JPS6252677B2 - - Google Patents
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- JPS6252677B2 JPS6252677B2 JP55041584A JP4158480A JPS6252677B2 JP S6252677 B2 JPS6252677 B2 JP S6252677B2 JP 55041584 A JP55041584 A JP 55041584A JP 4158480 A JP4158480 A JP 4158480A JP S6252677 B2 JPS6252677 B2 JP S6252677B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M1/00—Testing static or dynamic balance of machines or structures
- G01M1/30—Compensating imbalance
- G01M1/34—Compensating imbalance by removing material from the body to be tested, e.g. from the tread of tyres
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
- Testing Of Balance (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、高速度で回転する回転体の表面を能
率良くしかも高精度に除去加工し得るようにした
回転体の表面除去加工装置に関する。
率良くしかも高精度に除去加工し得るようにした
回転体の表面除去加工装置に関する。
従来、モータ回転子等のダイナミツクバランス
を調整する一手法として、レーザビームで不平衡
部分を除去加工することが多く行なわれている。
この場合、加工用レーザビームとしては、パルス
出力を大きくできることから、ネオジウムガラス
レーザやルビーレーザにより発生したスパイク波
の連続発振パルス(第1図a)が用いられてい
る。ところが、上記ネオジウムガラスレーザやル
ビーレーザは、各スパイク波の繰り返し発振周期
が比較的長いため、単位時間当りの除去加工量に
限界があり、加工能率の向上を望めないといつた
難点があつた。
を調整する一手法として、レーザビームで不平衡
部分を除去加工することが多く行なわれている。
この場合、加工用レーザビームとしては、パルス
出力を大きくできることから、ネオジウムガラス
レーザやルビーレーザにより発生したスパイク波
の連続発振パルス(第1図a)が用いられてい
る。ところが、上記ネオジウムガラスレーザやル
ビーレーザは、各スパイク波の繰り返し発振周期
が比較的長いため、単位時間当りの除去加工量に
限界があり、加工能率の向上を望めないといつた
難点があつた。
そこで、加工能率の向上をはかるため、繰り返
し発振速度の高速化が可能なYAGレーザの使用
が試みられている。しかるに、このYAGレーザ
では、ノーマルパルス波形を得ようとする際に、
パルス幅を一定に保持したまま繰り返し発振速度
を増加すると、スパイク波形が減少して第1図b
に示す如くパルス出力の最大ピーク値が低下し、
除去加工量の低下を招く。この除去加工量の低下
は、特に回転体の回転速度が高速になると急激に
大きくなり、このためYAGレーザは回転体の高
速回転領域には適用できず、このため、加工能率
の向上の要求に応えることができなかつた。
し発振速度の高速化が可能なYAGレーザの使用
が試みられている。しかるに、このYAGレーザ
では、ノーマルパルス波形を得ようとする際に、
パルス幅を一定に保持したまま繰り返し発振速度
を増加すると、スパイク波形が減少して第1図b
に示す如くパルス出力の最大ピーク値が低下し、
除去加工量の低下を招く。この除去加工量の低下
は、特に回転体の回転速度が高速になると急激に
大きくなり、このためYAGレーザは回転体の高
速回転領域には適用できず、このため、加工能率
の向上の要求に応えることができなかつた。
本発明は上記事情に着目してなされたもので、
その目的とするところは、スパイク波の少ない高
速繰り返しレーザビームを用いても、除去加工量
