JPS6277612A - プラント異常診断方法 - Google Patents
プラント異常診断方法Info
- Publication number
- JPS6277612A JPS6277612A JP60216200A JP21620085A JPS6277612A JP S6277612 A JPS6277612 A JP S6277612A JP 60216200 A JP60216200 A JP 60216200A JP 21620085 A JP21620085 A JP 21620085A JP S6277612 A JPS6277612 A JP S6277612A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- input signal
- plant
- signal
- abnormality
- storage device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は計算機システムを用いてプラントの異常を診断
するプラント異常診断方法に関する。
するプラント異常診断方法に関する。
従来のプラント異常診断装置を第4図のブロック構成図
を参照して説明する。同図において、1はプラントのプ
ロセス信号を入力する信号入力装置、2は入力された信
号の値と予め設けたしきい値とを比較して信号の状態を
判定する入力信号処理装置、3は予め作成しておいた異
常診断論理を記憶する異常診断論理記憶装置、4は入力
信号の状態に応じて異常診断論理を演算し、異常原因の
同定、プラント状態を回復させるための操作を摘出する
異常診断処理装置、5は診断結果を表示する診断結果表
示装置である。
を参照して説明する。同図において、1はプラントのプ
ロセス信号を入力する信号入力装置、2は入力された信
号の値と予め設けたしきい値とを比較して信号の状態を
判定する入力信号処理装置、3は予め作成しておいた異
常診断論理を記憶する異常診断論理記憶装置、4は入力
信号の状態に応じて異常診断論理を演算し、異常原因の
同定、プラント状態を回復させるための操作を摘出する
異常診断処理装置、5は診断結果を表示する診断結果表
示装置である。
ここで、異常診断論理記憶装置13に記憶される論理は
個別に論理式表現される場合もあり、また原因結果ツリ
ーのようにツリー構造をとる場合もある。
個別に論理式表現される場合もあり、また原因結果ツリ
ーのようにツリー構造をとる場合もある。
すなわち、異常診断論理が論理式表現されている場合に
は、異常診断は論理式で参照される入力信号と他の#環
式の評価結果を用いて論理演算を行ない、異常診断論理
が成立するかどうかを判定する。また論理式の演算順序
は論理式が他の論理式の評価結果を参照する場合には参
照される論理式を先に評価する必要があり、評価順序は
一義的に決まる。また他の論理式を参照しない場合には
評価順序は機械的に上から評価される。しかし、いずれ
の場合もサンプリング毎に全論理式が評価されるので論
理式の数が増大すると、多くの解析時間を費やし適切な
評価ができなくなるという不具合がある。
は、異常診断は論理式で参照される入力信号と他の#環
式の評価結果を用いて論理演算を行ない、異常診断論理
が成立するかどうかを判定する。また論理式の演算順序
は論理式が他の論理式の評価結果を参照する場合には参
照される論理式を先に評価する必要があり、評価順序は
一義的に決まる。また他の論理式を参照しない場合には
評価順序は機械的に上から評価される。しかし、いずれ
の場合もサンプリング毎に全論理式が評価されるので論
理式の数が増大すると、多くの解析時間を費やし適切な
評価ができなくなるという不具合がある。
次に、異常診断論理が原因結果ツリーの場合について説
明する。第5図は原因結果ツリーの一部分の例であり、
図においてN7.N13は診断メツセージ、Gl、G2
.G4.G5は論理積ゲート、G3.G6は論理和ゲー
ト、N1〜N13は信号の状態を表わすノードである。
明する。第5図は原因結果ツリーの一部分の例であり、
図においてN7.N13は診断メツセージ、Gl、G2
.G4.G5は論理積ゲート、G3.G6は論理和ゲー
ト、N1〜N13は信号の状態を表わすノードである。
原因結果ツリーの実行処理は入力信号処理装置と原因結
果ツリーを記憶した異常原因診断記憶装置からの情報を
基に異常診断処理装置で行なわれ、異常原因の同定のた
めに以下の処理が実行される。
果ツリーを記憶した異常原因診断記憶装置からの情報を
基に異常診断処理装置で行なわれ、異常原因の同定のた
めに以下の処理が実行される。
まず、状態が変化した信号が使われているノードについ
て、そのノードが負となる条件が成立しているかどうか
を調べる0例えば、第5図においてノードN7が真とな
った場合にN7が真となる条件としては N5・N1・N2 N6・N3・N4 のどちらかが成立することである。この真となるための
集合をミニマル・カット・セットと呼ぶ。
て、そのノードが負となる条件が成立しているかどうか
を調べる0例えば、第5図においてノードN7が真とな
