JPS6263833A - 光伝送損失測定方法および装置 - Google Patents
光伝送損失測定方法および装置Info
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- JPS6263833A JPS6263833A JP20382085A JP20382085A JPS6263833A JP S6263833 A JPS6263833 A JP S6263833A JP 20382085 A JP20382085 A JP 20382085A JP 20382085 A JP20382085 A JP 20382085A JP S6263833 A JPS6263833 A JP S6263833A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光ファイバによる光伝送損失の測定に利用する
。特に、光ファイバの曲がりや長さによる伝送損失を、
この光ファイバの伝搬モード毎に独立に測定する方法お
よび装置に関する。
。特に、光ファイバの曲がりや長さによる伝送損失を、
この光ファイバの伝搬モード毎に独立に測定する方法お
よび装置に関する。
本発明は、光ファイバの光伝送損失を測定する方法およ
び装置において、 被測定光ファイバを伝搬した複数モードと参照用光ファ
イバを伝搬した単一モードとを干渉させることにより、 上記複数モードの間の群遅延差を利用して各モードの伝
送損失を独立に測定するものである。
び装置において、 被測定光ファイバを伝搬した複数モードと参照用光ファ
イバを伝搬した単一モードとを干渉させることにより、 上記複数モードの間の群遅延差を利用して各モードの伝
送損失を独立に測定するものである。
光ファイバの曲げや長さによる伝送損失を測定するには
、従来は、複数のモード、特に最低次のＬＰ０１モード
とその次の低次モードであるＬＰ１１モードとを含む伝
搬光の強度変化を測定して求めていた。
、従来は、複数のモード、特に最低次のＬＰ０１モード
とその次の低次モードであるＬＰ１１モードとを含む伝
搬光の強度変化を測定して求めていた。
〔発明が解決しようとする問題点］
しかし、ＬＰ０１モードとＬＰ、、モードとでは、曲げ
や長さに対して受ける損失が本質的に異なる。
や長さに対して受ける損失が本質的に異なる。
しかし、ＬＰＯＩモードとＬＰ、、モードとを独立に測
定することは不可能であった。また、短尺の被測定光フ
ァイバについて測定する場合には、モードによる損失差
が少ないため測定のダイナミックレンジが小さくなり、
定量的な評価が困難である欠点があった。これに関して
は、マサハル・オーハシ等により、［光ファイバの２モ
ード伝搬領域におけるＬＰ、、モード）員失測定（ＬＰ
ｚ ｍｏｄｅｌｏｓｓ ０１ｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ
ｉｎ ｔｈｅ ｔｗｏ−＋ｍｏｄｅ−ｐｒｏｐａｇａｔ
ｉｏｎｒｅｇｉｏｒ＋ ｏｆ ｏｐｔｉｃａｌ ｆｉｂ
ｅｒｓ） Ｊ 、オプティクス・レターズ（Ｏｐｔ、Ｌ
ｅｔｔ、）第９巻（１９８４年）、第３０３〜３０５頁
に詳しく説明されている。
定することは不可能であった。また、短尺の被測定光フ
ァイバについて測定する場合には、モードによる損失差
が少ないため測定のダイナミックレンジが小さくなり、
定量的な評価が困難である欠点があった。これに関して
は、マサハル・オーハシ等により、［光ファイバの２モ
ード伝搬領域におけるＬＰ、、モード）員失測定（ＬＰ
ｚ ｍｏｄｅｌｏｓｓ ０１ｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ
ｉｎ ｔｈｅ ｔｗｏ−＋ｍｏｄｅ−ｐｒｏｐａｇａｔ
ｉｏｎｒｅｇｉｏｒ＋ ｏｆ ｏｐｔｉｃａｌ ｆｉｂ
ｅｒｓ） Ｊ 、オプティクス・レターズ（Ｏｐｔ、Ｌ
ｅｔｔ、）第９巻（１９８４年）、第３０３〜３０５頁
に詳しく説明されている。
本発明は、光ファイバ中を伝搬する複数のモード、特に
