JPS6240873A - 画像読取装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は例えばＣＯＤ等のイメージセンサを用いた画像
読取装置に関し、特にイメージセンサを含む光学系に起
因して欠陥ビットと判定されたセンサセルからの画像信
号の補正の改良に関する。

以下余白 ［従来の技術］ 例えばＣＣＤＩのイメージセンサ（撮像素子）固有の問
題にいわゆるシェーディング及び欠陥ビットという問題
がある。

シェーディングとは、イメージセンサを用いたスキャナ
で真っ白い原稿を読み取って、イメージセンサの−）二
走査１周期分のビデオ信号を観測すると、信号レベルが
甲担にならずに歪んでみえる事である。この東は真っ白
の原稿でなくとも普通の原稿を読み取る時でも現れ、ラ
インセンサはシェーディングを含んだビデオ信号を出力
する。この信号をそのまま２　（ｉｆｉや階調データに
変換すると出力画像の画質が１りれたようになる。そこ
で、シ以ド余白 ニーティングを補止する東が必要になる。シェーディン
グの原因としては光源、レンズの結像特性（Ｃ０９４則
）、センサのばらつき等が考えられている。

−・方、欠陥ビットとは、イメージセンサの一部ビット
の出力そのものが極めて低く、その部分がセンサとして
の機能をしないものである。原因としては、例えばＣＯ
Ｄ等であれば、チップそのものの−・部の欠陥、又は光
学系等のキズ等が考えられている。

そこで、従来からイメージセンサを画像読み取り装置に
用いるに際して、１．記シェーディングの補正及び欠陥
ビットの検出、欠陥ビットの画像信号の復元等は不可欠
である。そして従来はその欠陥ビットの検出及び特にそ
の画像信号の復元を行うために、複雑な回路を用いてい
た。

［発明が解決しようとする問題点］ しかしながら、欠陥ビットの補１Ｆのための複雑な独１
’ｔ−した回路を設ける事は画像読取装置の小型化、省
スペース化の障害となっていた。本発明は１、記従来技
術の欠点に鑑みてなされたもので、極めて筒中な構成に
より欠陥ビットの画像値１（の復元をｉｆ能とする画像
読取装置を提案し、特にシェーディング補１１−の為の
回路と回路を−・部共有するＩＧにより史に小規模化を
追求した画像読取装置を提案する小を課題とする。

Ｅ問題点を解決するだめの−Ｌ段］ １、記課題を達成するために例えば第１図に示す実施例
の画像読取装置は、イメージセンサの−・例である１次
元ラインセンサ１００と、ラインセンサ１００からの画
像信号ＡＩ　　、Ａ２　、Ａ３　と該イメージセンサの
センサセル位置とを対応付ける画像値１）特足手段であ
る例えばシフ］・レジスタｌＯ１と、ラインセンサｌＯ
Ｏ及びラインセンサ１００への光路に起因する欠陥ビッ
トの位置１０４を特定する欠陥ビット位置特定−手段１
０２と、欠陥ビットの画像信号Ａ２を補止する時は周囲
の画素の画像信号から推定１．て補正する欠陥どット補
止手段の−・例であるデータセレクタ１０３とを有する
。

「作用」 かかる第１図の構成において、欠陥ビット位置特定手段
１０２はシフトレジスタ１０１に欠陥ビットに対応する
画像値りが入力するタイミングをとらえて、セレノｉ・
信り１０５により、データセレクタ１０３はシフト１／
ジスタ１０１に保持されている１画素前の隣接画素の画
像信号を欠陥ビットの画像信号として復元する。

［実施例Ｊ 以ド添付図面に従って、本発明に係る実施例を史に訂、
１１１１に説明する。

く読取動作〉 ′ｒＰＪ２図（ａ）は実施例の画像読取装置に供される
欠陥ビット位ｄ検出及びシェーディング補ｉＴＥ　ｔｌ
ｒ−決定のための動ｎの概念を図示する。第２図（ａ）
に小す様に、原稿載置台２の先端に取りつけられた白色
補庄板ｌを光鯨１３により照射して、その反Ｑ４光を光
学系４がイメージセンサ（本例の場合は１次元ラインセ
ンサ）３上に結像する。光学系４及υラインセンサ３が
図中の矢印方向に移動して、その白色袖＋Ｅ　ｋ　１を
走査１７終るまでにシェーディング補ＩＦμ及び、欠陥
ビットの位置を決定するどい〉ものである。

