JPS6252256B2

JPS6252256B2 -

Info

Publication number: JPS6252256B2
Application number: JP3731179A
Authority: JP
Inventors: Kan Ooteru; Tomokazu Kato; Shuji Hashimoto; Yutaka Watanabe; Toshio Tanaka; Juichi Sato
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 1979-03-29
Filing date: 1979-03-29
Publication date: 1987-11-04
Also published as: JPS55129731A

Description

【発明の詳細な説明】本発明は錠剤の欠陥を自動的に検出する装置、
特に製造工程中において、錠剤の形状欠陥を高精
度でかつリアルタイムで検出する装置に関するも
のである。

医薬品メーカでは、製品の衛生管理、品質管理
には特に注意を払つており、不良品の発生を厳し
く抑えている。しかし、医薬品の需要拡大に伴な
い、医薬品製造も自動化による大量生産を余儀な
くされ、生産工程中に機械のミスその他の種々の
原因により人目に触れず欠陥品が生ずることがあ
る。そのため医薬品を包装する工程以前に不良品
を検査する工程が必要となる。現在のところ、そ
の検査工程は大量の人員による目視検査に頼つて
いる場合が殆んである。人間の目視検査は、人間
の高度な認識能力による優れた検査であることは
言うまでもない。しかし、特に量産ラインの目視
検査では単調な繰返し作業のため、時間の経過と
ともに頭脳の判断機能が低下し、また異常に強い
光の照射による目の疲労も著しい。実際の作業で
は、例えば15分の目視検査後、必らず５分の休憩
をとつている。したがつて目視検査では持続的に
安定した検査精度が得られず、また多大な労力を
要するのが現状であり、その自動化が強く望まれ
ている。

一般に量産ラインでの検査工程を自動化する場
合には連続的に移動する物体をブレなく撮像し、
不良品を適確に識別する機能が必要となる。特に
錠剤の検査では、カケ、ワレ、変形等の形状不
良、表面にゴミ、金属片などが付着しているゴミ
異物不良、糖衣表面に印刷がある場合は印刷不良
など多くの種類の欠陥を検査する必要があると共
に微少なカケ、ワレ、ゴミ、異物までも検出でき
るように高分解能が要求される。

現在提案されている錠剤検査装置としては、回
転するドラムの周縁に負圧により錠剤を吸着保持
し、これをストロボにより瞬間的に照明し、その
像をITVカメラにより撮像し、ITVカメラの出力
映像信号を不良品判定回路で処理するものであ
る。この判定回路では例えば錠剤の面積を計測
し、これと基準値との大小を比較して、良品、不
良品の判別を行なつている。しかしこのような錠
剤検査装置は、高分解能を得難い欠点がある。す
なわち高分解能を得るために、ストロボ照明の点
灯時間、点灯の立ち上がり、立ち下がり特性、
ITVカメラの残像特性等を適正に設定するのが難
かしく、照明装置の製作が困難であり、光源の寿
命が短かく経済的に問題がある。また、錠剤の総
面積を比較して良否の判別を行なつているため形
状に異常があつても面積が正常の錠剤の面積に等
しいものは不良品として判別できない欠点があ
る。さらにこの装置ではカケ、ワレ等の形状不良
と、ゴミ異物不良とを区別することができない。
製造工程の管理を行なうにはこれらの不良を区別
して検出できる方が好ましい場合もある。

さらに高速走査が可能で、高分解能であるた
め、高速移動物体の撮像が可能なフライングスポ
ツトスキヤナを用いた欠陥検出装置も考えられる
が、錠剤検査の場合には錠剤表面が曲面となつて
いることが多いため、シエージングの補正が特に
難かしいと共に暗室内で撮像する必要があるた
め、実用的でない。

また、高分解能が得られる撮像装置として、イ
メージデイセクタ管やホトダイオードアレイ等も
あるが、前者は装置が大形になり易く、物体の移
動速度が高速の場合、ボケを考慮した積分時間と
感度との関係に配慮が必要となり、後者はリニア
アレイを順次に走査するため、物体の移動方向に
１メツシユづつずれが生ずる欠点があり、錠剤の
欠陥検出には適していない。

