JPS6276280A - エレクトロルミネセンス素子の製造方法 - Google Patents
エレクトロルミネセンス素子の製造方法Info
- Publication number
- JPS6276280A JPS6276280A JP60217097A JP21709785A JPS6276280A JP S6276280 A JPS6276280 A JP S6276280A JP 60217097 A JP60217097 A JP 60217097A JP 21709785 A JP21709785 A JP 21709785A JP S6276280 A JPS6276280 A JP S6276280A
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- Japan
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- thin film
- substrate
- vacuum
- manufacturing
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
エレクトロルミネセンス(EL)薄膜を真空中で形成す
る過程において、基板面にイオンビーム照射を行う。
る過程において、基板面にイオンビーム照射を行う。
本発明はZnS系EL素子の製造方法に関するもので、
さらに詳しく言えば、真空中で基板上にEL薄膜を成長
する過程に薄膜が成長しつつある基板表面にイオンビー
ムを照射し高い発光輝度のEL素子を製造する方法に関
するものである。
さらに詳しく言えば、真空中で基板上にEL薄膜を成長
する過程に薄膜が成長しつつある基板表面にイオンビー
ムを照射し高い発光輝度のEL素子を製造する方法に関
するものである。
第2図に断面図で示されるEL素子は知られたものであ
り、同図において、21はガラス基板、22は導電膜、
23は交流電源、24は窒化シリコンの絶縁膜、25は
EL薄膜、26は絶縁膜、27はアルミニウム(八l)
の電極である。かかるEL素子においては、EL薄膜に
隣接する絶縁膜またはそれとの界面からEL薄膜(発光
層)に向かって電子が注入され、電子が発光中心に衝突
して発光する。
り、同図において、21はガラス基板、22は導電膜、
23は交流電源、24は窒化シリコンの絶縁膜、25は
EL薄膜、26は絶縁膜、27はアルミニウム(八l)
の電極である。かかるEL素子においては、EL薄膜に
隣接する絶縁膜またはそれとの界面からEL薄膜(発光
層)に向かって電子が注入され、電子が発光中心に衝突
して発光する。
従来、EL薄膜を真空中で堆積する方法として真空蒸着
法とスパッタ法が用いられている。これらの方法で堆積
した場合、発光中心材料がクラスター状(かたまった状
態)に飛んだり、基板上で凝集したりして母材中に個々
の原子に分れて均一に分散せず、多数の原子がかたまっ
た状態で入るという傾向がある。その理由は、基板に到
達した原子は急速にそのエネルギーを失うからであると
解される。基板をかなりの高温に加熱することも提案さ
れたが、基板を熱しただけではまだ不十分であることが
判明した。この場合、熱電子から伝達された励起エネル
ギーが隣接した発光中心の原子間で伝達される間にキラ
ーセンターや非輻射センターに吸収されて発光に寄与し
ない場合が生ずる。
法とスパッタ法が用いられている。これらの方法で堆積
した場合、発光中心材料がクラスター状(かたまった状
態)に飛んだり、基板上で凝集したりして母材中に個々
の原子に分れて均一に分散せず、多数の原子がかたまっ
た状態で入るという傾向がある。その理由は、基板に到
達した原子は急速にそのエネルギーを失うからであると
解される。基板をかなりの高温に加熱することも提案さ
れたが、基板を熱しただけではまだ不十分であることが
判明した。この場合、熱電子から伝達された励起エネル
ギーが隣接した発光中心の原子間で伝達される間にキラ
ーセンターや非輻射センターに吸収されて発光に寄与し
ない場合が生ずる。
また、余分に存在する発光中心の原子が熱電子の散乱中
心となって、平均自由行程を短かくするので、熱電子が
発光中心の原子を励起するに十分なエネルギーを得難く
なるという問題がある。
心となって、平均自由行程を短かくするので、熱電子が
発光中心の原子を励起するに十分なエネルギーを得難く
なるという問題がある。
本発明はこのような点に鑑みて創作されたもので、EL
薄膜を形成する過程で薄膜が堆積する基板面にイオンビ
ームを照射することにより、発光中心となる原子のクラ
スターを分解し、凝集を防ぎ発光中心を母材中に均一に
分散させて、高い発光輝度のEL素子を製造する方法を
提供することを目的とする。
薄膜を形成する過程で薄膜が堆積する基板面にイオンビ
ームを照射することにより、発光中心となる原子のクラ
スターを分解し、凝集を防ぎ発光中心を母材中に均一に
分散させて、高い発光輝度のEL素子を製造する方法を
提供することを目的とする。
第1図は本発明実施例の断面図である。
第1図に示される如く、母材中に発光中心材料を添加し
たEL薄膜を真空中で堆積させて形成するEL素子の製
造方法において、該EL薄膜を形成する過程で薄膜が堆
積する基板17面にイオンビーム照射を行うもので、E
L薄膜の形成方法はスパッタ法であり、イオンソースを
収納する真空槽14と薄膜形成を行う真空槽12を隔離
し、両者の間をスリット13の細孔でつなぎ、そのスリ
