JPS627985B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS627985B2 JPS627985B2 JP54091413A JP9141379A JPS627985B2 JP S627985 B2 JPS627985 B2 JP S627985B2 JP 54091413 A JP54091413 A JP 54091413A JP 9141379 A JP9141379 A JP 9141379A JP S627985 B2 JPS627985 B2 JP S627985B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shift register
- scan
- address
- logic
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は論理装置の保守・診断を容易にし、効
率的にするための論理装置の設計法に係わり、特
に論理装置の内部論理の状態を外部装置からのア
ドレス指示によつて知るアドレススキヤンアウト
方式に関する。
率的にするための論理装置の設計法に係わり、特
に論理装置の内部論理の状態を外部装置からのア
ドレス指示によつて知るアドレススキヤンアウト
方式に関する。
論理回路がLSI化されると、その入力/出力ピ
ン数と集積度との関係からそのLSIそのもの又は
それらを使用する論理装置の良否の判定及び故障
部分の解析に要するテストデータの作成がきわめ
て困難になるが、スキヤンアウトの方式は内部論
理の状態をより多く知る方法として有効な手段で
あることが知られている。論理装置が故障して、
動作に誤りが生じている場合にその故障部分と原
因を知る手段として、このスキヤンアウトの方式
を採用して、外部から論理装置内部の状態を知る
ことによつて故障部分と原因を判定するものであ
る。
ン数と集積度との関係からそのLSIそのもの又は
それらを使用する論理装置の良否の判定及び故障
部分の解析に要するテストデータの作成がきわめ
て困難になるが、スキヤンアウトの方式は内部論
理の状態をより多く知る方法として有効な手段で
あることが知られている。論理装置が故障して、
動作に誤りが生じている場合にその故障部分と原
因を知る手段として、このスキヤンアウトの方式
を採用して、外部から論理装置内部の状態を知る
ことによつて故障部分と原因を判定するものであ
る。
従来のスキヤンアウト方式は第1図に示すよう
な構成であり、論理装置1は内部論理回路2を入
力信号線3,3′及びその出力信号線4,4′、ア
ドレスレジスタ5、そのアドレスのデコーダ6と
マルチプレクサ7とから成り、第1図において、
アドレス信号8,8′により指示される内部論理
回路2の中の内部論理出力10,10′の1つが
デコーダ6、マルチプレクサ7によつて指示、選
択されてスキヤンアウト信号線9によつて外部に
送出されるものである。
な構成であり、論理装置1は内部論理回路2を入
力信号線3,3′及びその出力信号線4,4′、ア
ドレスレジスタ5、そのアドレスのデコーダ6と
マルチプレクサ7とから成り、第1図において、
アドレス信号8,8′により指示される内部論理
回路2の中の内部論理出力10,10′の1つが
デコーダ6、マルチプレクサ7によつて指示、選
択されてスキヤンアウト信号線9によつて外部に
送出されるものである。
ここで外部からの1つのアドレス指示は内部論
理のある1つの論理部の論理値を読出す様に内部
論理の1つの出力に対応するものであり、従つ
て、1回のアドレス指定により1ビツトの内部論
理の状態を示す情報が読出されるのみであり、こ
の為後でワード単位又はバイト単位などに再編集
する必要性があつた。
理のある1つの論理部の論理値を読出す様に内部
論理の1つの出力に対応するものであり、従つ
て、1回のアドレス指定により1ビツトの内部論
理の状態を示す情報が読出されるのみであり、こ
の為後でワード単位又はバイト単位などに再編集
する必要性があつた。
この処理時間は論理装置などの緊急を要する故
障解析の場合にはきわめて大きな問題を生ずるも
のであつた。
障解析の場合にはきわめて大きな問題を生ずるも
のであつた。
本発明の目的は以上の如き欠点を有することの
ないスキヤンアウト方式を提供するものである。
即ち、従来のスキヤンアウト回路の出力に、リセ
ツトすることの出来るシフトレジスターを設け、
新しいスキヤンアウトアドレスが与えられる度に
得られる内部論理情報をこのシフトレジスターの
シリアル入力に順次蓄えるようにすること、及び
このシフトレジスター出力の再編集などを考慮し
て内部論理のアドレス指定の際の架空のアドレス
指定に対しては該シフトレジスターに対しては論
理値“0”を蓄えるようにしてシフトレジスター
の内容をまとめて読出すことにある。
ないスキヤンアウト方式を提供するものである。