〈構成〉 第２図（ｂ）に欠陥ビット検出のための回路ロジックを
示す。図中、５は照度から濃度・＼の変換を行うログ（
ＬＯＧ）変換部、７は欠陥ビット’ｒＩｌ定部、８はシ
ェーディング補止（五及び欠陥ビットに関する情報を蓄
えるシェーディングＲＡＭ、９は画像データの補正とシ
ェーディングの補正を行う補正部である。

ラインセンサ３からの出力１５をＡ／Ｄ変換されたディ
ジタルレベルとすると、ＬＯＧ変換部５により輝度レベ
ルから濃度レベルの画像信号に変換きれる。濃度レベル
の画像信号１６は欠陥ビット判定部７により欠陥ビット
を含む信号であるかどうかの判定を行われる。そして、
そのビットのセンサセルが欠陥ビットであるのか否かの
情報（欠陥ビット情報）、及びそのビットが欠陥ビット
でないときはそのシェー・テインク補＋ＩＥ星（シェー
　Ｏ ティングデータ）をシェープインクＲＡＭ８に保イｆす
る。欠陥ビット情報、シェ〜テイングデータはＲＡＭ付
勢信り１２により、シェーディングＲＡＭ８に占き込ま
れる。本実施例では、欠陥ピッ］・情報及びシェープイ
ンクデータを総称してシェーディング補止データという
小とする。このように、シェーディングＲＡＭ８にシェ
ーディング補（Ｉデータを記憶した後に、補ＩＥ部９は
画像信号１６に対１７てシェーディングＲＡＭ８に記憶
されているシェープインクデータを用いてシェーディン
グ補止を行いながら、−・鮫の原稿を読み取る。

又、欠陥ピントと判定されたセルによる・般原稿からの
出力に対しては後述する方法により補正した画像信号を
得る。

欠陥ピッ］・判定部７はその−・例として第３図（ａ）
に不す様にＯＲ回路等により構成される。

濃度レベルの画像値１４１６がｎビットのＤ１〜Ｄｏで
あるとすると、第３図（ａ）のＤｓ＋＋ｉｈが欠陥ビッ
ト情報、Ｄ、、０２・・・、Ｄｘがシェープインクデー
タである。

〈補止データの決定〉 本実施例におけるシェーディング補ＩＦデータの決定に
ついて説明する。欠陥ビット判定部７にり、〜Ｄ１の画
像信号１６が入力すると、ラインセンサ３及び光学系が
正常であれば、白色補ｉＴ、板ｌからの画像信号１６の
ＭＳＨに近いビットＤｎ、Ｄｎ用・・・Ｄｘは”Ｏ°′
でアリ、従ってシェーディングに応じた濃度レベルとし
てＬＳＢに近いＤＡ　、Ｄ２　、Ｄ３・・・、ＤＸのみ
が出力される。

尚、ド４ｈ何ピッｉ・までをシェーディングデータとし
て扱って、残りの１−位ビツトを欠陥ピッ］・の判定に
使うかは、つまりＸをどのように決定するかは出力画像
データの階調性やシェーディングＲＡＭの客足との兼ね
あい等の条件によって決めるもので、本実施例では限定
しない。

そこで本実施例では、もしＭＳＢに近いビットＤｎ　　
、Ｄｎｌ　、Ｄｎ−２・＋　、Ｄｘ　（７）いずれがが
“°１″となる場合、そのビットは欠陥ビット、あるい
はシェーディング補正対象外のビットと判定する。この
ように本実施例ではシェーディング補１Ｆ：対象外のビ
ットも欠陥ビットとみなしている。