ット13よりイオンビームを基板17面に導くものであ
る。
たEL薄膜を真空中で堆積させて形成するEL素子の製
造方法において、該EL薄膜を形成する過程で薄膜が堆
積する基板17面にイオンビーム照射を行うもので、E
L薄膜の形成方法はスパッタ法であり、イオンソースを
収納する真空槽14と薄膜形成を行う真空槽12を隔離
し、両者の間をスリット13の細孔でつなぎ、そのスリ
ット13よりイオンビームを基板17面に導くものであ
る。
本発明の要点は、基板上に到達した発光中心材料の原子
およびクラスターが照射されるイオンの運動エネルギー
を受けて、基板表面で十分なマイグレーションを起し、
またクラスターが個々の原子に分解されて薄膜中に均一
に分散するようにしたものである。
およびクラスターが照射されるイオンの運動エネルギー
を受けて、基板表面で十分なマイグレーションを起し、
またクラスターが個々の原子に分解されて薄膜中に均一
に分散するようにしたものである。
本発明の付随的効果として、結合力の弱い残留ガス(H
xO+ Ar+ N2 +02など)が薄膜中に取り
込まれるのを防ぐことができる。このような不純物が膜
中に取り込まれると、熱電子の散乱中心となって、発光
中心の励起効率を低下させる。また母材となる原子およ
びクラスターのマイグレーションや分解も促進されるの
で、薄膜の結晶性が改善されて発光輝度が更に向上する
。
xO+ Ar+ N2 +02など)が薄膜中に取り
込まれるのを防ぐことができる。このような不純物が膜
中に取り込まれると、熱電子の散乱中心となって、発光
中心の励起効率を低下させる。また母材となる原子およ
びクラスターのマイグレーションや分解も促進されるの
で、薄膜の結晶性が改善されて発光輝度が更に向上する
。
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第2図は本発明を適用して作製したl1iL素子の一例
構造を模式的に示す断面図で、ガラス基板21上に透明
導電Il*22が2000人の厚さにスパッタリングに
より形成されている。導電膜22にはEし素子を駆動さ
せる交流電源23の一方の端子が接続されている。導電
膜22上には、絶縁膜24として窒化シリコン(5i3
N1 )が2000人の厚さにスパッタリングにより形
成され、さらにこの絶縁膜24の上に本発明を適用して
EL薄膜25が6000人の厚さに形成されている。E
L薄膜25の上には再びSi3Ngの絶縁膜26が20
00人の厚さでスパッタリング法により形成され、絶縁
1!f!26上にはAl電極27が形成されている。
構造を模式的に示す断面図で、ガラス基板21上に透明
導電Il*22が2000人の厚さにスパッタリングに
より形成されている。導電膜22にはEし素子を駆動さ
せる交流電源23の一方の端子が接続されている。導電
膜22上には、絶縁膜24として窒化シリコン(5i3
N1 )が2000人の厚さにスパッタリングにより形
成され、さらにこの絶縁膜24の上に本発明を適用して
EL薄膜25が6000人の厚さに形成されている。E
L薄膜25の上には再びSi3Ngの絶縁膜26が20
00人の厚さでスパッタリング法により形成され、絶縁
1!f!26上にはAl電極27が形成されている。
Al電極27には交流電源13の他端が接続されている
。
。
上記EL薄膜25は例えば第1図に示ずようなイオンソ
ースつきのスパッタリング装置により形成することがで
きる。同図において、Mnを添加したZnSターゲット
18を被着した陰極19はマツチング回路を通って、1
3.56MHzのRF電源(図示せず)に接続されてい
る。一方、プラズマ室10と加速室1)から成るイオン
ソースはスパッタ室12とスリット13を介して接続さ
れた真空槽14内に収納されてい ゛る。この真空槽
14は作動排気系15により、スパック室より1〜3桁
高い真空度に保たれている。スパッタ室12はスパッタ
リング中は例えば計ガス圧8 X 10−3Torrに
保たれる。これに対し、真空槽14は照射するイオン種
の平均自由行程がイオンソースとスリットの間隔より小
さくならないという条件を満たす範囲の真空度に保つこ
とが望ましい。
ースつきのスパッタリング装置により形成することがで
きる。同図において、Mnを添加したZnSターゲット
18を被着した陰極19はマツチング回路を通って、1
3.56MHzのRF電源(図示せず)に接続されてい
る。一方、プラズマ室10と加速室1)から成るイオン
ソースはスパッタ室12とスリット13を介して接続さ
れた真空槽14内に収納されてい ゛る。この真空槽
14は作動排気系15により、スパック室より1〜3桁
高い真空度に保たれている。スパッタ室12はスパッタ
リング中は例えば計ガス圧8 X 10−3Torrに
保たれる。これに対し、真空槽14は照射するイオン種
の平均自由行程がイオンソースとスリットの間隔より小
さくならないという条件を満たす範囲の真空度に保つこ
とが望ましい。
例えば間隔を10cmとすると14内の真空度に5×1
0− ” Torrより高く保つのが良い。
0− ” Torrより高く保つのが良い。
ここで、回転式の陽極16の底面にはターゲ・7トと対
向する位置に基板17が保持されている。この基板17
は、第2図を参照すると、ガラス基板21の上に透明導
電膜22と絶縁膜24が形成され終ったものである。E
L薄1!i!25はグロー放電を起したZnS・Mnタ
ーゲット18とイオンソース(10,1))の上を基板
17が陽極16の回転に伴って交互に通過することによ
