JPS626493Y2 - - Google Patents
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- JPS626493Y2 JPS626493Y2 JP5730878U JP5730878U JPS626493Y2 JP S626493 Y2 JPS626493 Y2 JP S626493Y2 JP 5730878 U JP5730878 U JP 5730878U JP 5730878 U JP5730878 U JP 5730878U JP S626493 Y2 JPS626493 Y2 JP S626493Y2
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- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 23
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 claims description 9
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は試料物体と標準物体に光束を照射し、
それぞれの物体からの反射光あるいは透過光を分
散素子に導びいて、この分散された光を複数個の
検出器で同時に検出し、この検出信号を演算処理
して試料物体の色彩特性を測定する分光測色装置
に関するものである。
それぞれの物体からの反射光あるいは透過光を分
散素子に導びいて、この分散された光を複数個の
検出器で同時に検出し、この検出信号を演算処理
して試料物体の色彩特性を測定する分光測色装置
に関するものである。
従来、物体に光を照射して測色を行なう場合、
物体に照射する光束の短波長側の光強度を確保す
るためにキセノンランプ等の光源を使用している
が、それらのランプの光強度は高周波領域の変動
と、超低周波領域の変動があり時間的に一定とは
いえない。これらの光源ランプの光束を標準物体
と試料物体とに照射して、標準物体からの反射光
と試料物体からの反射光との２光束を時間的に分
割してチヨツパーミラ等でひとつの光路上に交互
に導びいて分光器に入射させると、この場合標準
信号と試料信号とには時間差があるために、ラン
プの光強度の変動に基づく誤差のため測色精度・
再現性が十分に得られない。また光束の時分割を
せずに、２光束のまま分光器に入射すると、１光
束の時に比べて分光器、検出器および信号処理部
が倍必要となり、装置の構成が複雑化すると同時
に高価なものとなつてしまう。特に検出器を多数
ならべて多波長を同時に測光して測定時間の短縮
を計ろうとする場合には全く実用に適さない。
物体に照射する光束の短波長側の光強度を確保す
るためにキセノンランプ等の光源を使用している
が、それらのランプの光強度は高周波領域の変動
と、超低周波領域の変動があり時間的に一定とは
いえない。これらの光源ランプの光束を標準物体
と試料物体とに照射して、標準物体からの反射光
と試料物体からの反射光との２光束を時間的に分
割してチヨツパーミラ等でひとつの光路上に交互
に導びいて分光器に入射させると、この場合標準
信号と試料信号とには時間差があるために、ラン
プの光強度の変動に基づく誤差のため測色精度・
再現性が十分に得られない。また光束の時分割を
せずに、２光束のまま分光器に入射すると、１光
束の時に比べて分光器、検出器および信号処理部
が倍必要となり、装置の構成が複雑化すると同時
に高価なものとなつてしまう。特に検出器を多数
ならべて多波長を同時に測光して測定時間の短縮
を計ろうとする場合には全く実用に適さない。
本考案は時分割方式において、簡単な構成で測
色精度、再現性の秀れた分光測色装置を提供しよ
うとするものであり、構成の要旨とするところは
試料物体からの光束と標準物体からの光束を交互
に上記分散素子に入射せしめる光束切換機構と、
上記検出器ごとに検出信号を積分するとともに光
束の切換時にリセツト動作する複数のアナログ積
分器と、このアナログ積分器の積分結果をデイジ
タル信号に変換するアナログデイジタル変換器と
この変換器からの信号を試料物体からの信号と標
準物体からの信号とに分離して加算する加算装置
とを備え有し、この加算装置の結果を用いて測色
演算するようにしたところにある。
色精度、再現性の秀れた分光測色装置を提供しよ
うとするものであり、構成の要旨とするところは
試料物体からの光束と標準物体からの光束を交互
に上記分散素子に入射せしめる光束切換機構と、
上記検出器ごとに検出信号を積分するとともに光
束の切換時にリセツト動作する複数のアナログ積
分器と、このアナログ積分器の積分結果をデイジ
タル信号に変換するアナログデイジタル変換器と
この変換器からの信号を試料物体からの信号と標
準物体からの信号とに分離して加算する加算装置
とを備え有し、この加算装置の結果を用いて測色
演算するようにしたところにある。