シェーディング補ＩＦ対象外のビットとは、センサ表面
ガラスの傷等のために光が散乱してしまい、通常前られ
るべきシェーディングデータより極端に大きな濃度レベ
ルを持つビットである。この場合、画像データにシェー
ディング補正を施しても、入力画像の絶対出力が小さく
、階調性の良い画像データが得られなイ事や、ガラス面
での光の散乱によりそのビットのデータが頁のデータで
ある保証がない東等の理由により、シェーブイブ補正対
象外のデータも欠陥ビットとして扱う。

第３図（ａ）中のＯＲゲー）２０により濃度レベルの画
像信号１６のＤ　ｎ　”　Ｄ　ｘのいずれかが”　１　
”の時に、欠陥ビットのサインとしてシェーディング補
正データ１０の最−１−位ビツ）Ｄｓ＋６＋に”　１　
”をたてて、画像信号１６のＬＳＨに近いＦ位ビットＤ
Ｉ　、Ｄ２　、Ｄ３・・・、ＤＸはそのままシェーディ
ングデータとする。即ち４欠陥ビツト情報とシェープイ
ンクデータからなるシェーディング補正データ１０は最
）−位ビツ）ＤＳＩＧＮと下位ビットＤＩ　、Ｄ２　、
Ｄ３・・・、Ｄｘとで構成され、シェーディングＲＡＭ
８に記憶される。

又、前記欠陥ビットの検出は、第３図（ｂ）に示した方
法によっても検出できる。即ち、画像値号１６をある　
・定の閑イ１白２１とコンパレータ２２により比較］７
、画像信号１６が閾葡２１より大きかったｌｌｒに、そ
のビットを欠陥ビットと判定し、１０定イぽｉ　Ｄ　Ｓ
　ＩＧＮを°゛ｌ゛′とする。そして、シェーディング
データの−・部はそのまま欠陥ビット情報Ｔ）ｓ１＋；
ＮとともにシェーディングＲＡＭ８に記憶する。又、第
３図（ａ）、（ｂ）の方法においては、トイ☆ビットの
みをシェーディングデータとしているが、１．イ☆ビッ
トがｌ°“の時には欠陥ビットとじて判定されるために
、その時にド位ビットのシェーディングデータは必要な
いから、シェーディングＲＡＭ８にシェーディングデー
タは記憶しないようにしてもよい。

以１−の様にシェープインクＲＡＭ８には欠陥ビット情
報とシェープインクデータが記憶される。只、一度欠陥
ビット情報が“ｌ゛′になると、例えその原因がシェー
ディング補正板１の傷等が原因でもラインセンサそのも
のの欠陥として以後取り扱われてしまう。そこで本実施
例では、第４図（ａ）に小すように、例え欠陥ビット情
ｔνが°゛ｌ′”となったセンサのビットでも、シェー
ディング補正板ｌの走査で全て欠陥ビットと判定きれな
い限り、欠陥ビットとじてみなさないようにする。第４
図（ａ）は、白色補正板１をラインセンサ３が走査して
、例えばカラム２についてのＤＳＩＧＮが変化する様ｒ
−を示す。ライン３までのＤＳＩＧＮは°“０゛である
が、ライン４，５は°°１′。

となる。しかし、−・度でもＤＳＩＧＮが“°０″と判
定されたカラム２のビットは欠陥ビットとみなさないの
である。

〈シェープインク情報の記憶〉 そのようにするために、シェーディングＲＡＭ　　Ｇ ８は実際には第４図（ｂ）で示す様な構成になっている
。図中、３０はＲＡＭのアドレスカウンタ笠を含むアド
レス制御部で、シェーディング補１Ｆテータ１０の最１
−位ビットＭ　Ｓ　Ｂ　（Ｄ　５ＩＧＮ）を記ｆｆｌす
る欠陥ピッ］・情報ＲＡＭ３１及びシェーディングデー
タ（ＤＩ・・・）を記憶するシェーディングデータＲＡ
Ｍ３２にアドレス信号３７を出力する。３３はＲＡＭ３
１．３２の書き込み許可信号を発生するＲＡＭ制御部で
ある。ＲＡＭ３１　、３２の容にはラインセンサ３の長
さだけある。