近年、高感度で高速駆動が可能なCCDリニア
アレイが開発され、高速移動物体に対してもボケ
の少ない撮像ができるようになつた。このような
CCDリニアアレイは高感度、入射光量に対する
直線性の良さ、入射光量の範囲の広さ、外部クロ
ツクパルスによる高速走査が可能であるなどの特
長を有すると共にホトダイオードアレイとは異な
り、内部にアナログシフトレジスタを持ち、受光
部のビデオデータを全メツシユ同時にアナログシ
フトレジスタにストアできるため、物体の移動方
向にずれが全く生じないので、２次元画像走査に
歪みがなく、錠剤の生産ライン上での検査には最
も適している。

このようなCCDリニアアレイを用いて錠剤の
欠陥、特にカケ、ヒビ等の形状欠陥を検出する場
合、CCDリニアアレイから得られる映像情報を
どのように処理するのかが問題となる。例えば上
述したストロボ照明によるITVカメラの場合と同
様に錠剤の面積を測定し、これを基準値と比較す
る方法が考えられるが、上述したところと同様に
形状の欠陥はあるが表面積が規定値の錠剤を欠陥
品として検出できない。また錠剤のエツジの滑ら
かさに注目し、各走査ラインの幅変化の一階差分
または二階差分の符号の変化を調べることによつ
てカケを検出することができるが、滑らかなカケ
を検出することができないと共に判定回路の構成
が複雑となる欠点がある。

本発明の目的は、上述したCCDリニアアレイ
を用い、錠剤のカケ、ワレ、変形などの形状不良
をきわめて高精度で検出することができ、しかも
構成が簡単な錠剤欠陥の自動検査装置を提供しよ
うとするものである。

本発明による錠剤欠陥の自動検査装置は、軸線
に関して対称な形状を有する錠剤を検査位置を経
て前記軸線の方向に搬送する機構と、検査位置に
ある錠剤の像を形成する光学系と、この錠剤の像
を撮像し、これを錠剤の移動方向、すなわち前記
軸線の方向に対して直角な方向に走査するCCD
リニアアレイと、このリニアアレイから出力され
る画像信号を受け、前記走査方向における錠剤の
端点間の中心位置の座標を求め、一つの錠剤につ
いての各走査ラインにおける前記中心位置の、前
記走査方向における座標の変動が所定の範囲内に
あるか否かを検出し、正常な錠剤は前記軸線に対
する対称性により各走査ラインにおける中心位置
の座標が前記の所定の範囲内にあることを利用し
て錠剤の形状の良否を判定する欠陥検出回路とを
具えることを特徴とするものである。

上述したように、本発明においては、錠剤を、
その対称軸線がCCDリニアアレイの走査方向に
対して直交するように搬送するが、円形の錠剤の
場合にはどの直径に対しても対称であるから錠剤
を特別に姿勢制御する必要はない。

以下図面を参照して本発明を詳細に説明する。

第１図は本発明による装置によつて検出すべき
錠剤の種々の欠陥を平す平面図である。

第１図ａは錠剤の端または表面が欠けているも
のであり、これをカケ不良と称する。

第１図ｂは錠剤に大きな割目が入つているもの
で、これをワレ不良と称する。

第１図ｃは変形不良を示し、へこみ、ふくらみ
があつたり、２つの錠剤が結合するなどして形状
が円形からずれているものを示す。

第１図ｄは糖衣にコーテイングむらやボタ落ち
があるもので、これをボツ不良と称する。

第１図ｅは表面にコブ状の突起があるもので、
コブ不良と称する。

以上が形状不良の代表的なものであり、場合に
よつては、これらが重畳して現われることもあ
る。この他の錠剤の欠陥としてはゴミ等が混入ま
たは付着しているものとか、糖衣に金属光沢の金
属片が混入または付着しているものがある。また
錠剤表面に、厚生省令で定めた医薬品等に使用す
ることができる色素で数字、記号を印刷したもの
があるが、この印刷不良の錠剤も欠陥品として除
去する必要がある。この印刷不良には、本来ある
べき印字が全くない印刷なし不良、あるべき印字
の一部がない印刷欠け不良、印字が本来あるべき
位置からずれて印刷されている印刷ずれ不良、印
字がかすれている印刷かすれ不良、同じ面に２度
印刷してしまつた２重印刷不良、インキの飛沫が
付着してしまつた印刷飛沫不良などの種類があ
る。