ＬＰ、、モードおよびＬＰ、、モードの伝送損失を、そ
れぞれ独立に測定する方法および装置を提供することを
目的とする。
ＬＰ、、モードおよびＬＰ、、モードの伝送損失を、そ
れぞれ独立に測定する方法および装置を提供することを
目的とする。
本発明の光伝送損失測定方法は、光源から出射された光
を二つの光束に分岐し、この二つの光束の一方を被測定
光ファイバに入射して複数のモードで伝搬させ、この二
つの光束の他方を参照用光ファイバに入射して一つのモ
ードで伝搬させ、上記被測定光ファイバを伝搬した光束
と上記参照用光ファイバを伝搬した光束とを干渉させ、
上記複数のモードの間の群遅延差により各モードに起因
する干渉の強度を独立に観測することにより各モード別
に光伝送損失を測定することを特徴とする。
を二つの光束に分岐し、この二つの光束の一方を被測定
光ファイバに入射して複数のモードで伝搬させ、この二
つの光束の他方を参照用光ファイバに入射して一つのモ
ードで伝搬させ、上記被測定光ファイバを伝搬した光束
と上記参照用光ファイバを伝搬した光束とを干渉させ、
上記複数のモードの間の群遅延差により各モードに起因
する干渉の強度を独立に観測することにより各モード別
に光伝送損失を測定することを特徴とする。
実際的には、被測定光ファイバ中を伝搬する複数のモー
ドはＬＰ０１モードおよびＬＰ、、モードであり、参照
用光ファイバ中を伝搬する一つのモードはＬ Ｐ ｏ
Ｉモードである。
ドはＬＰ０１モードおよびＬＰ、、モードであり、参照
用光ファイバ中を伝搬する一つのモードはＬ Ｐ ｏ
Ｉモードである。
本発明の光伝送損失測定装置は、可干渉性の光を出射す
る光源と、この光源が出射した光束を二つの光束に分岐
する光分岐手段と、この光分岐手段が分岐した光束の一
方を被測定光ファイバに入射する手段と、この光分岐手
段が分岐した光束の他方を単一のモードで伝搬する参照
用光ファイバと、上記被測定光ファイバから出射された
光束と上記参照用光ファイバの出射された光束とを同一
の観測面に導く光学手段と、上記二つの光束の少なくと
も一方の光路長を変化させる手段と、上記二つの光束に
より観測面に生じた干渉信号の振幅を測定する手段とを
備えたことを特徴とする。
る光源と、この光源が出射した光束を二つの光束に分岐
する光分岐手段と、この光分岐手段が分岐した光束の一
方を被測定光ファイバに入射する手段と、この光分岐手
段が分岐した光束の他方を単一のモードで伝搬する参照
用光ファイバと、上記被測定光ファイバから出射された
光束と上記参照用光ファイバの出射された光束とを同一
の観測面に導く光学手段と、上記二つの光束の少なくと
も一方の光路長を変化させる手段と、上記二つの光束に
より観測面に生じた干渉信号の振幅を測定する手段とを
備えたことを特徴とする。
本発明は、光ファイバ中を伝搬した複数のモード、特に
ＬＰ０１モードおよびＬＰ、、モードと、参照光ファイ
バを伝搬したＬＰ０１モードどの干渉を利用し、被測定
光ファイバを伝搬した複数のモードを群遅延差により時
間的に分離する。干渉強度はそれぞれのモードの光強度
の平方根に比例する。
ＬＰ０１モードおよびＬＰ、、モードと、参照光ファイ
バを伝搬したＬＰ０１モードどの干渉を利用し、被測定
光ファイバを伝搬した複数のモードを群遅延差により時
間的に分離する。干渉強度はそれぞれのモードの光強度
の平方根に比例する。
したがって、この干渉強度を測定することにより光ファ
イバの曲げや長さに依存するそれぞれのモードの損失、
特にＬＰ１１モードの損失を測定することができる。さ
らに、干渉強度が光強度の平方根に比例するため、高次
モードの光強度の感度は二乗倍に向上する。
イバの曲げや長さに依存するそれぞれのモードの損失、
特にＬＰ１１モードの損失を測定することができる。さ
らに、干渉強度が光強度の平方根に比例するため、高次
モードの光強度の感度は二乗倍に向上する。
第１図は本発明実施例光伝送損失測定装置の構成図であ
る。
る。
光源１の出射した光束は、偏光子２を通過し、音響光学
変調器３により二つの光束に分離される。