を低下させずに特に回転体の高速回転領域におい
て十分な除去加工を行ない得、能率良くしかも高
精度にダイナミツクバランスの調整を行ない得る
回転体の表面除去加工装置を提供することにあ
る。
その目的とするところは、スパイク波の少ない高
速繰り返しレーザビームを用いても、除去加工量
を低下させずに特に回転体の高速回転領域におい
て十分な除去加工を行ない得、能率良くしかも高
精度にダイナミツクバランスの調整を行ない得る
回転体の表面除去加工装置を提供することにあ
る。
すなわち、本発明はパルスレーザビームの立上
がり部にピーク値の高いパルス波形を形成して回
転体に照射することにより、上記高ピーク波によ
つて被加工部位を十分加熱し光吸収率を高め、そ
の後の低レベルのレーザビームにより被加工部位
を除去加工し、これにより回転体の高速回転領域
においても十分な除去加工を行ない得るように
し、しかも回転体の被加工部位を検出し、この被
加工部位の中心位置検出タイミングよりも所定時
間だけ早めてレーザロツドの励起を開始せしめる
ことにより、被加工部位を片寄ることなく均一に
しかも正確に除去加工し得るようにするものであ
る。
がり部にピーク値の高いパルス波形を形成して回
転体に照射することにより、上記高ピーク波によ
つて被加工部位を十分加熱し光吸収率を高め、そ
の後の低レベルのレーザビームにより被加工部位
を除去加工し、これにより回転体の高速回転領域
においても十分な除去加工を行ない得るように
し、しかも回転体の被加工部位を検出し、この被
加工部位の中心位置検出タイミングよりも所定時
間だけ早めてレーザロツドの励起を開始せしめる
ことにより、被加工部位を片寄ることなく均一に
しかも正確に除去加工し得るようにするものであ
る。
以下、本発明を図面に示す一実施例を参照して
説明する。第2図は同実施例における回転体の表
面除去加工装置の概略構成図で、図中1は加工用
レーザ装置を示している。この加工用レーザ装置
1は、励起電源2によりフラツシユランプ3を駆
動してレーザ励起光を発光させ、この励起光を集
光反射鏡4で集光反射してYAGレーザロツド5
に供給し、YAGレーザロツド5を励起してい
る。そして、このYAGレーザロツド5から高速
繰り返し速度で発振出力されたパルスレーザビー
ム6を、集光レンズ7を介して回転体8表面の被
加工部位に集光照射している。なお、図中9a,
9bは共振器ミラーを示すものである。
説明する。第2図は同実施例における回転体の表
面除去加工装置の概略構成図で、図中1は加工用
レーザ装置を示している。この加工用レーザ装置
1は、励起電源2によりフラツシユランプ3を駆
動してレーザ励起光を発光させ、この励起光を集
光反射鏡4で集光反射してYAGレーザロツド5
に供給し、YAGレーザロツド5を励起してい
る。そして、このYAGレーザロツド5から高速
繰り返し速度で発振出力されたパルスレーザビー
ム6を、集光レンズ7を介して回転体8表面の被
加工部位に集光照射している。なお、図中9a,
9bは共振器ミラーを示すものである。
一方、回転体8は、回転軸10を介して軸受1
1に支持されており、この軸受11は弾性部材1
2を介して基体13に固定されている。そして、
回転体8は図示しない電動機により回転駆動され
ている。ところで、上記軸受11および回転体1
0の側面部には、それぞれ振動検出器14および
回転位相検出器15が近接配置してあり、これら
の各検出器14,15の検出出力はそれぞれ加工
制御回路16に導びかれている。この加工制御回
路16は、上記振動検出器14の検出出力から回
転体8の被加工部位、つまり除去加工すべき部位
を検出するとともに、この被加工部位が前記レー
ザビーム6照射位置上を通過するタイミングを、
上記回転位相検出器15の検出出力に基づいて検
出している。なお、上記回転体8の回転位相は、
回転体8に予め標示してある指標の通過タイミン
グを検出することによりなされる。そして、上記
加工制御回路16は、先に検出した被加工部位の
中心位置検出タイミングよりも所定時間早めてレ
ーザ制御信号を発生し、このレーザ制御信号を前
記加工用レーザ装置1の励起電源2に供給してい
る。
1に支持されており、この軸受11は弾性部材1
2を介して基体13に固定されている。そして、
回転体8は図示しない電動機により回転駆動され
ている。ところで、上記軸受11および回転体1
