JPS626323A - 論理モジユ−ル診断方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は論理モジュール診断方式に関するものであシ
、特に、対象とする論理モジュールの出力部の近傍に所
定のシフトレジスタを付設し、このシフトレジスタに前
記論理モジュールの出力を例えば分岐させることによっ
て蓄積し、その内容をモニタすることができるようにさ
れた論理モジュール診断方式に関するものである。

〔従来の技術〕

第７図には従来技術による論理モジュールの概略構成が
示されている。この第７図において、（２）は論理診断
のためのシフトレジスタであって、これは適当な前段組
合せ回路（３ａ）と中段組合せ回路（３ｂ）との間、お
よび、中段組合せ回路（３ｂ）と後段組合せ回路（、ｔ
ｃ　）との間に配設されている。

（りは入力端子であって、これには、前段組合せ回路（
３ａ）に接続されたもの、前段組合せ回路（３ａ）と中
段組合せ回路（３ｂ）との間に配設されたシフトレジス
タ（２）に接続されたもの、および、後段組合せ回路（
３Ｃ）に接続されたものがある。

また、（りは出力端子であって、これには、後段組合せ
回路（３Ｃ）に接続されたもの、および、中段組合せ回
路（３ｂ）と後段組合せ回路（３Ｃ）との間に配設され
たシフトレジスタ（コ）に接続されたものがある。なお
、（６）はシフトレジスタ（コ）の間の走査信号経路、
（り）は前記シフトレジスタ（コ）へのデータ入力経路
、０＞はそのデータ出力経路を示すものである。そして
、これらの諸手段によって論理モジュール（１）が構成
されることになる。

第３図には、前記従来例の構成要素をなすシストレジス
タ（２）の概略構成が例示されている。この第ｊ図にお
いて、（コａ）はデータ入力、（コｂ）はクロック入力
、（ＪＣ）はデータ出力、（２ｄ）はシフトデータ入力
、（２ｅ）はシフトデータ出力である。そして、このよ
うなシフトレジスタ（コ）としては、第３図（ａ）に示
されているような、二種類のシフトクロック（コｆ）、
（２ｇ）が用意されているもの、および、第を図（ｂ）
に示されているような、１種類のシフトクロック（２ｔ
）とシフト状態の指示信号入力（２ｈ）を備えたものが
あるが、このようなシフトレジスタ（２）の詳細につい
ては、この発明に特別な影響を与えるものではないから
、これ以上の説明を省略する。

第９図には、前記従来例において後段組合せ回路（３Ｃ
）を中心とする要部の概略構成が示されている。この第
９図において、（９）は出力端子（５）を駆動するため
の適当な駆動素子であるが、場合によっては、これは省
略されることもある。なお、第７図と同一の符号が付さ
れているものは、同一または相当部分を示すものである
。

次に、上記された従来の論理モジュールに対ｆる論理診
断の動作について説明する。先ず、シフトレジスタ（２
）に対するクロック入力（ｘｂ）をオフとし、走査信号
経路（６）を使用して、これらのシフトレジスタ（コ）
に走査用クロックを印加することで所定の初期設定をさ
せる。これとともに、入力端子（りから所定のデータが
加えられる。次に、クロック入力（ｘｂ）をオンにして
シフトレジ６スタ（５）に前段組合せ回路（３ａ）から
の出力を格納し、しかる後に前記クロック入力（λｂ）
を再びオフにする。これに続けて、シフトレジスタ（コ
）に走査用クロックを印加することによシ、その内容を
中段組合せ回路（３ｂ）に移す。以下、同様にして、中
段組合せ回路（、ｙｂ）の内容はシフトレジスタ（コ）
を介して後段組合せ回路（３Ｃ）に移される。そして、
この後段組合せ回路（３Ｃ）からの出力は、出力端子（
３）において直接的に観測される。

