JPS62807A - 円または円弧等の測定機 - Google Patents
円または円弧等の測定機Info
- Publication number
- JPS62807A JPS62807A JP13384186A JP13384186A JPS62807A JP S62807 A JPS62807 A JP S62807A JP 13384186 A JP13384186 A JP 13384186A JP 13384186 A JP13384186 A JP 13384186A JP S62807 A JPS62807 A JP S62807A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- micrometer
- measured
- center
- contact angle
- angle error
- Prior art date
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- Granted
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- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、円または円弧等の測定機、とくに被測定物
における円または円形等の測定において、測定機に取付
けられた測定子と被測定物との接点の本来あるべき位置
からのずれを検出し、この検出値にもとづいて測定子の
位置補正を行う位置補正装置を備えた円または円弧等の
測定機に関するものである。
における円または円形等の測定において、測定機に取付
けられた測定子と被測定物との接点の本来あるべき位置
からのずれを検出し、この検出値にもとづいて測定子の
位置補正を行う位置補正装置を備えた円または円弧等の
測定機に関するものである。
従来の例えは第１図に示されたような円または円弧測定
機においては測微計２の取付誤差（第２図参照）、測定
子２１の曲り（第３図参照）等により、測定子と被測定
物との接点が本来おるべき位置（第４図のＡ点）からず
れていることが多く、例えばＢ点のような位置にあった
。
機においては測微計２の取付誤差（第２図参照）、測定
子２１の曲り（第３図参照）等により、測定子と被測定
物との接点が本来おるべき位置（第４図のＡ点）からず
れていることが多く、例えばＢ点のような位置にあった
。
上記のずれを角度で表わし、これを測定子接点角度誤差
Δ０と呼ぶ。今迄は、このような測定子接点角度誤差Δ
θは気付かなかつたり、あるいは無視されていた。しか
し被測定物の曲率半径が小さいときは、その影響が大き
く、正確な測定を必要とする場会には、上記の接点角度
誤差Δθを無視するわけにはゆかず、これの対応策を考
えなければならない状況になって来た。
Δ０と呼ぶ。今迄は、このような測定子接点角度誤差Δ
θは気付かなかつたり、あるいは無視されていた。しか
し被測定物の曲率半径が小さいときは、その影響が大き
く、正確な測定を必要とする場会には、上記の接点角度
誤差Δθを無視するわけにはゆかず、これの対応策を考
えなければならない状況になって来た。
この発明は上記のような状況の下に開発さ°れたもので
、円または円弧等の測定において、本測定に先立ち、測
定機の測微計に取、付けられた測定子と被測定物との接
点が本来あるべき位置からどれたけずれているかを接点
角度誤差として検出し、この検出値にもとづいて測定子
の位置を測定子の通常の移動方向である半径方向とは直
角をなす方向に微動させて、位置補正する方法および接
点角度誤差を回転角度検出器の信号から差引くことによ
る補正方法、ならびに補正方法を具体化した装置を備え
た円または円弧等の測定機である。
、円または円弧等の測定において、本測定に先立ち、測
定機の測微計に取、付けられた測定子と被測定物との接
点が本来あるべき位置からどれたけずれているかを接点
角度誤差として検出し、この検出値にもとづいて測定子
の位置を測定子の通常の移動方向である半径方向とは直
角をなす方向に微動させて、位置補正する方法および接
点角度誤差を回転角度検出器の信号から差引くことによ
る補正方法、ならびに補正方法を具体化した装置を備え
