JPH0417371B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0417371B2 JPH0417371B2 JP58222711A JP22271183A JPH0417371B2 JP H0417371 B2 JPH0417371 B2 JP H0417371B2 JP 58222711 A JP58222711 A JP 58222711A JP 22271183 A JP22271183 A JP 22271183A JP H0417371 B2 JPH0417371 B2 JP H0417371B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- address
- signal
- solid preparation
- camera
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/15—Medicinal preparations ; Physical properties thereof, e.g. dissolubility
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/94—Investigating contamination, e.g. dust
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V20/00—Scenes; Scene-specific elements
- G06V20/60—Type of objects
- G06V20/66—Trinkets, e.g. shirt buttons or jewellery items
Landscapes
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Pharmacology & Pharmacy (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Description
（技術分野）
本発明は、固形製剤の表面をTVカメラで走査
して、その走査信号のレベルが一定値以上の場合
にパルス信号を出力させて異物を検出するように
したカメラ検査方法およびその装置に係り、特
に、上記TVカメラの走査線における隣接した二
つのアドレス間及び隣接した二つの走査線にまた
がるパルス信号を取り出して、その出力に対応し
た巾と長さの異物を検出して固形製剤の表面を検
査するようにしたものである。 （従来技術） 通常、錠剤等の固形製剤は、種々の薬品成分よ
りなる粉末を固めて一定形状に成形したものであ
るが、その表面には粉末の凹凸がある一方、薬品
成分の原料中に含まれる各種の繊維状異物や、空
気中に浮遊している人の毛髪や服の繊維の異物が
露出または付着することがある。従来からこの種
の異物を持つ固形製剤はその形成品の検査上で重
欠点として除去されていたが、これらの検査及び
除去が目視等人手によつて行なわれており、検査
ミスや、検査基準の不均一等の問題がさけ難く、
固形製剤の表面精度が十分得られないために使用
時に不快感を伴うことが多く、従来から検査の自
動化が望まれていた。 （発明の目的） 本発明は、上記従来例の欠点を除去し、固形製
剤形成品の表面検査を自動的に行なわんとするも
ので、成形品の表面にあらわれる粉体の凹凸が約
50μφ以下の短寸法であるのに比して、成形品の
表面にあらわれる毛髪等の繊維状異物が約50×
500μ以上の長寸法であることに注目して、これ
らを区別して、例えば50μ以上の長さと巾の繊維
状異物を表面に持つ固形製剤のみを他のものと区
別して自動的に選別する方法及びその装置を提供
せんとすることを目的とするものである。 （発明の構成） すなわち、本発明に係る固形製剤の表面に露れ
る一定寸法以上の繊維状異物を検出する方法は、
上記固形製剤の表面をTVカメラで走査し、該走
査線の信号を一定のレベルで判別して異物検出の
パルス信号を発生させ、一走査線上で、或は隣合
う二つの走査線上でみて、連続する二つのアドレ
ス間で同時に発生したパルス信号を連続的に計数
し、該計数値が一定の設定値より大なる時に異物
と判定するようにしたことを特徴とするものであ
る。 また、本発明に係る固形製剤の表面をTVカメ
ラで走査して、その走査信号のレベルが一定値以
上の場合にパルス信号を出力させて異物を検出す
るようにした装置は、上記TVカメラの一走査線
毎のパルス信号をアドレス毎に一時記憶して、次
回の走査時に順次アドレス毎に出力するシフトレ
ジスターと、該シフトレジスターの一アドレス出
力と次のアドレス出力のORをとる素子と、該
OR素子の出力と次回の走査線における上記一ア
ドレス出力と対応したアドレスの出力とのAND
をとる素子と、該AND素子の出力のパルス信号
をカウントする素子と、該カウント素子のカウン