このような診断をすることは、前記された論理モジュー
ルのような単体モジュールを対象とするときには格別な
問題を生じないけれども、このような単体モジュールを
複数個あるいは複数種備えるような複合モジュールが対
象とされるときには、その中のおる特定の単体モジュー
ルについて所定の診断をすることが困難になる。第１Ｏ
図は、この種の複合モジュールの概略構成の例示図であ
シ、いくつかの単体モジュール（Ａ／）、（Ω）・・・
ニヨシ所定の複合モジュール（Ｂ）が構成されたものが
示されている。従来は、このために特別な手段を用意し
ておき、対象とする複合モジュールの所定の出力端部に
これを接続させて、そこからの出力値をモニタするよう
にされていた。ところが、このようなやシ方によると、
診断あるいはモニタのための特別な手段を常に用意して
おかねばならず、また、自己診断機能部を論理モジュー
ルに内蔵させ・ることかできないことから、診断の可能
場所が限定されてしまう。例えば、ある所定の電子計算
機を組立てるためのＬＳＩやプリント回路基板について
みると、その製造工場や組立工場においては、ＬＳＩ　
テスタや基板テスタのような特別な手段による所要の診
断をすることができるけれども、製品としての電子計算
機が一旦工場外に搬出されてしまうと、前記された診断
をすることは不可能になってしまうものである。そこで
、このような場合の対処策として、複合モジュール（Ｂ
）のための診断操作用データを作成し、これによシ、複
合モジュール（Ｂ）の診断操作を行い、結果的に、単体
モジュール（Ａ／　）　、　（Ａλ）・・・の各々に対
する診断操作を行なうようにされている。このやシ方に
よυ相当程度の診断操作が可能にされるけれども、６る
単体モジュールが別種の単体モジュールで置換されるこ
とがあるような場合には、複合モジュールの具体的構成
やその遂行可能な機能が変更されてしまうこともあシ、
このようなことも対処できるようにするためには、多種
多用な診断操作用データを作成し、用意しておくことが
必要である。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記された従来例によれば、いくつかの単体モジュール
からなる複合モジュール内のある所定の単体モジュール
の診断操作を行なうことが困難であシ、また、ある複合
モジュール全体く適用できるような診断操作用データを
予め作成し、用意しておくようにすることについては、
当該複合モジュール内に含まれる単体モジュールが別種
のものと置換されて全体的な構成や機能に変化が生じる
可能性があることから、極めて多種多様な診断操作用デ
ータが必要になってしまうという問題点があった。

この発明は、上記された問題点を解決するためになされ
たものであって、診断操作の対象となる論理モジュール
の出力部の近傍に所定のシフトレジスタを付設し、この
シフトレジスタに前記論理モジュールの出力を蓄積し、
その内容をモニタできるようにされた論理モジュール診
断方式を得ることを目的とするものである。

〔問題点を解決するための手段〕

この発明に係る論理モジュール診断方式は、組合せ回路
の終段に接続される出力端子と、この出力端子において
えられる出力に対応する内容を蓄Φ 積するシフトレジスタとを少くとも含んでいる論理モジ
ュールについて、前記シフトレジスタの内容を外部から
モニタできるようにされたものである。

〔作用〕

この発明によれば、論理モジュール内の組合せ回路の終
段からの出力に対応する内容が、前記論理モジュールの
出力端子に対応して設けられているシフトレジスタの内
容を外部からモニタすることによって見られる。

〔実施例〕

以下、この発明の実施例のいくつかの構成例を図につい
て説明する。

第１図は、後段組合せ回路（３Ｃ）と出力端子（３）側
の駆動素子（デ）との間にシフトレジスタ（２人）が設
けられた構成のものである。この場合、前記シフトレジ
スタ（ＪＡ）は、フリップフロップまたはラッチのいず
れからなるものでもよいが、フリップフロップで構成さ
れるときには、装置全体の動作に合わせたクロックを用
意することが必要となシ、これに対して、ラッチで構成
されるときには、前記と同様なりロックを用意してもよ
く、または、診断操作時以外は常時オン状態に固定して
おいてもよい。そして、このシフトレジスタ（，２Ａ）
に蓄積されている内容をモニタすることにより、必要な
論理操作が行なわれることになる。

笛ユｌｆｆ１Ｒ−移設釦合せ回路（３ｃ）と出力端子（
ｙ）との間で駆動素子（テ）に対して並列にシフトレジ
スタ（２人）が設けられた構成のものである。このよう
な構成をとると、シフトレジスタ（コＡ）自身の遅延の
影響が生じ表いという利点がある。

第３図は、出力端子（３）と駆動素子（９）との間に、
シフトレジスタ（ＪＡ）が前記出力端子（５）と並列に
設けられた構成のものである。このような構成をとるこ
とによル、モジュールに対する診断操作は駆動素子（り
）をも含めて行なうことが可能にされる。また、第ダ図
は、駆動素子（？Ａ）として双方向ゲートが用いられた
構成のものであシ、この第ダ図の構成例のものにおいて
は、駆動素子（？Ａ）はダイオード（Ｄ／）および（Ｄ
コ）からなシ、出力端子（３）はこれら−個のダイオー
ドの直列接続点に接続されるとともに、シ７トレジスｐ
　（ａＡ）はダイオード（Ｄコ）に接続されている。