このように錠剤の欠陥は多種多様であると共に
極く僅かな欠陥をも検出して除去しなければなら
ず、欠陥検出装置の分解能は相当高いものが要求
される。さらに自動機械による大量生産ライン中
において、例えば秒速40cmという高速移動下にお
いてリアルタイムで欠陥を検出しなければなら
ず、実用的な装置を実現することは非常に難かし
い。

第２図は本発明による錠剤欠陥の自動検出装置
の一例の構成を示すブロツク図である。生産工程
から順次に送られてくる錠剤は供給がイド１を経
て第１の保持ドラム２に達する。この保持ドラム
２は反時計方向に定速度で回転し、その周縁の所
定位置に負圧により錠剤Ｔを保持するものであ
る。この錠剤Ｔは最初に第１検査位置３に達し、
表面の検査が行なわれる。このために、この第１
検査位置３には照明ランプ４、レンズ５および
CCDリニアアレイ６を配置する。このリニアア
レイ６の駆動回路および良否判定回路等を含む制
御処理回路７を設ける。この回路については後に
詳細に説明する。

表面の検査が終了し、不良品であると判定され
た錠剤Ｔは廃棄ガイド８の位置でドラム２から離
される。また良品であると判定されたら錠剤受授
位置９に送られ、第２の錠剤保持ドラム１０の周
縁に同じく負圧により保持される。この際錠剤の
裏面が外方を向くことになる。この錠剤Ｔは第２
の検査位置１１に送られ、裏面が検査される。こ
の検査は上述した表面の検査と全く同じように行
なわれる。この第２検査位置１１には照明ランプ
１２、レンズ１３およびCCDリニアアレイ１４
を配置すると共にリニアアレイ１４には制御、処
理回路１５を接続する。この回路により良否の判
別が行なわれ、不良品は廃棄ガイド１６を経て廃
棄され、良品は収集ガイド１７の位置でドラム１
０から離され、後続の製造ラインへ送られる。上
述したところから明らかなように、錠剤Ｔの表面
および裏面の検査装置は全く同じものであるか
ら、一方についてのみ以下詳細に説明する。

第３図は光学系の構成を示す線図である。本例
では光源ランプ１２として超高圧直流点灯水銀ラ
ンプを用い、コリメータレンズ１８で集束し、さ
らに緑色の干渉フイルタ１９に通し、主に5461Å
の光を用いる。この水銀ランプ１２からの光を錠
剤Ｔに斜めから照射するが、この際錠剤表面をで
きるだけ一杯に照明するために、ミラー２０を配
置する。CCDリニアアレイ１４としては、例え
ば256メツシユで、１メツシユの大きさが13×17
μｍ、ピツチが13μｍのものを用いる。このよう
なリニアアレイ１４の受光部の長さは約３mmであ
り、錠剤Ｔの直径を約１cmとすると、レンズ１３
の倍率を約1/3倍とすればよい。

このような光学系を採用することにより、ドラ
ム１０の周縁に保持された錠剤Ｔの像をCCDリ
ニアアレイ１４の受光部上に結像することができ
る。この場合ドラム１０が矢印で示すように時針
方向に回転するが、この回転方向をCCDリニア
アレイ１４の走査方向に対して直角とすることに
より、錠剤Ｔを停止させることなく、二次元画像
走査を行なうことができる。