った場合にN7が真となる条件としては N5・N1・N2 N6・N3・N4 のどちらかが成立することである。この真となるための
集合をミニマル・カット・セットと呼ぶ。
またノードNilが真となるためには
N8・N7・(N5・N1・N2+N6・N3・N4)
=N8・N7・N5・N1・N2・十N8・N7・N6
・N3・N4が成立する必要がある。このときミニマル
・カット・セットは N8・N7・N5・N1・N2 N3・N7・N6・N3・N4 の2つとなる。従っであるノードに使われている信号の
状態が変化した場合には、そのノードの上流側(第゛5
図において下が上流、上が下流となる)にある全てのノ
ードの状態を探査し、いずれかのミニマル・カット・セ
ットが成立しているかを調べる。そして、あるミニマル
・カット・セットが成立した場合に原因同定が成功した
とし、そのノードに診断メツセージがある場合には診断
メツセージを表示する。
=N8・N7・N5・N1・N2・十N8・N7・N6
・N3・N4が成立する必要がある。このときミニマル
・カット・セットは N8・N7・N5・N1・N2 N3・N7・N6・N3・N4 の2つとなる。従っであるノードに使われている信号の
状態が変化した場合には、そのノードの上流側(第゛5
図において下が上流、上が下流となる)にある全てのノ
ードの状態を探査し、いずれかのミニマル・カット・セ
ットが成立しているかを調べる。そして、あるミニマル
・カット・セットが成立した場合に原因同定が成功した
とし、そのノードに診断メツセージがある場合には診断
メツセージを表示する。
原因結果ツリーではこのような処理が行なわれ、真とな
ったノードについて解析が行なわれるのである程度選択
的な処理をしていると言える。
ったノードについて解析が行なわれるのである程度選択
的な処理をしていると言える。
しかし原因結果ツリーでは原因を同定するには、ミニマ
ル・カット・セットの成立が不可欠である。
ル・カット・セットの成立が不可欠である。
またミニマル・カット・セットは着目するノードの上流
側にある全てのノードによって構成されるため、事象が
進展し1着目するノードが原因結果ツリーの下流の方に
来たときには、そのノードを最上位とするミニマル・カ
ット・セットの量は膨大なものとなり解析時間が増大す
る。さらに事象の時間遅れあるいはしきい値の与え方に
より、事象の変化の順序が違ってきたときには、ミニマ
ル・カット・セットが不成立となり、異常原因の同定に
失敗するという不具合がある。
側にある全てのノードによって構成されるため、事象が
進展し1着目するノードが原因結果ツリーの下流の方に
来たときには、そのノードを最上位とするミニマル・カ
ット・セットの量は膨大なものとなり解析時間が増大す
る。さらに事象の時間遅れあるいはしきい値の与え方に
より、事象の変化の順序が違ってきたときには、ミニマ
ル・カット・セットが不成立となり、異常原因の同定に
失敗するという不具合がある。
本発明は上記の技術解決の要求に応えるために行なった
もので、その目的は論理式表現を用いて効率的にプラン
トの異常を診断するようにしたプラント異常診断方法を
提供することにある。
もので、その目的は論理式表現を用いて効率的にプラン
トの異常を診断するようにしたプラント異常診断方法を
提供することにある。
本発明は、上記目的を達成するために、プラントからの
プロセス信号を入力し、その入力信号を論理演算処理す
ることによりプラントの異常原因を同定し、かつプラン
トの運転状況に応じて異常状態の拡大を防止するための
操作を運転員に提供するプラント異常診断方法において
、入力信号の変化をトリガーとして、論理演算を選択的
に処理するとともに入力信号の変化の評価に条件をつけ
ることによって誤判断することを防止して解析効率を向
上させたものである。
プロセス信号を入力し、その入力信号を論理演算処理す
ることによりプラントの異常原因を同定し、かつプラン
トの運転状況に応じて異常状態の拡大を防止するための
操作を運転員に提供するプラント異常診断方法において
、入力信号の変化をトリガーとして、論理演算を選択的
に処理するとともに入力信号の変化の評価に条件をつけ
ることによって誤判断することを防止して解析効率を向
上させたものである。
本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。
第1図は本発明の一実施例のブロック構成図である。同
図において、6はプラントのプロセス信号を入力する信
号入力装置、7は入力された信号の値と予め設けた値と
を比較して信号の状態を評価する入力信号処理装置、8
は評価結果を用意した第1テーブルに記憶する入力信号
記憶装置、9は第1テーブルに対応した第2テーブルに
評価順序を記憶する評価順序記憶装置、10は予め作成
しておいた異常診断論理を記憶する異常診断論理記憶装
置、11は入力信号の状態に応じて異常診断論理を演算
し、異常原因の同定、プラント状態を回復させるための
操作を選択する異常診断処理装置、12は診断結果を表
示する診断結果表示装置である。
図において、6はプラントのプロセス信号を入力する信
号入力装置、7は入力された信号の値と予め設けた値と