以下実施例に基づいて本考案を説明する。第１
図は本考案の動作説明するための概略図であり、
１は光源、２は積分球、３は標準物体、４は試料
物体、５は切換鏡、６は反射鏡、７はスリツト、
８は分散素子、９は検出器、１０はアナログ積分
器、１１はアナログデイジタル変換器（Ａ−Ｄ変
換器）、１２は標準信号加算部、１３は試料信号
加算部、１４は暗（ブランク）信号加算部、１５
は出力表示器、１６は制御装置（例えばマイクロ
コンピユータ）である。第２図は検出器９の出力
信号強度と時間との関係を説明するための図であ
り、期間Ｂにおける信号Ｂは分散素子８に光束が
全く入射しないブランク期間の検出器９の出力信
号（以下暗信号Ｂと記す）、期間Ｓにおける信号
Ｓは分散素子８に試料物体４からの反射光束が入
射する期間の検出器９の出力信号（以下試料信号
Ｓと記す）、期間Ｒにおける信号Ｒは分散素子８
に標準物体３からの反射光束が入射する期間の検
出器９の出力信号（以下標準信号Ｒと記す）、期
間Ｔにおける信号Ｔは信号Ｂ，S′，Ｒ間の移行中
の信号（以下移行信号Ｔと記す）である。以上の
構成において続いて動作を説明する。
図は本考案の動作説明するための概略図であり、
１は光源、２は積分球、３は標準物体、４は試料
物体、５は切換鏡、６は反射鏡、７はスリツト、
８は分散素子、９は検出器、１０はアナログ積分
器、１１はアナログデイジタル変換器（Ａ−Ｄ変
換器）、１２は標準信号加算部、１３は試料信号
加算部、１４は暗（ブランク）信号加算部、１５
は出力表示器、１６は制御装置（例えばマイクロ
コンピユータ）である。第２図は検出器９の出力
信号強度と時間との関係を説明するための図であ
り、期間Ｂにおける信号Ｂは分散素子８に光束が
全く入射しないブランク期間の検出器９の出力信
号（以下暗信号Ｂと記す）、期間Ｓにおける信号
Ｓは分散素子８に試料物体４からの反射光束が入
射する期間の検出器９の出力信号（以下試料信号
Ｓと記す）、期間Ｒにおける信号Ｒは分散素子８
に標準物体３からの反射光束が入射する期間の検
出器９の出力信号（以下標準信号Ｒと記す）、期
間Ｔにおける信号Ｔは信号Ｂ，S′，Ｒ間の移行中
の信号（以下移行信号Ｔと記す）である。以上の
構成において続いて動作を説明する。
光源１からの光はまず積分球２内に導入され、
積分球２によつて平均化された光束は標準物体３
および試料物体４に照射される。そして標準物体
３からの反射光と試料物体４からの反射光とはそ
れぞれ積分球２から取り出され、切換鏡５および
反射鏡６によつて時分割的にひとつの光路上に導
びかれ、スリツト７を通つて分散素子（例えばク
レーテイング）８に入射してこの分散素子によつ
て光束は分散され、分散された波長ごとに検出器
９で検出される（検出器９は実際には複数個同じ
ものが設けられているが、今は説明の便宜上ひと
つとして説明する）。この検出器９の出力信号は
第２図のようになつている。移行信号Ｔは移行中
の不必要な信号であるからカツトされて、この信
号Ｔはアナログ積分器１０には導入されない。続
く暗信号Ｂはいわば検出系のベースラインの信号
であり、この暗信号Ｂはアナログ積分器１０に導
入され（アナログ積分器１０は移行信号Ｔが信号
Ｂに切換わる直前にリセツトされている）暗信号
Ｂの終了とともにこの積分結果はＡ−Ｄ変換器１
１によりデイジタル信号化され暗（ブランク）信
号加算部１４にデイジタル信号のままで蓄積され
る。次の移行信号Ｔはカツトされ、いつたんアナ
ログ積分器１０がリセツトされた後に、暗信号Ｂ
のときと同様に試料信号Ｓがアナログ積分および
デイジタル化されて試料信号加算部１３に蓄積さ
れる。その次の移行信号Ｔはカツトされるととも
にアナログ積分器１０は再度リセツトされて、標
準物体３からの透過光を検出器９の標準信号Ｒを
アナログ積分器１０で積分され積分結果は直ちに
デイジタル信号化されて標準信号加算部１２に蓄
積される。そしてこのような測定・信号処理過程
が何度も繰り返えされて、暗信号Ｂ、標準信号Ｒ
および試料信号Ｓが分離蓄積されていく。つま
り、暗信号Ｂ、標準信号Ｒおよび試料信号Ｓは各
別にデイジタル積分されていく。
積分球２によつて平均化された光束は標準物体３
および試料物体４に照射される。そして標準物体
３からの反射光と試料物体４からの反射光とはそ
れぞれ積分球２から取り出され、切換鏡５および
反射鏡６によつて時分割的にひとつの光路上に導
びかれ、スリツト７を通つて分散素子（例えばク
レーテイング）８に入射してこの分散素子によつ
て光束は分散され、分散された波長ごとに検出器
９で検出される（検出器９は実際には複数個同じ
ものが設けられているが、今は説明の便宜上ひと
つとして説明する）。この検出器９の出力信号は
第２図のようになつている。移行信号Ｔは移行中
の不必要な信号であるからカツトされて、この信
号Ｔはアナログ積分器１０には導入されない。続
く暗信号Ｂはいわば検出系のベースラインの信号
であり、この暗信号Ｂはアナログ積分器１０に導
入され（アナログ積分器１０は移行信号Ｔが信号
