JPS6242352Y2 - - Google Patents
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- JPS6242352Y2 JPS6242352Y2 JP9512980U JP9512980U JPS6242352Y2 JP S6242352 Y2 JPS6242352 Y2 JP S6242352Y2 JP 9512980 U JP9512980 U JP 9512980U JP 9512980 U JP9512980 U JP 9512980U JP S6242352 Y2 JPS6242352 Y2 JP S6242352Y2
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- gas
- pipe
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- dust cover
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は排煙脱硝装置などの公害防止機器に
用いられる化学発光式NH3濃度測定装置のガスサ
ンプリングプローブに関するものである。
用いられる化学発光式NH3濃度測定装置のガスサ
ンプリングプローブに関するものである。
一般にケミルミー法と呼ばれNOなどのガスが
O3と反応するとき発する光の強さを光電子増倍
管で検出し、NH3濃度を測定する装置は高い感度
でNH3ならびにNOx濃度が連続測定できるので公
害関連で広く用いられている。この装置は従来第
1図に示すようなガスサンプリングプローブと
NH3酸化器を被測定ガス導入部に設けているのが
通例である。図において1はたとえば排煙道2の
サンプリングポイントに設置されたプローブパイ
プ、3はパイプヒータ、4はダストフイルタ、5
はそのヒータ、6はフイルタケース、7はサンプ
リングした被測定ガスを第1の系と第2の系
とに分岐させる分岐管である。ここで、第1の系
はサンプリングした被測定ガス中のNH3+NOx
の濃度を測定する測定系、第2の系はNOx濃
度を測定する測定系である。また8はパイプヒー
タ、9は上記第2の系のガス配管、10はNH3
→NO変換のNH3酸化器、11は上記の酸化触媒
で金属酸化物の粒状またはペレツト状のもの、1
2はNH3酸化器10の加熱炉、13は上記第1の
系のガス配管で3E,5E,8E,12Eは上
記各ヒータの電源を示している。15A,15B
は第1、第2の系のパイプで共に点線で示すよう
に加熱してある。14A,14Bは2つの系,
における、NOx→NO変換の各還元コンバータ
であり、点線16で示すように加熱されている。
17A,17Bはガスの前処理部であり、18,
19はNOにO3を反応させてその濃度を検出する
化学発光式分析部、20は各分析部18,19に
おける検出値D1,D2との差からNH3濃度ならび
にNOx濃度を演算する演算部、21はそれら演
算結果を指示・記録する記録計である。以上のよ
うな構成のNH3濃度測定装置において、記録計2
1の目盛の検定、たとえば上限値下限値の検定す
なわち分析計本体の校正は一般に高圧ボンベに充
てんされたNOの校正用標準ガスを分析部入口に
導入することで容易にできる。つぎに第1図で示
した10のNH3酸化器の酸化効率すなわちNH3→
NO変換効率の校正は同じく高圧ボンベに充てん
されたNH3酸化器校正用ガスたとえばN2バランス
の100ppmNH3+5%O2のものなどを用いて行う
のであるが、従来装置の多くは第1図のように特
にNH3酸化器への校正ガス導入口が設けられてい
ない。このため分岐管7とNH3酸化器10の入口
配管との配管ジヨイントナツト22を外して酸化
器10を装置外に出して校正ガスを導入するか、
もしくはフイルタ4、フイルタケース6を外して
専用の治具を用いて校正ガスを導入しなければな
らなかつた。このため酸化器の校正作業は手間が
かかるだけでなく、NH3ガスのようにパイプ内面
などで損失し易いガスによる校正を実際使用状態
でない外部校正や配管条件の異なる方法で行つた
のでは正確を期しがたい欠点がある。
O3と反応するとき発する光の強さを光電子増倍
管で検出し、NH3濃度を測定する装置は高い感度
でNH3ならびにNOx濃度が連続測定できるので公
害関連で広く用いられている。この装置は従来第
1図に示すようなガスサンプリングプローブと
NH3酸化器を被測定ガス導入部に設けているのが
通例である。図において1はたとえば排煙道2の
サンプリングポイントに設置されたプローブパイ