即ち、従来のスキヤンアウト回路の出力に、リセ
ツトすることの出来るシフトレジスターを設け、
新しいスキヤンアウトアドレスが与えられる度に
得られる内部論理情報をこのシフトレジスターの
シリアル入力に順次蓄えるようにすること、及び
このシフトレジスター出力の再編集などを考慮し
て内部論理のアドレス指定の際の架空のアドレス
指定に対しては該シフトレジスターに対しては論
理値“0”を蓄えるようにしてシフトレジスター
の内容をまとめて読出すことにある。
以下図面を参照して本発明の実施例を詳細に説
明する。
明する。
第2図は本発明の実施例のスキヤンアウト方式
を示す図である。第2図において、第1図と同じ
部分には同一符号を付している。
を示す図である。第2図において、第1図と同じ
部分には同一符号を付している。
論理装置1には、従来のスキヤンアウト回路に
更に、マルチプレクサ7の出力にシフトレジスタ
12と、アドレス指定する際に架空のアドレス指
定をする場合に、これを検出する機能を有する架
空アドレス検出回路11と、その架空アドレス検
出でシフトレジスタ12に論理値“0”を書込む
ANDゲート回路11′と、シフトレジスタに内部
論理のスキヤンアウト情報を書込むためのシフト
クロツク入力線14と、シフトレジスタの全ビツ
トのフリツプフロツプを一斎にリセツトするリセ
ツト入力線13が付加されている。
更に、マルチプレクサ7の出力にシフトレジスタ
12と、アドレス指定する際に架空のアドレス指
定をする場合に、これを検出する機能を有する架
空アドレス検出回路11と、その架空アドレス検
出でシフトレジスタ12に論理値“0”を書込む
ANDゲート回路11′と、シフトレジスタに内部
論理のスキヤンアウト情報を書込むためのシフト
クロツク入力線14と、シフトレジスタの全ビツ
トのフリツプフロツプを一斎にリセツトするリセ
ツト入力線13が付加されている。
図において、論理装置1の内部論理回路2を構
成する内部の論理回路出力10,10′は論理装
置を外部から保守・診断する際に有用な論理出力
が設計の際に任意に選択されてマルチプレクサ7
の入力に接続される。この各論理出力はマルチプ
レクサ7において各アドレス指定線と論理積をと
つて、その各出力は全アドレスについて論理和と
して集められてシフトレジスタ12のシリアル入
力としてアドレス指定順にシフトクロツク入力1
4によつて下位ビツトから上位ビツトへシフトさ
れて順次、蓄積されるものである。第3図は第2
図のシフトレジスタの実施例を示すものである。
図において、フリツプフロツプ15,15′はシ
フトレジスタ12を構成し、リセツト入力13に
よつて全ビツトが一斎にリセツトする機能を有す
る。アドレススキヤンアウト動作はまずシフトレ
ジスタ12をリセツトしたのち前記のようにアド
レス入力8,8′によつてアドレス指定された内
部論理の論理状態がフリツプフロツプ15,1
5′にセツトされ、その結果シフトレジスタの全
ビツトの並列出力がアドレススキヤンアウト出力
信号線9,9′に読出されるものである。シフト
レジスタ12に順次、蓄積記憶する読出しデータ
は内部論理の構成上、又、その論理装置のシステ
ム構成など様々な理由から、データ間に区切りが
必要であり、この為アドレス指定に際して実際に
は存在しないアドレス一般には“0”アドレスな
ど架空のアドレスを与える。この場合架空アドレ
ス検出回路11及びシフトレジスタへの論理値
“0”挿入の為のANDゲート回路11′が動作し
てシフトレジスタ12へ論理値“0”を挿入す
る。
成する内部の論理回路出力10,10′は論理装
置を外部から保守・診断する際に有用な論理出力
が設計の際に任意に選択されてマルチプレクサ7
の入力に接続される。この各論理出力はマルチプ
レクサ7において各アドレス指定線と論理積をと
つて、その各出力は全アドレスについて論理和と
して集められてシフトレジスタ12のシリアル入
力としてアドレス指定順にシフトクロツク入力1
4によつて下位ビツトから上位ビツトへシフトさ
れて順次、蓄積されるものである。第3図は第2
図のシフトレジスタの実施例を示すものである。
図において、フリツプフロツプ15,15′はシ
フトレジスタ12を構成し、リセツト入力13に
よつて全ビツトが一斎にリセツトする機能を有す
る。アドレススキヤンアウト動作はまずシフトレ
ジスタ12をリセツトしたのち前記のようにアド
レス入力8,8′によつてアドレス指定された内
部論理の論理状態がフリツプフロツプ15,1
5′にセツトされ、その結果シフトレジスタの全
ビツトの並列出力がアドレススキヤンアウト出力
信号線9,9′に読出されるものである。シフト
レジスタ12に順次、蓄積記憶する読出しデータ
は内部論理の構成上、又、その論理装置のシステ
ム構成など様々な理由から、データ間に区切りが
必要であり、この為アドレス指定に際して実際に