を比較して信号の状態を評価する入力信号処理装置、8
は評価結果を用意した第1テーブルに記憶する入力信号
記憶装置、9は第1テーブルに対応した第2テーブルに
評価順序を記憶する評価順序記憶装置、10は予め作成
しておいた異常診断論理を記憶する異常診断論理記憶装
置、11は入力信号の状態に応じて異常診断論理を演算
し、異常原因の同定、プラント状態を回復させるための
操作を選択する異常診断処理装置、12は診断結果を表
示する診断結果表示装置である。
次に、本実施例の作用について説明する。まず、プラン
トから一定時間毎に得られるプロセス信号を信号入力装
置6に入力する。入力された信号は。
トから一定時間毎に得られるプロセス信号を信号入力装
置6に入力する。入力された信号は。
入力信号処理装置17においてアナログ信号ならば予め
定めたしきい値と入力信号の値を比較して状態に変化が
あるかを調べ、またデジタル信号ならば値が変化したか
どうかを調べ、その評価結果は入力信号記憶装[8に送
られる。
定めたしきい値と入力信号の値を比較して状態に変化が
あるかを調べ、またデジタル信号ならば値が変化したか
どうかを調べ、その評価結果は入力信号記憶装[8に送
られる。
入力信号記憶装[8では第2図のような第1テーブルが
用意されている。第2図の各項目は以下のことを意味す
る。
用意されている。第2図の各項目は以下のことを意味す
る。
No、 :入力された信号の番号
Value :入力された信号がアナログ信号ならばし
きい値を越えたかどうかの真偽評価結果、デジタル信号
ならば真/偽の値 Flagl:信号の値が偽→真に変化したときに立てる
フラッグの値 Flag2 :信号の値が真→偽に変化したときに立て
るフラッグの値 Flag3 : FlaglあるいはFlag 2が真
になったときに論理式の解析トリガとなるフラッグの値 Ref、Buf、No、 :その信号が参照される論
理式のBuffer No。
きい値を越えたかどうかの真偽評価結果、デジタル信号
ならば真/偽の値 Flagl:信号の値が偽→真に変化したときに立てる
フラッグの値 Flag2 :信号の値が真→偽に変化したときに立て
るフラッグの値 Flag3 : FlaglあるいはFlag 2が真
になったときに論理式の解析トリガとなるフラッグの値 Ref、Buf、No、 :その信号が参照される論
理式のBuffer No。
この第1テーブルに対応して、評価順序記憶装[9には
第3図のような第2テーブルを用意する門弟3図の各項
目は以下のことを意味する。
第3図のような第2テーブルを用意する門弟3図の各項
目は以下のことを意味する。
Buffer No、 :論理式の評価順序を示す番号
F1ag4 :その論理式を評価するかどうかの判定を
行なうフラッグの値 TD :論理式に含まれる時間遅れ演算子のカウント値
Logic No、 :論理式の番号Value :
論理式の評価結果 Ref、Buf、No、 :その論理式が参照される論
理式のBofforNo。
F1ag4 :その論理式を評価するかどうかの判定を
行なうフラッグの値 TD :論理式に含まれる時間遅れ演算子のカウント値
Logic No、 :論理式の番号Value :
論理式の評価結果 Ref、Buf、No、 :その論理式が参照される論
理式のBofforNo。
ここで、Buffer No、は論理式を全点評価する
ときの評価順序を示す番号である。以下に論理式の選択
処理方法について説明する。
ときの評価順序を示す番号である。以下に論理式の選択
処理方法について説明する。
まず入力信号が変化すると、その信号のFlag 3が
真となり、それに伴ってその信号を参照する論理式のF
lag4が真となる。変化した信号が複数ある場合には
、そのすべての変化信号に対して関連論理式のFlag
4を真にする。
真となり、それに伴ってその信号を参照する論理式のF
lag4が真となる。変化した信号が複数ある場合には
、そのすべての変化信号に対して関連論理式のFlag
4を真にする。
次にBuffer No、順に論理式のFlag 4が
真か偽かを判定し、真の場合にはその論理式を参照する
論理式のFlag4を真にする。以下同様にして最後の
Buffer No、までFlag4の判定を行なう。
真か偽かを判定し、真の場合にはその論理式を参照する
論理式のFlag4を真にする。以下同様にして最後の
Buffer No、までFlag4の判定を行なう。
この後Flag 4が真となっている論理式の評価を行
なえば、変化した入力信号に関連する論理式の評価がす
べて完了する。
なえば、変化した入力信号に関連する論理式の評価がす
べて完了する。
また論理式のもう一つの解析トリガとして時間遅れ演算
子がある。そのため時間遅れ演算子を含む論理式につい
て時間遅れのカウンターを用意する。このカウンターは
時間遅れ演算を行なう必要が生じたとき、すなわち時間
遅れをほどこす論理演算が変化したときに遅れ時間Nが
入る。このカウンターにNが入ったときにはサンプリン
グ周期に伴ない順次カウント値を減らし、カウント値が
0以工になったときに、その論理式のFlag4を真に
する。このことにより入力信号の変化と同様、時間遅れ