り形成される。基板17がイオンソース上にくると、ス
リット13を通してイオンビームが基板面に照射される
。
向する位置に基板17が保持されている。この基板17
は、第2図を参照すると、ガラス基板21の上に透明導
電膜22と絶縁膜24が形成され終ったものである。E
L薄1!i!25はグロー放電を起したZnS・Mnタ
ーゲット18とイオンソース(10,1))の上を基板
17が陽極16の回転に伴って交互に通過することによ
り形成される。基板17がイオンソース上にくると、ス
リット13を通してイオンビームが基板面に照射される
。
EL薄膜15の代表的な形成条件は、ZnS−Mnクー
ゲットの直径を100mmとした時、供給電力300W
、基板回転速度2Orpm %スリットは長さ100m
m 、幅5mmの長方形状である。この条件により、イ
オン種としてHeを用いて十分な発光輝度のEL素子を
得ることができた。
ゲットの直径を100mmとした時、供給電力300W
、基板回転速度2Orpm %スリットは長さ100m
m 、幅5mmの長方形状である。この条件により、イ
オン種としてHeを用いて十分な発光輝度のEL素子を
得ることができた。
EL薄膜25が形成されると、基板17は別のチャンバ
に移されそこで絶縁膜26が形成され、次いで更に他の
場所でA1電極27が形成されてEL素子が完成する。
に移されそこで絶縁膜26が形成され、次いで更に他の
場所でA1電極27が形成されてEL素子が完成する。
以上述べてきたように、本発明によれば、EL薄膜成長
中の基板にイオンビームを照射することにより、原子の
クラスターを分解し、凝集を防ぎ、発光中心を母材中に
均一に分散させることにより、高い発光輝度のEし素子
を提供することが可能である。例えば活性体としてTb
F 3を用いて緑色のEL素子を作る場合、発光輝度は
従来のものの2倍以上に向上した。
中の基板にイオンビームを照射することにより、原子の
クラスターを分解し、凝集を防ぎ、発光中心を母材中に
均一に分散させることにより、高い発光輝度のEし素子
を提供することが可能である。例えば活性体としてTb
F 3を用いて緑色のEL素子を作る場合、発光輝度は
従来のものの2倍以上に向上した。
第1図は本発明実施例の断面図、
第2図はHL素子の断面図である。
第1図と第2図において、
10はプラズマ室、
1)は加速室、
12はスパッタ室、
13はスリット、
14は真空槽、
15は差動排気系、
16は陽極、
17は基板、
18はターゲット、
19は陰極、
21はガラス基板、
22は導電膜、
23は交流電源、
24は絶縁膜、
25はEL薄膜、
26は絶縁膜、
27はAl電極である。
Claims (3)
- (1)母材中に発光中心材料を添加したエレクトロルミ
ネセンス(EL)薄膜(25)を真空中で堆積させるこ
とからなるEL素子の製造において、該薄膜(25)を
形成中に該薄膜(25)が堆積する基板(17)の面に
イオンビームを照射することを特徴とするEL素子の製
造方法。 - (2)該薄膜(25)をスパッタ法で形成することを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の方法。 - (3)イオンソースを収納する真空槽(14)と、薄膜
(25)の形成を行う真空槽(12)とを隔離し、これ
ら真空槽をスリット(13)の細孔でつなぎ、スリット
(13)を通してイオンビームを基板(17)に導くこ
とを特徴とする特許請求の範囲第2項記載のエレクトロ
ルミネセンス素子の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60217097A JPH0632302B2 (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | エレクトロルミネセンス素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60217097A JPH0632302B2 (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | エレクトロルミネセンス素子の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6276280A true JPS6276280A (ja) | 1987-04-08 |
| JPH0632302B2 JPH0632302B2 (ja) | 1994-04-27 |
Family
ID=16698793
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60217097A Expired - Lifetime JPH0632302B2 (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 | エレクトロルミネセンス素子の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0632302B2 (ja) |
-
1985
- 1985-09-30 JP JP60217097A patent/JPH0632302B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0632302B2 (ja) | 1994-04-27 |
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