ト数が一定数以上の時に異物検出信号を出力する
手段とよりなり、上記OR素子とAND素子との出
力により、一走査線上で、或は隣合う二つの走査
線上でみて、連続する二つのアドレス間で同時に
発生したパルス信号を上記カウント素子で連続的
に計数し、当該計数した出力に対応した巾と長さ
の異物を検出するようにしたことを特徴とするも
のである。 （実施例） 以下、本発明を図面に示す検査機の実施例につ
いて詳細に説明する。 第１図は、固形製剤の検査機の概略の構成を示
すもので、大略円板形状をなす供給ドラム１と、
該供給ドラム１の外周面に放射状に配設した多数
の受筒２と、上記供給ドラム１の回転軸３を駆動
する手段（図示せず）と、上記受筒２内に異なる
空気圧を導入して受筒２の外端開口部上に薬品の
素錠等の固形製剤Ａを自在に吸着または離脱させ
る手段（図示せず）等よりなるドラム回転装置
と、上記供給ドラム１の外方の一定位置に設けた
TVカメラＣと、該TVカメラの走査信号を処理
する回路と、カメラの前方に設けた光源ボツクス
Ｆ等よりなる検査装置と、上記供給ドラム１の近
傍の一定位置に設けた検査すべき固形製剤Ａの位
置を検出する手段Ｄ，上記供給ドラム１の受筒２
へ固形製剤Ａを供給する手段（図示せず）と、上
記受筒２から固形製剤Ａを受取る手段（図示せ
ず）と、上記受筒２から固形製剤Ａの中で不良の
ものを除去する排除手段Ｅ（図示せず）等の附属
装置とから構成される。上記構成よりなる検査機
は、供給手段から供給ドラム１へ供給される固形
製剤Ａが受筒２の外端開口部に吸着される一方、
供給ドラム１を駆動手段で軸芯３を中心にして一
方向へ回転駆動させて供給ドラム１と共に移動す
る受筒２の固形製剤Ａを位置検出手段Ｄと連動す
る上記カメラＣで捕捉して走査し、その走査信号
を処理回路１０で判別して、その結果、固形製剤
Ａの表面に異常があるとした時には排除手段Ｅ
で、受取手段とは別に、区分して供給ドラム１か
ら取り出すようにする。 上記カメラで捕捉される固形製剤Ａの映像信号
は、第４図イに示す如く、多数の走査線ａ……ｘ
よりなる走査信号として取り出され、また、各走
査線は第４図ロに示す如く、同期信号a1と基準レ
ベルa2と映像信号a3とよりなり、固形製剤Ａの表
面に毛髪等の異物や歪等の凹凸がある場合には、
第４図ハに示す如く、映像信号上にベルトの落ち
た不良部分a4が発生することで検出される。第２
図は上記TVカメラＣの走査信号を処理するブロ
ツク回路１０を示すもので、検査すべき固形製剤
の位置を検出するエンコーダ等よりなる手段から
の位置検出信号回路１１を含み、該位置検出信号
回路の出力で固形製剤Ａを照明するストロボライ
トＳの点灯回路１２を作動するとともに、水平と
垂直の同期信号回路１３の出力で固形製剤Ａを捕
捉するTVカメラＣを作動する。TVカメラＣの
映像信号は、上記位置検出信号回路１１の出力に
同期して作動する固形製剤の検査領域を設定する
検査マスク回路１４により、第４図ニに示す如
く、各走査線の検査部分、すなわち、走査線のア
ドレス総数が特定されるとともに、検出すべき不
良部分のレベル感度を設定する回路１５からの出
力により、上記各走査線の検査部分において一定
レベルｌ以下の不良部分がクリツパー回路１６で
検出され、第４図ホに示す如く、走査線に不良部
分がある場合には１（第４図ヘに示す）ない場合
には０の２値化出力のパルス信号がクリツパー回
路１６から第１表に示す如く各走査線のア
して、その走査信号のレベルが一定値以上の場合
にパルス信号を出力させて異物を検出するように
したカメラ検査方法およびその装置に係り、特
に、上記TVカメラの走査線における隣接した二
つのアドレス間及び隣接した二つの走査線にまた
がるパルス信号を取り出して、その出力に対応し
た巾と長さの異物を検出して固形製剤の表面を検
査するようにしたものである。 （従来技術） 通常、錠剤等の固形製剤は、種々の薬品成分よ
りなる粉末を固めて一定形状に成形したものであ
るが、その表面には粉末の凹凸がある一方、薬品
成分の原料中に含まれる各種の繊維状異物や、空
気中に浮遊している人の毛髪や服の繊維の異物が
露出または付着することがある。従来からこの種
の異物を持つ固形製剤はその形成品の検査上で重
欠点として除去されていたが、これらの検査及び
除去が目視等人手によつて行なわれており、検査
ミスや、検査基準の不均一等の問題がさけ難く、
固形製剤の表面精度が十分得られないために使用
時に不快感を伴うことが多く、従来から検査の自
動化が望まれていた。 （発明の目的） 本発明は、上記従来例の欠点を除去し、固形製
剤形成品の表面検査を自動的に行なわんとするも
ので、成形品の表面にあらわれる粉体の凹凸が約
50μφ以下の短寸法であるのに比して、成形品の
表面にあらわれる毛髪等の繊維状異物が約50×
500μ以上の長寸法であることに注目して、これ
らを区別して、例えば50μ以上の長さと巾の繊維
状異物を表面に持つ固形製剤のみを他のものと区
