JPS6271094A - Semiconductor memory - Google Patents
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は半導体メモリに関し、特に2組のビット線対を
スイッチ回路を介して1個のセンス増幅器に接続する半
導体メモリに関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a semiconductor memory, and more particularly to a semiconductor memory in which two bit line pairs are connected to one sense amplifier via a switch circuit.
(従来の技術)
半導体メそりは、これまで幾何学的寸法の縮小によって
大容量化・高性能化が達成されてきた9゜幾何学的寸法
の縮小を水平方向・垂直丈高共同−の割合で施すと、配
置ga担°抗か幾何学的寸法の縮小率の逆数に比例して
増大し、性能の劣化を招く。(Conventional technology) Semiconductor mesori has achieved large capacity and high performance by reducing the geometric dimension. If it is applied, the placement resistance increases in proportion to the reciprocal of the reduction rate of the geometric dimension, resulting in performance deterioration.
さらに、エレクトロマイグレーショ/に関しても状況線
厳しくなり、素子の信頼性上問題になる。Furthermore, the situation regarding electromigration becomes severe, which poses a problem in terms of device reliability.
又1層間絶縁膜を薄くすると、ピンホール勢による配線
間短絡の危険性が増大する。そのため、一般には画直方
向は殆んど縮小せずに、水平方向のみを縮小するという
方法が採用されている。この方法でさらに縮小を続けて
いき、配線断面の縦・横の寸法が同程度の大きさになっ
てくると、隣接配線間の相互容量の総記線容量に占める
割合が急激に大きくなってくる。このため、ある配線の
電位電動が隣接する配線の電位に大きな影響を与えるこ
とになる。Furthermore, if the interlayer insulating film is made thinner, the risk of short circuits between wiring lines due to pinholes increases. Therefore, a method is generally adopted in which the image is reduced only in the horizontal direction, with almost no reduction in the vertical direction. As this method continues to reduce the size and the vertical and horizontal dimensions of the cross-section of the wiring become approximately the same, the proportion of the mutual capacitance between adjacent wirings in the total linear capacitance increases rapidly. . Therefore, the electric potential of one wiring has a large influence on the electric potential of adjacent wiring.
半導体メモリの場合、この問題は特にビット線において
顕著になる。すなわち、あるワード線が選択烙れ、ビッ
ト線にメモリセルの情報が読出された時に、隣WKブる
ビット線の電位変動を受けてビット線の信号量が減少し
、動作マージンの低下となるからである。In the case of semiconductor memories, this problem is particularly noticeable in bit lines. In other words, when a certain word line is selected and information of a memory cell is read out to the bit line, the signal amount on the bit line decreases due to the potential fluctuation of the adjacent WK bit line, resulting in a reduction in the operating margin. It is from.
これを防ぐためには、あるビット線にメモリセルからの
情報が読出された時に、隣接するビット線の電位が変化
しなければよい。つまり、1本置きにビット線が活性化
されるようにすればよい。In order to prevent this, when information from a memory cell is read onto a certain bit line, the potential of the adjacent bit line should not change. In other words, it is sufficient to activate every other bit line.
従来、この様な観点からではなくCn、’Csを小さく
するという観点から、ビット線を分割し、た第2図に示
す半導体メモリが知られている。(電子材料、第23巻
第3号、1981年、157頁)第2図に示すように、
2組のピッ;・線対BLIとBL4及びBL2とBL3
をトラ、/スフツーゲートTl 、T2 、T3 、’
I’4を介して同一のセンス増幅器2に接続する。Conventionally, there has been known a semiconductor memory shown in FIG. 2 in which the bit lines are divided not from this point of view but from the point of view of reducing Cn and 'Cs. (Electronic Materials, Vol. 23, No. 3, 1981, p. 157) As shown in Figure 2,
Two pairs of pins; wire pairs BLI and BL4 and BL2 and BL3
Tora,/Sfutugate Tl, T2, T3,'
Connect to the same sense amplifier 2 via I'4.
ワードfitv′L1が選択された時には、トランスフ
ァーゲー)T1.T4が導通し、ビット線対BLx 、
BL、iがセンス増幅器2に接続され、と。When word fitv'L1 is selected, transfer game) T1. T4 becomes conductive, and bit line pair BLx,
BL,i is connected to sense amplifier 2, and so on.