0の側面部には、それぞれ振動検出器14および
回転位相検出器15が近接配置してあり、これら
の各検出器14,15の検出出力はそれぞれ加工
制御回路16に導びかれている。この加工制御回
路16は、上記振動検出器14の検出出力から回
転体8の被加工部位、つまり除去加工すべき部位
を検出するとともに、この被加工部位が前記レー
ザビーム6照射位置上を通過するタイミングを、
上記回転位相検出器15の検出出力に基づいて検
出している。なお、上記回転体8の回転位相は、
回転体8に予め標示してある指標の通過タイミン
グを検出することによりなされる。そして、上記
加工制御回路16は、先に検出した被加工部位の
中心位置検出タイミングよりも所定時間早めてレ
ーザ制御信号を発生し、このレーザ制御信号を前
記加工用レーザ装置1の励起電源2に供給してい
る。
ところで、第3図は上記励起電源2の回路構成
を示すもので、図中3はフラツシユランプを示し
ている。このフラツシユランプ3の外周部には起
動用トリガ電極17が巻回してあり、この起動用
トリガ電極17は高圧パルス回路18に接続され
ている。この高圧パルス回路18は、前記加工制
御回路16から加工制御信号が発生されたとき
に、トリガ電極17に対して起動トリガパルスを
発生するものである。一方、この励起電源2は低
圧と高圧の2個の充電用電源19,20を備えて
いる。低圧電源19の出力は、コンデンサ21,
22,23にコイル24,25を通して充電す
る。そして、このコンデンサ23の充電電荷は、
前記フラツシユランプ3のトリガ起動時にダイオ
ード26およびコイル27を介してフラツシユラ
ンプ3に供給され、フラツシユランプ3で放電す
るようになつている。また、高圧電源20の出力
は、一旦コンデンサ28に蓄えられたのち、サイ
リスタ29の点弧によりコイル30を介して前記
フラツシユランプ3に供給され、フラツシユラン
プ3で放電する。ここで、上記サイリスタ29の
点弧タイミングは、前記フラツシユランプ3の起
動タイミングよりも少々遅れて定められる。
を示すもので、図中3はフラツシユランプを示し
ている。このフラツシユランプ3の外周部には起
動用トリガ電極17が巻回してあり、この起動用
トリガ電極17は高圧パルス回路18に接続され
ている。この高圧パルス回路18は、前記加工制
御回路16から加工制御信号が発生されたとき
に、トリガ電極17に対して起動トリガパルスを
発生するものである。一方、この励起電源2は低
圧と高圧の2個の充電用電源19,20を備えて
いる。低圧電源19の出力は、コンデンサ21,
22,23にコイル24,25を通して充電す
る。そして、このコンデンサ23の充電電荷は、
前記フラツシユランプ3のトリガ起動時にダイオ
ード26およびコイル27を介してフラツシユラ
ンプ3に供給され、フラツシユランプ3で放電す
るようになつている。また、高圧電源20の出力
は、一旦コンデンサ28に蓄えられたのち、サイ
リスタ29の点弧によりコイル30を介して前記
フラツシユランプ3に供給され、フラツシユラン
プ3で放電する。ここで、上記サイリスタ29の
点弧タイミングは、前記フラツシユランプ3の起
動タイミングよりも少々遅れて定められる。
次に、以上のように構成された装置の作用を説
明する。被加工物としての回転体8を軸受11に
セツトし回転させると、軸受11が弾性部材12
を介して支持されているため、回転体8はその重
量のアンバランスに従つて振動を始める。この振
動は、振動検出器14によりその静電容量変化や
インダクタンス変化を利用した検出器出力等とし
て第4図HSの如く検出され、また同時に回転位
相検出器15によつて回転体8の回転位相が第4
図CSの如く検出される。これにより、加工制御
回路16は、上記振動検出出力HSから所定のス
レツシユホールドレベルX以上となる振動部分、
つまり回転体8の被加工部位を検出し、さらにこ
の被加工部位の中心位置Aがレーザビーム照射位
置を通過するタイミングを、前記回転位相検出出
力CSに基づいて検出する。すなわち、被加工部
位の中心位置Aは、回転位相検出パルスCSの発
生タイミングからT1時間後として検出される。
ここで、この被加工部位の中心位置Aの通過タイ
ミングにおいてレーザビームを照射すると、被加
工部位は上記中心位置以降しか除去されないこと
になる。したがつて、レーザビームの照射開始タ