第２図に示すように、CCDリニアアレイ１４
に接続した制御、処理回路１５には、CCD駆動
回路２４を設ける。この駆動回路にはクロツクパ
ルス発生器２２から、例えば10MHzのクロツクパ
ルスを供給し、CCDリニアアレイ１４を、１ラ
イン走査時間25.6μsec、帰線時間2.6μsec、各
メツシユの積分時間28.2μsecとなるように駆動
する。CCDリニアアレイ１４では256メツシユの
アナログ信号が同時に256メツシユのアナログメ
モリにストアされ、読出しはその後順次に行なわ
れる。このようにしてCCDリニアアレイ１４か
ら読出された画像信号は２値化回路２３へ送られ
る。この２値化回路２３には閾値回路２４から光
むら等のシエーデイング効果を減ずるため原信号
の明暗に応じて変化する閾値または一定振幅の閾
値をも供給し、画像信号を２値信号に変換する。
このように２値化された画像情報をさらにサンプ
ルホールド回路２５に供給する。CCDリニアア
レイ１４の出力画像信号は各メツシユ毎のパルス
電圧信号になつているため、２値化後もメツシユ
毎のパルス波形となつており、サンプルホールド
回路２５では後段の処理のためにクロツクパルス
発生器２２からのクロツクパルスによりサンプル
ホールドする。

サンプルホールド回路２５の出力画像信号は次
にカケ不良、ワレ不良、変形不良などの形状不良
検出回路（以下カケ検出回路と略称する）２６に
供給されると同時にゴミ、異物等の付着によるゴ
ミ異物不良および印刷不良検出回路（以下ゴミ検
出回路と略称する）２７に供給される。これらの
検出回路２６および２７についてはさらに後に詳
述する。カケ検出回路２６およびゴミ検出回路２
７の検出出力は欠陥表示部２８に供給され、例え
ば発光ダイオードを点灯させて不良品が検出され
たことを表示する。これと同時にこの検出出力
は、錠剤保持ドラム１０に錠剤Ｔを保持する負圧
の制御機構（図示せず）にも送られ、不良の錠剤
Ｔが廃棄ガイド１６の上方に達したときに負圧を
断ち、錠剤をガイド内に落下させる。

次にカケ検出回路２６の動作原理、構成につい
て説明する。今、錠剤ＴをCCDリニアアレイ１
４の方から眺めたときには、円形であるとする
と、カケ、ワレ、ヒビ、変形等の形状に不良があ
る場合には真円からずれることになる。本発明で
はこの点に着目し、円からのずれを検出すること
により形状不良の検出を行なうものである。

第４図は形状不良のない錠剤Ｔを示すものであ
り、横軸ｘは錠剤の移動方向を示し、縦軸ｙは
CCDリニアアレイ１４の走査方向を示すもので
ある。今或る走査ラインを考えた場合、錠剤Ｔの
端点の座標y₁およびy₂はCCDリニアアレイ１４の
出力画像信号から容易にしかも正確に知ることが
できる。したがつてこれら端点の中心の座標
ｙ_１＋ｙ_２／２を求めることができる。錠剤Ｔが真円で
ある場合には、その対称性から順次の走査ラインに
ついて求めた中心座標は破線で示すように常に一
定の値となる。

これに対し、第５図に示すようなカケ不良があ
る錠剤Ｔでは、対称性がなくなるため、各走査ラ
インについて求めた中心座標は、破線で示すよう
にカケの状態に対応して変動することになり、一
定値とはならない。したがつて、カケ、ワレ、ヒ
ビ、変形などの形状不良を検出するには、各走査
ライン毎に錠剤Ｔの端点y₁，y₂から中心座標
ｙ_１＋ｙ_２／２を検出し、一つの錠剤内でのｙ_１＋ｙ_２／２の最大偏差を特徴量とすればよい。すなわち正常な錠剤
に対するｙ_１＋ｙ_２／２の最大偏差の許容誤差をεとす
れば、Ｍ_ax｛ｙ_１＋ｙ_２／２｝−Ｍ_io｛ｙ_１＋ｙ_２／２｝＜
ε のときは正常錠剤であり、Ｍ_ax｛ｙ_１＋ｙ_２／２｝−Ｍ_io｛ｙ_１＋ｙ_２／２｝≧
ε のとき異常錠剤であると判断すればよい。