変調器３により二つの光束に分離される。
第一の光束は被測定光ファイバ８に入射する。この被測
定光ファイバ８の出射光は受光器１２に入射する。この
出射光を受光器１２に導くために、反射鏡７および半透
鏡１０が用いられる。第二の光束は参照用光ファイバ９
に入射する。第二の光束を参照用光ファイバ９に導くた
めに、反射鏡５．６が用いられる。参照用光ファイバ９
の出射光は、半透鏡１０を通過し、可動鏡１１で反射さ
れ、半透鏡１０で第一の光束と合波され、受光器１２に
入射する。
定光ファイバ８の出射光は受光器１２に入射する。この
出射光を受光器１２に導くために、反射鏡７および半透
鏡１０が用いられる。第二の光束は参照用光ファイバ９
に入射する。第二の光束を参照用光ファイバ９に導くた
めに、反射鏡５．６が用いられる。参照用光ファイバ９
の出射光は、半透鏡１０を通過し、可動鏡１１で反射さ
れ、半透鏡１０で第一の光束と合波され、受光器１２に
入射する。
音響光学変調器３には駆動用発振器４が接続される。受
光器１２は増幅器１３およびフィルタ１４を介して波形
記憶装置１５に接続される。波形記憶装置１５は可動鏡
１１およびレコーダ１６に接続される。
光器１２は増幅器１３およびフィルタ１４を介して波形
記憶装置１５に接続される。波形記憶装置１５は可動鏡
１１およびレコーダ１６に接続される。
光源１は可干渉性の光束を出射する。音響光学変調器３
は、光源ｌからの光束を、駆動用発振器４からの駆動周
波数だけ周波数が偏移した二つの光束に空間的に分離す
る。
は、光源ｌからの光束を、駆動用発振器４からの駆動周
波数だけ周波数が偏移した二つの光束に空間的に分離す
る。
被測定光ファイバ８は、光源１の発光波長におけるＬＰ
ｚモードを伝搬するように、オフセント波長が光源Ｉの
波長以上になるように設定されている。参照用光ファイ
バ９は、参照光としてＬＰ０１モードを伝搬するように
、カットオフ周波数が光源１の波長以下のものを用いる
。
ｚモードを伝搬するように、オフセント波長が光源Ｉの
波長以上になるように設定されている。参照用光ファイ
バ９は、参照光としてＬＰ０１モードを伝搬するように
、カットオフ周波数が光源１の波長以下のものを用いる
。
受光器１２は、被測定光ファイバ８から出射されたＬＰ
０１モードおよびＬＰ、、モードの光束と、参照用光フ
ァイバ９から出射されたＬＰ０１モードの参照光との干
渉強度を、音響光学変調器３の駆動周波数ｆのビート信
号として検出する。受光器１４２の検出したビート信号
は、増幅および検波の後に波形記憶装置１５に記憶され
る。
０１モードおよびＬＰ、、モードの光束と、参照用光フ
ァイバ９から出射されたＬＰ０１モードの参照光との干
渉強度を、音響光学変調器３の駆動周波数ｆのビート信
号として検出する。受光器１４２の検出したビート信号
は、増幅および検波の後に波形記憶装置１５に記憶され
る。
ここで、一方の光路長を可動鏡１１で掃引することによ
り、ビート信号の振幅を光路長の関数として測定する。
り、ビート信号の振幅を光路長の関数として測定する。
ビート信号の振幅は二つの光束間の光路長差が零のとき
に最大となり、ＬＰ０１モードとＬｐＨモードとでは、
その群遅延差が異なるため、異なる位置でビート信号の
振幅が最大となる。
に最大となり、ＬＰ０１モードとＬｐＨモードとでは、
その群遅延差が異なるため、異なる位置でビート信号の
振幅が最大となる。
受光器１２における被測定光ファイバ８を伝搬したＬ
Ｐ ０１ｌモード強度を■。、ＬＰ、、モードの強度を
１１、参照光の強度をＩＲとすると、受光器１２の出力
電流ｉ （ｔ）は、 １（ｔ）ｏｃｉ。＋１．＋（、ｌ ＋２Ｅコーｌｒ（τ。１）１０゜３φ。。
Ｐ ０１ｌモード強度を■。、ＬＰ、、モードの強度を
１１、参照光の強度をＩＲとすると、受光器１２の出力
電流ｉ （ｔ）は、 １（ｔ）ｏｃｉ。＋１．＋（、ｌ ＋２Ｅコーｌｒ（τ。１）１０゜３φ。。
＋２ζπＩ７（τ。すｌ ｃｏｓ（２πｆｔ＋φｏｘ）
＋２ Ｊ］マＩ ｒ （τ１１Ｉ） ｌ Ｃｏ５（’２