1線対BLI 、BL4の情報がセンス増幅器2によシ
増幅される。このとき、ビット線対BL2゜BL3はセ
ンス増幅器2から切り離されている。Information on the 1-line pair BLI and BL4 is amplified by the sense amplifier 2. At this time, the bit line pairs BL2 and BL3 are disconnected from the sense amplifier 2.
ワード線WL2が選択された時には、トランスファーゲ
ー)T2 、T3が導通し、ピッ(・線対BL2、BL
3がセンス増幅器2に接続され、ビット線対BL2.b
L3c+情報が増幅される。従って、本従来例では、ビ
ット線が1本置きに活性化されることになる。When the word line WL2 is selected, transfer gates T2 and T3 are conductive, and a pin (line pair BL2, BL) is turned on.
3 are connected to sense amplifier 2, and bit line pair BL2. b
L3c+ information is amplified. Therefore, in this conventional example, every other bit line is activated.
(発明が解決しようとする問題点)
上述した従来の半導体メモリは、ワード線が立上る前に
ビット線プリチャージ信号φPがオフになるので、選択
されなかりたビット線対は定電圧電源VCCから切り離
され浮動状態になる。従って、ビット線を1本置きに活
性化していても、活性化されなかったビット線が浮動状
態のため、シールド効果が少く、1本陣てたビット線の
電位変化の影響を受けて、信号電圧が減少するという欠
点がある。(Problems to be Solved by the Invention) In the conventional semiconductor memory described above, the bit line precharge signal φP is turned off before the word line rises, so the unselected bit line pairs are connected to the constant voltage power supply VCC. It is separated from the body and becomes floating. Therefore, even if every other bit line is activated, the unactivated bit line is in a floating state, so the shielding effect is small, and the signal voltage is affected by the potential change of the single bit line. The disadvantage is that it decreases.
本発明の目的は、隣接ビット線間の相互容量がビット線
の総記線容量に占める割合が大きくなった場合にも、動
作マージンの減少、情報の反転の生じない半導体メモリ
を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a semiconductor memory in which a reduction in operating margin and inversion of information do not occur even when the mutual capacitance between adjacent bit lines occupies a large proportion of the total linear capacitance of the bit lines. .
(問題点を解決するための手段)
本発明の半導体メモリは、行をなすビット線と、列をな
すワード線と、該ワード線により選択されて前記ビット
線との間で情報の出し入れを行う行お工び列状に配置さ
れたメモリセルと、前記ビ。(Means for Solving the Problems) A semiconductor memory of the present invention has bit lines forming rows, word lines forming columns, and information is transferred between and from the bit lines selected by the word lines. memory cells arranged in rows and columns; and the memory cells arranged in rows and columns.
ト紗のうちそnぞれ対をなす第1のビットi#対および
第2のビット線対が対ごとにそれぞれ入出力信号線とな
るセンス増幅器と、前記第1のビット線対のそれぞれに
接続された前記メモリセルが選択されたとき前記第1の
ビット対を前記センス増幅器に接続する第1のスイッチ
回路と、前記$2のビット線対のそれぞれに接続された
前記メモリセルが選択されたとき^;1記第2のビット
線対を前記センス増幅器に接続する第2のスイッチ回路
と、該第2のスイッチ回路に対する第2の制御信号を1
1記第1のと、ト線対に対するプリチャージの制御信号
とする第1のプリチャージ回路と、前記第1のスイッチ
回路に対する第1の制御信号を前記腑2のビット線対に
対するプリチャージの制御信号とする第2のプリチー、
−ジ回路とを含んで構成される。a sense amplifier in which the first bit i# pair and the second bit line pair of each pair of the tosa serve as input/output signal lines, and each of the first bit line pair a first switch circuit that connects the first bit pair to the sense amplifier when the connected memory cell is selected; and a first switch circuit that connects the first bit pair to the sense amplifier and selects the memory cell connected to each of the $2 bit line pairs. When the second switch circuit connects the second bit line pair to the sense amplifier and the second control signal for the second switch circuit is set to 1.
1. A first precharge circuit that uses the first control signal for the first bit line pair as a precharge control signal for the bit line pair, and a first control signal for the first switch circuit that controls the precharge for the second bit line pair. a second prechy as a control signal;
- a digital circuit.
(作用)
本発明は、隣接づるビット線の電位を一定電位に固定し
て、隣接ビット線間相互容量の影響をなくすという技術
思想に基づいている。(Function) The present invention is based on the technical concept of fixing the potential of adjacent bit lines to a constant potential to eliminate the influence of mutual capacitance between adjacent bit lines.