次に第６図に示す回路図および第７図に示す信
号波形図を参照して、上述した動作原理に基づい
て形状不良を検出する回路の一例を説明する。本
例の回路は大きく分けて、前端点検出部３０、後
端点検出部３１、中心座標検出部３２、最大偏差
検出部３３および比較判定部３４より構成されて
いる。

先ず前端点検出部３０は第４図および第５図に
示す錠剤の一方の端点y₁の位置を検出するもので
ある。CCDリニアアレイ１４から供給される２
値画像信号は錠剤Ｔの端付近ではバタツキを生ず
る恐れがあるから、これをそのまま使用して端点
を決めることができない。今錠剤表面からの２値
信号は高レベルにあり、これを「１」とし、ドラ
ム１０の表面からの２値信号は低レベルにあり、
これを「０」として表わすと錠剤前端では信号は
「０」から「１」に変化することになるが、これ
が……111010000………，……111001100……のよ
うに変動することがある。そこで本例では端子３
５に供給される２値化画像信号を４ビツトのシフ
トレジスタ３６に供給する。このシフトレジスタ
の最初の３段はそのままANDゲート３７に接続
するが、最終段はインバータ３８を介してAND
ゲート３７に接続する。したがつて入力２値化画
像信号が1110となつたときに、ANDゲート３７
の出力は「０」から「１」に変化することにな
り、上述した変動の影響を除くことができる。

また、第４図、第５図に示す錠剤Ｔの後端点y₂
を検出する後端点検出部３１も同様に４ビツトの
シフトレジスタ３９、ANDゲート４０およびイ
ンバータ４１を以つて構成し、シフトレジスタ３
９の最初の３段をインバータ４１を介してAND
ゲート４０に接続する。したがつてこの場合には
入力画像信号が0001となつたときにANDゲート
４０の出力は「０」から「１」へ変化し、後端点
における信号のバラツキの影響を除くことができ
る。

第７図ａは検査すべき錠剤Ｔを示し、今説明の
便宜上その直径を走査しているものとする。第７
図ｂはCCDリニアアレイ１４の駆動用クロツク
パルスであり、上述した例に従つて256個のクロ
ツクパルスで読出しが行なわれる。第７図ｃは
CCDリニアアレイ１４から読出された２値画像
信号を示し、この信号が入力端子３５に供給さ
れ、ANDゲート３７の出力端子には第７図ｄに
示す前端点検出パルスが現われ、ANDゲート４
０の出力端子には第７図ｅに示す後端点検出パル
スが現われる。

これらの端点検出パルスをフリツプフロツプに
より構成された信号成形回路４２に供給し、第７
図ｆ，ｇおよびｈに示す信号を発生させ、これら
を中心座標検出部３２に供給する。

中心座標検出部３２においては、信号ｆおよび
ｈをANDゲート４３に供給し、このANDゲート
４３の出力をANDゲート４４の一方の入力端子
に接続する。また信号ｇ（これは信号ｆの反転信
号である）をANDゲート４５の一方の入力端子
に供給し、その他方の入力端子にはクロツクパル
スｂを供給する。このクロツクパルスｂはＴ−フ
リツプフロツプ４６にも通し、２倍の周期のパル
スに変換し、これをANDゲート４４の他方の入
力端子に供給する。ANDゲート４４および４５
の出力端子をORゲート４７を介して８ビツトの
カウンタ４８に接続する。

