JPS627254A - 集中端末試験方式 - Google Patents
集中端末試験方式Info
- Publication number
- JPS627254A JPS627254A JP14636785A JP14636785A JPS627254A JP S627254 A JPS627254 A JP S627254A JP 14636785 A JP14636785 A JP 14636785A JP 14636785 A JP14636785 A JP 14636785A JP S627254 A JPS627254 A JP S627254A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
複数種類の端末装置を加入者線に接続するディジタル統
合通信網において、試験対象加入者線上の総ての情報チ
ャネルおよび制御チャネルを集中試験センタに設けた集
中端末試験装置に接続し、ディジタル加入者線に接続さ
れた各種端末装置を集中試験するものである。
合通信網において、試験対象加入者線上の総ての情報チ
ャネルおよび制御チャネルを集中試験センタに設けた集
中端末試験装置に接続し、ディジタル加入者線に接続さ
れた各種端末装置を集中試験するものである。
本発明はディジタル統合通信網に収容される各種端末装
置を経済的且つ容易に試験可能とする集中端末試験方式
に関する。
置を経済的且つ容易に試験可能とする集中端末試験方式
に関する。
ディジタル統合通信網を構成する各ディジタル交換機に
収容される加入者線には、例えばディジタル電話端末装
置、ファクシミリ端末装置、或いはデータ端末装置等、
複数種類の端末装置が接続され、加入者線上に設けられ
た複数の情報チャネルおよび制御信号チャネルを経由し
て同時に通信可能となる。
収容される加入者線には、例えばディジタル電話端末装
置、ファクシミリ端末装置、或いはデータ端末装置等、
複数種類の端末装置が接続され、加入者線上に設けられ
た複数の情報チャネルおよび制御信号チャネルを経由し
て同時に通信可能となる。
かかる端末装置の試験は、極力経済的、且つ合理的に実
施可能とすることが望ましい。
施可能とすることが望ましい。
第3図はこの種のディジタル交換機における従来ある端
末試験方式の一例を示す図であり、第4図は第3図にお
けるディジタル加入者回路の一例を示す図である。
末試験方式の一例を示す図であり、第4図は第3図にお
けるディジタル加入者回路の一例を示す図である。
第3図において、ディジタル交換機1のディジタル加入
者回路(DLC)2に収容されたディジタル加入者線3
には、回線終端装置(NT)4を介して複数種類の端末
装置5が接続されている。
者回路(DLC)2に収容されたディジタル加入者線3
には、回線終端装置(NT)4を介して複数種類の端末
装置5が接続されている。
ディジタル加入者線3上には、各端末装置5が送受信す
る例えば毎秒64キロビツトの情報を伝達する複数(例
えば2チヤネル)の情報チャネルBと、各情報チャネル
Bを経由する通信を制御する為の例えば毎秒16キロビ
ツトの各種制御信号をディジタル交換機1および端末装
置5相互間で伝送する制御チャネルDとが設けられてい
る。なお制御チャネルDは、端末装置5相互間でバケッ
ト通信等を実行する為にも流用される。
る例えば毎秒64キロビツトの情報を伝達する複数(例
えば2チヤネル)の情報チャネルBと、各情報チャネル
Bを経由する通信を制御する為の例えば毎秒16キロビ
ツトの各種制御信号をディジタル交換機1および端末装
置5相互間で伝送する制御チャネルDとが設けられてい
る。なお制御チャネルDは、端末装置5相互間でバケッ
ト通信等を実行する為にも流用される。
端末装置5相互間の通信に使用される情報チャネルBお
よび制御チャネルDは、集線装置6および分配装置7に
より構成される通話路網8を経由して、自ディジタル交
換機1収容のディジタル加入者回路2、或いは他ディジ
タル交換機に至るディジタルリンク9を収容するディジ
タルターミナル(DT)10に接続される。
よび制御チャネルDは、集線装置6および分配装置7に
より構成される通話路網8を経由して、自ディジタル交
換機1収容のディジタル加入者回路2、或いは他ディジ
タル交換機に至るディジタルリンク9を収容するディジ
タルターミナル(DT)10に接続される。
ディジタル交換機1には、収容各端末装置5を試験する
為に端末試験装置11が設けられている。
為に端末試験装置11が設けられている。
第4図において、ディジタル加入者回路2には、ディジ
タル加入者線3を経由する回線終端装置(第3図の4)
との間の信号送受信を制御する回線終端部12と、回線
終端部12との間で授受する信号をスクランブル或いは
デスクランブルする回路終端部13と、ディジタル加入
者線3上に設けられている情報チャネルBおよび制御チ
ャネルDを分離あるいは結合するインタフェース部14
との他に、ディジタル加入者線3を端末試験装置11に
