JPS6275855A - 半導体デイスクの読出し装置 - Google Patents
半導体デイスクの読出し装置Info
- Publication number
- JPS6275855A JPS6275855A JP60217093A JP21709385A JPS6275855A JP S6275855 A JPS6275855 A JP S6275855A JP 60217093 A JP60217093 A JP 60217093A JP 21709385 A JP21709385 A JP 21709385A JP S6275855 A JPS6275855 A JP S6275855A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gap
- circuit
- error
- output
- semiconductor disk
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Detection And Correction Of Errors (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
半導体ディスク装置の読出し装置にギャップブロックの
存在位置を識別するギャップブロック識別回路を設ける
ことにより、ギャップブロック中のバイトに読出しエラ
ーがあってもこれを修正して出力するようにして、エラ
ー処理を行なう頻度を軽減せしめたものである。
存在位置を識別するギャップブロック識別回路を設ける
ことにより、ギャップブロック中のバイトに読出しエラ
ーがあってもこれを修正して出力するようにして、エラ
ー処理を行なう頻度を軽減せしめたものである。
従来、大容量の記憶装置として磁気ディスク装置あるい
は磁気テープ装置などが用いられて来たが、これらの装
置は情報へのアクセスに時間を要する欠点があり、近時
の半導体記憶装置の進歩もあって、記1.α素子として
半導体記1.α素子を用い、これに磁気ディスク装置に
おけると同様な記1.αフォーマントを適用する、いわ
ゆる半導体ディスク装置が使用されるようになって来た
。
は磁気テープ装置などが用いられて来たが、これらの装
置は情報へのアクセスに時間を要する欠点があり、近時
の半導体記憶装置の進歩もあって、記1.α素子として
半導体記1.α素子を用い、これに磁気ディスク装置に
おけると同様な記1.αフォーマントを適用する、いわ
ゆる半導体ディスク装置が使用されるようになって来た
。
本発明はこのような半導体ディスク装置が読出しの際エ
ラーを生じて処理が中断するのをなるべ(軽減しようと
するものである。
ラーを生じて処理が中断するのをなるべ(軽減しようと
するものである。
このような半導体ディスク装置は、情報の記憶再生に機
械的な動作を伴なわず、しかも高速度で情報を書込みあ
るいは再生することができるけれども、記憶素子の欠陥
などにより誤った情報を読出ずことがあり、この欠点を
除去するためにエラー訂正符号(ECC符号)により蓄
積、読出しを行なうように構成されていた。
械的な動作を伴なわず、しかも高速度で情報を書込みあ
るいは再生することができるけれども、記憶素子の欠陥
などにより誤った情報を読出ずことがあり、この欠点を
除去するためにエラー訂正符号(ECC符号)により蓄
積、読出しを行なうように構成されていた。
IE CC符号を用いても2ビット以上のエラーが存在
すれば訂正が不可能なため、処理を中断してエラー処理
を行なわなければならなかった。
すれば訂正が不可能なため、処理を中断してエラー処理
を行なわなければならなかった。
この種半導体ディスク装置においては、データブロック
間に設けられるギャップブロックが記録情報全体に占め
る割合が大きく、したがって、このギヤノブブロックの
読出し中にエラーが発生する割合も大きい。
間に設けられるギャップブロックが記録情報全体に占め
る割合が大きく、したがって、このギヤノブブロックの
読出し中にエラーが発生する割合も大きい。
そして、このギャップブロックの長さは予め定められて
おり、しかも先行するデータブロックが固定長であれば
そのデータブロック長により、また、データブロックが
可変長であればそのデータブロック中に含まれるデータ
長の情報により、そのギャップブロックの位置を識別す
ることが可能である。
おり、しかも先行するデータブロックが固定長であれば
そのデータブロック長により、また、データブロックが
可変長であればそのデータブロック中に含まれるデータ
長の情報により、そのギャップブロックの位置を識別す
ることが可能である。
本発明においては、このようにして識別されたギャップ
ブロックにおいて若し2ビット以上のエラーが発生した
ときには、このエラーの発生したハイドをギャップブロ
ックについて予め定められたビットパターンにより五き
換えて出力すると共に、エラー出力を生じないように構
成する。
ブロックにおいて若し2ビット以上のエラーが発生した
ときには、このエラーの発生したハイドをギャップブロ
ックについて予め定められたビットパターンにより五き
換えて出力すると共に、エラー出力を生じないように構
成する。
[作 用]