すなわち、1本おきのビット線を活性化する分割ビット
線方式の半導体メモリで、隣接するヒツト線を態別にプ
リチャージ出来るようにし、非選択のビット線の電位を
読出し期間中プリチャーシレー°ルに保持し1、非選択
のビット線にシールド線の機能を持たせている。In other words, in a semiconductor memory using a divided bit line system in which every other bit line is activated, adjacent bit lines can be precharged separately, and the potential of an unselected bit line is kept at the precharging level during the read period. 1, and the unselected bit lines have the function of a shield line.
(実施例)
次に、本発明の実施例について区画を参照して説明する
。(Example) Next, an example of the present invention will be described with reference to the sections.
第1図は本発明の一実施例の回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram of an embodiment of the present invention.
第1図に示す半導体メモリは、センス増幅器2と、第1
のピット線対を形成するビット線BLIおよびBL3と
、第2のビット線対を形成するピッ)#BL2およびB
L4と、そjぞれのビット線に接続されるメモリセル1
−1〜1−4と、ワード線WL1〜WL4と、トランス
ファーゲートT!およびT3からなる第1のスイッチ回
路3と、トランスファーゲートT2およびT4からなる
第2のスイッチ回路4と、トランジスタT9および、
’rtiからなる第1のプリチャージ回路5と、トラ
ンジスタTIOおよびTi2からなる第2のプリチャー
ジ回路6とを含む。The semiconductor memory shown in FIG.
bit lines BLI and BL3 forming a pit line pair, and pit lines #BL2 and B forming a second bit line pair.
L4 and memory cell 1 connected to each bit line j
-1 to 1-4, word lines WL1 to WL4, and transfer gates T! and T3, a second switch circuit 4 including transfer gates T2 and T4, a transistor T9, and
'rti, and a second precharge circuit 6 including transistors TIO and Ti2.
第1図におい°C、ワード線WLIが選択さn、た場合
を例に説明する。まず、ワード線WLIが高電位になる
前K、制御信号−T2を高電位から低電位に下げる。制
御信号φT2はビット線BL2とと、ト線BL4とをセ
ンス増幅器2に接続する第2のスイッチ回路4のトラン
スファーグー)T2およびT4をオン・オフ制御する第
2の制御信号であると共に、第1のプリチャージ回路5
のビット線BLIのプリチャージ用のトランジスタT9
およびピッ)線BL3のプリチャージ用のトランジスタ
T′11をオン・オフ制御する制御信号でもある。従っ
て、制御信号φT2を低電位にすることにより、ビット
線BLIおよびビット線BL3は定電圧電源V(Cから
切離され、ビット線BL2およびビット線BL4はセン
ス増幅器2から切離される。An example will be explained in which the word line WLI is selected at °C in FIG. First, before the word line WLI becomes a high potential, the control signal -T2 is lowered from a high potential to a low potential. The control signal φT2 is a second control signal that controls on/off the transfer circuits T2 and T4 of the second switch circuit 4 that connects the bit line BL2 and the T line BL4 to the sense amplifier 2. 1 precharge circuit 5
Transistor T9 for precharging the bit line BLI of
It is also a control signal for controlling on/off the precharging transistor T'11 of the line BL3. Therefore, by setting the control signal φT2 to a low potential, the bit line BLI and the bit line BL3 are disconnected from the constant voltage power supply V(C), and the bit line BL2 and the bit line BL4 are disconnected from the sense amplifier 2.
一方、Nlの制御信号である制御信号φτ!は高電位の
1ま保持される。制御信号φTtはビット線BLiとビ
ット線13L3とをセンス増幅器2に接続する第1のス
イッチ回路3のトランスファーグ−)TIおよびT3を
オン・オフ制御する信号であると共に、第2のグリチャ
ージ回路6のヒツト@BLzのフリチャージ用のトラン
ジスタ’I’IOおよびビット線BL4のプリチャージ
用のトランジスタT12をオン・オフ制御する制御信号
でもある。On the other hand, the control signal φτ! which is the control signal of Nl! is held at a high potential of 1. The control signal φTt is a signal that controls on/off the transfer circuits TI and T3 of the first switch circuit 3 that connects the bit line BLi and the bit line 13L3 to the sense amplifier 2, and also controls the transfer circuit TI and T3 of the second switch circuit 3 that connects the bit line BLi and the bit line 13L3 to the sense amplifier 2. It is also a control signal that controls on/off the transistor 'I'IO for precharging the bit line BLz of bit line BLz and the transistor T12 for precharging the bit line BL4.