イミングは、上記中心位置Aの通過タイミングよ
りも所定時間早めて定める必要がある。この早め
る時間は、第4図に示す如く上記中心位置Aの通
過タイミングとスレツシユホールドレベルX以上
となる最初のタイミング(Bに相当)との差T2
に相当する。そこで、加工制御回路16は、前記
中心位置通過時間T1と上記T2との差を算出し、
この差T3だけ前記回転位相検出パルスCSを遅延
させてこの遅延パルスをレーザ制御信号として加
工用レーザ装置1の励起電源2に供給する。この
ようにレーザ制御信号が供給されると、励起電源
2はフラツシユランプ3を発光させ、この結果
YAGレーザロツド5が励起されてスパイク波の
繰り返し発振周期の短かいパルス状レーザビーム
6が回転体8の被加工部位に照射され、除去加工
がなされる。このとき、上記レーザビーム6の照
射開始タイミングは、被加工部位の中心位置A通
過タイミングよりも早めてあるので、回転体8の
表面は第5図に示す如く被加工部位の前後の領域
にわたつて除去加工される。なお、第5図中
A′およびB′はそれぞれ被加工部位の中心位置お
よび最先端に相当する位置を示している。
明する。被加工物としての回転体8を軸受11に
セツトし回転させると、軸受11が弾性部材12
を介して支持されているため、回転体8はその重
量のアンバランスに従つて振動を始める。この振
動は、振動検出器14によりその静電容量変化や
インダクタンス変化を利用した検出器出力等とし
て第4図HSの如く検出され、また同時に回転位
相検出器15によつて回転体8の回転位相が第4
図CSの如く検出される。これにより、加工制御
回路16は、上記振動検出出力HSから所定のス
レツシユホールドレベルX以上となる振動部分、
つまり回転体8の被加工部位を検出し、さらにこ
の被加工部位の中心位置Aがレーザビーム照射位
置を通過するタイミングを、前記回転位相検出出
力CSに基づいて検出する。すなわち、被加工部
位の中心位置Aは、回転位相検出パルスCSの発
生タイミングからT1時間後として検出される。
ここで、この被加工部位の中心位置Aの通過タイ
ミングにおいてレーザビームを照射すると、被加
工部位は上記中心位置以降しか除去されないこと
になる。したがつて、レーザビームの照射開始タ
イミングは、上記中心位置Aの通過タイミングよ
りも所定時間早めて定める必要がある。この早め
る時間は、第4図に示す如く上記中心位置Aの通
過タイミングとスレツシユホールドレベルX以上
となる最初のタイミング(Bに相当)との差T2
に相当する。そこで、加工制御回路16は、前記
中心位置通過時間T1と上記T2との差を算出し、
この差T3だけ前記回転位相検出パルスCSを遅延
させてこの遅延パルスをレーザ制御信号として加
工用レーザ装置1の励起電源2に供給する。この
ようにレーザ制御信号が供給されると、励起電源
2はフラツシユランプ3を発光させ、この結果
YAGレーザロツド5が励起されてスパイク波の
繰り返し発振周期の短かいパルス状レーザビーム
6が回転体8の被加工部位に照射され、除去加工
がなされる。このとき、上記レーザビーム6の照
射開始タイミングは、被加工部位の中心位置A通
過タイミングよりも早めてあるので、回転体8の
表面は第5図に示す如く被加工部位の前後の領域
にわたつて除去加工される。なお、第5図中
A′およびB′はそれぞれ被加工部位の中心位置お
よび最先端に相当する位置を示している。
さて、前記回転体8に照射されるレーザビーム
6の波形は次のように定められる。すなわち、励
起電源18の高圧パルス回路18に前記加工制御
回路16からレーザ制御信号が供給されると、フ
ラツシユランプ3はトリガ起動され、先ずコンデ
ンサ23,22,21の蓄積電荷が波形整形用の
コイル27を介して第6図aに示す如くフラツシ
ユランプ3に放電される。続いて時刻t2において
サイリスタ29が点弧され、これによりコンデン
サ28の蓄積電荷が第6図bに示す如くフラツシ
ユランプ3で放電する。この結果、フラツシユラ
ンプ3からは、上記各放電電流波形がそれぞれ重
畳された第6図cに示す如き発光パルスが出力さ
れ、またYAGレーザロツド5はこの発光パルス
により第6図dに示す如くパルス状のレーザビー
ム6を発生する。ここで、上記フラツシユランプ
3から出力される発光パルスの立上がり時の高ピ
ーク波形は、時刻t1〜t2においてフラツシユラン