以ド、第４図（ｂ）を参照して動作を説明する。第２図
（ｂ）中の欠陥ビット判定部７より出力された欠陥ビッ
ト情報ＤＳＩＧＮとシェーディングデータ（Ｄｚ・・・
）から成るシェーディング補正データ１０のうち１Ｍ５
Ｂある欠陥情報ＤＳＩＧ）Ｉは欠陥ヒツト情報ＲＡＭ３
１に入力され、補ＩＦチータフ １Ｏの他のピッ１（ＤＩ・・・）はシェーディングデー
タＲＡＭ３２に入力される。アドレス制御部３０は画像
転送りロックＣＬＫごとにＲＡＭ３１　。

３２に出力するアドレスをカウントアツプして、ライン
センサ３の画素数までカウントし、水１ｉ同期信号ＨＳ
　Ｙ　Ｎ　Ｃごとに内部のアドレスカウンタをクリアす
る。このアドレス値により、ラインセンサ３の個々のビ
ットに対応した欠陥ビット情報及びシェーディングデー
タをＲＡＭ３１．３２内に保存する。

ところで、ＲＡＭ制御部３３に入力するＲＡＭ付勢信号
１２は白色補正板ｌの読み取り時に”　１　”となり、
欠陥ビット情報ＲＡＭ３１、シェーディングデータＲＡ
Ｍ３２のＥ端ｆに入力してそれらを付勢する。又、ＲＡ
Ｍ制御部３３にはＲＡＭ付勢信号１２と欠陥ビット情報
ＤＳＩＧＮ、及び木４７−同期信号ＨＳＹＮＣが人力さ
れる。そこで、ＲＡＭ制御部３３より出力される信号に
ついて説明する。

信号３５は、先ず白色補１１゛板１の第１ラインに対し
てはＲＡ　Ｍ　（−１勢信り１２が“ｌ″となった直後
に１水重量期期間つまり白色補正板１の１ラインを読み
取る時間の間”　１　”となる。そのようにして、第１
ラインに対応する全ビットのシェープインクデータをｉ
！）き込む。第２ライン［１以隆に対しては、欠陥ピッ
ｉ・情報ＤＳＩＧＮが°０”のとき、つまり、欠陥ビッ
トでない時にも°°１°゛となり、シエーテイングデー
タＲＡＭ３２を書き込み語１１丁状態にする。

一方、ＲＡＭ制御部３３の出力信号３６は、先ず第１ラ
インに対してＲＡＭ伺勢信号１２が”　１″”となった
直後にｌ水ＩＩｉ同期期間の間゛１°。

となり、その後欠陥ビット情報ＤＳＩＧＮが０゛°の時
つまり欠陥ビットでない時に１″となり、欠陥ビット情
報ＲＡＭに欠陥ビットでないという情報ＤＳＩＧＮ−０
を書き込む。ＤＳＩＧＮがｌ″の時は信号３６は０′′
であり、欠陥ビット情報ＲＡＭ３１の内容を変更しない
。

以１−の動作により、複数ラインの白色補正板読み取り
時に欠陥ビットと判定されなかった時は、いつでも欠陥
ビット情報ＤＳＩＧＮ＝　Ｏが欠陥ヒツト情報ＲＡＭ３
１に書き込まれるので、白色補正板１のキズ又は汚れ等
で・面欠陥ビットと判定されたとしても、他のライン（
実質的には最終ライン）で欠陥ヒツトと判定されなけれ
ば、そのヒツトのセンサを１常なものとして取り扱う。

このように取り扱っても、シェープインクデータにより
シェーディング補止で対処出来るからである。本例では
欠陥ビット情報及びシェープインクデータを袖＋Ｅ＆１
を走査している間は変更できるようにしているが、他の
方法としてＤＳＩＧＮであるラインの数を数えて、その
数が所定の数を越えた時は、以後にＤＳＩＧＮが１″′
であるラインがあっても、ＲＡＭ３１．３２を書き換え
ずに欠陥ビットとはみなきないという方Ｖ、も名えられ
る。