別して自動的に選別する方法及びその装置を提供
せんとすることを目的とするものである。 （発明の構成） すなわち、本発明に係る固形製剤の表面に露れ
る一定寸法以上の繊維状異物を検出する方法は、
上記固形製剤の表面をTVカメラで走査し、該走
査線の信号を一定のレベルで判別して異物検出の
パルス信号を発生させ、一走査線上で、或は隣合
う二つの走査線上でみて、連続する二つのアドレ
ス間で同時に発生したパルス信号を連続的に計数
し、該計数値が一定の設定値より大なる時に異物
と判定するようにしたことを特徴とするものであ
る。 また、本発明に係る固形製剤の表面をTVカメ
ラで走査して、その走査信号のレベルが一定値以
上の場合にパルス信号を出力させて異物を検出す
るようにした装置は、上記TVカメラの一走査線
毎のパルス信号をアドレス毎に一時記憶して、次
回の走査時に順次アドレス毎に出力するシフトレ
ジスターと、該シフトレジスターの一アドレス出
力と次のアドレス出力のORをとる素子と、該
OR素子の出力と次回の走査線における上記一ア
ドレス出力と対応したアドレスの出力とのAND
をとる素子と、該AND素子の出力のパルス信号
をカウントする素子と、該カウント素子のカウン
ト数が一定数以上の時に異物検出信号を出力する
手段とよりなり、上記OR素子とAND素子との出
力により、一走査線上で、或は隣合う二つの走査
線上でみて、連続する二つのアドレス間で同時に
発生したパルス信号を上記カウント素子で連続的
に計数し、当該計数した出力に対応した巾と長さ
の異物を検出するようにしたことを特徴とするも
のである。 （実施例） 以下、本発明を図面に示す検査機の実施例につ
いて詳細に説明する。 第１図は、固形製剤の検査機の概略の構成を示
すもので、大略円板形状をなす供給ドラム１と、
該供給ドラム１の外周面に放射状に配設した多数
の受筒２と、上記供給ドラム１の回転軸３を駆動
する手段（図示せず）と、上記受筒２内に異なる
空気圧を導入して受筒２の外端開口部上に薬品の
素錠等の固形製剤Ａを自在に吸着または離脱させ
る手段（図示せず）等よりなるドラム回転装置
と、上記供給ドラム１の外方の一定位置に設けた
TVカメラＣと、該TVカメラの走査信号を処理
する回路と、カメラの前方に設けた光源ボツクス
Ｆ等よりなる検査装置と、上記供給ドラム１の近
傍の一定位置に設けた検査すべき固形製剤Ａの位
置を検出する手段Ｄ，上記供給ドラム１の受筒２
へ固形製剤Ａを供給する手段（図示せず）と、上
記受筒２から固形製剤Ａを受取る手段（図示せ
ず）と、上記受筒２から固形製剤Ａの中で不良の
ものを除去する排除手段Ｅ（図示せず）等の附属
装置とから構成される。上記構成よりなる検査機
は、供給手段から供給ドラム１へ供給される固形
製剤Ａが受筒２の外端開口部に吸着される一方、
供給ドラム１を駆動手段で軸芯３を中心にして一
方向へ回転駆動させて供給ドラム１と共に移動す
る受筒２の固形製剤Ａを位置検出手段Ｄと連動す
る上記カメラＣで捕捉して走査し、その走査信号
を処理回路１０で判別して、その結果、固形製剤
Ａの表面に異常があるとした時には排除手段Ｅ
で、受取手段とは別に、区分して供給ドラム１か
ら取り出すようにする。 上記カメラで捕捉される固形製剤Ａの映像信号
は、第４図イに示す如く、多数の走査線ａ……ｘ
よりなる走査信号として取り出され、また、各走
査線は第４図ロに示す如く、同期信号a1と基準レ
ベルa2と映像信号a3とよりなり、固形製剤Ａの表
面に毛髪等の異物や歪等の凹凸がある場合には、
第４図ハに示す如く、映像信号上にベルトの落ち
た不良部分a4が発生することで検出される。第２
図は上記TVカメラＣの走査信号を処理するブロ
ツク回路１０を示すもので、検査すべき固形製剤
の位置を検出するエンコーダ等よりなる手段から
の位置検出信号回路１１を含み、該位置検出信号
回路の出力で固形製剤Ａを照明するストロボライ
トＳの点灯回路１２を作動するとともに、水平と
垂直の同期信号回路１３の出力で固形製剤Ａを捕
捉するTVカメラＣを作動する。TVカメラＣの
映像信号は、上記位置検出信号回路１１の出力に
同期して作動する固形製剤の検査領域を設定する
検査マスク回路１４により、第４図ニに示す如
く、各走査線の検査部分、すなわち、走査線のア
ドレス総数が特定されるとともに、検出すべき不
良部分のレベル感度を設定する回路１５からの出
力により、上記各走査線の検査部分において一定
レベルｌ以下の不良部分がクリツパー回路１６で
検出され、第４図ホに示す如く、走査線に不良部
分がある場合には１（第４図ヘに示す）ない場合
には０の２値化出力のパルス信号がクリツパー回
路１６から第１表に示す如く各走査線のア
【表】
ドレス毎に判定回路２０へ出力される。判定回
路２０は、上記位置検出信号回路１１の出力に同
期して作動し、第３図に示す如く、クリツパー回
路からの２値化入力のパルス信号を受ける第１シ
フトレジスター２１とAND素子２５と、第１シ