による変化を解析のトリガにすることができる。
子がある。そのため時間遅れ演算子を含む論理式につい
て時間遅れのカウンターを用意する。このカウンターは
時間遅れ演算を行なう必要が生じたとき、すなわち時間
遅れをほどこす論理演算が変化したときに遅れ時間Nが
入る。このカウンターにNが入ったときにはサンプリン
グ周期に伴ない順次カウント値を減らし、カウント値が
0以工になったときに、その論理式のFlag4を真に
する。このことにより入力信号の変化と同様、時間遅れ
による変化を解析のトリガにすることができる。
なお選択処理されなかった論理式は前の評価結果がその
まま入る。
まま入る。
そして上記したようにして記憶された入力信号記憶装置
8およ、び評価順序記憶装置9からの出力信号および異
常診断処理装置装[10で予め作成しておいた異常診断
論理を記憶した出力信号は異常診断処理装置11に入力
され、この異常診断処理装置11において、入力信号の
状態に応じて異常診断論理を演算し、異常原因の同定、
プラント状態を回復させるための操作を選択し、この選
択結果は診断結果表示装置12で運転員に表示される。
8およ、び評価順序記憶装置9からの出力信号および異
常診断処理装置装[10で予め作成しておいた異常診断
論理を記憶した出力信号は異常診断処理装置11に入力
され、この異常診断処理装置11において、入力信号の
状態に応じて異常診断論理を演算し、異常原因の同定、
プラント状態を回復させるための操作を選択し、この選
択結果は診断結果表示装置12で運転員に表示される。
上述したように、本実施例のプラント異常診断方法によ
れば、原因結果ツリーのようなツリー楕造を用いずに異
常診断論理の選択処理を行なうことができ、解析時間の
短縮が見込まれる。また異常診断論理の規模が大きくな
ったときにも処理時間の変化は小さく、従来の全点処理
方法や原因結果ツリーの処理方法のように処理時間が異
常診断論理の規模に大きく依存する可能性はほとんどな
い。
れば、原因結果ツリーのようなツリー楕造を用いずに異
常診断論理の選択処理を行なうことができ、解析時間の
短縮が見込まれる。また異常診断論理の規模が大きくな
ったときにも処理時間の変化は小さく、従来の全点処理
方法や原因結果ツリーの処理方法のように処理時間が異
常診断論理の規模に大きく依存する可能性はほとんどな
い。
また入力信号の変化の評価に条件をつけるようにすれば
、検出器の故障により不正な信号の変化があったときに
も解析対象から除くことができ、余分な解析や誤判断の
防止にも有効である。
、検出器の故障により不正な信号の変化があったときに
も解析対象から除くことができ、余分な解析や誤判断の
防止にも有効である。
以上説明したように、本発明によれば、変化した信号を
トリガーとして論理式の評価を選択的に行なうことによ
り、迅速に異常を解析し、異常伝播の拡大を防止するた
めの診断情報を運転員に提供することができる。
トリガーとして論理式の評価を選択的に行なうことによ
り、迅速に異常を解析し、異常伝播の拡大を防止するた
めの診断情報を運転員に提供することができる。
第1図は本発明の一実施例のブロック構成図、第2図は
第1図の入力信号記憶装置を説明するための図、第3図
は第1図の評価順序記憶装置を説明するための図、第4
図は従来のプラント異常診断装置のブロック構成図、第
5図は従来の原因結果ツリーを説明するための図である
。 6・・・信号入力装置 7・・・入力信号処理
装置8・・・入力信号記憶装置 9・・・評価順序
記憶装置10・・・異常診断論理記憶装置 11・・・
異常診断処理装置12・・・診断結果表示装置 (8733)代理人 弁理士 猪 股 祥 晃(ほか1
名)第1図
第1図の入力信号記憶装置を説明するための図、第3図
は第1図の評価順序記憶装置を説明するための図、第4
図は従来のプラント異常診断装置のブロック構成図、第
5図は従来の原因結果ツリーを説明するための図である
。 6・・・信号入力装置 7・・・入力信号処理
装置8・・・入力信号記憶装置 9・・・評価順序
記憶装置10・・・異常診断論理記憶装置 11・・・
異常診断処理装置12・・・診断結果表示装置 (8733)代理人 弁理士 猪 股 祥 晃(ほか1
名)第1図
Claims (1)
- プラントからのプロセス信号を入力し、その入力信号を
論理演算処理することによりプラントの異常原因を同定
し、かつプラントの運転状況に応じて異常状態の拡大を
防止するための操作を運転員に提供するプラント異常診
断方法において、入力信号の変化をトリガーとして、論
理演算を選択的に処理するとともに入力信号の変化の評
価に条件をつけることによって誤判断することを防止し
て解析効率を向上させたことを特徴とするプラント異常
診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60216200A JPS6277612A (ja) | 1985-10-01 | 1985-10-01 | プラント異常診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60216200A JPS6277612A (ja) | 1985-10-01 | 1985-10-01 | プラント異常診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6277612A true JPS6277612A (ja) | 1987-04-09 |