た円または円弧等の測定機である。
次にこの発明の＠１の実施例を図を参照しながら説明す
る。１は測定機本体１０に取付けられたスピンドルで、
このスピンドル１の下方には測微計２を半径方向に移動
させるための半径方向スライド３が取付けられ、更にこ
の半径方向スライド３には、半径方向スライド３による
測微計２の移動方向に対して直角方向に微動出来るよう
に構成された補正装置４が設置されている。そしてスピ
ンドル１の上方部分には、スピンドル１０回転角度を検
出するための回転角度検出器としてのロータリーエンコ
ーダ５が取付けられている。６は被測定物７を載置し、
測定位置へ移動させるためのテーブルで、測定機本体１
０に対し、前後左右に２個のステッピングモータ８によ
って移動できるように構成されている。測微計２からの
測定信号やロータリーエンコーダ５からの回転角度信号
はインターフェースを介してコンピュータに入り、コン
ピュータにより記憶、計算等が行われ、さらにコンピュ
ータよりの指令信号がインターフェースを介してステッ
ピングモータ８に伝達されるようになっている。
る。１は測定機本体１０に取付けられたスピンドルで、
このスピンドル１の下方には測微計２を半径方向に移動
させるための半径方向スライド３が取付けられ、更にこ
の半径方向スライド３には、半径方向スライド３による
測微計２の移動方向に対して直角方向に微動出来るよう
に構成された補正装置４が設置されている。そしてスピ
ンドル１の上方部分には、スピンドル１０回転角度を検
出するための回転角度検出器としてのロータリーエンコ
ーダ５が取付けられている。６は被測定物７を載置し、
測定位置へ移動させるためのテーブルで、測定機本体１
０に対し、前後左右に２個のステッピングモータ８によ
って移動できるように構成されている。測微計２からの
測定信号やロータリーエンコーダ５からの回転角度信号
はインターフェースを介してコンピュータに入り、コン
ピュータにより記憶、計算等が行われ、さらにコンピュ
ータよりの指令信号がインターフェースを介してステッ
ピングモータ８に伝達されるようになっている。
上記の補正装置４はスライドまたはピボットａ３るいは
ばねを使用した微動機構を主体とし、この実施例ではマ
イクロメータまたはダイヤルゲージ等による微調整検出
装置も備えている。要は正確な微小移動ができ、その微
小な移動距離を正確に把握できればよい。この補正装置
に駆動源を設けて、計算機からの信号により移動量をフ
ィードバックさせて、移動を自動的に行う工うにするこ
とも出来る。
ばねを使用した微動機構を主体とし、この実施例ではマ
イクロメータまたはダイヤルゲージ等による微調整検出
装置も備えている。要は正確な微小移動ができ、その微
小な移動距離を正確に把握できればよい。この補正装置
に駆動源を設けて、計算機からの信号により移動量をフ
ィードバックさせて、移動を自動的に行う工うにするこ
とも出来る。
次にこの測定機の作用について説明する。
まず測微計２の測定子２１０回転中心と被測定物７の円
弧の中心とを可能な限り一致させる。次にテーブル６を
例えば第６図のようにＹ軸方向に、測微計２の検知範囲
を超えない程度に、一定量可Ｉ移動して、テーブル６上
の被測定物Ｔの曲率中心をＯ８まで移動させ、スピンド
ル１０回転中心は０゜のま＼の位置で、移動後の被測定
面Ａ１ を測定し、ＡＩの曲率中心の位置をロータリ
ーエンコーダ５の出力θ１と、測微計２の出力Δｒｉか
ら既知の計算方法により計算する。こ＼で測定子２１の
接点角度誤差Δθがなければ、計算上ＯＩ の位置は
、極座標表示で（０，０，，９０°）になるが、実際に
は接点角度誤差Δθがあるので、その極座標表示は（０
００し９０″＋Δθ）となる。従って実際の角度から、
被測定物の移動方向、即ち９０°を差引けば、接点角度
誤差Δθを求めることができる。この接点角度誤差Δθ
がわかれば、補正装置４により測定子２１を補正前の位
置Ｂ点（第７図参照）から本来あるべき位置Ａ点まで微
動させる距離は幾何学的関係から、被測定物７０曲率半
径の大きさをＲとすれば、Ｒａ１ｎΔθとなる。このと
きの曲率半径の大きさＲは、被測定物の称呼半径を用い
ることができる。上記の工う忙補正数値が求まり、測定