各走査ライン毎に前端点の座標と、後端点から
中心位置の座標を求めるのであるが、これは前端点座標＋後端点座標−前端点座標／２として求めることができる。この内前者の項は走
査開始点T₀から前端点検出点T₁までのクロツク
パルスｂをカウントすることにより求めることが
でき、後者の項は前端点検知点T₁から後端点検
知点T₂までの間、Ｔ−フリツプフロツプ４６で
分周した２倍周期のパルスをカウントすることに
より求めることができる。上述したように構成す
ることによりANDゲート４５からT₀からT₁まで
の間のクロツクパルスが出力され、ANDゲート
４４からはT₁からT₂までの間のクロツクパルス
の２倍の周期のパルスが出力される。したがつて
ORゲート４７の出力側には第７図ｉに示すパル
スが出力され、これを８ビツトカウンタ４８で計
数することにより錠剤Ｔの中心位置の座標を検出
することができる。

次に上述したようにして求めた中心位置の座標
の最大偏差を求めるために、中心位置の座標を最
大偏差検出部３３に供給する。この最大偏差検出
部３３には全走査ラインについて求めた中心座標
の最大値および最小値を検出するために最大値用
の８ビツトカウンタ５０および最小値用の８ビツ
トカウンタ５１と、これらカウンタに蓄積されて
いる中心座標と新たに検出された中心座標との大
小を比較する８ビツトのコンパレータ５２および
５３とを設ける。一方のコンパレータ５２は、新
たに検出された中心座標が、カウンタ５０に蓄積
されている中心座標よりも大きいときにカウンタ
５０にロード信号を送り、カウンタ５０の内容を
新たな中心座標に変更する。他方のコンパレータ
５３は、新たに検出されている中心座標よりも小
さいときにカウンタ５１にロード信号を送り、カ
ウンタ５１の内容を新たな中心座標に変更する。
ただし、第１走査ラインで求めた中心座標を両カ
ウンタ５０，５１にそのまま入るかまたは適当に
定めた初期値を入れる。したがつて１つの錠剤に
ついて上述した動作を繰返すことにより、カウン
タ５０および５１には中心座標の最大値および最
小値がそれぞれ蓄積されることになる。

中心座標の最大偏差はこれら最大値と最小値と
の差として求めることができる。このため、カウ
ンタ５０および５１を同時にダウンカウントさ
せ、最小値用カウンタ５１の内容が零となつたと
きにフリツプフロツプ５４をセツトし、その出
力からカウンタ５０および５１のイネーブル端子
に供給されていた信号を「１」から「０」に変え
てダウンカウントを停止させる。このとき最大値
用カウンタ５０に残つている計数値が最大偏差で
ある。このようにして検出した中心座標の最大偏
差の値を比較判定部３４において、中心座標の許
容誤差と比較し、最大偏差がεより小さいときは
錠剤を正常として判断し、それ以外のときには不
良錠剤として判断する。このようにして錠剤Ｔの
良否を表わす信号を出力端子５５で得ることがで
きる。

上述した形状不良検出回路２６によれば、カケ
不良、ワレ不良、ヒビ不良、変形不良を高精度で
検出することができると共に錠剤の端に達するよ
うなゴミ、異物不良をも検出することができる。
ただし、不良錠剤が線対称図形を有し、その対称
軸が錠剤の移動方向と一致した場合のみ検出不能
であるが、このような事態は殆んど存在し得ない
ので実用上の問題は全くない。

次にゴミ異物不良検出回路２７の一例を説明す
る。このようなゴミ異物不良を有する多くの錠剤
を詳細に検査したところ、殆んどの異物、ゴミは
連続的に存在しておらず、微小なゴミ、異物が孤
立的に存在していることがわかつた。したがつて
本例では微小ゴミパターンを50〜100μｍ程度の
孤立パターンとみなし、このような孤立パターン
が検出されたときには、これをゴミ、異物として
判定することにより錠剤表面に形成されている印
字と区別して検出することができるようにする。
今50μｍ程度の微小ゴミパターンを50×50μｍの
メツシユで区切ると、第８図ａに示すようにゴミ
の部分に相当する黒のメツシユと、それを囲む白
の８メツシユより成る。実際にはサンプル時に位
相誤差が生ずるため、50μｍ程度の敏小ゴミのパ
ターンは第８図ｂ〜ｅに示す４種類とその対称図
形となる。従つてこのようなパターンを錠剤面上
に発見すれば微小ゴミを検出したことになる。こ
れを実現するには４×４メツシユの外周12メツシ
ユがすべて白で、中央の２×２メツシユのうち少
なくとも１メツシユが黒となるパターンを全画面
中から検出すればよい。