プ、3はパイプヒータ、4はダストフイルタ、5
はそのヒータ、6はフイルタケース、7はサンプ
リングした被測定ガスを第1の系と第2の系
とに分岐させる分岐管である。ここで、第1の系
はサンプリングした被測定ガス中のNH3+NOx
の濃度を測定する測定系、第2の系はNOx濃
度を測定する測定系である。また8はパイプヒー
タ、9は上記第2の系のガス配管、10はNH3
→NO変換のNH3酸化器、11は上記の酸化触媒
で金属酸化物の粒状またはペレツト状のもの、1
2はNH3酸化器10の加熱炉、13は上記第1の
系のガス配管で3E,5E,8E,12Eは上
記各ヒータの電源を示している。15A,15B
は第1、第2の系のパイプで共に点線で示すよう
に加熱してある。14A,14Bは2つの系,
における、NOx→NO変換の各還元コンバータ
であり、点線16で示すように加熱されている。
17A,17Bはガスの前処理部であり、18,
19はNOにO3を反応させてその濃度を検出する
化学発光式分析部、20は各分析部18,19に
おける検出値D1,D2との差からNH3濃度ならび
にNOx濃度を演算する演算部、21はそれら演
算結果を指示・記録する記録計である。以上のよ
うな構成のNH3濃度測定装置において、記録計2
1の目盛の検定、たとえば上限値下限値の検定す
なわち分析計本体の校正は一般に高圧ボンベに充
てんされたNOの校正用標準ガスを分析部入口に
導入することで容易にできる。つぎに第1図で示
した10のNH3酸化器の酸化効率すなわちNH3→
NO変換効率の校正は同じく高圧ボンベに充てん
されたNH3酸化器校正用ガスたとえばN2バランス
の100ppmNH3+5%O2のものなどを用いて行う
のであるが、従来装置の多くは第1図のように特
にNH3酸化器への校正ガス導入口が設けられてい
ない。このため分岐管7とNH3酸化器10の入口
配管との配管ジヨイントナツト22を外して酸化
器10を装置外に出して校正ガスを導入するか、
もしくはフイルタ4、フイルタケース6を外して
専用の治具を用いて校正ガスを導入しなければな
らなかつた。このため酸化器の校正作業は手間が
かかるだけでなく、NH3ガスのようにパイプ内面
などで損失し易いガスによる校正を実際使用状態
でない外部校正や配管条件の異なる方法で行つた
のでは正確を期しがたい欠点がある。
この考案は以上の現況に鑑みてなされたもので
従来の化学発光式NH3濃度測定装置のNH3酸化器
の酸化効率の校正が作業としては非能率でしかも
その校正の正確度に問題があつたのを解消し、従
来と全く異なる構成のガスサンプリングプローブ
の先端における各プローブパイプ連通部に校正用
標準ガスなどの供給パイプの開口孔を設けること
によつて校正作業を容易にし、かつ実際使用状態
での校正を行うことができるガスサンプリングプ
ローブの提供を図るものである。すなわち被測定
ガス導入管吸込口をガスの流れに沿つた流線形
で、かつ下流側に開口部を有するダストカバーで
覆い、このダストカバー内の空間にアンモニアガ
スを所定濃度含有する校正用アンモニア標準ガス
を供給するパイプを開口したことを特徴とする煙
道ガス中のNH3濃度測定装置のガスサンプリング
プローブにかかるものである。
従来の化学発光式NH3濃度測定装置のNH3酸化器
の酸化効率の校正が作業としては非能率でしかも
その校正の正確度に問題があつたのを解消し、従
来と全く異なる構成のガスサンプリングプローブ
の先端における各プローブパイプ連通部に校正用
標準ガスなどの供給パイプの開口孔を設けること
によつて校正作業を容易にし、かつ実際使用状態
での校正を行うことができるガスサンプリングプ
ローブの提供を図るものである。すなわち被測定
ガス導入管吸込口をガスの流れに沿つた流線形
で、かつ下流側に開口部を有するダストカバーで
覆い、このダストカバー内の空間にアンモニアガ
スを所定濃度含有する校正用アンモニア標準ガス
を供給するパイプを開口したことを特徴とする煙
道ガス中のNH3濃度測定装置のガスサンプリング
プローブにかかるものである。
以下図面によつてこの考案の実施例を説明す
る。第2図はこの考案のガスサンプリングプロー
ブの構成を示す断面図で、2はたとえば排煙道で
その壁2Fを貫通してサンプリング管座31が固
定されている。このサンプリング管座のフランジ
31Fにプローブパイプ32,33とその中間部
に細い金属(たとえばTi製)パイプ34が標準
ガス供給パイプとして係合されている。上記32
のプローブパイプは、NH3+NOxをNOに変換し
検出する第1図で説明した第1の系のもので、
プローブパイプ内に酸化触媒35を設けている。
この触媒は金属酸化物の粒状・ペレツト状または