切替え接続する切替リレー15が設けられている。
タル加入者線3を経由する回線終端装置(第3図の4)
との間の信号送受信を制御する回線終端部12と、回線
終端部12との間で授受する信号をスクランブル或いは
デスクランブルする回路終端部13と、ディジタル加入
者線3上に設けられている情報チャネルBおよび制御チ
ャネルDを分離あるいは結合するインタフェース部14
との他に、ディジタル加入者線3を端末試験装置11に
切替え接続する切替リレー15が設けられている。
ディジタル加入者線3を経由して端末装置5を試験する
場合には、ディジタル加入者回路2内の切替リレー15
を動作させてディジタル加入者線3を端末試験装置11
に接続し、情報チャネルBおよび制御チャネルDを経由
して試験対象とする端末装置5と端末試験装置11との
間で各種情報および制御信号を送受信して端末装置5の
性能を試験する。
場合には、ディジタル加入者回路2内の切替リレー15
を動作させてディジタル加入者線3を端末試験装置11
に接続し、情報チャネルBおよび制御チャネルDを経由
して試験対象とする端末装置5と端末試験装置11との
間で各種情報および制御信号を送受信して端末装置5の
性能を試験する。
〔発明が解決しようとする問題点9
以上の説明から明らかな如(、従来ある端末試験方式に
おいては、各ディジタル交換機1に端末試験装置11を
設け、試験対象ディジタル加入者線3を収容するディジ
タル加入者回路2内の切替リレー15を動作させてディ
ジタル加入者線3を端末試験装置11に接続し、端末試
験装置11から各端末装置5の試験を実施することとな
る。
おいては、各ディジタル交換機1に端末試験装置11を
設け、試験対象ディジタル加入者線3を収容するディジ
タル加入者回路2内の切替リレー15を動作させてディ
ジタル加入者線3を端末試験装置11に接続し、端末試
験装置11から各端末装置5の試験を実施することとな
る。
ディジタル統合通信網においては、ディジタル加入者線
3に接続される端末装置5は複数種類に及び、それぞれ
送受信する制御信号および情報が異なる為、端末試験装
置11はアナログ加入者線に接続される端末装置を対象
とする試験装置に比し蟲かに複雑となり、当該ディジタ
ル統合通信網の経済性を損なう恐れがあった。
3に接続される端末装置5は複数種類に及び、それぞれ
送受信する制御信号および情報が異なる為、端末試験装
置11はアナログ加入者線に接続される端末装置を対象
とする試験装置に比し蟲かに複雑となり、当該ディジタ
ル統合通信網の経済性を損なう恐れがあった。
第1図は本発明の原理を示す図である。
第1図においては、ディジタル統合通信網に設けられた
複数のディジタル交換機1に試験付加装置16を設け、
また各ディジタル交換機1に共通に設けられた集中試験
センタ17に集中端末試験装置18を設ける。
複数のディジタル交換機1に試験付加装置16を設け、
また各ディジタル交換機1に共通に設けられた集中試験
センタ17に集中端末試験装置18を設ける。
試験付加装置16は、加入者線3上に設けられた総ての
情報チャネルBおよび制御チャネルDを通話路網8を介
して集中試験センタ17に接続する。
情報チャネルBおよび制御チャネルDを通話路網8を介
して集中試験センタ17に接続する。
集中端末試験装置18は、各種類の端末装置5を試験す
る。
る。
即ち本発明によれば、試験対象とするディジタル加入者
線上に設けられた総ての情報チャネルおよび制御チャネ
ルを、試験付加装置を介して集中試験センタに設けた集
中端末試験装置に接続し、情報チャネルおよび制御チャ
ネルを経由してディジタル加入者線に接続されている各
端末装置と集中端末試験装置との間で各種情報および制
御信号を送受信することにより、集中試験センタからデ
ィジタル統合通信網に収容されている総ての端末装置の
試験が集中的に実行可能となり、当該ディジタル統合通
信網の経済性が向上し、また試験作業も合理化される。
線上に設けられた総ての情報チャネルおよび制御チャネ
ルを、試験付加装置を介して集中試験センタに設けた集
中端末試験装置に接続し、情報チャネルおよび制御チャ
ネルを経由してディジタル加入者線に接続されている各
端末装置と集中端末試験装置との間で各種情報および制
御信号を送受信することにより、集中試験センタからデ
ィジタル統合通信網に収容されている総ての端末装置の
試験が集中的に実行可能となり、当該ディジタル統合通
信網の経済性が向上し、また試験作業も合理化される。
以下、本発明の一実施例を図面により説明する。
第2図は本発明の一実施例による集中端末試験方式を示
す図である。なお、企図を通じて同一符号は同一対象物
を示す。また第2図においては、ディジタル加入者線3
に接続される回線終端装置4および端末装置5は省略さ
れる。
す図である。なお、企図を通じて同一符号は同一対象物
を示す。また第2図においては、ディジタル加入者線3
に接続される回線終端装置4および端末装置5は省略さ