Ｂに切換わる直前にリセツトされている）暗信号
Ｂの終了とともにこの積分結果はＡ−Ｄ変換器１
１によりデイジタル信号化され暗（ブランク）信
号加算部１４にデイジタル信号のままで蓄積され
る。次の移行信号Ｔはカツトされ、いつたんアナ
ログ積分器１０がリセツトされた後に、暗信号Ｂ
のときと同様に試料信号Ｓがアナログ積分および
デイジタル化されて試料信号加算部１３に蓄積さ
れる。その次の移行信号Ｔはカツトされるととも
にアナログ積分器１０は再度リセツトされて、標
準物体３からの透過光を検出器９の標準信号Ｒを
アナログ積分器１０で積分され積分結果は直ちに
デイジタル信号化されて標準信号加算部１２に蓄
積される。そしてこのような測定・信号処理過程
が何度も繰り返えされて、暗信号Ｂ、標準信号Ｒ
および試料信号Ｓが分離蓄積されていく。つま
り、暗信号Ｂ、標準信号Ｒおよび試料信号Ｓは各
別にデイジタル積分されていく。
以上の説明で明らかなように、光源の高周波的
な変動（図中の各信号波形における細い変動）は
アナログ積分器１０で短期間ごとにアナログ積分
することによつて平均化されとり除くことがで
き、さらに低周波的なゆつくりした光源の変動は
アナログ積分の信号結果をデイジタル信号にして
何度も長期に互り加算（デイジタル積分）するこ
とによつて、平均化されとり除くことができるの
である。デイジタル積分であるから蓄積されてい
く段階におけるドリフトの心配は全くない。さら
にこの後 （試料信号加算部１３の積算値）−（暗信号加算部１４の積算値）／（標準信号加算部１２の積算値）−（暗信号
加算部１４の積算値） を制御装置１６によつて計算し、反射率を求めた
後測色演算して出力表示器１５にて表示する。本
実施例でt1＝22×10-3（秒）、t2＝10×10-3
（秒）、くり返し測定を30回とした場合、２秒でひ
とつの測定を終了させた時には、このデータの再
現性は100％の反射率時で±0.020％以内となり、
従来より著しく改善されることが確認された。
な変動（図中の各信号波形における細い変動）は
アナログ積分器１０で短期間ごとにアナログ積分
することによつて平均化されとり除くことがで
き、さらに低周波的なゆつくりした光源の変動は
アナログ積分の信号結果をデイジタル信号にして
何度も長期に互り加算（デイジタル積分）するこ
とによつて、平均化されとり除くことができるの
である。デイジタル積分であるから蓄積されてい
く段階におけるドリフトの心配は全くない。さら
にこの後 （試料信号加算部１３の積算値）−（暗信号加算部１４の積算値）／（標準信号加算部１２の積算値）−（暗信号
加算部１４の積算値） を制御装置１６によつて計算し、反射率を求めた
後測色演算して出力表示器１５にて表示する。本
実施例でt1＝22×10-3（秒）、t2＝10×10-3
（秒）、くり返し測定を30回とした場合、２秒でひ
とつの測定を終了させた時には、このデータの再
現性は100％の反射率時で±0.020％以内となり、
従来より著しく改善されることが確認された。
なお、この実施例において、検出器以後の電気
系のドリフトが非常に少ない時には暗信号Ｂの測
定を省略することができる。
系のドリフトが非常に少ない時には暗信号Ｂの測
定を省略することができる。
第３図は本考案の実施例の検出器９の前後の構
成をさらに具体的に示したものであり、第１図と
同一の番号を附したものは、第１図のそれと同一
のものである。第３図において、１８は前置増幅
器、１７はマルチプレクサーである。要点を説明
するとスリツト７を通過する標準物体３からの光
束と試料物体４からの光束とが分散素子８に導入
され、光束は波長ごとに分散され、波長に対応し
た検出器９によつて検出される。各検出器９から
の信号は前置増幅器１８によつて増幅された後、
アナログ積分器１０によつてアナログ積分され
る。各アナログ積分器１０の出力はマルチプレク
サー１７によつて順番にＡ−Ｄ変換器１１に導び
かれデイジタル信号化された後に波長ごとに分け
られて積算されるのである。
成をさらに具体的に示したものであり、第１図と
同一の番号を附したものは、第１図のそれと同一
のものである。第３図において、１８は前置増幅
器、１７はマルチプレクサーである。要点を説明
するとスリツト７を通過する標準物体３からの光
束と試料物体４からの光束とが分散素子８に導入
され、光束は波長ごとに分散され、波長に対応し
た検出器９によつて検出される。各検出器９から
の信号は前置増幅器１８によつて増幅された後、
アナログ積分器１０によつてアナログ積分され
る。各アナログ積分器１０の出力はマルチプレク
サー１７によつて順番にＡ−Ｄ変換器１１に導び
かれデイジタル信号化された後に波長ごとに分け
られて積算されるのである。
第４図は物体からの透過光を測定する方式の本
考案装置の要部を説明するための図である。標準
物体３および試料物体４からの透過光束はミラー
６および切換鏡５によつて、時分割的にスリツト
７から出射される。スリツト７から出射された後