蜂の巣状のものである。36は触媒35を所定の
高温度に加熱するヒータで、36Eはその電源で
ある。一方のプローブパイプ33は第1図で説明
したNOx→NOに変換検出する第2の系のもの
で、上記のプローブパイプ32と先端部において
第3図にその正面図を示す密閉式ダストカバー3
7によつて連通している。第3図の2Gは煙道内
のガスの流れの方向を示すものでその流速υは通
常数m/secであるが、ダストカバー37の周辺
部2G′,2G″は過渡的にυが上昇する。その慣
性を利用して、ガス吸引口38を下流側に設けた
ことで粒度の大きいダストは流れ去り、ガス体と
微細な軽いダストだけが32,33のプローブパ
イプに流入することとなる。これが従来装置に用
いていたダストフイルタ(第1図4)を必要とし
ない理由であり、このためダストフイルタでの
NH3の吸着損失をなくする効果を有するものであ
る。このダストカバー37の内部空間37RにT
字形に突出しているのが上記の細いパイプ34の
先端で、その両端に開口孔34Hを設けている。
なおこのパイプ34につながる配管中にストツプ
バルブ39が設けてある。この構成によつて上記
したNH3酸化触媒35の酸化効率を校正するばあ
いは校正用ガスSGを必要量たとえば数/min
以上になるよう加圧導入することで被測定ガス吸
引孔38は閉じる必要がなく、容易に上記校正が
行えるのである。なおこの標準ガス用パイプ34
に計装用圧縮空気Aを導入すれば、ダストカバー
内部37Rの清洗やプローブパイプ・その他配管
内の清洗が行えるものである。
る。第2図はこの考案のガスサンプリングプロー
ブの構成を示す断面図で、2はたとえば排煙道で
その壁2Fを貫通してサンプリング管座31が固
定されている。このサンプリング管座のフランジ
31Fにプローブパイプ32,33とその中間部
に細い金属(たとえばTi製)パイプ34が標準
ガス供給パイプとして係合されている。上記32
のプローブパイプは、NH3+NOxをNOに変換し
検出する第1図で説明した第1の系のもので、
プローブパイプ内に酸化触媒35を設けている。
この触媒は金属酸化物の粒状・ペレツト状または
蜂の巣状のものである。36は触媒35を所定の
高温度に加熱するヒータで、36Eはその電源で
ある。一方のプローブパイプ33は第1図で説明
したNOx→NOに変換検出する第2の系のもの
で、上記のプローブパイプ32と先端部において
第3図にその正面図を示す密閉式ダストカバー3
7によつて連通している。第3図の2Gは煙道内
のガスの流れの方向を示すものでその流速υは通
常数m/secであるが、ダストカバー37の周辺
部2G′,2G″は過渡的にυが上昇する。その慣
性を利用して、ガス吸引口38を下流側に設けた
ことで粒度の大きいダストは流れ去り、ガス体と
微細な軽いダストだけが32,33のプローブパ
イプに流入することとなる。これが従来装置に用
いていたダストフイルタ(第1図4)を必要とし
ない理由であり、このためダストフイルタでの
NH3の吸着損失をなくする効果を有するものであ
る。このダストカバー37の内部空間37RにT
字形に突出しているのが上記の細いパイプ34の
先端で、その両端に開口孔34Hを設けている。
なおこのパイプ34につながる配管中にストツプ
バルブ39が設けてある。この構成によつて上記
したNH3酸化触媒35の酸化効率を校正するばあ
いは校正用ガスSGを必要量たとえば数/min
以上になるよう加圧導入することで被測定ガス吸
引孔38は閉じる必要がなく、容易に上記校正が
行えるのである。なおこの標準ガス用パイプ34
に計装用圧縮空気Aを導入すれば、ダストカバー
内部37Rの清洗やプローブパイプ・その他配管
内の清洗が行えるものである。
以上がこの考案のガスサンプリングプローブの
実施例装置の構成と作用であるが、この構成は説
明したNH3濃度測定装置のNH3酸化器の校正だけ
に限らず、分析部の校正用にもそのまま使用でき
る。
実施例装置の構成と作用であるが、この構成は説
明したNH3濃度測定装置のNH3酸化器の校正だけ
に限らず、分析部の校正用にもそのまま使用でき
る。
この考案は以上のように構成されているので、
従来の化学発光式NH3濃度測定装置のNH3酸化触
媒の校正がやりにくく、かつ正確を欠いている欠
点を解消し、校正用パイプに標準ガスを加圧導入
するだけの操作で能率良く、各部の配管を使用状
態にしたまま校正するのでNH3の変換効率が正確
に検定できる便宜な装置を提供しえたものであ
る。
従来の化学発光式NH3濃度測定装置のNH3酸化触
媒の校正がやりにくく、かつ正確を欠いている欠