Family
ID=16684842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60216200A Pending JPS6277612A (ja) | 1985-10-01 | 1985-10-01 | プラント異常診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6277612A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030063068A (ko) * | 2002-01-22 | 2003-07-28 | 미츠비시 쥬고교 가부시키가이샤 | 원자력 긴급시 대응 시스템 및 원자력 긴급시 대응 훈련시스템 |
| US7186582B2 (en) | 2001-02-12 | 2007-03-06 | Asm America, Inc. | Process for deposition of semiconductor films |
-
1985
- 1985-10-01 JP JP60216200A patent/JPS6277612A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7186582B2 (en) | 2001-02-12 | 2007-03-06 | Asm America, Inc. | Process for deposition of semiconductor films |
| KR20030063068A (ko) * | 2002-01-22 | 2003-07-28 | 미츠비시 쥬고교 가부시키가이샤 | 원자력 긴급시 대응 시스템 및 원자력 긴급시 대응 훈련시스템 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5214577A (en) | Automatic test generation for model-based real-time fault diagnostic systems | |
| EP0225603B1 (en) | Distributed processing system and method | |
| GB2272314A (en) | Control sequencer in an Iconic Programming System | |
| JPS6188346A (ja) | デジタルデバイスの動作監視装置 | |
| US5506962A (en) | Distributed processing system and method for job execution using a plurality of processors and including identification of replicated data | |
| US5335324A (en) | Distributed processing system and method for job execution using a plurality of processors and including identification of replicated data | |
| CN110399258B (zh) | 一种服务器系统的稳定性测试方法、系统及装置 | |
| JPS62192694A (ja) | プラント診断装置 | |
| JPH05274178A (ja) | 並列計算機デバッグ結果表示処理方式 | |
| CN118484759A (zh) | 任务诊断系统及其诊断方法、电子设备及存储介质 | |
| JPH07107719B2 (ja) | 警報処理方法 | |
| JPH0512724B2 (ja) | ||
| JPH0329857A (ja) | 自動分析ネットワークシステム | |
| JPH0221397A (ja) | 警報処理装置 | |
| JPH0797436B2 (ja) | 発電プラント過渡データ表示装置 | |
| JPS60226132A (ja) | 半導体デバイス用試験装置 | |
| JPS6195457A (ja) | 診断処理方式 | |
| JPS60506A (ja) | プラント診断装置 | |
| JPS61208107A (ja) | プラント診断装置 | |
| JPS59135509A (ja) | プラント診断装置 | |
| JPH0147836B2 (ja) | ||
| JPS59168510A (ja) | プラント診断装置 | |
| JPS5852756A (ja) | 診断デ−タの修正方法 | |
| JPH0916431A (ja) | 自動診断装置 | |
| JPH0675245B2 (ja) | プラント診断装置 |