JPS625332A - X線照射装置 - Google Patents

X線照射装置

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Publication number
JPS625332A
JPS625332A JP60144236A JP14423685A JPS625332A JP S625332 A JPS625332 A JP S625332A JP 60144236 A JP60144236 A JP 60144236A JP 14423685 A JP14423685 A JP 14423685A JP S625332 A JPS625332 A JP S625332A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
element array
subject
ray
ray irradiation
Prior art date
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Pending
Application number
JP60144236A
Other languages
English (en)
Inventor
宏 渡部
希代子 大嶋
博司 筒井
末喜 馬場
理 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP60144236A priority Critical patent/JPS625332A/ja
Publication of JPS625332A publication Critical patent/JPS625332A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、X線診断装置、非破壊検査用X線検査装置に
用い得るX線照射装置に関するものである。
従来の技術 従来、X線装置にはX線写真が用いられてきたが、感度
、被ばく量等から放射線感応素子Si、Ga。
CdTa等(以下半導体センサーと呼ぶ)を用いたコン
ピュータートモグラフィー装置が開発されてきている。
この半導体センサーを用いた装置ではX線写真と比べる
と、被ばく線量は1/10−1/1oOに低減され、コ
ントラスト分解能も良好で、今後は微少な病変や患部を
識別できるものとして期待されている。この様な半導体
センサーを用いた装置は、第4図に示す様に一列に半導
体センサー41を組み込み、X線源42と半導体センサ
ー41をシャフト43で連結し、X線焦点44を中心と
し、首振多動作を行なうものである。また、ベッド46
に対し、X線源42と半導体センサー41を平行移動さ
せる装置(図示せず)のものもある。このうち平行移動
させる装置は、首振シ装置に比べX線源42の移動量が
大きいことや、装置の大型化等の問題があ)、首振シ装
置の方が構造的に小型化できる。
発明が解決しようとする問題点 第4図に示す様な首振り装置のものは、人体に対し、身
長方向にスキャニングするもので、人体の横方向にスキ
ャニングするのはシャフト43をベッド45から離さな
ければならず装置が大型化する。また、身長方向にスキ
ャニングするのは、人体の巾に対応した半導体センサー
42の巾が必要で約6oα以上要する。更に装置に被検
体が横たわった時、X線源42の照射部は、常に人体上
にあるため安全対策を施しても余計なX線量を浴びる確
率は高く、いくらかの不安を与える。
問題点を解決するための手段 本発明は以上の様な問題点を解決するために、放射線に
感応する素子を配列してなる素子アレイをスライドさせ
る直線移動型駆動手段と、この直線移動型駆動手段と放
射線源を連結し、X線焦点を中心として放射線源と素子
アレイを相対的に首振多動作を行なうリンク機構を有し
てなるものである。
作用 本発明の技術的手段による作用は次の通シである。すな
わち、素子アレイを被検体に対し横切る方向にスキャニ
ングするため、素子アレイ巾は任意で良く、小さくて良
い。又、リンク機構によシ素子アレイ、X線源とも首振
りをし、互いに相対位置で動くため、構成が簡単で、小
型の高精度なX線照射装置となる。
実施例 本発明の一実施例を第1図〜第3図において説明する。
放射線に感応する素子を直線状または曲線弧状に連続的
に配設してなる素子アレイ1はトレイ2に収納され、ガ
イドレール3に車輪4で摺動可能に構成されている。ト
レイ2は、精密な位置送シが可能なボールネジとモータ
ー等を用いた直線移動用テーブル5で駆動される。すな
わち、回転可能に支持されたリニアベアリング6にバー
7が挿入されておシ、テーブル5が直線移動することに
よシトレイ2がガイドレール3に沿って、円弧状に動く
。X線源8と直線移動テーブル5の連結は、まず直線移
動テーブル5の第1ピン9に回動板1oの一端が係止さ
れておシ、回動板1゜の他端は第1支軸11により係止
され移動テーブル6の移動により回転板10は回動する
。この回動板1oに上下動板12の一端が第2ピン13
によシ係止し、第2支軸14を中心として他端は上下シ
ャフト15の第3ピン16に係止する。上下シャフト1