子の位置調整を行ってから、円または円弧等の測定を行
えば、接点角度誤差Δθは含まれないので、正確な測定
を行うことができる。
弧の中心とを可能な限り一致させる。次にテーブル６を
例えば第６図のようにＹ軸方向に、測微計２の検知範囲
を超えない程度に、一定量可Ｉ移動して、テーブル６上
の被測定物Ｔの曲率中心をＯ８まで移動させ、スピンド
ル１０回転中心は０゜のま＼の位置で、移動後の被測定
面Ａ１ を測定し、ＡＩの曲率中心の位置をロータリ
ーエンコーダ５の出力θ１と、測微計２の出力Δｒｉか
ら既知の計算方法により計算する。こ＼で測定子２１の
接点角度誤差Δθがなければ、計算上ＯＩ の位置は
、極座標表示で（０，０，，９０°）になるが、実際に
は接点角度誤差Δθがあるので、その極座標表示は（０
００し９０″＋Δθ）となる。従って実際の角度から、
被測定物の移動方向、即ち９０°を差引けば、接点角度
誤差Δθを求めることができる。この接点角度誤差Δθ
がわかれば、補正装置４により測定子２１を補正前の位
置Ｂ点（第７図参照）から本来あるべき位置Ａ点まで微
動させる距離は幾何学的関係から、被測定物７０曲率半
径の大きさをＲとすれば、Ｒａ１ｎΔθとなる。このと
きの曲率半径の大きさＲは、被測定物の称呼半径を用い
ることができる。上記の工う忙補正数値が求まり、測定
子の位置調整を行ってから、円または円弧等の測定を行
えば、接点角度誤差Δθは含まれないので、正確な測定
を行うことができる。
次に示す第２の実施例においては、測定子と被測定物と
の相対関係は第１の実施例と同じでおるが、測定子は円
弧運動せず、被測定物が円弧運動するように構成された
測定機であり、１はスピンドル、２は測微計、３は半径
方向スライド、４は半径方向スライド３に対して直角方
向に動く微動機構および微調整検出装置とをもった補正
装置、５はロータリーエンコーダ、６はテーブル、７は
被測定物、８はステッピングモータで、電算機装置は図
示を省略している。この測定機においても最初スピンド
ル１の回転中、心と被測定物７０円または円弧の曲率中
心とを可能な限り一致させる。次にテーブル６を任意の
方向に測微計２の検知範囲を超えない程度に一定量動か
してテーブル６上の被測定物Ｔの中心を移動させ、その
位置で、被測定面を測定し、その状態における曲率中心
の位置を、ロータリーエンコーダ５の出力θ１と測微計
の出力Δｒｉから計算する。以後第１の実施例と同様に
、もし接点角度誤差Δθがめれば、接点角度誤差Δ０と
被測建物の称呼の曲率半径ＲとからＲａ１ｎΔ０を計算
し、その計算値をもとに、補正装置により測定子の位置
を半径方向とは直角の方向に補正することにより、正確
な測定を行うことができる。
の相対関係は第１の実施例と同じでおるが、測定子は円
弧運動せず、被測定物が円弧運動するように構成された
測定機であり、１はスピンドル、２は測微計、３は半径
方向スライド、４は半径方向スライド３に対して直角方
向に動く微動機構および微調整検出装置とをもった補正
装置、５はロータリーエンコーダ、６はテーブル、７は
被測定物、８はステッピングモータで、電算機装置は図
示を省略している。この測定機においても最初スピンド
ル１の回転中、心と被測定物７０円または円弧の曲率中
心とを可能な限り一致させる。次にテーブル６を任意の
方向に測微計２の検知範囲を超えない程度に一定量動か
してテーブル６上の被測定物Ｔの中心を移動させ、その
位置で、被測定面を測定し、その状態における曲率中心
の位置を、ロータリーエンコーダ５の出力θ１と測微計
の出力Δｒｉから計算する。以後第１の実施例と同様に
、もし接点角度誤差Δθがめれば、接点角度誤差Δ０と
被測建物の称呼の曲率半径ＲとからＲａ１ｎΔ０を計算
し、その計算値をもとに、補正装置により測定子の位置
を半径方向とは直角の方向に補正することにより、正確
な測定を行うことができる。
次にこの発明の第３の実施例について説明する。この実
施例における測定機は、外観上は従来のものと変らない
が、電算機のソフトウェアが異る。測微計２の測定子２
１の被測定物との接点角度誤差を前記の第１１第２の実
施例と同様に求め、この接点角度誤差Δθが求まったら
、この実施例の場合には、測定子の位置補正は行わず、