くシェーディング補止〉 白色補正板読補 ビット及びシェープインクデータ等のシェーディング補
１１情報を？！）だ！−で、−・般の原稿の読み取りを
行う事がｉｆ能となる。即ち、シェーディングＲＡＭ８
は画像読み取り時には、ＲＡＭ伺勢信号１２により読み
出し専用に切り換えられる。読出ごれた欠陥ビット情報
及びシェープインクデータは袖ｉ’ｌ二云−タ１１と１
７て、第２図（ｂ）の補正部９に画像信号１６と共に入
力され、補任部９からシェーディング補■１：及び欠陥
ピッＩ・補正された信す１４を得る。補正部９は第５図
に示す様な構成になっている。図中、４２は信号振り分
は部で、シェーディングＲＡＭ８の出力１１は欠陥ビッ
トを示す最Ｉ−ｆ☆ピッｔ・（ＤＳＩＧＮ）　４５とシ
ェーディング濃度データ４４に振り分けられる。シェー
ディング８１隻データ４４は濃度画像信号１６とともに
減算回路４０に入力され、シェーディング補１１；され
る。このシェープインク補ＩＦ−により、ラインセンサ
３の特性のバラツキ又はレンズの特性が補償される。尚
、本実施例中シェープインク補ｉ１Ｅはａ１隻レベルで
行っているので、減算回路４０において、シェーディン
グ補１［を行っているが、輝度レベルの画像信号に対し
てシェーディング補ＩＦ］する時は第２図（ｂ）の輝度
レベルの画像信号１５に対して、第５図の減算回路４０
の代りに除算回路を用いる！バは、ｉ゛うまでもない。

〈欠陥ビットの補１１−〉 通常のシェーディング補ＩＦは（−記のように行うが、
次に欠陥ビンｉ・と判定されたセンサセルからの出力で
ある画像信号の補正について述べる。減算回路４０によ
りシエーテイング補正された画像信号４６はシフトレジ
スタ４１に入力され、画像転送りロックでラッチされる
。従って、シフトレジスタ４１により１画素分′Ｍ延さ
れるので、シフトレジスタ４１の出力である画像信号４
７は画像イ、−８壮４６の１つ１１ｆ１の隣接画素であ
る。そこで、信す−振り分は部４２の出力４５がｌ″′
、つまりシフトレジスタ４１に入力しようとしている画
像信号４６は欠陥ビットであるセンサからの画像信号で
あった時は、データセレクタ４３において、セレクト信
号４５により、１つ前の画像信号４７が選択出力される
。欠陥ビットでない時、即ちセレクト信号４５が°°０
”′である時は、注目画素の画像信号４６が出力される
。

〈補ｉＥ部の変形例） 第２図（ｂ）中の補正部９、特に欠陥ビットの補正のた
めの第５図のシフ）　１／ジスタ４１及びデータセレク
タ４３に代る別の実施例を示す。この変形例は第６図（
ａ）に示す様に、欠陥ピッＩ・からの画像信号の時は欠
陥ビットに応答する画素の周囲６画素のデータにより欠
陥ビットの補ｉＥを行うものである。第６図（ｂ）中、
５１〜５３はラインバッファで、１つのラインバッフγ
はラインセンサ３の１ライン分の８早をもつ。第６図（
ｂ）中の５４〜６４は全てシフ］・レジスタであり、特
にシフトレジスタ５４〜６２の出力は第６図（ａ）の画
素構成に対応する。従ってシフトレジスタ５８は第６図
（ａ）のＡ９に対応する。

今、１１１１画像データを第６図（ａ）のＡ９とした時
に注目画素に対応する欠陥ビットの判定信号はシフ］・
レジスタ６４より出力される。シフトレジスタ６３．６
４はシフトレジスタ５４〜６２との出力同期を１１多る
ためである。