5は案内ベアリング1了、18に支えられ、上下動可能
になっておシ、上部は第4ビン19と、首振シ板2oの
一端と係止し、他端はX線源8のX線焦点位置にある軸
21と係止している。又、X線源8を支持するブロック
22は支柱23に対しスライド可能に構成され、更に、
第4ビン19の設置されているポス24は上下シャフト
15をスライド可能になっている。使用時にはネジ28
.29で締結している。これらブロック22、ポス24
がスライド可能となっているため、例えばX線源8を被
検体25に近づけたり、遠ざけたシして、鮮明な画像等
を得る場合に対応でき、これによシ、X線源8と素子ア
レイ1の相対関係は変わることなく駆動できる。尚、上
下動板12と首振シ板20の移動角26.27は等しく
構成されている。この状態で移動テーブル5を動かせば
素子アレイ1と、X線源8は相対位置で共に動き被検体
25を横切り、X線照射を行なう。
発明の効果 上記の様に本発明にすれば被検体が横たわった場合、X
線源の初期位置は、被検体よシはずれた位置にあるので
よシ安全である。更に、素子アレイ巾は、車検体を横切
る方向にスキャニングするため撮影部位の巾でよく、体
の矢きさに関係ないのでコンパクトにできる。又、X線
源と半導体センサーの連結をリンク機構で行なっている
ため、場所をとらず装置が小型化でき、X線源と被検体
との距離も同機構の状態で変化させることができる等、
価値あるものである。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明の一実施例を示すX線照射装置の正面図
、第2図は同装置の要部斜視図、第3図は同装置の全体
斜視図、第4図は従来例の装置全体斜視図である。 1・・・・・・素子アレイ、3・・・・・・ガイドレー
ル、5・・・・・・直線移動テーブル、8・・・・・・
放射線源、12・・・・・・上下動板、15・・・・・
・上下動シャフト、2o・・・°“°首振り板。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名3−
一一力゛イドレフし 5−−− 、L*、オシ動チーフンし δ−−−夛辷射°線木 第2図 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 放射線に感応する素子を直線状または曲線弧状に連続的
    に配設した素子アレイに、放射線源から被写体を透過し
    てその被写体の透過像を含む放射線を照射し、前記放射
    線と前記素子アレイとを相対的に移動させて、放射線画
    像を検知する装置にあって、前記素子をスライドさせる
    直線移動型駆動手段と、この直線移動型駆動手段と前記
    放射線源を連結し、X線焦点を中心として前記放射線源
    と前記素子アレイを相対的に首振り動作を行なうリンク
    機構を有したX線照射装置。
JP60144236A 1985-07-01 1985-07-01 X線照射装置 Pending JPS625332A (ja)

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JP60144236A JPS625332A (ja) 1985-07-01 1985-07-01 X線照射装置

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JP60144236A JPS625332A (ja) 1985-07-01 1985-07-01 X線照射装置

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JPS625332A true JPS625332A (ja) 1987-01-12

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ID=15357414

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JP60144236A Pending JPS625332A (ja) 1985-07-01 1985-07-01 X線照射装置

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002071586A (ja) * 2000-09-01 2002-03-08 Horiba Ltd 二次元走査x線分析装置
CN104458775A (zh) * 2014-12-29 2015-03-25 丹东奥龙射线仪器集团有限公司 环形工位x射线实时成像检测装置
CN105043257A (zh) * 2015-08-10 2015-11-11 苏州听毅华自动化设备有限公司 一种可斜向扫描的全自动扫描仪
JP2015534874A (ja) * 2013-08-15 2015-12-07 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. X線装置

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