JPS6251432B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6251432B2 JPS6251432B2 JP17156179A JP17156179A JPS6251432B2 JP S6251432 B2 JPS6251432 B2 JP S6251432B2 JP 17156179 A JP17156179 A JP 17156179A JP 17156179 A JP17156179 A JP 17156179A JP S6251432 B2 JPS6251432 B2 JP S6251432B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- sample
- samples
- signal generator
- given
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、多数のサンプルをテストする場合等
に用いられる測定装置に関する。
に用いられる測定装置に関する。
一般に多数のサンプルをテストする場合には、
第１図に示すように多数の信号発生器G1〜Ｇoと
多数の測定器D1〜Ｄoを用いて、サンプルT1〜Ｔ
oに個々に入力信号を与え個別にその出力信号を
測定する装置と、第２図に示すように１個の信号
発生器Goからの信号をスイツチSAで順次切換え
てサンプルT1〜Ｔoに与え、その出力をSAと同期
したスイツチSBで順次切換えて１個の測定器Do
で測定する装置が用いられている。第１図の装置
では連続的に測定できるが、信号発生器と測定器
がサンプルの数量だけ必要となり、不経済であ
り、かつスペースフアクタも大となる。一方第２
図の装置では測定対象時間以外は入力が与えられ
ないため、例えばサンプルの入力に対するヒステ
リシス特性、入力の増加方向と減少方向の特性な
どを測定する場合には正常な測定ができないこと
がある。
第１図に示すように多数の信号発生器G1〜Ｇoと
多数の測定器D1〜Ｄoを用いて、サンプルT1〜Ｔ
oに個々に入力信号を与え個別にその出力信号を
測定する装置と、第２図に示すように１個の信号
発生器Goからの信号をスイツチSAで順次切換え
てサンプルT1〜Ｔoに与え、その出力をSAと同期
したスイツチSBで順次切換えて１個の測定器Do
で測定する装置が用いられている。第１図の装置
では連続的に測定できるが、信号発生器と測定器
がサンプルの数量だけ必要となり、不経済であ
り、かつスペースフアクタも大となる。一方第２
図の装置では測定対象時間以外は入力が与えられ
ないため、例えばサンプルの入力に対するヒステ
リシス特性、入力の増加方向と減少方向の特性な
どを測定する場合には正常な測定ができないこと
がある。
本発明は、信号発生器からの信号を多数のサン
プルに切換えて与えているにもかかわらず、多数
のサンプルに対し個々に信号発生器を用いる場合
と同様にサンプルの特性を測定できる装置を実現
したものである。
プルに切換えて与えているにもかかわらず、多数
のサンプルに対し個々に信号発生器を用いる場合
と同様にサンプルの特性を測定できる装置を実現
したものである。
第３図は本発明測定装置の一実施例を示す接続
図である。第３図において第２図の従来例と異る
ところは、信号保持器H1〜Ｈoを設け、信号発生
器Goからの信号を切換スイツチSCを介して信号
保持器H1〜Ｈoに順次与え、信号保持器H1〜Ｈo
の出力を切換スイツチSDを介してサンプルT1〜
Ｔoにそれぞれ与える回路を付加した点である。
なおスイツチSCはスイツチSA，SBと同様に制御
回路TCからの信号によつてオンとなる接点がS1
→S2→…→Ｓoと切換わるのに対し、SDはオフと
なる接点がS1→S2→…→Ｓoと切換わるようにな
つている。
図である。第３図において第２図の従来例と異る
ところは、信号保持器H1〜Ｈoを設け、信号発生
器Goからの信号を切換スイツチSCを介して信号
保持器H1〜Ｈoに順次与え、信号保持器H1〜Ｈo
の出力を切換スイツチSDを介してサンプルT1〜
Ｔoにそれぞれ与える回路を付加した点である。
なおスイツチSCはスイツチSA，SBと同様に制御
回路TCからの信号によつてオンとなる接点がS1
→S2→…→Ｓoと切換わるのに対し、SDはオフと
なる接点がS1→S2→…→Ｓoと切換わるようにな
つている。
このように構成した本発明装置において、制御
回路TCからの指令で、スイツチSA，SB，SCの
各接点S1がオンになり、SDの接点S1がオフにな
ると、信号発生器Goからの信号がサンプルT1が
与えられ、その出力が測定器Doで測定される。
このとき信号保持器H1にも信号発生器Goから信
号が与えられる。またサンプルT2〜Ｔoには信号
保持器H2〜Ｈoでホールドされている信号がそれ
ぞれ与えられている。サンプルT1の測定が終了
すると制御回路TCの指令で切換スイツチSA，
SB，SCのオンとなる接点がS2に移り、SDのオフ
となる接点もS2に移る。その結果信号発生器Go
からの信号はサンプルT2と信号保持器H2に与え
られ、サンプルT2の特性の測定が行われる。こ
のとき信号保持器H1にはT1の測定終了時点のGo
の信号がホールドされており、この信号がT1に
与えられる。すなわちサンプルT1には測定終了
時点の入力信号が与え続けられる。またサンプル
T3〜Ｔoにも信号保持器H3〜Ｈoにホールドされ
た信号が続けて与えられる。このようにしてサン
プルT1〜Ｔoは制御回路TCの指令により順次そ
の特性が測定される。そして各サンプルには測定
対象時間以外にも信号保持器によつて信号が与え
続けられているので、例えばサンプルの入力に対
するヒステリシス特性、入力の増加方向と減少方
向の特性などを測定する場合にも正常な測定がで
きる。しかも各信号保持器H1〜Ｈoは対応するサ
ンプルの測定時における信号発生器Goからの信
号のみを保持するようにしているので、他のサン
プルの特性の影響を受けず相互干渉がない。
回路TCからの指令で、スイツチSA，SB，SCの
各接点S1がオンになり、SDの接点S1がオフにな
ると、信号発生器Goからの信号がサンプルT1が
与えられ、その出力が測定器Doで測定される。
このとき信号保持器H1にも信号発生器Goから信