フトレジスターに直列に接続した第２シフトレジ
スター２２と、第１シフトレジスターの第１乃至
第３のアドレス信号のORをとる第1OR素子２３
と、該第1OR素子２３の出力を上記第２シフト
レジスター２２の第１乃至第３のアドレス信号の
ORをとる第2OR素子２４と、該第2OR素子２４
の出力と上記の如くクリツパー回路１６の出力の
ANDをとる上記AND素子２５からの出力パルス
を計数するカウント素子２６と、該カウント素子
の設定パルス数を設定する回路２７とよりなる。
カウント素子が設定回路２７のパルス数より多く
のパルスをカウントした時に出力する信号が、不
良信号用シフトレジスター１７に入力され、該不
良信号用シフトレジスター１７は、上記位置検出
信号回路１１の出力に同期して作動し、その出力
で不良の固形製剤を除去する排除手段Ｅを動作す
る。 上記判定回路の第１と第２のシフトレジスター
２１，２２は、夫々上記走査線のアドレス総数に
対応したビツト数を持つもので、上記同期信号回
路１３からのクロツク信号をシフトレジスター制
御回路１８から受けとつて動作し、クリツパー回
路１６からの一走査線における各アドレス毎の２
値化信号を順次各ビツトに入力してビツト順にシ
フトして行き、第１シフトレジスター２１の２値
化出力が順次第２シフトレジスター２２の各ビツ
トに順次入力される。このため、たとえば、第１
表に示す如き、各走査線のアドレス信号として第
２シフトレジスター２２のｎビツトには第１走査
線におけるアドレスｎ数の２値化信号が入力され
ると同時に、第１シフトレジスター２１のｎビツ
トには、第２走査線におけるアドレスｎ数の２値
化信号が第２表に示す如く入力されて、次にクリ
ツパー回路１６から第３走査線における第１アド
レスの２値化信号が第１シフトレジスター２１の
ｎ
路２０は、上記位置検出信号回路１１の出力に同
期して作動し、第３図に示す如く、クリツパー回
路からの２値化入力のパルス信号を受ける第１シ
フトレジスター２１とAND素子２５と、第１シ
フトレジスターに直列に接続した第２シフトレジ
スター２２と、第１シフトレジスターの第１乃至
第３のアドレス信号のORをとる第1OR素子２３
と、該第1OR素子２３の出力を上記第２シフト
レジスター２２の第１乃至第３のアドレス信号の
ORをとる第2OR素子２４と、該第2OR素子２４
の出力と上記の如くクリツパー回路１６の出力の
ANDをとる上記AND素子２５からの出力パルス
を計数するカウント素子２６と、該カウント素子
の設定パルス数を設定する回路２７とよりなる。
カウント素子が設定回路２７のパルス数より多く
のパルスをカウントした時に出力する信号が、不
良信号用シフトレジスター１７に入力され、該不
良信号用シフトレジスター１７は、上記位置検出
信号回路１１の出力に同期して作動し、その出力
で不良の固形製剤を除去する排除手段Ｅを動作す
る。 上記判定回路の第１と第２のシフトレジスター
２１，２２は、夫々上記走査線のアドレス総数に
対応したビツト数を持つもので、上記同期信号回
路１３からのクロツク信号をシフトレジスター制
御回路１８から受けとつて動作し、クリツパー回
路１６からの一走査線における各アドレス毎の２
値化信号を順次各ビツトに入力してビツト順にシ
フトして行き、第１シフトレジスター２１の２値
化出力が順次第２シフトレジスター２２の各ビツ
トに順次入力される。このため、たとえば、第１
表に示す如き、各走査線のアドレス信号として第
２シフトレジスター２２のｎビツトには第１走査
線におけるアドレスｎ数の２値化信号が入力され
ると同時に、第１シフトレジスター２１のｎビツ
トには、第２走査線におけるアドレスｎ数の２値
化信号が第２表に示す如く入力されて、次にクリ
ツパー回路１６から第３走査線における第１アド
レスの２値化信号が第１シフトレジスター２１の
ｎ
【表】
【表】
番ビツトに入力されると、第１シフトレジスター
２１の各ビツトの２値化信号が順次１ビツトづつ
シフトされると第１シフトレジスター２１の１番
ビツトの２値化信号が第２シフトレジスター２２
のｎ番ビツトに入力されて、第２シフトレジスタ
ー２２の各ビツトの２値化信号が順次１ビツトづ
つシフトされ、第２シフトレジスター２２の１番
ビツトの２値化信号が消滅するようになる。この
時、第３表に示す如く、第1OR素子２３は第１
シフトレジスター２１の第１乃至第３ビツトにお
ける２値化信号、すなわち、第２走査線における
第１乃至第３アドレスにおける２値化信号のOR
をとつて、それらの中に“１”信号がある場合に
は“１”を、第2OR素子２４へ入力する一方、
該第2OR素子２４は第1OR素子２３の入力と第
２シフトレジスター２２の第１乃至第３ビツトに
おける２値化信号、すなわち、第１走査線におけ
る第１乃至第３アドレスにおける２値化信号との
ORをとつて、それらの中に“１”信号がある場
合には、“１”をAND素子２５へ入力する。した
がつて、AND素子２５では第３走査線における