ｆｆｆｔ＋φ１８）−・・−（１） と表される。ここで、τＩｌ＋、τＯＲおよびτ、Ｒは
、それぞれ被測定光ファイバを伝搬したＬＰＧ、モード
とＬ Ｐ ＋ ｌモードとの群遅延差、ＬＰ、ｌモード
と参照光との群遅延差およびＬＰ、、モードと参照光と
の群遅延差であり、１γ（τ。１）１．１γ（τ。いお
よびｌｒ（τ＋＊）ｌは、それぞれ群遅延差τ。８、τ
ｏＲおよびτ、に対するコヒーレンス度であり、φｏＩ
、φＯＲおよびφ、は、それぞれの位相差である。（１
）弐の周波数ｆ成分ｔｒ（ｔ）は、ｉ 、（ｔ）ｏｃ
’ｌ （ＶＡＴ”；； ｌ ｒ （τ１１Ｊ１） １
＋２花−−ＩＴ（τ１８）ｌ ・−・・−・（
２）となる。可動鏡１１を掃引すると、群遅延差τＯＮ
、τ、が零となる位置において、それぞれＬＰ０１モー
ドと参照光とのビート信号の振幅、Ｌ Ｐ ＋ をモー
ドと参照光のビート信号の振幅が最大となる。これらの
最大値の間の可動鏡１１の移動距離ｄから、二つのモー
ド間の群遅延差τ（τ−２ｄ／ｃ、ただしＣは自由空間
における光速）を求めることができる。これについては
、エヌ・シバタ他、［光へテロダイン検波による偏光モ
ード分散の測定（Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ ｏｆ Ｐｏ
１ａｒｉｚａｔｔｏｎ ｍｏｄｅ ｄｉｓｐｅｒｓｉｏ
ｎｂｙ ｏｐｔｉｃａｌ ｈｅｔｅｒｏｄｙｎｅ ｄｅ
ｔｅｃｔｉｏｎ） Ｊ 、エレクトロニクス・レター
ズ（１１！１ｅｃｔｒｏｎ、Ｌｅｔｔ、）第２０巻（１
９８４年）第１０５５〜１０５７頁に詳しく説明されて
いる。
＋２ Ｊ］マＩ ｒ （τ１１Ｉ） ｌ Ｃｏ５（’２
ｆｆｆｔ＋φ１８）−・・−（１） と表される。ここで、τＩｌ＋、τＯＲおよびτ、Ｒは
、それぞれ被測定光ファイバを伝搬したＬＰＧ、モード
とＬ Ｐ ＋ ｌモードとの群遅延差、ＬＰ、ｌモード
と参照光との群遅延差およびＬＰ、、モードと参照光と
の群遅延差であり、１γ（τ。１）１．１γ（τ。いお
よびｌｒ（τ＋＊）ｌは、それぞれ群遅延差τ。８、τ
ｏＲおよびτ、に対するコヒーレンス度であり、φｏＩ
、φＯＲおよびφ、は、それぞれの位相差である。（１
）弐の周波数ｆ成分ｔｒ（ｔ）は、ｉ 、（ｔ）ｏｃ
’ｌ （ＶＡＴ”；； ｌ ｒ （τ１１Ｊ１） １
＋２花−−ＩＴ（τ１８）ｌ ・−・・−・（
２）となる。可動鏡１１を掃引すると、群遅延差τＯＮ
、τ、が零となる位置において、それぞれＬＰ０１モー
ドと参照光とのビート信号の振幅、Ｌ Ｐ ＋ をモー
ドと参照光のビート信号の振幅が最大となる。これらの
最大値の間の可動鏡１１の移動距離ｄから、二つのモー
ド間の群遅延差τ（τ−２ｄ／ｃ、ただしＣは自由空間
における光速）を求めることができる。これについては
、エヌ・シバタ他、［光へテロダイン検波による偏光モ
ード分散の測定（Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔ ｏｆ Ｐｏ
１ａｒｉｚａｔｔｏｎ ｍｏｄｅ ｄｉｓｐｅｒｓｉｏ
ｎｂｙ ｏｐｔｉｃａｌ ｈｅｔｅｒｏｄｙｎｅ ｄｅ
ｔｅｃｔｉｏｎ） Ｊ 、エレクトロニクス・レター
ズ（１１！１ｅｃｔｒｏｎ、Ｌｅｔｔ、）第２０巻（１
９８４年）第１０５５〜１０５７頁に詳しく説明されて
いる。
これに対して、（２）弐の右辺の第２項は、ＬＰ＋＋モ
ードと参照光とのビート信号の振幅を表す。この値は被
測定光ファイバ８の曲げ（曲げ直径２Ｒ）に依存して変
化するため、ＬＰ、、モードの伝送損失の曲げ依存性を
求めることができるφ第２図ないし第４図は光路長差に
対するビート信号の振幅を示す図である。それぞれ、曲
げ直径２Ｒが２００．７０．５０ｍ５＋の各場合につい
て示す。光源１０波長λは１．２９μｍ、被測定光ファ
イバ８の長さしは２．８ｍである。
ードと参照光とのビート信号の振幅を表す。この値は被
測定光ファイバ８の曲げ（曲げ直径２Ｒ）に依存して変
化するため、ＬＰ、、モードの伝送損失の曲げ依存性を
求めることができるφ第２図ないし第４図は光路長差に