第９図は上述した原理に基づいて微小ゴミを検
出する回路２７の一例の構成を示すものである。
入力端子６０に現われる２値画像信号を、４個の
４ビツトシフトレジスタ６１〜６４および３個の
252ビツトシフトレジスタ６５〜６７を第９図に
示すように交互に直列に接続して構成したライン
メモリ６８に供給する。第１および第４の４ビツ
トシフトレジスタ６１および６４の全段を微小ゴ
ミ判定回路６９のANDゲート７０に直接接続
し、第２および第３の４ビツトシフトレジスタ６
２および６３の第１および第４段を同じくAND
ゲート７０に直接接続し、第２および第３段を
NANDゲート７１を経てANDゲート７０に接続
する。したがつてNANDゲート７１の出力は、第
８図ｂ〜ｅに示すパターンの中央の４ビツトのい
ずれか一つに黒、すなわち第２および第３の４ビ
ツトシフトレジスタ６２および６３の第２および
第３段のいずれか一つが論理「０」のときに
「１」となる。このとき周囲12メツシユが全て
白、すなわち４ビツトシフトレジスタ６１〜６４
の他の総ての段が論理「１」のときは、ANDゲ
ート７０から「１」信号が出力され、それ以外の
ときは「０」信号が出力される。この「１」信号
出力は微小ゴミの検出信号であり、印字とは明確
に区別される。本例のゴミ検出回路によれば微小
ゴミを印字と区別して識別するためには印字は50
〜100μｍ程度の孤立点を含まないパターンであ
ることが必要であるが、数字および大多数の文字
はこのような弧立点を含まないので実用上は全く
問題ない。

本発明は上述した例にのみ限定されるものでは
なく、幾多の変更、変形が可能である。例えば上
述した例では錠剤を検査位置を経て搬送するのに
負圧を利用したドラムを用いたが、ベルト等の他
の適当な手段を用いることもできる。また、カケ
検出回路も第６図に示した例に限定されるもので
はなく、例えば前端点および後端点の座標を、同
じクロツクパルスで駆動される二台のカウンタを
用いて検出し、これらの座標の和の半分として中
心位置の座標を求めることもできる。さらに各走
査ラインについて求めた中心位置の座標を基準座
標と比較して形成不良を検出することもできる。
また、ゴミ、異物等の不良は、上述した孤立点を
求めるパターンマスク法に限らず、他の検出法を
採用することもできる。例えば印字のない錠剤の
検査を行なう場合には錠剤の地色以外のものが検
出されたら、これを欠陥と判断してよいので、比
較的簡単に検出することができる。さらに上述し
た例では平面形状が円形の錠剤を検査したが、検
査位置を通過する際の錠剤の姿勢を制御すれば、
長円形、楕円形等の錠剤の検査を行なうこともで
きる。

上述した本発明による主要な効果を要約すると
次の通りである。

(1) カケ、ワレ、ヒビ、変形等の錠剤の形状不良
を、錠剤の対称性を利用して中心位置の座標の
変動の有無で検出するため高精度で高速の検出
を比較的簡単な構成によつて実現することがで
きる。