は存在しないアドレス一般には“0”アドレスな
ど架空のアドレスを与える。この場合架空アドレ
ス検出回路11及びシフトレジスタへの論理値
“0”挿入の為のANDゲート回路11′が動作し
てシフトレジスタ12へ論理値“0”を挿入す
る。
この様にシフトレジスタを構成してアドレスス
キヤン回路を動作することにより、従来内部論理
の1論理回路出力毎にアドレス指定をして1ビツ
ト宛読出されていた方式を、シフトレジスタにn
ビツトのフリツプフロツプを設けることにより、
アドレス指定をn回繰り返えして行なう毎に1回
のスキヤンアウト読出しの実行で済ませることが
できるようになる。更に、アドレス指定が連続し
て指定できる場合には図示していないが連続する
アドレス量とそのアドレス量をカウントするカウ
ント機能とを付加することによつて外部装置から
のn回のアドレス指定を1回のアドレス指定とす
ることも可能である。更に、上記の説明では論理
装置について述べているがLSIなど入出力端子数
に制約のあるものについて適用する場合にはアド
レスレジスタへの入力をシリアル入力として、シ
フトクロツク及びカウンターを用意することによ
り、アドレス入力ピン数を大幅に節約することも
可能である。
キヤン回路を動作することにより、従来内部論理
の1論理回路出力毎にアドレス指定をして1ビツ
ト宛読出されていた方式を、シフトレジスタにn
ビツトのフリツプフロツプを設けることにより、
アドレス指定をn回繰り返えして行なう毎に1回
のスキヤンアウト読出しの実行で済ませることが
できるようになる。更に、アドレス指定が連続し
て指定できる場合には図示していないが連続する
アドレス量とそのアドレス量をカウントするカウ
ント機能とを付加することによつて外部装置から
のn回のアドレス指定を1回のアドレス指定とす
ることも可能である。更に、上記の説明では論理
装置について述べているがLSIなど入出力端子数
に制約のあるものについて適用する場合にはアド
レスレジスタへの入力をシリアル入力として、シ
フトクロツク及びカウンターを用意することによ
り、アドレス入力ピン数を大幅に節約することも
可能である。
更に第2図において破線によつて区分している
部分、即ちアドレスレジスタ5、シフトレジスタ
12、架空アドレス検出回路11,11′など本
発明によつて従来のスキヤンアウト回路に対して
付加する部分を、診断対象とする論理装置から分
離して複数の論理装置に対して前記アドレスレジ
スタ及びシフトレジスタ等を共通に使用するよう
にすることも可能である。
部分、即ちアドレスレジスタ5、シフトレジスタ
12、架空アドレス検出回路11,11′など本
発明によつて従来のスキヤンアウト回路に対して
付加する部分を、診断対象とする論理装置から分
離して複数の論理装置に対して前記アドレスレジ
スタ及びシフトレジスタ等を共通に使用するよう
にすることも可能である。
以上本発明によれば論理装置の保守・診断にお
いて容易に内部論理の状態を知る手段を確立する
ことが可能となるため、効率的な良否判定及び故
障解析を実施することができる。
いて容易に内部論理の状態を知る手段を確立する
ことが可能となるため、効率的な良否判定及び故
障解析を実施することができる。
第1図は従来の論理装置のスキヤンアウト回路
の概略構成図、第2図は本発明の一実施例を示す
ブロツク図、第3図は第2図のシフトレジスタの
一実施例を示す図である。 1……論理装置、2……内部論理回路、3,
3′……入力信号線、4,4′……出力信号線、5
……アドレスレジスタ、6……デコーダ、7……
マルチプレクサ、8,8′……アドレス入力線、
9,9′……スキヤンアウト信号線、10,1
0′……内部論理出力、11……架空アドレス検
出回路、11′……アンドゲート回路、12……
シフトレジスタ、13……リセツト入力線、14
……シフトクロツク入力線、15,15′……フ
リツプフロツプ。
の概略構成図、第2図は本発明の一実施例を示す
ブロツク図、第3図は第2図のシフトレジスタの
一実施例を示す図である。 1……論理装置、2……内部論理回路、3,
3′……入力信号線、4,4′……出力信号線、5
……アドレスレジスタ、6……デコーダ、7……
マルチプレクサ、8,8′……アドレス入力線、
9,9′……スキヤンアウト信号線、10,1
0′……内部論理出力、11……架空アドレス検
出回路、11′……アンドゲート回路、12……
シフトレジスタ、13……リセツト入力線、14
……シフトクロツク入力線、15,15′……フ
リツプフロツプ。
Claims (1)
- 1 論理回路の内部論理の状態を任意にアドレス
指示して、外部に読出すスキヤンアウト回路にお
いて、そのスキヤンアウト回路の出力部に、リセ
ツトすることの出来るシフトレジスターを設け、
スキヤンアウトした結果を該シフトレジスターに
順次蓄え、架空のアドレス指示に対するスキヤン
アウトに対しては該シフトレジスターに論理
