JPS6248446B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、絶縁被覆導体に係り、特にその被覆
長さの縮小化等を図つたものに関する。

従来、配電盤等の縮小化を図るべくその中に引
込まれる絶縁母線等の絶縁被覆導体は、支持碍子
等の絶縁支持部材を介し壁または隔壁等に取付け
たブラケツトの如き接地固定系に支持されるのが
普通であるが、この絶縁被覆導体に分岐母線等の
裸導体を接続する場合には、一部の被覆物を剥離
しなければならず、このため絶縁支持部材による
支持部分と裸導体が接続される部分との間の絶縁
被覆導体の長さを大きくしなければならない等の
問題がある。

本発明は、上述した問題に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、絶縁支持部材によ
る支持部分と裸導体の接続部分との間の長さを低
減し、もつて配電盤等の縮小化をなし得るように
した絶縁被覆導体の提供にある。以下、図面を参
照してこの発明の一実施例を詳細に説明する。

本発明に係る絶縁被覆導体１は、配電盤（図示
省略）等の縮小化を図るべくその中に引込まれ配
設されるもので、第１図に示すように、エポキシ
樹脂等の被覆物２ａにより導体２の外周を被覆し
て構成されている。また、絶縁被覆導体１は、分
岐母線等の裸導体（図示省略）を接続すべくその
一部の被覆物２ａが剥離されるとともに、これを
配電盤等の壁または隔壁に固着したブラケツトの
如き接地固定系３に磁器または樹脂からなる支持
碍子の如き絶縁支持部材４を介し絶縁して支持さ
れている。そして、絶縁被覆導体１における被覆
物２ａの端部（図において左端）付近および絶縁
支持部材４付近の外周には、フランジ状の第１の
ひだ５および第２のひだ６が一体的に設けられて
いるとともに、この第１のひだ５と第２のひだ６
との間の間隔ｌの中間部付近（1/2ｌ）の被覆物
２ａの外周には、フランジ状の第３のひだ７が一
体的に設けられている。

前記各ひだ５，６，７は、フラツシオーバ時に
おけるせん絡の進展を阻止する機能等を果たすも
ので、ほぼ同一の外径寸法および形状にしてかつ
被覆物と同一材質の材料から形成されており、第
１のひだ５および第２のひだ６は、製作上の便宜
等を考慮し、被覆物の端部および絶縁支持部材４
から両者間の間隔の10％以内の位置に設けられて
いる。また、被覆物２ａ、各ひだ５，６，７の肉
厚および各ひだ５，６，７の外径寸法は、後述す
る如く背後電極系における沿面絶縁破壊の閃絡電
圧の一般式により、被覆物２ａの端部と絶縁支持
部材４との間の極間距離（沿面距離）および被覆
物２ａ等を形成する誘電体の静電容量等により決
定されるものである。

ここで、一端を閉塞したエポキシ樹脂からなる
有底円筒状の長さ約700ｍ／ｍのケース８内に、
導体２と対応する外径30ｍ／ｍの一方の電極９
を、第２図および第３図に示すように挿着すると
ともに、ケース８の底部側（第２図において左
側）の外周に支持碍子４（接地固定系３）と対応
するリング状の他方の電極１０を嵌着し、またケ
ース８の底部側および開口部側の外周に、外径90
ｍ／ｍのリング円板状の第１、第２のひだ１１，
１２を第２の電極１０との間およびケース８の開
口端との間をそれぞれ100ｍ／ｍとしかつ第１、
第２のひだ１１，１２相互間の長さを500ｍ／ｍ
として嵌着するとともに、第１、第２のひだ１
１，１２間に位置せしめるが如くしてこれらのひ
だ１１，１２と同形状の第３のひだ１３をケース
８に摺動自在に嵌装した模擬試験装置を用い、第
１、第２の電極９，１０間に正極性および負極性
のインパルス電圧を印加した場合における閃絡値
特性は、横軸に第２のひだ１２と第３のひだ１３
との間の距離ｌ（ｍ／ｍ）、縦軸に50％インパル
スフラツシオーバ電圧50％F.O.V.（KV）をとつ
た第４図において曲線ＡおよびＢで示すようにな
つた。

なお、第４図において曲線ＣおよびＤは、第
１、第２のひだ１１，１２を用いることなく、第
３のひだ１３のみによる正極性インパルスおよび
負極性インパルスを両電極９，１０間に印加した
場合の閃絡値特性、また直線ＥおよびＦは、いず
れのひだ１１，１２，１３をも用いずに、正極性
インパルスおよび負極性インパルスを両電極９，
１０間に印加した場合の閃絡値特性を示すもので
ある。