プ3が十分放電してプラズマが充満し、放電抵抗
が低い状態になつているため、立上がりの急峻な
ものとなる。また、レーザロツド5から発振され
るレーザビームの立上がり時の高ピーク波形も、
t1〜t2においてレーザロツド5が発振開始可能な
励起レベルまで引き上げられているので、急峻な
ものとなる。なお、レーザロツド5の発振開始タ
イミングは、上記したようにt2となつてフラツシ
ユランプ3の発光開始タイミングt1よりも多少遅
れることになる。したがつて、励起電源2の動作
開始タイミング、つまり加工制御回路16のレー
ザ制御信号発生タイミングを、第4図B点よりも
上記t2−t1だけさらに早めることにより、上記t2
−t1分のレーザビーム照射開始タイミングの遅れ
は吸収されて回転体8の被加工開始位置がより一
層正確に定まる。
6の波形は次のように定められる。すなわち、励
起電源18の高圧パルス回路18に前記加工制御
回路16からレーザ制御信号が供給されると、フ
ラツシユランプ3はトリガ起動され、先ずコンデ
ンサ23,22,21の蓄積電荷が波形整形用の
コイル27を介して第6図aに示す如くフラツシ
ユランプ3に放電される。続いて時刻t2において
サイリスタ29が点弧され、これによりコンデン
サ28の蓄積電荷が第6図bに示す如くフラツシ
ユランプ3で放電する。この結果、フラツシユラ
ンプ3からは、上記各放電電流波形がそれぞれ重
畳された第6図cに示す如き発光パルスが出力さ
れ、またYAGレーザロツド5はこの発光パルス
により第6図dに示す如くパルス状のレーザビー
ム6を発生する。ここで、上記フラツシユランプ
3から出力される発光パルスの立上がり時の高ピ
ーク波形は、時刻t1〜t2においてフラツシユラン
プ3が十分放電してプラズマが充満し、放電抵抗
が低い状態になつているため、立上がりの急峻な
ものとなる。また、レーザロツド5から発振され
るレーザビームの立上がり時の高ピーク波形も、
t1〜t2においてレーザロツド5が発振開始可能な
励起レベルまで引き上げられているので、急峻な
ものとなる。なお、レーザロツド5の発振開始タ
イミングは、上記したようにt2となつてフラツシ
ユランプ3の発光開始タイミングt1よりも多少遅
れることになる。したがつて、励起電源2の動作
開始タイミング、つまり加工制御回路16のレー
ザ制御信号発生タイミングを、第4図B点よりも
上記t2−t1だけさらに早めることにより、上記t2
−t1分のレーザビーム照射開始タイミングの遅れ
は吸収されて回転体8の被加工開始位置がより一
層正確に定まる。
そうして、上記のようにして得たレーザパルス
出力(レーザビーム6)を回転体8表面に照射す
ると、その被照射部は上記立上がり時の急峻な高
ピーク波により十分に加熱されてレーザ光の光吸
収率が高められ、その後のレーザパルスのレベル
が低くスパイク状の波形が生じていなくても、回
転体8表面は十分深く除去加工される。このと
き、上記除去加工量は、レーザビームとして高速
繰り返し発振するYAGレーザを用いた場合、特
に回転体8の回転速度が高速になるに従つて著し
く低下し、第7図ロに示す如く回転速度がνAを
超えると除去加工量m1以下となつて加工不能に
なる。ところが、本実施例のように立上がりに急
峻で高ピークの波形を形成したレーザパルスを使
用すると、回転体8の除去加工量は第7図イに示
す如く大幅に増加し、特に回転体8の高速回転領
域νA〜νBにおいてもm1以上の除去加工が可能
となる。
出力(レーザビーム6)を回転体8表面に照射す
ると、その被照射部は上記立上がり時の急峻な高
ピーク波により十分に加熱されてレーザ光の光吸
収率が高められ、その後のレーザパルスのレベル
が低くスパイク状の波形が生じていなくても、回
転体8表面は十分深く除去加工される。このと
き、上記除去加工量は、レーザビームとして高速
繰り返し発振するYAGレーザを用いた場合、特
に回転体8の回転速度が高速になるに従つて著し
く低下し、第7図ロに示す如く回転速度がνAを
超えると除去加工量m1以下となつて加工不能に
なる。ところが、本実施例のように立上がりに急
峻で高ピークの波形を形成したレーザパルスを使
用すると、回転体8の除去加工量は第7図イに示
す如く大幅に増加し、特に回転体8の高速回転領
域νA〜νBにおいてもm1以上の除去加工が可能
となる。