従って、制御信号φTtを低電位にし、制御信号φT1
を高電位に保っておくことにより、ビット線BLIとビ
ット線BL3とはセンス増幅器2に接続された状態にな
り、ビット線BL2とビット線BL4とはプリチャージ
状態、つまり定電圧電源VCCに接続された状態になる
。Therefore, the control signal φTt is set to a low potential, and the control signal φT1
By keeping the bit line BLI and bit line BL3 at a high potential, the bit line BLI and bit line BL3 are connected to the sense amplifier 2, and the bit line BL2 and bit line BL4 are in a precharged state, that is, connected to the constant voltage power supply VCC. become in a state of being
この状態で、ワード線WI、1が高電位となり、メモリ
セル1=1の情報がビット線BLIに読出される。この
時、上記したように、隣接するヒツト線BL2は定電位
に固定されているので、隣接ビット線間の相互容量が大
きくても電位変化はなく、シールド線とみなぜる。In this state, the word line WI,1 becomes high potential, and the information of the memory cell 1=1 is read to the bit line BLI. At this time, as described above, since the adjacent bit lines BL2 are fixed at a constant potential, there is no change in potential even if the mutual capacitance between adjacent bit lines is large, and they are treated as shield lines.
第1図では七ン;く増幅器1個分を示しているが、実際
には多数のセンス増幅器が並んでおり、第1図と同様に
ヒツト線を配置することにより、活性化されたと、・ト
線の岡隣りには必ず定電位に固定されたビット贋が存在
する。この定電位のビット線がシールド線の役目を果し
、活性化されたビット線同志の容量カップリングは無視
し得る。すなわち、メモリセルからの情報続出し時にお
ける隣接配線間の相互容量によるビット線信号電圧の損
失は大幅に軽減される。Although Figure 1 shows one seven-pin amplifier, in reality there are many sense amplifiers lined up, and by arranging the human wires in the same way as in Figure 1, it can be activated. There is always a false bit that is fixed at a constant potential next to the edge of the line. This constant potential bit line serves as a shield line, and capacitive coupling between activated bit lines can be ignored. In other words, loss of bit line signal voltage due to mutual capacitance between adjacent wires when information is continuously output from the memory cell is significantly reduced.
ワード線WL2が選択された時に1よ、全く同様忙ピッ
t・@、 B ’s−2及びビット線BI、4が活性化
さn1ビ、、)iBLlとビット線BL3はプリチャー
ジ状態に保持され、上記と同様の動作になる。When word line WL2 is selected, exactly the same as 1, B's-2 and bit line BI, 4 are activated, n1, ) iBLl and bit line BL3 are held in a precharged state. and the behavior is the same as above.
なお、本実施例においては、プリチャージ制御信号とピ
ッ【線スイッチ回路制御信号と°と兼用しているため、
従来例に較べtit制御信号用配線数も2本減少すると
いう利点も備えている。In addition, in this embodiment, since the precharge control signal and the line switch circuit control signal are also used,
It also has the advantage that the number of wiring lines for tit control signals is reduced by two compared to the conventional example.
(発吠の効果)
以上説明したように本発明の半導体メモリは、2組の対
をなすビット線を対ごとに入出力信号線として1個のセ
ンス増幅器に接続し、一方のビット線対に情報を読出す
とき他方のビット線対を高1、位に保つことにより、従
来より少い配線数で隣接ビット線間の相互容量が大きい
場合でもビット線の信号電圧の損失を減少できるという
効果がある。(Effect of barking) As explained above, in the semiconductor memory of the present invention, two pairs of bit lines are connected to one sense amplifier as input/output signal lines for each pair, and one bit line pair is connected to one sense amplifier. By keeping the other bit line pair at high 1 when reading information, the loss of bit line signal voltage can be reduced even when the mutual capacitance between adjacent bit lines is large with fewer wires than before. There is.