また、上述した模擬試験装置を用いるととも
に、第５図に示すように、第１、第２のひだ１
１，１２の間にさらにも１枚の、都合２枚の第３
のひだ１３ａ，１３ｂをケース８に摺動自在に嵌
装するとともに、第１のひだ１１と一方（第５図
において左方）の第３のひだ１３ａとの間および
第２のひだ１２と他方の第３のひだ１３ｂとの間
の間隔ｌ、ｌを両者等しく保持しながら変化さ
せ、かつ第１、第２の電極９，１０間に正極性お
よび負極性のインパルス電圧を印加した場合にお
ける閃絡値特性は、横軸に第１、第２のひだ１
１，１２と各第３のひだ１３ａ，１３ｂとの間の
間隔ｌ（ｍ／ｍ）、縦軸に50％インパルスフラツ
シオーバ電圧50％Ｆ、Ｏ、Ｖ（KV）をとつた第
６図において曲線ＡおよびＢで示すようになつ
た。

したがつて、誘電体であるケース８の両端部付
近にそれぞれ１枚のひだを設けるとともに、これ
らのひだの中間部付近に少なくとも１枚のひだを
設けることにより、沿面閃絡値を飛躍的に高め得
ることが判る。

さらに、被覆物２ａの肉厚と沿面閃絡値との関
係は、第７図および第８図に示すように、膜厚１
〜２ｍ／ｍの被覆チユーブ１４により一部被覆さ
れた平角導体（５×50ｍ／ｍ）を一方の電極１５
とするとともに、この電極１５に内径80ｍ／ｍの
合成樹脂からなる絶縁筒１６を被覆チユーブ１４
に重畳するが如くして同心状に嵌装し、かつ絶縁
筒１６の外周に第２の電極１７を移動自在に嵌装
した模擬実験装置により実験した結果を表わした
第９図に示すようになつた。すなわち、第９図
は、横軸に絶縁筒１６の端部と第２の電極１７と
の間隔Ｌ（ｍ／ｍ）、縦軸に50％インパルスフラ
ツシオーバ電圧50％F.O.V.（KV）をとつたもの
で、曲線ＡおよびＢは、絶縁筒１６の肉厚ｔを５
ｍ／ｍとし、第１、第２の電極１５，１７間に正
極性および負極性のインパルスを印加した場合、
また曲線ＣおよびＤは、絶縁筒１６の肉厚ｔを25
ｍ／ｍとし、両電極１５，１７間に正極性および
負極性のインパルスを印加した場合、さらに曲線
ＥおよびＦは、絶縁筒１６の肉厚ｔを45ｍ／ｍと
し、同様に電極１５，１７間に正極性および負極
性のインパルスを印加した場合における閃絡値特
性を示すものである。

かかる絶縁筒１６の肉厚ｔと閃絡電圧（閃絡
値）Ｖとの関係は、 （Ｃ；固有静電容量、ｌ；極間距離、Ｋ_b；定数） なるテープラー（Toepler）の一般式を満足し、
また、かかる実験結果と、前述した各実験結果と
を勘案すると、各ひだ１１，１２，１３，１３
ａ，１３ｂは、ケース８の肉厚を一様に大きくし
たものと同等に取扱うことができ、各ひだ１１，
１２，１３，１３ａ，１３ｂの外径寸法を大きく
することによりケース８の長さの短縮、換言すれ
ば各第１、第２および第３のひだ５，６，７の外
径寸法の増大により被覆物２ａの長さ寸法の低
減、ひいては配電盤等の縮小化を図ることができ
るものである。

以上の如く本発明は、絶縁支持部材を介し接地
固定系に支持される絶縁被覆導体において、前記
絶縁被覆導体の被覆物の端部付近および前記絶縁
支持部材付近の外周に第１のひだおよび第２のひ
だを設けるとともに、第１のひだと第２のひだと
の中間部付近に第３のひだを設けたものであるか
ら、被覆物の端部と絶縁支持部材との間隔を大幅
に低減することができ、ひいては配電盤等の飛躍
的な縮小化をなし得る等の効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る絶縁被覆導体の一部を省
略した正面図、第２図および第３図はそれぞれひ
だを３枚とした場合の模擬実験装置の一部を破断
した正面図および端面図、第４図はひだを３枚と
して実験した場合の閃絡値特性の説明図、第５図
はひだを４枚とした場合の模擬実験装置の一部を
破断した正面図、第６図はひだを４枚として実験
した場合の閃絡値特性の説明図、第７図および第
８図はそれぞれ絶縁筒の肉厚等に対する閃絡値を
測定する模擬実験装置の正断面図および端面図、
第９図は絶縁筒の肉厚等の変化に対する閃絡値特
性の説明図である。 ２……導体、２ａ……被覆物、３……接地固定
系、４……絶縁支持部材、５……第１のひだ、６
……第２のひだ、７……第３のひだ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 絶縁支持部材を介し接地固定系に支持される
   絶縁被複導体において、前記絶縁被覆導体の被覆
   物の端部付近および前記絶縁支持部材付近の外周
   に第１のひだおよび第２のひだを設けるととも
   に、第１のひだと第２のひだとの中間部付近に第
   ３のひだを設けたことを特徴とする絶縁被覆導
   体。