第ｊ図は、シフトレジスタ（２Ａ）がセレクタ（１０）
を介して後段組合せ回路（３Ｃ）と接続されているもの
である。前記セレクタ（１０）に対する入力は、前記後
段組合せ回路（３Ｃ）と出力端子（＆）の駆動素子（９
）との間で分岐されるものであり、このようにすること
によシ、前記出力端子（５）で見られる出力と等価のも
のがシフトレジスタ（２Ａ）に入力されることになる。

なお、セレクタ（１０）は、別に設けたセレクト用シフ
トレジスタ（コＳ）から加えられる所定のセレクト信号
（／／）で動作されるもので６Ｄ、と＼に、セレクト用
シフトレジスタ（２Ｓ）およびセレクト信号（／／）の
ビット数については格別な限定はされていない。

第６図は、７フトレジスタ（−Ａ）が適数段の排他的Ｏ
Ｒゲート（／りを介して後段組合せ回路（ｊｃ）と接続
されているものである。こ＼に、初段の排他的ＯＲゲー
ト（八〇は、後役組合せ回路（３Ｃ）からの所定の一個
の出力を受入れて、それらの間での排多的ＯＲをとシ、
この結果は、次段の排他的ＯＲゲート（八〇に加えられ
て、こ＼で後段組合せ回路（３ｃ）からの第３の出力と
の間で排他的ＯＲがとられる。以下、同様な論塩操作が
〈シ返されて、最終段の排他的ＯＲゲート（／コ）から
結果的に見られる７ビツトのデータがシフトレジスタ（
ＪＡ）にとり込まれることになる。このような構成例の
ものは、単一種の故障が想定されるようなモジュールに
対する診断手段として好適である。なお、第６図の構成
例のものに限らず、複数個の出力端子（５）をいくつか
のグループに分け、このグループ数に対応する個数のシ
フトレジスタを用意ビておき、前記グループ毎に後段組
合せ回路（３Ｃ）からの出力について排他的ＯＲをとシ
、この結果を夫々に対応するシフトレジスタにとシ入れ
るようにしてもよい。

なお、これら各種の構成例のものは、互いに独立に実施
できることは勿論であるが、これらを適当に組合せて実
施することもできるものである。

〔発明の効果〕

以上説明されたように、この発明の論理モジュール診断
方式によれば、論理モジュールに含すれている組合せ回
路の終段からの出力に対応する内容を、その出力端子に
対応して設けたシフトレジスタに蓄積し、この内容を外
部からモニタできる構成にされていることから、特別な
診断のための手段を用意することなく対象の論理モジュ
ールを診断することが可能にされ、また、前記論理モジ
ュールを単体モジュールとして必要個数だけ含む、よう
にされた複合モジュールに対する診断も容易になされる
という効果が奏せられる。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第６図は、この発明による実施例の各種構
成の例示図、第を図は、従来例の概略構成図、第を図は
、前記従来例に含まれるシフトレジスタの例示図、第９
図は、前記従来例の一部変形図、第１Ｏ図は、いくつか
の電位モジュー′ルで複合モジュールを構成する一般的
な説明図である。 （１）ハ論理モジュール、（コＡ）はシフトレジスタ、
（，２Ｓ）ハセレクト用シフトレジスタ、（，７ｃ）は
後段組合せ回路、（３）は出力端子、（ワ）は駆動素子
、（１０）はセレクタ、（／コ）は排他的ＯＲゲート。 なお、各図中、同一符号は同一または相当部分氾５図 手続補正書（自発） 昭和６１．’４．’２３　　日

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. （１）組合せ回路の終段に接続される出力端子と前記出
   力端子においてえられる出力に対応する内容を蓄積する
   シフトレジスタとを少なくとも含む論理モジュールにつ
   いて前記シフトレジスタの内容を外部からモニタできる
   ようにされた論理モジュール診断方式。
2. （２）前記シフトレジスタは対応する出力端子と組合せ
   回路の終段との間で直列にされている特許請求の範囲第
   １項記載の論理モジュール診断方式。
3. （３）前記シフトレジスタは対応する出力端子と並列に
   されて組合せ回路の終段に対して接続されている特許請
   求の範囲第１項記載の論理モジュール診断方式。
4. （４）前記シフトレジスタは所定のセレクタを介して組
   合せ回路の終段に接続されている特許請求の範囲第１項
   記載の論理モジュール診断方式。
5. （５）前記シフトレジスタは所定段数の排他的ＯＲゲー
   トを介して組合せ回路の終段に接続されている特許請求
   の範囲第１項記載の論理モジュール診断方式。