１１均化部６５は注目画素周囲の周囲の６画素Ａｘ　、
Ａ３　、Ａ４　、Ａ５　、Ａ８　、Ａｓの入力を受け、
それぞれの画素に屯み付は係数がかけられて１１Ｌ均値
が出力される。ラインバッファ５１は注目画ふの前ライ
ンのシェーディング補正後の画像信号が出力され、ライ
ンバッファ５２は注目画素のラインのシエーテイング補
ＩＬ後の画像信号が出力され、ラインバッファ５３は注
目画素の次のラインのシェーディング補正後の画像信号
が出力される。ラインバッファ５１〜５３の出力はシフ
トレジスタ５４，５７．６０に入力され、シフトレジス
タ５５，５６，５８，５９，６１．６２により、画像転
送りロックでシフトされる。

今、注目画素Ａ９が欠陥ビットと判定されなかった時は
セレクタ６６よりシェーディング補ＩＩ−後の画像信号
、即ちシフトレジスタ５７の出力がそのまま出力される
。もし注目画素Ａ９が欠陥ビットと判定された時は、シ
フトレジスタ６４の出力はその判定情報であり、セレク
タ６６のセレクト信号となるから、セレクタ６６により
）ｉ均化部６５の出力が選択出力される。１ｉ均化部６
５では次の処理が行われる。

モ均化出力Ｚ ＝　（Ａ＋Ｂ＋÷　Ａ３Ｂ３＋　　Ａ４Ｂ４＋　　Ａ３
Ｂ５＋　Ａ６Ｂ６＋　　ＡｓＢｓ　　）／（８１＋　Ｂ
３　＋　Ｂ４　＋　Ｆ３５＋　８６　＋　Ｂｅ）つまり
、周囲６画素に重み付けしたＩＩｉ均化出力が得られる
。

〈エリアセンサの場合） 前述した実施例は］ににラインセンサについて説明した
。しかしながら、本発明はラインセンサのみに適用され
るものでない。先ず、エリアセンサを用いた場合におけ
る欠陥ビットの検出する場合について言及すると、第４
図（ｂ）の欠陥ビット情報ＲＡＭ３　Ｌ及びシェーディ
ングデータＲＡＭの容量をセンサセルの数だけ増やす。

そして、これらのＲＡＭにＪ）き込まれるべき情報を書
き込むタイミングは前述した実施例と同様に１ライン毎
に占き換えるか、又は白色補正板１１．をエリアセンサ
の縦方向のセルの数だけ走査したならば、その時にＲＡ
Ｍを書き換えるようにすればよい。

こうして、前述した１次元ラインセンサに適用された方
法は１リアセンサにも適用される１１が明らかとなった
。

次に同しくエリアセンサにおける欠陥ビットの補１［′
に１次元ラインセンサに用いたｒ法を適用する場合につ
いて説明すると、欠陥ビットセルからの出力と考えられ
る注目画素Ａ９の周囲８画素を参照して、次式のように
演算して補正ずればよい。

平均化出力Ｚ ”　（ＡＩＢｄ”　　Ａ２Ｂ２＋　　Ａ３Ｂ３”　　Ａ
４Ｂ４＋　　Ａ５Ｂ！１＋　　Ａ６Ｂ６＋　　ＡｔＢ１
＋　ＡｓＢｅ　）／ （Ｂ＋　＋　Ｂ７　＋　Ｂ：ｌ　＋　Ｂ４　＋　Ｂ５　
＋　Ｂ６　＋　８＋　＋　８８）このように、エリアセ
ンサの場合でも前記実施例の構成には何ら変更を加える
必要がない。

〈その他の変形例〉 １−記２つの実施例において、欠陥ビットの検出は濃１
隻レベルでｉっだが、次に輝度レベルにある欠陥ヒラ］
・の検出を第７図に示す。

濃度レベルの時と同様に１−位数ビット（Ｄ１〜ＤＸ）
をＮＡＮＤゲート７０に人力する。もしシエーテイング
袖１Ｆ対象外のデータの時には輝度レベルが低く　ＮＡ
ＮＤゲートに入力される入力のいずれかが”　ｏ　”と
なり、ＤＳＩＧＮの出力が°°ｌ゛′となり欠陥ビット
とｔ’ｌｌ’Ｚされる。又、Ｄｉ〜Ｄｎはそのままシエ
ーテイング輝度データとして欠陥判定データと　緒にシ
ェーディングＲＡＭに記憶Ｓれる。