“0”を蓄えるようにすることを特徴とするスキ
ヤンアウト回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9141379A JPS5614966A (en) | 1979-07-18 | 1979-07-18 | Scan-out circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9141379A JPS5614966A (en) | 1979-07-18 | 1979-07-18 | Scan-out circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5614966A JPS5614966A (en) | 1981-02-13 |
| JPS627985B2 true JPS627985B2 (ja) | 1987-02-20 |
Family
ID=14025686
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9141379A Granted JPS5614966A (en) | 1979-07-18 | 1979-07-18 | Scan-out circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5614966A (ja) |
-
1979
- 1979-07-18 JP JP9141379A patent/JPS5614966A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5614966A (en) | 1981-02-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3961252A (en) | Testing embedded arrays | |
| JP3262593B2 (ja) | 埋込みram用の構成可能な自己検査方法及び回路 | |
| US8156391B2 (en) | Data controlling in the MBIST chain architecture | |
| US4139818A (en) | Circuit means for collecting operational errors in IC chips and for identifying and storing the locations thereof | |
| JPH0645451A (ja) | 半導体記憶装置 | |
| JPH0374796B2 (ja) | ||
| US4205301A (en) | Error detecting system for integrated circuit | |
| US20170363685A1 (en) | Implementing prioritized compressed failure defects for efficient scan diagnostics | |
| JPS6125173B2 (ja) | ||
| D Kumar | An efficient fault detection of FPGA and memory using built-in self test [BIST] | |
| JPS627985B2 (ja) | ||
| US6959409B2 (en) | Design for test of analog module systems | |
| US6421810B1 (en) | Scalable parallel test bus and testing method | |
| JP2773148B2 (ja) | テスト容易化回路設計方法 | |
| JPS6336534B2 (ja) | ||
| US11069422B1 (en) | Testing multi-port array in integrated circuits | |
| JP2870001B2 (ja) | 論理回路パッケージ | |
| JPS6032213B2 (ja) | 論理装置の診断方式 | |
| JPS6142299B2 (ja) | ||
| SU1200347A1 (ru) | Устройство дл контрол адресных цепей блоков пам ти | |
| JP3180303B2 (ja) | プリント板における論理素子間接続状態の診断方法 | |
| JPH05334116A (ja) | デバッグ制御方式 | |
| KR20010005013A (ko) | 자기 진단 가능한 집적 회로 | |
| JP2000285698A (ja) | メモリ試験装置 | |
| JPS6039186B2 (ja) | 半導体素子 |