は第３図と同様であるから説明は省略する。
考案装置の要部を説明するための図である。標準
物体３および試料物体４からの透過光束はミラー
６および切換鏡５によつて、時分割的にスリツト
７から出射される。スリツト７から出射された後
は第３図と同様であるから説明は省略する。
なお、第１図において、光源１は積分球の外側
に設けるようにしたが、積分球の内側に設けるよ
うにしてもよいことは言うまでもない。
に設けるようにしたが、積分球の内側に設けるよ
うにしてもよいことは言うまでもない。
以上詳述したように、本考案は、光源のもつ高
周波領域の変動と低周波領域の変動とに基づく影
響をアナログ積分器とデイジタル積分器との組合
せという極めて簡単な構成によつて取除き、測色
結果の再現性および精度を向上させることができ
るものであり、実用に供してその効果極めて大き
いものがあるといえる。
周波領域の変動と低周波領域の変動とに基づく影
響をアナログ積分器とデイジタル積分器との組合
せという極めて簡単な構成によつて取除き、測色
結果の再現性および精度を向上させることができ
るものであり、実用に供してその効果極めて大き
いものがあるといえる。
第１図は本考案の動作説明のための概略図であ
り、第２図は検出器９の出力信号と時間との関連
を示す図であり、第３図は検出器９前後の構成を
具体的に示した図であり、第４図は透過光束を使
つた分光測色装置の要部の説明図である。 １……光源、２……積分球、３……標準物体、
４……試料物体、５……切換鏡、６……反射鏡、
７……スリツト、８……分散素子、９……検出
器、１０……アナログ積分器、１１……アナログ
デイジタル変換器、１２……標準信号加算部、１
３……試料信号加算部、１４……暗信号加算部、
１５……出力表示器、１６……制御装置、Ｂ……
分散素子に光束が全く入射しない期間、Ｓ……分
散素子に試料物体からの光束が入射する期間、Ｒ
……分散素子に標準物体からの光束が入射する期
間。
り、第２図は検出器９の出力信号と時間との関連
を示す図であり、第３図は検出器９前後の構成を
具体的に示した図であり、第４図は透過光束を使
つた分光測色装置の要部の説明図である。 １……光源、２……積分球、３……標準物体、
４……試料物体、５……切換鏡、６……反射鏡、
７……スリツト、８……分散素子、９……検出
器、１０……アナログ積分器、１１……アナログ
デイジタル変換器、１２……標準信号加算部、１
３……試料信号加算部、１４……暗信号加算部、
１５……出力表示器、１６……制御装置、Ｂ……
分散素子に光束が全く入射しない期間、Ｓ……分
散素子に試料物体からの光束が入射する期間、Ｒ
……分散素子に標準物体からの光束が入射する期
間。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 試料物体と標準物体に光束を照射し、それぞ
れの物体からの反射光あるいは透過光を分散素
子に導びいて、この分散された光を複数個の検
出器で検出し、この検出信号を演算処理して試
料物体の色彩特性を測定するものにおいて、試
料物体からの光束と標準物体からの光束を交互
に上記分散素子に入射せしめる光束切換機構
と、上記検出器ごとに検出信号を積分するとと
もに光束の切換時にリセツト動作する複数のア
ナログ積分器と、このアナログ積分器の積分結
果をデイジタル信号に変換するアナログデイジ
タル変換器と、この変換器からの信号を試料物
体からの信号と標準物体からの信号とに分離し
て加算する加算装置とを備え有し、この加算装
置の結果を用いて測色演算するようにしたこと
を特徴とする分光測色装置。 (2) 光束切換機構は両光束がしや断されるブラン
ク期間を生ぜしめる光束切換機構であり、アナ
ログ積分器はブランク期間と他の光束期間との
切換時にリセツト動作するアナログ積分器であ
るとともに、加算装置はブランク期間の検出信
号を試料物体からの信号と標準物体からの信号
とから分離して加算する加算装置であることを
特徴とする実用新案登録請求の範囲第１項記載
の分光測色装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5730878U JPS626493Y2 (ja) | 1978-04-28 | 1978-04-28 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5730878U JPS626493Y2 (ja) | 1978-04-28 | 1978-04-28 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54160190U JPS54160190U (ja) | 1979-11-08 |
| JPS626493Y2 true JPS626493Y2 (ja) | 1987-02-14 |
Family
ID=28955062