接点角度誤差Δ０を含んだロータリーエンコーダ５の測
定角度から、この接点、角度誤−差Δ０を差引くための
電算機のソフトウェアを作成し、計算により補正する。
施例における測定機は、外観上は従来のものと変らない
が、電算機のソフトウェアが異る。測微計２の測定子２
１の被測定物との接点角度誤差を前記の第１１第２の実
施例と同様に求め、この接点角度誤差Δθが求まったら
、この実施例の場合には、測定子の位置補正は行わず、
接点角度誤差Δ０を含んだロータリーエンコーダ５の測
定角度から、この接点、角度誤−差Δ０を差引くための
電算機のソフトウェアを作成し、計算により補正する。
接点角度誤差Δ０があると電算機にはＰｌ（Δｒ１（＃
ｉ） 、 （θ１）〕 ではなく、ｐｔ（Δ’ｙ ｉ
（＃ ｉ＋Δ＃） 、 ＃ｉ）として記憶されるので、
予め求めた接点角度誤差Δθθ値を用い、電算機の入力
としてＰｉ （ｍｒ ｉ （ａ １＋Δｅ ） 、θｌ
〕をＰ ｌ’（Δｒ’ｌ （ａ ｌ ＋Δｅ ） 、
ｅ ｉ ＋Δθ〕 と変換すれば、ロータリーエンコー
ダ５の示す値と測定子接点の位置は一致し、接点角度誤
差Δθが相殺され、正確な測定値が得られる。
ｉ） 、 （θ１）〕 ではなく、ｐｔ（Δ’ｙ ｉ
（＃ ｉ＋Δ＃） 、 ＃ｉ）として記憶されるので、
予め求めた接点角度誤差Δθθ値を用い、電算機の入力
としてＰｉ （ｍｒ ｉ （ａ １＋Δｅ ） 、θｌ
〕をＰ ｌ’（Δｒ’ｌ （ａ ｌ ＋Δｅ ） 、
ｅ ｉ ＋Δθ〕 と変換すれば、ロータリーエンコー
ダ５の示す値と測定子接点の位置は一致し、接点角度誤
差Δθが相殺され、正確な測定値が得られる。
前記第１の実施例、第２の実施例にこの第３の実施例を
組合せることにより、測定子自体の位ｔｌｌ［正を行う
と共に、測定角度を計算により補正するので、更に測定
を正確に行うことも可能である。
組合せることにより、測定子自体の位ｔｌｌ［正を行う
と共に、測定角度を計算により補正するので、更に測定
を正確に行うことも可能である。
この発明の測定機によれば、円または円弧等の測定を測
定子接点角度誤差Δ０を補正後、または補正しながら測
定することができるので、正確な測定値を得ることがで
き、Ｉ＃に曲率半径の小さい円弧等の測定には従来の測
定機に比較して格段に正確な測定値が得られる。
定子接点角度誤差Δ０を補正後、または補正しながら測
定することができるので、正確な測定値を得ることがで
き、Ｉ＃に曲率半径の小さい円弧等の測定には従来の測
定機に比較して格段に正確な測定値が得られる。
第１図は従来の円または円弧等を計測する測定機を示す
斜視図、第２図およびＷＪ３図は測定子と被測定物の接
点が正規の位置からずれる原因を示した斜視図、第４図
は接点角度誤差の説明図、第５図はこの発明の＠１の実
施例を示す斜視図、第６図は接点角度誤差を求める方法
を示す説明図、第７図は接点角度誤差の補正方法を示す
説明図、＠８図は第２の実施例を示す斜視図、第９図は
第３の実施例に関する斜視図である。 〔主要部分の符号の説明〕 １はスピンドル、２は測微計、３は半径方向スライド、
４は微動装置、５はロータリーエンコーダ、６はテーブ
ル、７は被測定物、８はステッピングモータ。 第５図 第６図 第７図 第９図 手続補正書 昭和６１年７月１９日 特許庁長官 黒 １）明 雄 殿 １、事件の表示 昭和６１年特許願第１３３８４１号 ２、発明の名称 円または円弧等の測定機 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 東京都千代田区丸の内二丁目３番２号名称（４２
０） 日本精工株式会社 ４、代理人 別紙の通り、正式図面１通を提出致します。
斜視図、第２図およびＷＪ３図は測定子と被測定物の接
点が正規の位置からずれる原因を示した斜視図、第４図
は接点角度誤差の説明図、第５図はこの発明の＠１の実
施例を示す斜視図、第６図は接点角度誤差を求める方法
を示す説明図、第７図は接点角度誤差の補正方法を示す
説明図、＠８図は第２の実施例を示す斜視図、第９図は
第３の実施例に関する斜視図である。 〔主要部分の符号の説明〕 １はスピンドル、２は測微計、３は半径方向スライド、
４は微動装置、５はロータリーエンコーダ、６はテーブ