第１アドレスの２値化信号が“１”で第2OR素
子２４からの入力が“１”の時に、“１”をカウ
ント素子２６へ入力し、該カウント素子２６は
AND素子からの“１”信号が連続する時にこれ
らを順次計数して、この計数値が設定回路２７の
設定数をこした時に不良検出信号を不良信号用シ
フトレジスター１７へ出力するようになる。つい
で、クリツパー回路１６から第３走査線における
第２アドレスの２値化信号が第１シフトレジスタ
ー２１のｎ番ビツトとAND素子に入力されると、
上記と同様の処理を順次行なうようになる。した
がつて、上記シフトレジスター２１，２２によ
り、上記TVカメラＣの一走査線毎のパルス信号
をアドレス毎に一時記憶して、次回の走査時に順
次アドレス毎に出力させるとともに、上記OR素
子２３，２４とAND素子２５により、隣合う三
つの走査線上でみて、連続する三つのアドレス間
で同時に発生したパルス信号を上記カウント素子
２６で連続的に計数し、当該計数した連続出力に
対応した一定の巾と長さの異物を排除手段Ｅで除
去することができるようになる。 上記実施例に詳記した如く、本発明に係る固形
製剤の表面異物のカメラ検査方法およびその装置
は、固形製剤の表面に露れる一定寸法以上の繊維
状異物を検出するために、固形製剤の表面をTV
カメラで走査して、その走査信号のレベルが一定
値以上の場合にパルス信号を出力させて異物を検
出するようにした装置として、上記TVカメラの
一走査線毎のパルス信号をアドレス毎に一時記憶
して、次回の走査時に順次アドレス毎に出力する
シフトレジスターと、該シフトレジスターの一ア
ドレス出力と次のアドレス出力のORをとる素子
と、該OR素子の出力と次回の走査線における上
記一アドレス出力と対応したアドレスの出力との
ANDをとる素子と、該AND素子の出力のパルス
信号をカウントする素子と、該カウント素子のカ
ウント数が一定数以上の時に異物検出信号を出力
する手段とよりなり、上記OR素子とAND素子と
の出力により、一走査線上で、或は隣合う二つの
走査線上でみて、連続する二つのアドレス間で同
時に発生したパルス信号を上記カウント素子で連
続的に計数し、当該出力に対応した巾と長さの異
物を検出するようにした固形製剤の表面異物のカ
メラ検査装置を用いて、固形製剤の表面をTVカ
メラで走査し、該走査線の信号を一定のレベルで
判別して異物検出のパルス信号を発生させ、一走
査線上で、或は隣合う二つの走査線上でみて、連
続する二つのアドレス間で同時に発生したパルス
信号を連続的に計数し、該計数値が一定の設定値
より大なる時に異物と判定するようにした検査を
行なうものであり、したがつて、簡単な構成で、
所期の目的、即ち固形製剤の表面検査の自動化を
達成できるものである。 なお、異物の長さ、すなわち走査線の本数で
TVカメラに写す映像倍率によつて変わるので計
数比較器の設定数を、検出したい長さに見合つて
任意設定可能にしておけば判定は自由にできる。 よつて、各種被検査物への広範囲な対応ができ
るとともに検査精度を大巾に向上し、かつ生産歩
留りの向上を計ることができるものである。
２１の各ビツトの２値化信号が順次１ビツトづつ
シフトされると第１シフトレジスター２１の１番
ビツトの２値化信号が第２シフトレジスター２２
のｎ番ビツトに入力されて、第２シフトレジスタ
ー２２の各ビツトの２値化信号が順次１ビツトづ
つシフトされ、第２シフトレジスター２２の１番
ビツトの２値化信号が消滅するようになる。この
時、第３表に示す如く、第1OR素子２３は第１
シフトレジスター２１の第１乃至第３ビツトにお
ける２値化信号、すなわち、第２走査線における
第１乃至第３アドレスにおける２値化信号のOR
をとつて、それらの中に“１”信号がある場合に
は“１”を、第2OR素子２４へ入力する一方、
該第2OR素子２４は第1OR素子２３の入力と第
２シフトレジスター２２の第１乃至第３ビツトに
おける２値化信号、すなわち、第１走査線におけ
る第１乃至第３アドレスにおける２値化信号との
ORをとつて、それらの中に“１”信号がある場
合には、“１”をAND素子２５へ入力する。した
がつて、AND素子２５では第３走査線における
第１アドレスの２値化信号が“１”で第2OR素
子２４からの入力が“１”の時に、“１”をカウ
ント素子２６へ入力し、該カウント素子２６は
AND素子からの“１”信号が連続する時にこれ
らを順次計数して、この計数値が設定回路２７の
設定数をこした時に不良検出信号を不良信号用シ
フトレジスター１７へ出力するようになる。つい
で、クリツパー回路１６から第３走査線における
第２アドレスの２値化信号が第１シフトレジスタ
ー２１のｎ番ビツトとAND素子に入力されると、
上記と同様の処理を順次行なうようになる。した
がつて、上記シフトレジスター２１，２２によ
り、上記TVカメラＣの一走査線毎のパルス信号
をアドレス毎に一時記憶して、次回の走査時に順
次アドレス毎に出力させるとともに、上記OR素
子２３，２４とAND素子２５により、隣合う三