又、第３図（ｂ）に示した方Ｄ、と同様に、輝度レベル
データをある−・定閾値Ｐと比較し、輝度レペルデータ
が閾値Ｐより小さい時に、欠陥ビットと判断して欠陥ビ
ット情報ＤＳＩＧＮを°゛ｌ”′とし、％１１度データ
はそのままＤＳＩＧＮとともにシェープインクＲＡＭ８
に記憶するようにしてもよい。

「効果」 以上説明したように本発明によれば、簡単な構成により
、欠陥ビットの画像信号の復元が可能となり、更に本発
明の１実施態様によれば従来のシェープインク補１Ｆの
ための回路に組み込む東が口■能となり、更に小型化が
可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る実施例の基本動作を説明する図、 第２図（ａ）は実施例における欠陥ビットを検出するた
めの光路を示す図 第２図（ｂ）は実施例の回路図、 第３図（ａ）、（ｂ）はシェーディング補正データの決
定を説明する図、 第４図（ａ）は欠陥ビットを決定するための基本動作を
説明する図、 第４図（ｂ）はシェー・ディングＲＡＭの内部の回路例
の図、 第５図は補１１部の回路図、 第６図（ａ）は補ｒｌＥ部における補止の変形例を説明
する図、 第６図（ｂ）は袖）−［部の変形例の回路図、第７図は
欠陥ビットの検出を輝度レベルにて行う場合の欠陥ヒラ
Ｉ・の決定を説明する図である。 図中、１・・・白色補ＩＦ板、３・・・ラインセンサ、
５・・・ＬＯＧ変換部、７・・・欠陥ピッ）　’Ｆｉｌ
定部、８・・・シェーディングＲＡＭ、９・・・補止部
、３０・・・アドレス制御部、３１・・・欠陥ビット情
報ＲＡＭ、３２・・・シエーテイングデータＲＡＭ、３
３・・・ＲＡＭ制御部、４０・・・加η器、４１・・・
シフ］・レジスタ、４２・・・４”Ｅ号振り分は部、４
３・・・データセレクタ、５１〜５３・・・ラインメモ
リ、５４〜６２・・・シフトレジスタ、６５・・・ＩＬ
均化部である。

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. （１）イメージセンサからの画像信号と該イメージセン
   サのセンサセル位置とを対応付ける画像信号特定手段と
   、前記イメージセンサ及び該イメージセンサへの光路に
   起因する欠陥ビットの位置を特定する欠陥ビット位置特
   定手段と、欠陥ビットの画像信号を補正する時は周囲の
   画素の画像信号から推定して補正する欠陥ビット補正手
   段とを有する画像読取装置。
2. （２）前記周囲の画素はイメージセンサの主走査方向又
   は副走査方向に隣接する画素の画像信号である事を特徴
   とする特許請求の範囲第１項に記載の画像読取装置。
3. （３）前記周囲の画素はイメージセンサの主副両走査方
   向に隣接する６画素又は８画素の画像信号である事を特
   徴とする特許請求の範囲第１項に記載の画像読取装置。
4. （４）更にシェーディング補正手段を備え、欠陥ビット
   補正手段は周囲の画素のシェーディング補正された後の
   画像信号を用いる事を特徴とする特許請求の範囲第１項
   乃至第３項のいずれかに記載の画像読取装置。
5. （５）画像信号は濃度で表わされ、欠陥ビット補正手段
   は濃度データの加減算により補正する事を特徴とする特
   許請求の範囲第４項に記載の画像読取装置。
6. （６）画像信号は輝度で表わされ、欠陥ビット補正手段
   は濃度データの積算又は除算により補正する事を特徴と
   する特許請求の範囲第４項に記載の画像読取装置。