対するビート信号の振幅を示す図である。それぞれ、曲
げ直径２Ｒが２００．７０．５０ｍ５＋の各場合につい
て示す。光源１０波長λは１．２９μｍ、被測定光ファ
イバ８の長さしは２．８ｍである。
群遅延差τ。えが零でコヒーレンス度１ｒ（τ。ｌＩ）
が１のとき、ＬＰ０１モードによるビート信号の振幅が
最大となる。また、群遅延差τｌが零でコヒーレンス度
１γ（τＩＫ）１が１のとき、ＬＰ１１モードによるビ
ート信号の振幅が最大となる。これらをそれぞれ矢印で
示す。この最大値により、直径２Ｒに対する２君下葭の
値の曲げ依存性が得られる。ここで参照光の強度Ｉｌｌ
は一定であり、ＬＰ、。
が１のとき、ＬＰ０１モードによるビート信号の振幅が
最大となる。また、群遅延差τｌが零でコヒーレンス度
１γ（τＩＫ）１が１のとき、ＬＰ１１モードによるビ
ート信号の振幅が最大となる。これらをそれぞれ矢印で
示す。この最大値により、直径２Ｒに対する２君下葭の
値の曲げ依存性が得られる。ここで参照光の強度Ｉｌｌ
は一定であり、ＬＰ、。
モードの強度Ｉ、の曲げ直径２Ｒに対する依存性は二乗
倍の高感度で得られる。
倍の高感度で得られる。
また、被測定光ファイバ８の長さしが２．８ｍのときの
ニモード間の群遅延差は、ピーク間の光路差２ｄ、すな
わち可動鏡１１の移動距離の２倍を実測することにより
得られる。本実施例では、２ｄの値は５．８４ｍｍであ
り、群遅延差は１９．５ピコ秒であった。
ニモード間の群遅延差は、ピーク間の光路差２ｄ、すな
わち可動鏡１１の移動距離の２倍を実測することにより
得られる。本実施例では、２ｄの値は５．８４ｍｍであ
り、群遅延差は１９．５ピコ秒であった。
第５図は曲げ直径に対するｉ＝ Ｐ ＋ ＋モードの損
失の測定結果と計算値とを示す。計算値を直線、−・点
鎖線および破線で示し、測定値を○印、Δ印、Ｘ印で示
し、それぞれ光源ｌの波長λが１．２μｍ、１．２９ａ
ｍおよび１．３ｂｒ＋ｍのときの値を示す。この図から
３００ｄＢ／ｍ程度のダイナミックレンジでの測定が可
能であることがわかる。
失の測定結果と計算値とを示す。計算値を直線、−・点
鎖線および破線で示し、測定値を○印、Δ印、Ｘ印で示
し、それぞれ光源ｌの波長λが１．２μｍ、１．２９ａ
ｍおよび１．３ｂｒ＋ｍのときの値を示す。この図から
３００ｄＢ／ｍ程度のダイナミックレンジでの測定が可
能であることがわかる。
以上の実施例では、通常の光ファイバを使用するうえで
問題となるＬＰ、、モー４′とＬＰｚモートとの伝送損
失を例に説明した。しかし、本発明は原理的に、群遅延
時間の異なるモードの伝送損失を独立に測定することが
可能である。
問題となるＬＰ、、モー４′とＬＰｚモートとの伝送損
失を例に説明した。しかし、本発明は原理的に、群遅延
時間の異なるモードの伝送損失を独立に測定することが
可能である。
以上説明したように、本発明の光伝送損失測定方法およ
び装置は、被測定光ファイバを伝搬する光束のモードを
、サブピコ秒の分解能で時間的に分離することができる
。このため、例えば数ｍ程度の短尺の被測定光ファイバ
でも、ＬｐＨモードの曲げ損失をＬ １３゜オモードと
独立に高感度で測定することができる。
び装置は、被測定光ファイバを伝搬する光束のモードを
、サブピコ秒の分解能で時間的に分離することができる
。このため、例えば数ｍ程度の短尺の被測定光ファイバ
でも、ＬｐＨモードの曲げ損失をＬ １３゜オモードと
独立に高感度で測定することができる。
ＬＰ、、モード損失をＬＰ、、モードと独立に測定でき
ることから、被測定光ファイバの長さを変えることによ
り、ＬＰ、、モード損失の光ファイバ長依存性を評価す
ることもできる。したがって、光ファイバの特性パラメ
ータである実効カットオフ波長を評価することができる
。
ることから、被測定光ファイバの長さを変えることによ
り、ＬＰ、、モード損失の光ファイバ長依存性を評価す
ることもできる。したがって、光ファイバの特性パラメ
ータである実効カットオフ波長を評価することができる
。
さらに、ＬＰ、、モード損失の測定と同時に、伝搬モー