つの走査線上でみて、連続する三つのアドレス間
で同時に発生したパルス信号を上記カウント素子
２６で連続的に計数し、当該計数した連続出力に
対応した一定の巾と長さの異物を排除手段Ｅで除
去することができるようになる。 上記実施例に詳記した如く、本発明に係る固形
製剤の表面異物のカメラ検査方法およびその装置
は、固形製剤の表面に露れる一定寸法以上の繊維
状異物を検出するために、固形製剤の表面をTV
カメラで走査して、その走査信号のレベルが一定
値以上の場合にパルス信号を出力させて異物を検
出するようにした装置として、上記TVカメラの
一走査線毎のパルス信号をアドレス毎に一時記憶
して、次回の走査時に順次アドレス毎に出力する
シフトレジスターと、該シフトレジスターの一ア
ドレス出力と次のアドレス出力のORをとる素子
と、該OR素子の出力と次回の走査線における上
記一アドレス出力と対応したアドレスの出力との
ANDをとる素子と、該AND素子の出力のパルス
信号をカウントする素子と、該カウント素子のカ
ウント数が一定数以上の時に異物検出信号を出力
する手段とよりなり、上記OR素子とAND素子と
の出力により、一走査線上で、或は隣合う二つの
走査線上でみて、連続する二つのアドレス間で同
時に発生したパルス信号を上記カウント素子で連
続的に計数し、当該出力に対応した巾と長さの異
物を検出するようにした固形製剤の表面異物のカ
メラ検査装置を用いて、固形製剤の表面をTVカ
メラで走査し、該走査線の信号を一定のレベルで
判別して異物検出のパルス信号を発生させ、一走
査線上で、或は隣合う二つの走査線上でみて、連
続する二つのアドレス間で同時に発生したパルス
信号を連続的に計数し、該計数値が一定の設定値
より大なる時に異物と判定するようにした検査を
行なうものであり、したがつて、簡単な構成で、
所期の目的、即ち固形製剤の表面検査の自動化を
達成できるものである。 なお、異物の長さ、すなわち走査線の本数で
TVカメラに写す映像倍率によつて変わるので計
数比較器の設定数を、検出したい長さに見合つて
任意設定可能にしておけば判定は自由にできる。 よつて、各種被検査物への広範囲な対応ができ
るとともに検査精度を大巾に向上し、かつ生産歩
留りの向上を計ることができるものである。
第１図は、本発明の一実施例として固形製剤検
査機の概略構成を示す正面図、第２図は第１図の
処理回路のブロツク図、第３図は第２図の判定回
路の詳細回路図、第４図イ乃至ヘは第２図の回路
の各部における波形線図である。 Ｃ……カメラ、１０……処理回路、１６……ク
リツパー回路、２１，２２……シフトレジスタ
ー、２３，２４……OR素子、２５……AND素
子、２６……カウント素子。
査機の概略構成を示す正面図、第２図は第１図の
処理回路のブロツク図、第３図は第２図の判定回
路の詳細回路図、第４図イ乃至ヘは第２図の回路
の各部における波形線図である。 Ｃ……カメラ、１０……処理回路、１６……ク
リツパー回路、２１，２２……シフトレジスタ
ー、２３，２４……OR素子、２５……AND素
子、２６……カウント素子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 固形製剤の表面に露れる一定寸法以上の繊維
状異物を検出する方法にして、上記固形製剤の表
面をTVカメラで走査し、該走査線の信号を一定
のレベルで判別して異物検出のパルス信号を発生
させ、一走査線上で、或は隣合う二つの走査線上
でみて、連続する二つのアドレス間で同時に発生
したパルス信号を連続的に計数し、該計数値が一
定の設定値より大なる時に異物と判定するように
したことを特徴とする固形製剤の表面異物のカメ
ラ検査方法。 ２ 固形製剤の表面をTVカメラで走査して、そ
の走査信号のレベルが一定値以上の場合にパルス
信号を出力させて異物を検出するようにした装置
にして、上記TVカメラの一走査線毎のパルス信
号をアドレス毎に一時記憶して、次回の走査時に
順次アドレス毎に出力するシフトレジスターと、
該シフトレジスターの一アドレス出力と次のアド
レス出力のORをとる素子と、該OR素子の出力
と次回の走査線における上記一アドレス出力と対
応したアドレスの出力とのANDをとる素子と、
該AND素子の出力のパルス信号をカウントする
素子と、該カウント素子のカウント数が一定数以
上の時に異物検出信号を出力する手段とよりな
り、上記OR素子とAND素子との出力により、一
走査線上で、或は隣合う二つの走査線上でみて、
連続する二つのアドレス間で同時に発生したパル
ス信号を上記カウント素子で連続的に計数し、当
該計数した出力に対応した巾と長さの異物を検出
するようにしたことを特徴とする固形製剤の表面
異物のカメラ検査装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58222711A JPS60114748A (ja) | 1983-11-26 | 1983-11-26 | 固形製剤の表面異物のカメラ検査方法およびその装置 |