第1区は本発明の一実施例の回路図、第2図は従来の半
導体メモリの一例の回路図である。
1−1.〜,1−4・・・・・・メモリセル、2・・・
・・・センス増幅器、3,4・・・・・・スイッチ回路
、5,60.。
・・・プリチャージ回路、BLI、〜BL4・・・・・
・ピッ)[、TI、〜、T8・・・・・・トランスファ
ーゲート、T9.〜.T12・−・・・・トラシ・ジス
タ、vcc・・・・・・定電圧電源、WLI、〜、WL
4・・・・・・ワード線、φ■ 、ψIS eφ■2・
・・・・・制御信号、φ2・・・・・・プリチャージ信
号、φSE・・・・・・活性化信号、φTl +φT2
・・・・・・制御信号。
代理人 弁理士 内 原 ;讐ン、゛、、l/′The first section is a circuit diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a circuit diagram of an example of a conventional semiconductor memory. 1-1. ~, 1-4... Memory cell, 2...
. . . sense amplifier, 3, 4 . . . switch circuit, 5, 60. . ...Precharge circuit, BLI, ~BL4...
・Beep) [, TI, ~, T8...Transfer gate, T9. ~. T12...Transfer resistor, vcc...constant voltage power supply, WLI, ~, WL
4...Word line, φ■, ψIS eφ■2・
...Control signal, φ2...Precharge signal, φSE...Activation signal, φTl +φT2
······Control signal. Agent Patent Attorney Uchihara ; Ben,゛,,l/'
Claims (1)
により選択されて前記ビット線との間で情報の出し入れ
を行う行および列状に配置されたメモリセルと、前記ビ
ット線のうちそれぞれ対をなす第1のビット線対および
第2のビット線対が対ごとにそれぞれ入出力信号線とな
るセンス増幅器と、前記第1のビット線対のそれぞれに
接続された前記メモリセルが選択されたとき前記第1の
ビット対を前記センス増幅器に接続する第1のスイッチ
回路と、前記第2のビット線対のそれぞれに接続された
前記メモリセルが選択されたとき前記第2のビット線対
を前記センス増幅器に接続する第2のスイッチ回路と、
該第2のスイッチ回路に対する第2の制御信号を前記第
1のビット線対に対するプリチャージの制御信号とする
第1のプリチャージ回路と、前記第1のスイッチ回路に
対する第1の制御信号を前記第2のビット線対に対する
プリチャージの制御信号とする第2のプリチャージ回路
とを含むことを特徴とする半導体メモリ。bit lines forming rows, word lines forming columns, memory cells arranged in rows and columns that are selected by the word lines and transfer information to/from the bit lines; A sense amplifier in which a first bit line pair and a second bit line pair each serve as input/output signal lines for each pair, and the memory cell connected to each of the first bit line pairs are selected. a first switch circuit that connects the first bit pair to the sense amplifier when the first pair of bit lines is selected; and a first switch circuit that connects the first bit line to the sense amplifier when the memory cell connected to each of the second bit line pair is selected; a second switch circuit connecting the pair to the sense amplifier;
a first precharge circuit that uses a second control signal for the second switch circuit as a precharge control signal for the first bit line pair; A semiconductor memory comprising: a second precharge circuit that generates a precharge control signal for a second bit line pair.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60211539A JPS6271094A (en) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | Semiconductor memory |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60211539A JPS6271094A (en) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | Semiconductor memory |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6271094A true JPS6271094A (en) | 1987-04-01 |
| JPH043595B2 JPH043595B2 (en) | 1992-01-23 |
Family
ID=16607522
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60211539A Granted JPS6271094A (en) | 1985-09-24 | 1985-09-24 | Semiconductor memory |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6271094A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0291884A (en) * | 1988-09-28 | 1990-03-30 | Toshiba Corp | Semiconductor storage device |
| JPH02294990A (en) * | 1989-04-20 | 1990-12-05 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Memory |
| JPH04109492A (en) * | 1990-08-29 | 1992-04-10 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | Semiconductor integrated circuit |
| JPH05101660A (en) * | 1991-10-07 | 1993-04-23 | Nec Corp | Dynamic semiconductor memory device |
-
1985
- 1985-09-24 JP JP60211539A patent/JPS6271094A/en active Granted
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0291884A (en) * | 1988-09-28 | 1990-03-30 | Toshiba Corp | Semiconductor storage device |
| JPH02294990A (en) * | 1989-04-20 | 1990-12-05 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Memory |
| JPH04109492A (en) * | 1990-08-29 | 1992-04-10 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | Semiconductor integrated circuit |
| JPH05101660A (en) * | 1991-10-07 | 1993-04-23 | Nec Corp | Dynamic semiconductor memory device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH043595B2 (en) | 1992-01-23 |
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