ドが分離される光路長差から、モード間の群遅延差をサ
ブピコ秒の精度で求めることができる。
ドが分離される光路長差から、モード間の群遅延差をサ
ブピコ秒の精度で求めることができる。
したがって、本発明は光ファイバの性能評価に利用して
大きな効果がある。
大きな効果がある。
第１図は本発明実施例光伝送損失測定装置の構成図。
第２図は光路長差に対するビート信号の振幅を示す図。
第３図は光路長差に対するビート信号の振幅を示す図。
第４図は光路長差に対するビート信号の振幅を示す図。
第５図は曲げ直径に対するＩ−Ｐ＋＋モード１員失の測
定結果と計算値とを示す図。 １・・・光源、２・・・偏光子、３・・・音響光学変調
器、４・・・駆動用発振器、５．６．７・・・反射鏡、
８・・・被測定光ファイバ、９・・・参照用光ファイバ
、１０・・・半透鏡、１１・・・可動鏡、１２・・・受
光器、１３・・・増幅器、１４・・・フィルタ、１５・
・・波形記憶装置、１６・・・レコーダ。 特許出願人 日本電信電話株式会社 、−１、代理人
弁理士 井 出 直 孝 、゛１実施例装置 第１図 光Ｗ＆負！ ＬｍｌＴＩＪ
定結果と計算値とを示す図。 １・・・光源、２・・・偏光子、３・・・音響光学変調
器、４・・・駆動用発振器、５．６．７・・・反射鏡、
８・・・被測定光ファイバ、９・・・参照用光ファイバ
、１０・・・半透鏡、１１・・・可動鏡、１２・・・受
光器、１３・・・増幅器、１４・・・フィルタ、１５・
・・波形記憶装置、１６・・・レコーダ。 特許出願人 日本電信電話株式会社 、−１、代理人
弁理士 井 出 直 孝 、゛１実施例装置 第１図 光Ｗ＆負！ ＬｍｌＴＩＪ
Claims (3)
- （１）光源から出射された光を二つの光束に分岐し、こ
の二つの光束の一方を被測定光ファイバに入射して複数
のモードで伝搬させ、 この二つの光束の他方を参照用光ファイバに入射して一
つのモードで伝搬させ、 上記被測定光ファイバを伝搬した光束と上記参照用光フ
ァイバを伝搬した光束とを干渉させ、上記複数のモード
の間の群遅延差により各モードに起因する干渉の強度を
独立に観測することにより各モード別に光伝送損失を測
定する ことを特徴とする光伝送損失測定方法。 - （２）被測定光ファイバ中を伝搬する複数のモードはＬ
Ｐ＿０＿１モードとＬＰ＿１＿１モードとを含み、参照
用光ファイバ中を伝搬する一つのモードはＬＰ＿０＿１
モードである 特許請求の範囲第（１）項に記載の光伝送損失測定方法
。 - （３）可干渉性の光を出射する光源と、 この光源が出射した光束を二つの光束に分岐する光分岐
手段と、 この光分岐手段が分岐した光束の一方を被測定光ファイ
バに入射する手段と、 この光分岐手段が分岐した光束の他方を単一のモードで
伝搬する参照用光ファイバと、 上記被測定光ファイバから出射された光束と上記参照用
光ファイバの出射された光束とを同一の観測面に導く光
学手段と、 上記二つの光束の少なくとも一方の光路長を変化させる
手段と、 上記二つの光束により観測面に生じた干渉信号の振幅を
測定する手段と を備えた光伝送損失測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20382085A JPH0658291B2 (ja) | 1985-09-13 | 1985-09-13 | 光伝送損失測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20382085A JPH0658291B2 (ja) | 1985-09-13 | 1985-09-13 | 光伝送損失測定方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6263833A true JPS6263833A (ja) | 1987-03-20 |
| JPH0658291B2 JPH0658291B2 (ja) | 1994-08-03 |
Family
ID=16480254