| US06/672,388 US4636849A (en) | 1983-11-26 | 1984-11-16 | Apparatus for inspecting solid drugs and a method therefor |
| EP84114147A EP0144049A3 (en) | 1983-11-26 | 1984-11-23 | An apparatus for inspecting solid drugs and a method therefor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58222711A JPS60114748A (ja) | 1983-11-26 | 1983-11-26 | 固形製剤の表面異物のカメラ検査方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60114748A JPS60114748A (ja) | 1985-06-21 |
| JPH0417371B2 true JPH0417371B2 (ja) | 1992-03-25 |
Family
ID=16786705
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58222711A Granted JPS60114748A (ja) | 1983-11-26 | 1983-11-26 | 固形製剤の表面異物のカメラ検査方法およびその装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4636849A (ja) |
| EP (1) | EP0144049A3 (ja) |
| JP (1) | JPS60114748A (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3671958D1 (de) * | 1985-08-14 | 1990-07-19 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zur ermittlung einer geometrischen kenngroesse fuer gekraeuselte, irregulaer strukturierte fasern. |
| DE3607767C1 (de) * | 1986-03-08 | 1987-04-02 | Wolf Gmbh Richard | Videoendoskop |
| US4794453A (en) * | 1986-09-09 | 1988-12-27 | Web Printing Controls Co. | Method and apparatus for stroboscopic video inspection of an asynchronous event |
| US4855821A (en) * | 1988-02-16 | 1989-08-08 | Swon James E | Video timing device for pharmaceutical tablet testing |
| JP3549752B2 (ja) * | 1998-12-04 | 2004-08-04 | シーケーディ株式会社 | Ｐｔｐシートの外観検査装置及びｐｔｐ包装機 |
| US6894772B2 (en) * | 2001-02-12 | 2005-05-17 | Analytical Spectral Devices | System and method for grouping reflectance data |
| JP6028919B2 (ja) * | 2013-01-29 | 2016-11-24 | 富士電機株式会社 | 異物検査装置 |
| US11209410B2 (en) | 2014-06-10 | 2021-12-28 | Logan Instruments Corporation | Dissolution tester assembly with integrated imaging system |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3560096A (en) * | 1967-12-07 | 1971-02-02 | Morvue Inc | Veneer clipper control system |
| BE789263A (fr) * | 1971-09-27 | 1973-03-26 | Lilly Co Eli | Systeme et procede electroniques de controle de capsules |
| JPS5438914B2 (ja) * | 1972-05-26 | 1979-11-24 | ||
