JPS627086U - - Google Patents

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JPS627086U
JPS627086U JP9845885U JP9845885U JPS627086U JP S627086 U JPS627086 U JP S627086U JP 9845885 U JP9845885 U JP 9845885U JP 9845885 U JP9845885 U JP 9845885U JP S627086 U JPS627086 U JP S627086U
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contact
power supply
pair
sliding contact
branch
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JP9845885U
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Description

【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例を示す接続配置図
、第2図は可動コンタクト装着部の構造を説明す
るための断面図、第3図は従来のIC試験装置の
構造を説明するための接続配置図、第4図はIC
試験装置における直流試験時の回路構造を説明す
るための接続図である。 1:被試験IC、2:端子、3:可動コンタク
ト、4,5:分岐接片、6,7:摺接導体、8,
16:コンデンサ、9:駆動ローラ、11:絶縁
板、12:直流電源、13:電流検出抵抗器、1
4:測定器、15:スイツチ素子、17:絶縁支
持体。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 A 被試験ICの各端子に対して接離可能なよう
    に駆動される複数の可動コンタクトと、 B この可動コンタクトの中の電源用コンタクト
    の先端側から分岐された少なくとも一対の分岐接
    片と、 C この分岐接片の遊端と摺接する一対の摺接導
    体と、 D 上記摺接導体の間にスイツチ素子を介して接
    離されるコンデンサと、 を具備して成るIC試験装置。
JP9845885U 1985-06-28 1985-06-28 Pending JPS627086U (ja)

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JP9845885U JPS627086U (ja) 1985-06-28 1985-06-28

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JPS627086U true JPS627086U (ja) 1987-01-16

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WO2019138853A1 (ja) * 2018-01-09 2019-07-18 株式会社デンソー 検査装置

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JPS598172B2 (ja) * 1977-05-30 1984-02-23 日本鉱業株式会社 粉粒体の移送方法および装置

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