このように、本実施例の装置によれば、回転体
8に対して立上がり時に急峻で高ピークの波形を
形成したレーザビームを照射することによつて、
高速繰り返し発振動作によりスパイク状波形が著
しく減少した低出力レベルのレーザビームを使用
しても、十分深い除去加工を行なうことができ、
特に回転体8の高速回転領域においても十分な除
去加工量を得ることができる。この結果、加工速
度を大幅に向上させ得て、加工能率の向上をはか
ることができる。また、レーザビームを回転体8
に照射する際に、回転体8の振動から被加工部位
を検出し、この被加工部位の中心位置通過タイミ
ングよりも所定時間早く励起電源2を起動させて
レーザビーム6を発生させているので、回転体8
の被加工部位全域を片寄ることなく均一にしかも
正確に除去加工することができ、高精度のダイナ
ミツクバランスの調整を行なうことができる。
8に対して立上がり時に急峻で高ピークの波形を
形成したレーザビームを照射することによつて、
高速繰り返し発振動作によりスパイク状波形が著
しく減少した低出力レベルのレーザビームを使用
しても、十分深い除去加工を行なうことができ、
特に回転体8の高速回転領域においても十分な除
去加工量を得ることができる。この結果、加工速
度を大幅に向上させ得て、加工能率の向上をはか
ることができる。また、レーザビームを回転体8
に照射する際に、回転体8の振動から被加工部位
を検出し、この被加工部位の中心位置通過タイミ
ングよりも所定時間早く励起電源2を起動させて
レーザビーム6を発生させているので、回転体8
の被加工部位全域を片寄ることなく均一にしかも
正確に除去加工することができ、高精度のダイナ
ミツクバランスの調整を行なうことができる。
なお、本発明は上記実施例に限定されるもので
はない。例えば、回転体8が熱伝導の良い材質の
場合には、高ピークの波形を1ケ所だけではなく
2ケ所以上に形成するようにしてもよい。この場
合には、励起電源2の構成およびフラツシユラン
プ3の駆動タイミングを適宜制御することにより
簡単に実施できる。この結果、加工能率をより高
めることができる。また、除去加工量の調整、つ
まり除去加工深さの調整は、高ピーク波形のパル
ス幅を制御することにより容易に行ない得る。さ
らに、加工用レーザ装置としては、高速繰り返し
発振を行なえるものであれば如何なるものを適用
してもよく、その他高ピーク波を形成したレーザ
ビームを発生させる手段および回転体8の被加工
部位検出手段等についても、本発明の要旨を逸脱
しない範囲で種種変形して実施できる。
はない。例えば、回転体8が熱伝導の良い材質の
場合には、高ピークの波形を1ケ所だけではなく
2ケ所以上に形成するようにしてもよい。この場
合には、励起電源2の構成およびフラツシユラン
プ3の駆動タイミングを適宜制御することにより
簡単に実施できる。この結果、加工能率をより高
めることができる。また、除去加工量の調整、つ
まり除去加工深さの調整は、高ピーク波形のパル
ス幅を制御することにより容易に行ない得る。さ
らに、加工用レーザ装置としては、高速繰り返し
発振を行なえるものであれば如何なるものを適用
してもよく、その他高ピーク波を形成したレーザ
ビームを発生させる手段および回転体8の被加工
部位検出手段等についても、本発明の要旨を逸脱
しない範囲で種種変形して実施できる。
以上詳述したように本発明によれば、高速繰り
返し発振によりスパイク波の減少したYAGレー
ザビームを用いたとしても、加工除去量を減少さ
せずに、特に回転体の高速回転領域において十分
な除去加工を行ない得て加工能率が高く、しかも
高精度のダイナミツクバランスの調整を行ない得
る回転体の表面除去加工装置を、ここに提供する
ことができる。
返し発振によりスパイク波の減少したYAGレー
ザビームを用いたとしても、加工除去量を減少さ
せずに、特に回転体の高速回転領域において十分
な除去加工を行ない得て加工能率が高く、しかも
高精度のダイナミツクバランスの調整を行ない得
る回転体の表面除去加工装置を、ここに提供する
ことができる。
第1図a,bは本発明の従来説明に用いるため
のレーザパルス波形図、第2図〜第7図は本発明
の一実施例を説明するための図で、第2図は回転
体の表面除去加工装置の概略構成図、第3図はレ
ーザ励起電源の概略構成図、第4図〜第7図は作
用説明に用いるための図である。 1……加工用レーザ装置、2……励起電源、3