第2a、b図はいずれも半導体ディスク装置における情
報の記憶フォーマノ1−を示すもので、同図aは固定長
データの記憶フォーマット、同図すは可変長データの記
(,1フオーマツトの概念を夫々示すもので、同図中り
はデータブロック、Gはギャップブロックを示し、5図
中の斜線部はデータブロック中のデータ長を示すデーク
部であり、ギャップブロック中の各ハイドはいずれも全
ビットが“0”または“1”であるように定められてい
る。
報の記憶フォーマノ1−を示すもので、同図aは固定長
データの記憶フォーマット、同図すは可変長データの記
(,1フオーマツトの概念を夫々示すもので、同図中り
はデータブロック、Gはギャップブロックを示し、5図
中の斜線部はデータブロック中のデータ長を示すデーク
部であり、ギャップブロック中の各ハイドはいずれも全
ビットが“0”または“1”であるように定められてい
る。
半導体ディスク装置においては、この第2図の左上端か
ら最上段を右へ、次いで第2段目を左から右へ、以下同
様に磁気テープあるいは磁気ディスクと同様なフォーマ
ットで情報が記述まれる。
ら最上段を右へ、次いで第2段目を左から右へ、以下同
様に磁気テープあるいは磁気ディスクと同様なフォーマ
ットで情報が記述まれる。
したがって、第2a図に示したようにデータブロックが
固定長であればそのブロック長により、また第2b図に
示したようなデータプロ、りが可変長であればそのデー
タブロック中のデータ長データにより、いずれもギャッ
プブロックの範囲を識別することができる。
固定長であればそのブロック長により、また第2b図に
示したようなデータプロ、りが可変長であればそのデー
タブロック中のデータ長データにより、いずれもギャッ
プブロックの範囲を識別することができる。
したがって、2ビット以上のエラーを含むパイ1〜が検
出されたときに、そのハイ1−の位置がデータブロック
にあるのか、ギャップブロックにあるのかを識別し、若
しこのハイドがギャップブロックに位置するものであれ
ばギャップブロックに割当てられているハイドのビット
パターン、(列えば仝ピッド°0”あるいは全ビット”
!”、に訂正して出力することができ、エラー処理を
行なう必要がない。
出されたときに、そのハイ1−の位置がデータブロック
にあるのか、ギャップブロックにあるのかを識別し、若
しこのハイドがギャップブロックに位置するものであれ
ばギャップブロックに割当てられているハイドのビット
パターン、(列えば仝ピッド°0”あるいは全ビット”
!”、に訂正して出力することができ、エラー処理を
行なう必要がない。
第1図は本発明の実施例を示すもので、例えば磁気テー
プ装置、磁気ディスク装置からの書込み情報はECCコ
ート生成回路(8)により生成されたECCコードと共
に第2図について共に説明したようなフォーマットによ
って半導体記1.α装置に書込まれて半導体ディスク装
置(1)を構成する。なお、書込み情報にECCコード
が予め付加されていれば、ECCコード生成回路(8)
によるECCコードの付加を必要としないことは明らか
であろう。
プ装置、磁気ディスク装置からの書込み情報はECCコ
ート生成回路(8)により生成されたECCコードと共
に第2図について共に説明したようなフォーマットによ
って半導体記1.α装置に書込まれて半導体ディスク装
置(1)を構成する。なお、書込み情報にECCコード
が予め付加されていれば、ECCコード生成回路(8)
によるECCコードの付加を必要としないことは明らか
であろう。
この半導体ディスク装置(1)から読出された情報はE
CC回路(2)によって1ビットエラーであれば修正さ
れた後ギャップブロック識別回路(3)に送られ、前述
の如くデータブロックおよびブロックギャップの長さに
基づいてギャップブロックの存在する期間を検出して、
この期間中ギャップ信号を出力する。このとき、ECC
回路(2)が2ビット以上のエラーを検出すればエラー
信号を送出し、ギャップブロック識別回路(3)では未
だギャップブロック位置の識別がなされていないのでギ
ャップ信号が送出されておらず、このギャップ信号がイ
ンヒビソト端子に印加されているアンド回路(7)を介
してエラー出力を生じ、エラー処理を行なわせる。
CC回路(2)によって1ビットエラーであれば修正さ
れた後ギャップブロック識別回路(3)に送られ、前述
の如くデータブロックおよびブロックギャップの長さに
基づいてギャップブロックの存在する期間を検出して、
この期間中ギャップ信号を出力する。このとき、ECC
回路(2)が2ビット以上のエラーを検出すればエラー
信号を送出し、ギャップブロック識別回路(3)では未
だギャップブロック位置の識別がなされていないのでギ
ャップ信号が送出されておらず、このギャップ信号がイ
ンヒビソト端子に印加されているアンド回路(7)を介
してエラー出力を生じ、エラー処理を行なわせる。
ギヤノブブロック識別回路(3)がギャップ信号を送出
している期間にECC回路(2)によって2ビ。
している期間にECC回路(2)によって2ビ。
ト以上のエラーが検出されてエラー信号が発生ずると、
一方の入力端子にギャップ信号が印加されているアンド
回路(4)はこのエラー信号により出力を発生し、マル