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20382085A Expired - Fee Related JPH0658291B2 (ja) | 1985-09-13 | 1985-09-13 | 光伝送損失測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0658291B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005015149A1 (ja) * | 2003-08-12 | 2005-02-17 | Bussan Nanotech Research Institute, Inc. | 検出装置、光路長測定装置、測定用器具、光学部材評価方法、温度変化検出方法 |
| KR100719892B1 (ko) | 2005-03-23 | 2007-05-18 | 광주과학기술원 | 다중모드광섬유의 모드간 차등지연시간 측정장치 |
| KR100725211B1 (ko) | 2006-01-25 | 2007-06-04 | 광주과학기술원 | 다중모드 도파로의 다중모드간 차등시간지연 측정장치 및 그 측정방법 |
| US9835520B2 (en) | 2016-03-17 | 2017-12-05 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Spatial-mode optical power measurement method and apparatus |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112665823B (zh) * | 2020-12-14 | 2023-09-26 | 上海大学 | 一种光纤模式时域能量波动曲线测量装置和测量方法 |
-
1985
- 1985-09-13 JP JP20382085A patent/JPH0658291B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005015149A1 (ja) * | 2003-08-12 | 2005-02-17 | Bussan Nanotech Research Institute, Inc. | 検出装置、光路長測定装置、測定用器具、光学部材評価方法、温度変化検出方法 |
| US7426038B2 (en) | 2003-08-12 | 2008-09-16 | Fujikura Ltd. | Detection device, optical path length measurement device, measurement instrument, optical member evaluation method, and temperature change detection method |
| KR100719892B1 (ko) | 2005-03-23 | 2007-05-18 | 광주과학기술원 | 다중모드광섬유의 모드간 차등지연시간 측정장치 |
| KR100725211B1 (ko) | 2006-01-25 | 2007-06-04 | 광주과학기술원 | 다중모드 도파로의 다중모드간 차등시간지연 측정장치 및 그 측정방법 |
| US9835520B2 (en) | 2016-03-17 | 2017-12-05 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Spatial-mode optical power measurement method and apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0658291B2 (ja) | 1994-08-03 |
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