点を解消し、校正用パイプに標準ガスを加圧導入
するだけの操作で能率良く、各部の配管を使用状
態にしたまま校正するのでNH3の変換効率が正確
に検定できる便宜な装置を提供しえたものであ
る。
第1図は従来の化学発光式NH3濃度測定装置の
全体の構成と、とくにNH3酸化器を含むサンプリ
ングプローブ部の構造を説明する図、第2図はこ
の考案のガスサンプリングプローブの構成を示す
側断面図、第3図は上記プローブパイプ先端のダ
ストカバーの正面図とその作用説明図である。 2G……被測定ガス、……NH3→NOならび
にNOx→NOの変換をする第1の系、……NOx
→NOの変換をする第2の系、D1……上記第1の
系でのNO濃度検出値、D2……上記第2の系
でのNO濃度検出値、D1−D2……NH3濃度に対応
するNO濃度差、32,33……被測定ガスサン
プリングプローブパイプ、37……上記プローブ
パイプ先端を貫通するダストカバー、37R……
ダストカバー内の連通空間、34……標準ガスな
どの供給パイプ、34H……上記34パイプの開
口孔、38……上記ダストカバーのガス吸入孔。
全体の構成と、とくにNH3酸化器を含むサンプリ
ングプローブ部の構造を説明する図、第2図はこ
の考案のガスサンプリングプローブの構成を示す
側断面図、第3図は上記プローブパイプ先端のダ
ストカバーの正面図とその作用説明図である。 2G……被測定ガス、……NH3→NOならび
にNOx→NOの変換をする第1の系、……NOx
→NOの変換をする第2の系、D1……上記第1の
系でのNO濃度検出値、D2……上記第2の系
でのNO濃度検出値、D1−D2……NH3濃度に対応
するNO濃度差、32,33……被測定ガスサン
プリングプローブパイプ、37……上記プローブ
パイプ先端を貫通するダストカバー、37R……
ダストカバー内の連通空間、34……標準ガスな
どの供給パイプ、34H……上記34パイプの開
口孔、38……上記ダストカバーのガス吸入孔。
Claims (1)
- 被測定ガス導入管吸込口をガスの流れに沿つた
流線形で、かつ下流側に開口部を有するダストカ
バーで覆い、このダストカバー内の空間にアンモ
ニアガスを所定濃度含有する校正用アンモニア標
準ガスを供給するパイプを開口したことを特徴と
する煙道ガス中のNH3濃度測定装置のガスサンプ
リングプローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9512980U JPS6242352Y2 (ja) | 1980-07-04 | 1980-07-04 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9512980U JPS6242352Y2 (ja) | 1980-07-04 | 1980-07-04 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5719446U JPS5719446U (ja) | 1982-02-01 |
| JPS6242352Y2 true JPS6242352Y2 (ja) | 1987-10-30 |
Family
ID=29457043
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9512980U Expired JPS6242352Y2 (ja) | 1980-07-04 | 1980-07-04 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6242352Y2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58130264U (ja) * | 1982-02-26 | 1983-09-02 | 三菱重工業株式会社 | アンモニア濃度測定装置 |
| JPS60192257A (ja) * | 1984-03-13 | 1985-09-30 | Horiba Ltd | アンモニア濃度測定装置 |
| JPH0714887Y2 (ja) * | 1989-09-28 | 1995-04-10 | 株式会社島津製作所 | アンモニア濃度測定装置 |
-
1980
- 1980-07-04 JP JP9512980U patent/JPS6242352Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5719446U (ja) | 1982-02-01 |
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