……フラツシユランプ、5……YAGレーザロツ
ド、6……レーザビーム、8……回転体、11…
…軸受、12……弾性部材、14……振動検出
器、15……回転位相検出器、16……加工制御
回路。
のレーザパルス波形図、第2図〜第7図は本発明
の一実施例を説明するための図で、第2図は回転
体の表面除去加工装置の概略構成図、第3図はレ
ーザ励起電源の概略構成図、第4図〜第7図は作
用説明に用いるための図である。 1……加工用レーザ装置、2……励起電源、3
……フラツシユランプ、5……YAGレーザロツ
ド、6……レーザビーム、8……回転体、11…
…軸受、12……弾性部材、14……振動検出
器、15……回転位相検出器、16……加工制御
回路。
Claims (1)
- 1 レーザ励起ランプの発光パルスで固体レーザ
発振器を励起して回転体の表面にレーザビームを
照射し、回転体の表面除去加工を行なう回転体の
表面除去加工装置において、回転体表面の被加工
部位を検出する手段と、この手段により検出した
被加工部位の中心位置検出タイミングよりも所定
時間だけ早めて前記レーザ励起ランプの発光動作
を開始せしめる手段と、前記レーザ励起ランプか
ら発生される発光パルス波形の発光動作開始時に
ピーク値の高い波形を形成する手段とを具備した
ことを特徴とする回転体の表面除去加工装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4158480A JPS56138231A (en) | 1980-03-31 | 1980-03-31 | Surface removing and working equipment of rotary body |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4158480A JPS56138231A (en) | 1980-03-31 | 1980-03-31 | Surface removing and working equipment of rotary body |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56138231A JPS56138231A (en) | 1981-10-28 |
| JPS6252677B2 true JPS6252677B2 (ja) | 1987-11-06 |
Family
ID=12612475
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4158480A Granted JPS56138231A (en) | 1980-03-31 | 1980-03-31 | Surface removing and working equipment of rotary body |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56138231A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5989789U (ja) * | 1982-12-08 | 1984-06-18 | 株式会社シマノ | キヤリパ−ブレ−キ |
| EP3139044B1 (de) * | 2015-09-04 | 2020-04-22 | Pfeiffer Vacuum Gmbh | Verfahren zum wuchten eines rotors einer vakuumpumpe oder eines rotors einer rotationseinheit für eine vakuumpumpe |
| CN105108345B (zh) * | 2015-09-21 | 2017-06-27 | 北京航天控制仪器研究所 | 一种激光精密去重系统及方法 |
-
1980
- 1980-03-31 JP JP4158480A patent/JPS56138231A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56138231A (en) | 1981-10-28 |
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