| US3775556A (en) * | 1972-07-31 | 1973-11-27 | K Nagamatsu | Ampoule inspector using a television camera |
| CH642174A5 (de) * | 1978-03-17 | 1984-03-30 | Fuji Electric Co Ltd | Einrichtung zur kontrolle des aussehens von festkoerpermedikamenten. |
| JPS55132904A (en) * | 1979-04-05 | 1980-10-16 | Fuji Electric Co Ltd | Shape inspection system |
| US4277803A (en) * | 1980-05-12 | 1981-07-07 | Fuji Electric Co., Ltd. | Automatic product checking system |
| US4349739A (en) * | 1980-07-28 | 1982-09-14 | American Science And Engineering, Inc. | Micro-calcification detection |
| JPS57163805A (en) * | 1981-04-02 | 1982-10-08 | Fuji Electric Co Ltd | Method and device for inspecting thickness of tablet |
| JPS5863838A (ja) * | 1981-10-14 | 1983-04-15 | Fuji Electric Co Ltd | 欠陥検出回路 |
-
1983
- 1983-11-26 JP JP58222711A patent/JPS60114748A/ja active Granted
-
1984
- 1984-11-16 US US06/672,388 patent/US4636849A/en not_active Expired - Fee Related
- 1984-11-23 EP EP84114147A patent/EP0144049A3/en not_active Withdrawn
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4636849A (en) | 1987-01-13 |
| EP0144049A3 (en) | 1986-02-26 |
| JPS60114748A (ja) | 1985-06-21 |
| EP0144049A2 (en) | 1985-06-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4446481A (en) | Automatic product inspection system | |
| JPS61100604A (ja) | 表面検査装置 | |
| JPH0417371B2 (ja) | ||
| US4509076A (en) | Defect inspection apparatus | |
| JP3119923B2 (ja) | 走行中のストリップの欠陥の検出装置 | |
| JPS6329202B2 (ja) | ||
| JPH0575350B2 (ja) | ||
| JPH0829357A (ja) | 自動化ライン外観検査装置 | |
| JP3184287B2 (ja) | 光拡散体の検査装置 | |
| JPH09314071A (ja) | 目視検査支援システム | |
| JPS6347642A (ja) | 表面探傷における欠陥種類弁別方法 | |
| JPH0558497B2 (ja) | ||
| JPS6133091A (ja) | 表面疵位置を決定する方法及び装置 | |
| JPS6246803B2 (ja) | ||
| JPS6252256B2 (ja) | ||
| JPS6373139A (ja) | 表面検査装置 | |
| JP2005326246A (ja) | 異物検出装置 | |
| JPH04122847A (ja) | 光学式欠陥検査装置 | |
| JPS61169749A (ja) | 物品の外面検査方法 | |
| JPH03103755A (ja) | 被検査物の表面の検査法およびその装置 | |
| JPS6216372B2 (ja) | ||
| JPH09284753A (ja) | 監視カメラの撮像制御方法とその装置 | |
| JPH08304305A (ja) | 瓶のヒール部異物欠陥検査方法 | |
| JPS6216373B2 (ja) | ||
| JPH07111419B2 (ja) | 螢光磁粉探傷における画像信号処理方法および装置 |