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5730878U Expired JPS626493Y2 (ja) | 1978-04-28 | 1978-04-28 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS626493Y2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6829163B2 (en) | 1995-01-31 | 2004-12-07 | Hitachi, Ltd. | Clock synchronized nonvolatile memory device |
| US6870763B2 (en) | 1991-02-08 | 2005-03-22 | Btg International Inc. | Electrically alterable non-volatile memory with n-bits per cell |
| US6914817B2 (en) | 1988-06-08 | 2005-07-05 | Sandisk Corporation | Highly compact EPROM and flash EEPROM devices |
| US7006384B2 (en) | 1995-02-27 | 2006-02-28 | Btg International Inc. | Memory apparatus including programmable non-volatile multi-bit memory cell, and apparatus and method for demarcating memory states of the cell |
-
1978
- 1978-04-28 JP JP5730878U patent/JPS626493Y2/ja not_active Expired
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6914817B2 (en) | 1988-06-08 | 2005-07-05 | Sandisk Corporation | Highly compact EPROM and flash EEPROM devices |
| US6870763B2 (en) | 1991-02-08 | 2005-03-22 | Btg International Inc. | Electrically alterable non-volatile memory with n-bits per cell |
| US7075825B2 (en) | 1991-02-08 | 2006-07-11 | Btg International Inc. | Electrically alterable non-volatile memory with n-bits per cell |
| US6829163B2 (en) | 1995-01-31 | 2004-12-07 | Hitachi, Ltd. | Clock synchronized nonvolatile memory device |
| US7006384B2 (en) | 1995-02-27 | 2006-02-28 | Btg International Inc. | Memory apparatus including programmable non-volatile multi-bit memory cell, and apparatus and method for demarcating memory states of the cell |
| US7068542B2 (en) | 1995-02-27 | 2006-06-27 | Btg International Inc. | Memory apparatus including programmable non-volatile multi-bit memory cell, and apparatus and method for demarcating memory states of the cell |
| US7286414B2 (en) | 1995-02-27 | 2007-10-23 | Btg International Inc. | Memory apparatus including programmable non-volatile multi-bit memory cell, and apparatus and method for demarcating memory states of the cell |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54160190U (ja) | 1979-11-08 |
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