れる。
第2図においては、ディジタル交換機1内には、試験付
加装置16が通話路網8を構成する分配装置7に接続さ
れており、・また集中試験センタ17内には、ディジタ
ル交換機1に収容される各ディジタル加入者線3に接続
される図示されぬ各種端末装置を試験する集中端末試験
装置18が、接続回路19に接続されている。
加装置16が通話路網8を構成する分配装置7に接続さ
れており、・また集中試験センタ17内には、ディジタ
ル交換機1に収容される各ディジタル加入者線3に接続
される図示されぬ各種端末装置を試験する集中端末試験
装置18が、接続回路19に接続されている。
第2図において、ディジタル加入者線3に接続される端
末装置を試験する場合には、集中試験センタ17内の集
中端末試験装置18は、試験対象とするディジタル加入
者線3を収容するディジタル交換機1に至るディジタル
リンク20を経由して、ディジタル交換機1内のコール
プロセッサ21およびラインプロセッサ22に対して制
御指令を伝達し、ディジタル加入者線3上の総ての情報
チャネルBを、通話路網8を介して試験付加装置16に
接続し、またディジタル加入者回路3で分離され、ライ
ンプロセッサ22に接続されている制御チャネルDをセ
レクタ(SEL)23および通話路網8を介して試験付
加装置16に接続し、更に試験付加装置I6に接続され
たディジタル加入者線3の総ての情報チャネルBおよび
制御チャネルDを、分配装置7を介して集中試験センタ
17に至るディジタルリンク20を収容するディジタル
ターミナル(DT)24に接続する。
末装置を試験する場合には、集中試験センタ17内の集
中端末試験装置18は、試験対象とするディジタル加入
者線3を収容するディジタル交換機1に至るディジタル
リンク20を経由して、ディジタル交換機1内のコール
プロセッサ21およびラインプロセッサ22に対して制
御指令を伝達し、ディジタル加入者線3上の総ての情報
チャネルBを、通話路網8を介して試験付加装置16に
接続し、またディジタル加入者回路3で分離され、ライ
ンプロセッサ22に接続されている制御チャネルDをセ
レクタ(SEL)23および通話路網8を介して試験付
加装置16に接続し、更に試験付加装置I6に接続され
たディジタル加入者線3の総ての情報チャネルBおよび
制御チャネルDを、分配装置7を介して集中試験センタ
17に至るディジタルリンク20を収容するディジタル
ターミナル(DT)24に接続する。
その結果ディジタル加入者線3上の総ての情報チャネル
Bおよび制御チャネルDは、ディジタルリンク20を経
由して集中試験センタ17に接続される。
Bおよび制御チャネルDは、ディジタルリンク20を経
由して集中試験センタ17に接続される。
集中試験センタ17においては、ディジタルリンク20
を経由して接続された総ての情報チャネルBおよび制御
チャネルDが、接続回路19を介して集中端末試験装置
18に接続される。
を経由して接続された総ての情報チャネルBおよび制御
チャネルDが、接続回路19を介して集中端末試験装置
18に接続される。
集中端末試験装置18は、接続された情報チャネルBお
よび制御チャネルDを経由して、試験対象とするディジ
タル加入者線3に接続されている各端末装置との間で、
各種情報および制御信号を送受信して端末装置の性能を
試験する。
よび制御チャネルDを経由して、試験対象とするディジ
タル加入者線3に接続されている各端末装置との間で、
各種情報および制御信号を送受信して端末装置の性能を
試験する。
以上の説明から明らかな如く、本実施例によれば、ディ
ジタル交換機1に収容されているディジモル加入者yA
U上の総ての情報チャネルBおよび制御チャネルDは、
ディジタル交換機1内の通話路網8、試験付加装置16
、ディジタルターミナル24、ディジタルリンク20、
並びに集中試験センタ17内の接続回路19を介して集
中端末試験装置18に接続される。従って集中試験セン
タ17において集中端末試験装置I8を用いてディジタ
ル加入者線3に接続されている端末装置が試験可能とな
る。
ジタル交換機1に収容されているディジモル加入者yA
U上の総ての情報チャネルBおよび制御チャネルDは、
ディジタル交換機1内の通話路網8、試験付加装置16
、ディジタルターミナル24、ディジタルリンク20、
並びに集中試験センタ17内の接続回路19を介して集
中端末試験装置18に接続される。従って集中試験セン
タ17において集中端末試験装置I8を用いてディジタ
ル加入者線3に接続されている端末装置が試験可能とな
る。
なお、第2図はあく迄本発明の一実施例に過ぎず、例え
ばディジタル交換機1および集中試験センタ17の構成
は図示されるものに限定されることは無く、他に幾多の
変形が考慮されるが、何れの場合にも本発明の効果は変
わらない。
ばディジタル交換機1および集中試験センタ17の構成
は図示されるものに限定されることは無く、他に幾多の
変形が考慮されるが、何れの場合にも本発明の効果は変