(2) CCDリニアアレイを用いるため高感度で高
速の走査が可能であり、大量生産ライン中で高
速移動中の錠剤の欠陥をリアルタイムで検出す
ることができる。

(3) ゴミ異物不良を上述したパターンマスク法で
検出するため、印字のある錠剤の表面にあるゴ
ミ、異物等を印字とは明瞭に区別して検出する
ことができる。

(4) カケ、ヒビ、変形などの形状不良と、ゴミ異
物不良とを区別して検出することができるの
で、生産ラインの管理の上で一層有用な情報が
得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図ａ〜ｅは錠剤の種々の欠陥を示す平面
図、第２図は本発明による錠剤欠陥の自動検出装
置の一例の構成を示すブロツク線図、第３図は同
じくその光学系の一例の構成を示す線図、第４図
および第５図は本発明による形状不良の検出原理
を説明するための線図、第６図はカケ検出回路の
一例の構成を示すブロツク線図、第７図ａ〜ｉは
同じくその動作を説明するための線図、第８図ａ
〜ｅはゴミ検出回路の動作原理を説明するための
線図、第９図はカケ検出回路の一例の構成を示す
ブロツク線図である。Ｔ……錠剤、２，１０……錠剤保持ドラム、
３，１１……検出位置、４，１２……光源ラン
プ、５，１３……レンズ、６，１４……CCDリ
ニアアレイ、７，１５……制御、処理回路、２１
……CCD駆動回路、２２……クロツクパルス発
生器、２３……２値化回路、２５……サンプルホ
ールド回路、２６……カケ検出回路、２７……ゴ
ミ検出回路、２８……欠陥表示部、３０……前端
点検出部、３１……後端点検出部、３２……中心
位置座標検出部、３３……最大偏差検出部、３４
……比較判定部、４２……信号発生部。

Claims

【特許請求の範囲】１軸線に関して対称な形状を有する錠剤を検査
位置を経て前記軸線の方向に搬送する機構と、検
査位置にある錠剤の像を形成する光学系と、この
錠剤の像を撮像し、これを錠剤の移動方向、すな
わち前記軸線の方向に対して直角な方向に走査す
るCCDリニアアレイと、このリニアアレイから
出力される画像信号を受け、前記走査方向におけ
る錠剤の端点間の中心位置の座標を求め、一つの
錠剤についての各走査ラインにおける前記中心位
置の、前記走査方向における座標の変動が所定の
範囲内にあるか否かを検出し、正常な錠剤は前記
軸線に対する対称性により各走査ラインにおける
中心位置の座標が前記の所定の範囲内にあること
を利用して錠剤の形状の良否を判定する欠陥検出
回路とを具えることを特徴とする錠剤欠陥の自動
検出装置。２前記欠陥検出回路に、錠剤の各走査ラインに
おける前端点および後端点を検出する端点検出部
と、走査開始点から前端点までの間に所定周期の
クロツクパルスを計数すると共に前端点から後端
点までの間に前記クロツクパルスの２倍の周期の
パルスを計数するカウンタを有し、前、後端点の
中心位置の座標を求める中心位置検出部と、各錠
剤の全走査ラインについて測定した中心位置座標
の最大値および最小値を求め、これら最大値およ
び最小値の差として中心位置座標の最大偏差を求
める最大偏差検出部と、この最大偏差と中心位置
の最大許容誤差との大小を比較して欠陥の有無を
判定する比較判定部とを設けたことを特徴とする
特許請求の範囲１記載の錠剤欠陥の自動検査装
置。３軸線に関して対称な形状を有する錠剤を検査
位置を経て前記軸線の方向に搬送する機構と、検
査位置にある錠剤の像を形成する光学系と、この
錠剤の像を撮像し、これを錠剤の移動方向、すな
わち前記軸線の方向に対して直角な方向に走査す
るCCDリニアアレイと、このリニアアレイから
出力される画像信号を受け、前記走査方向におけ
る錠剤の端点間の中心位置の座標を求め、一つの
錠剤についての各走査ラインにおける前記中心位
置の、前記走査方向における座標の変動が所定の
範囲内にあるか否かを検出し、正常な錠剤は前記
軸線に対する対称性により各走査ラインにおける
中心位置の座標が前記の所定の範囲内にあること
を利用して錠剤の形状の良否を判定する欠陥検出
回路と、前記CCDリニアアレイから出力される
画像信号を受け、錠剤の地色によつて囲まれた部
分の中に錠剤の地色とは異なる画像信号が孤立的
に含まれているか否かを検出してゴミ、異物等の
欠陥を検出するゴミ、異物検出回路とを具えるこ
とを特徴とする錠剤欠陥の自動検出装置。