ル、７は被測定物、８はステッピングモータ。 第５図 第６図 第７図 第９図 手続補正書 昭和６１年７月１９日 特許庁長官 黒 １）明 雄 殿 １、事件の表示 昭和６１年特許願第１３３８４１号 ２、発明の名称 円または円弧等の測定機 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 東京都千代田区丸の内二丁目３番２号名称（４２
０） 日本精工株式会社 ４、代理人 別紙の通り、正式図面１通を提出致します。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 円または円弧等を測定すべき被測定物を載 置するテーブルと、 被測定物に接触させる測定子を支持する測 微計と、 テーブルと測微計とを相対的に移動させる ための移動機構と、 測微計とテーブルとを相対的に回転させる ための回転機構と、 測微計とテーブルとの相対回転の角度を検 出する回転角度検出手段と、 回転機構の回転中心に対し測微計を半径方 向に移動させるための測微計移動機構と、 該測微計移動機構に支持され測微計をその 半径方向移動方向に直角方向に微動させて測定子の測微
計への支持位置を補正すべく測微計を支持した測定子取
付位置補正機構と、 同一被測定物に対し異なる位置での２度の 計測による、回転角度検出手段からの出力信号により測
定子支持位置補正量を算出する演算手段 とを備えたことを特徴とする円または円弧 等の測定機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13384186A JPS62807A (ja) | 1986-06-11 | 1986-06-11 | 円または円弧等の測定機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13384186A JPS62807A (ja) | 1986-06-11 | 1986-06-11 | 円または円弧等の測定機 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8401678A Division JPS5512407A (en) | 1978-07-12 | 1978-07-12 | Method of compensating error in measuring circle of arc and meter with compensator |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62807A true JPS62807A (ja) | 1987-01-06 |
| JPS6410762B2 JPS6410762B2 (ja) | 1989-02-22 |
Family
ID=15114290
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13384186A Granted JPS62807A (ja) | 1986-06-11 | 1986-06-11 | 円または円弧等の測定機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62807A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108955494A (zh) * | 2018-09-03 | 2018-12-07 | 武汉建工集团股份有限公司 | 一种便携式弧度测量仪 |
-
1986
- 1986-06-11 JP JP13384186A patent/JPS62807A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108955494A (zh) * | 2018-09-03 | 2018-12-07 | 武汉建工集团股份有限公司 | 一种便携式弧度测量仪 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6410762B2 (ja) | 1989-02-22 |
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