号が与えられる。またサンプルT2〜Ｔoには信号
保持器H2〜Ｈoでホールドされている信号がそれ
ぞれ与えられている。サンプルT1の測定が終了
すると制御回路TCの指令で切換スイツチSA，
SB，SCのオンとなる接点がS2に移り、SDのオフ
となる接点もS2に移る。その結果信号発生器Go
からの信号はサンプルT2と信号保持器H2に与え
られ、サンプルT2の特性の測定が行われる。こ
のとき信号保持器H1にはT1の測定終了時点のGo
の信号がホールドされており、この信号がT1に
与えられる。すなわちサンプルT1には測定終了
時点の入力信号が与え続けられる。またサンプル
T3〜Ｔoにも信号保持器H3〜Ｈoにホールドされ
た信号が続けて与えられる。このようにしてサン
プルT1〜Ｔoは制御回路TCの指令により順次そ
の特性が測定される。そして各サンプルには測定
対象時間以外にも信号保持器によつて信号が与え
続けられているので、例えばサンプルの入力に対
するヒステリシス特性、入力の増加方向と減少方
向の特性などを測定する場合にも正常な測定がで
きる。しかも各信号保持器H1〜Ｈoは対応するサ
ンプルの測定時における信号発生器Goからの信
号のみを保持するようにしているので、他のサン
プルの特性の影響を受けず相互干渉がない。
なお信号保持器H1〜ＨoはサンプルT1〜Ｔoが
順次切換られて測定されるので、それ程厳密なホ
ールド特性は不要であり、例えば信号発生器Go
からの信号が直流電圧の場合には第４図に示すよ
うに、ホールド用コンデンサＣと演算増幅器OP
のバツフアとの組合せからなる簡単な構成のもの
を用いることができる。また上述では電気信号系
を例示して説明したが、空気信号系にも適用でき
る。この場合各構成要素は空気信号系に適合する
ものが用いられ、例えば切換スイツチSA，SB，
SDとしては切換弁が用いられる。さらに上述で
は１個の測定器Doを用いる場合を例示したが、
各サンプルに対応して測定器をそれぞれ設けても
よい。
順次切換られて測定されるので、それ程厳密なホ
ールド特性は不要であり、例えば信号発生器Go
からの信号が直流電圧の場合には第４図に示すよ
うに、ホールド用コンデンサＣと演算増幅器OP
のバツフアとの組合せからなる簡単な構成のもの
を用いることができる。また上述では電気信号系
を例示して説明したが、空気信号系にも適用でき
る。この場合各構成要素は空気信号系に適合する
ものが用いられ、例えば切換スイツチSA，SB，
SDとしては切換弁が用いられる。さらに上述で
は１個の測定器Doを用いる場合を例示したが、
各サンプルに対応して測定器をそれぞれ設けても
よい。
以上説明したように本発明においては、信号発
生器からの信号を多数のサンプルに切換えて与え
ているにもかかわらず、多数のサンプルに対し
個々に信号発生器を用いる場合と同様に各サンプ
ルの特性を個別に測定できる装置が得られる。
生器からの信号を多数のサンプルに切換えて与え
ているにもかかわらず、多数のサンプルに対し
個々に信号発生器を用いる場合と同様に各サンプ
ルの特性を個別に測定できる装置が得られる。
第１図および第２図は従来装置の接続図、第３
図は本発明装置の一実施例を示す接続図、第４図
は本発明装置に用いる信号保持器の一例を示す接
続図である。 Go……信号発生器、Do……測定器、T1〜Ｔo…
…サンプル、H1〜Ｈo……信号保持器、SA，
SB，SC，SD……切換スイツチ、TC……制御回
路。
図は本発明装置の一実施例を示す接続図、第４図
は本発明装置に用いる信号保持器の一例を示す接
続図である。 Go……信号発生器、Do……測定器、T1〜Ｔo…
…サンプル、H1〜Ｈo……信号保持器、SA，
SB，SC，SD……切換スイツチ、TC……制御回
路。
Claims (1)
- １ 信号発生器からの信号を多数のサンプルに切
換えて与え、多数のサンプルの特性を個別に測定
する装置において、各サンプルに対応してそれぞ
れ信号保持器を設け、対応するサンプルが測定状
態のときのみ信号発生器からの信号を与え、対応
するサンプルが測定状態でないときにホールドし
た信号をサンプルに与えるようにしたことを特徴
とする測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17156179A JPS5693055A (en) | 1979-12-27 | 1979-12-27 | Measurement device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17156179A JPS5693055A (en) | 1979-12-27 | 1979-12-27 | Measurement device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5693055A JPS5693055A (en) | 1981-07-28 |
| JPS6251432B2 true JPS6251432B2 (ja) | 1987-10-29 |
Family
ID=15925411
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17156179A Granted JPS5693055A (en) | 1979-12-27 | 1979-12-27 | Measurement device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5693055A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0827320B2 (ja) * | 1987-01-21 | 1996-03-21 | 松下電器産業株式会社 | 信号発生制御装置 |
-
1979
- 1979-12-27 JP JP17156179A patent/JPS5693055A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5693055A (en) | 1981-07-28 |
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