わらない。
以上、本発明によれば、前記ディジタル統合通信網にお
いて、集中&:ij末試験装置を集中試験センタのみに
集中して設置し、各ディジタル交換機には試験付加装置
を設置するのみで、集中試験センタからディジタル統合
通信網に収容されている総ての端末装置の試験が集中的
に実行可能となり、当該ディジタル統合通信網の経済性
が向上し、また試験作業も合理化される。
いて、集中&:ij末試験装置を集中試験センタのみに
集中して設置し、各ディジタル交換機には試験付加装置
を設置するのみで、集中試験センタからディジタル統合
通信網に収容されている総ての端末装置の試験が集中的
に実行可能となり、当該ディジタル統合通信網の経済性
が向上し、また試験作業も合理化される。
第1図は本発明の原理を示す図、第2図は本発明の一実
施例による集中端末試験方式を示す図、第3図は従来あ
る端末試験方式の一例を示す図であり、第4図は第3図
におけるディジタル加入者回路の一例を示す図である。 図において、1はディジタル交換機、2はディジタル加
入者回路(DLC) 、3はディジタル加入者線、4は
回線終端装置(NT) 、5は端末装置、6は集線装置
、7は分配装置、8は通話路網、9および20はディジ
タルリンク、10および24はディジタルターミナル(
DT) 、11は端末試験装置、12は回線終端部、1
3は回路終端部、14はインタフェース部、15は切替
リレー、16は試験付加装置、17は集中試験センタ、
18は集中端末試験装置、19は接続回路、21はコー
ルプロセッサ、22はラインプロセッサ、23はセレク
タ(SEL)1.Bは情報チャネル、Dは制御チャネル
、を示す。
施例による集中端末試験方式を示す図、第3図は従来あ
る端末試験方式の一例を示す図であり、第4図は第3図
におけるディジタル加入者回路の一例を示す図である。 図において、1はディジタル交換機、2はディジタル加
入者回路(DLC) 、3はディジタル加入者線、4は
回線終端装置(NT) 、5は端末装置、6は集線装置
、7は分配装置、8は通話路網、9および20はディジ
タルリンク、10および24はディジタルターミナル(
DT) 、11は端末試験装置、12は回線終端部、1
3は回路終端部、14はインタフェース部、15は切替
リレー、16は試験付加装置、17は集中試験センタ、
18は集中端末試験装置、19は接続回路、21はコー
ルプロセッサ、22はラインプロセッサ、23はセレク
タ(SEL)1.Bは情報チャネル、Dは制御チャネル
、を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 複数種類の端末装置(5)を接続するディジタル加入者
線(3)を収容する複数のディジタル交換機(1)と、
該ディジタル交換機(1)に共通に設けられた集中試験
センタ(17)とを有するディジタル統合通信網におい
て、 前記ディジタル加入者線(3)上に設けられた総ての情
報チャネル(B)および制御チャネル(D)を通話路網
(8)を介して前記集中試験センタ(17)に接続する
試験付加装置(16)を前記各ディジタル交換機(1)
に設け、 前記各ディジタル交換機(1)から接続される情報チャ
ネル(B)および制御チャネル(D)に接続し、前記各
種端末装置(5)を試験する集中端末試験装置(18)
を前記集中試験センタ(17)に設けることを特徴とす
る集中端末試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14636785A JPS627254A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 集中端末試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14636785A JPS627254A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 集中端末試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS627254A true JPS627254A (ja) | 1987-01-14 |
Family
ID=15406116
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14636785A Pending JPS627254A (ja) | 1985-07-03 | 1985-07-03 | 集中端末試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS627254A (ja) |
-
1985
- 1985-07-03 JP JP14636785A patent/JPS627254A/ja active Pending
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