チプレクサ(6)を切換えてギャップ信号(5)の出力
を読出し情報として送出する。このギャップ信号発生回
路(5)は、ギャップブロックのバイトに予め定められ
ているピントパターンを発生しているから、ECC回路
(2)が2ビット以上のエラーを検出して情報出力を発
生しないでも、このエラーの発生したハイドはギャップ
信号発生回路(5)の出力によって補なわれ、読出し情
報は正しいビットパターンを有するものとなり、エラー
処理を行なう必要がない。
一方の入力端子にギャップ信号が印加されているアンド
回路(4)はこのエラー信号により出力を発生し、マル
チプレクサ(6)を切換えてギャップ信号(5)の出力
を読出し情報として送出する。このギャップ信号発生回
路(5)は、ギャップブロックのバイトに予め定められ
ているピントパターンを発生しているから、ECC回路
(2)が2ビット以上のエラーを検出して情報出力を発
生しないでも、このエラーの発生したハイドはギャップ
信号発生回路(5)の出力によって補なわれ、読出し情
報は正しいビットパターンを有するものとなり、エラー
処理を行なう必要がない。
本発明によれば、半導体ディスク装置上の比較的大きい
記憶域を占めるギャップブロック中に2ビット以上のエ
ラーを含むバイトが検出されたときに正しいビットパタ
ーンに置き換えて出力されるので、エラー処理を行なう
必要がなく、したがって処理速度を著しく・向上させる
ことができる。
記憶域を占めるギャップブロック中に2ビット以上のエ
ラーを含むバイトが検出されたときに正しいビットパタ
ーンに置き換えて出力されるので、エラー処理を行なう
必要がなく、したがって処理速度を著しく・向上させる
ことができる。
第1図は本発明の実施例、第2図は半導体ディスク装置
の記憶フォーマントの例を示す。 1は半導体ディスク装置、2はECC回路、3はギャッ
プブロック識別回路、4はアンド回路、5はギャップ信
号発生回路、6はマルチプレクサである。 特許出願人 富 士 通 株式会社畜ぬと情
報 J 焚fe利 第1図
の記憶フォーマントの例を示す。 1は半導体ディスク装置、2はECC回路、3はギャッ
プブロック識別回路、4はアンド回路、5はギャップ信
号発生回路、6はマルチプレクサである。 特許出願人 富 士 通 株式会社畜ぬと情
報 J 焚fe利 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 半導体記憶装置にデータブロックと予め定められた長さ
を有するギャップブロックとが交互に配列され、これら
ブロックを構成する各バイトにはエラー訂正符号を付加
した情報を書込みあるいは読出すようにした半導体ディ
スク装置(1)と、この半導体ディスク装置の読出し出
力中のエラー訂正符号により1ビットエラーを修正して
出力し、かつ2ビット以上のエラーがあるときにはエラ
ー信号を送出するECC回路(2)と、 上記半導体ディスク装置の読出し出力からギャップブロ
ックの存在位置を識別するギャップブロック識別回路(
3)と、 上記ECC回路(2)からのエラー信号とギャップブロ
ック識別回路(3)からのギャップ信号の論理積を得る
アンド回路(4)と、 ギャップブロックについて定められたビットパターンを
出力するギャップ信号発生回路(5)と、前記ECC回
路(2)の出力と上記ギャップ信号発生回路(5)の出
力とを上記アンド回路(4)の出力によつて切換えて読
出し情報として出力するマルチプレクサ(6)、 とを備えることを特徴とする半導体ディスクの読出し装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60217093A JPS6275855A (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | 半導体デイスクの読出し装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60217093A JPS6275855A (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | 半導体デイスクの読出し装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6275855A true JPS6275855A (ja) | 1987-04-07 |
Family
ID=16698728
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60217093A Pending JPS6275855A (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | 半導体デイスクの読出し装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6275855A (ja) |
-
1985
- 1985-09-30 JP JP60217093A patent/JPS6275855A/ja active Pending
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