital value using the voltage from the voltage generating means as a reference voltage; and a digital value obtained by the converting means. A battery check circuit for a camera, comprising: comparison and determination means for determining the voltage of the power supply by comparing the voltage with a reference value determined based on the first and second temperature coefficients.
JP60179937A 1985-08-15 1985-08-15 Camera battery circuit Expired - Lifetime JPH0816764B2 (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5701527A (en) * 1993-12-27 1997-12-23 Olympus Optical Co., Ltd. Camera capable of measuring power source voltage

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5757688A (en) * 1980-09-24 1982-04-06 Fujitsu Ltd Printer
JPS58132737A (en) * 1982-02-03 1983-08-08 Sekonitsuku:Kk Display of exposure controlling value
JPS58131567U (en) * 1982-03-02 1983-09-05 株式会社ニコン Battery check circuit

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5757688A (en) * 1980-09-24 1982-04-06 Fujitsu Ltd Printer
JPS58132737A (en) * 1982-02-03 1983-08-08 Sekonitsuku:Kk Display of exposure controlling value
JPS58131567U (en) * 1982-03-02 1983-09-05 株式会社ニコン Battery check circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5701527A (en) * 1993-12-27 1997-12-23 Olympus Optical Co., Ltd. Camera capable of measuring power source voltage

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