JPS6281579A - 電子部品の測定方法 - Google Patents
電子部品の測定方法Info
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- JPS6281579A JPS6281579A JP60222469A JP22246985A JPS6281579A JP S6281579 A JPS6281579 A JP S6281579A JP 60222469 A JP60222469 A JP 60222469A JP 22246985 A JP22246985 A JP 22246985A JP S6281579 A JPS6281579 A JP S6281579A
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- Japan
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- socket
- lead
- electronic component
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 12
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
企１上度机且分■
この発明は、測定装置に設けたソケットに電子部品のリ
ードを差し込んで、前記両者を電気的に接続させて信号
をやりとりさせることにより、電子部品の特性測定や不
良解析を行う方式の電子部品の測定方法に関する。
ードを差し込んで、前記両者を電気的に接続させて信号
をやりとりさせることにより、電子部品の特性測定や不
良解析を行う方式の電子部品の測定方法に関する。
上米二且血
近年、ＩＣやＬＳＩチップ等をパッケージした組立後の
電子部品の特性測定や不良解析等を行う方法においては
、電子部品のリードを測定装置側に設けたソケットに直
接差し込んで信号のやりとりを行う傾向にある。その手
順を第３図によって説明する。
電子部品の特性測定や不良解析等を行う方法においては
、電子部品のリードを測定装置側に設けたソケットに直
接差し込んで信号のやりとりを行う傾向にある。その手
順を第３図によって説明する。
まず、斜めに架は渡された搬送シュータ−１に電子部品
供給部２から電子部品３のリードをまたがせて、複数個
の電子部品３を測定装置４のある位置まで自由落下によ
り搬送シュータ−１上を滑らせる。先頭の電子部品を搬
送シュータ−１にまたがせたままチャック装置５等′で
保持して、当該電子部品３のリードを、測定装置４に設
けたソケットに差し込ませる。この状態で、前記両者が
電気的に接続されるから、測定装置４と電子部品３との
間で信号をやりとりさせる。測定終了後、前記のチャッ
ク装置５等で電子部品３のリードを測定装置４のソケッ
ト６から抜く。後は順次以上説明した作業を繰り返す。
供給部２から電子部品３のリードをまたがせて、複数個
の電子部品３を測定装置４のある位置まで自由落下によ
り搬送シュータ−１上を滑らせる。先頭の電子部品を搬
送シュータ−１にまたがせたままチャック装置５等′で
保持して、当該電子部品３のリードを、測定装置４に設
けたソケットに差し込ませる。この状態で、前記両者が
電気的に接続されるから、測定装置４と電子部品３との
間で信号をやりとりさせる。測定終了後、前記のチャッ
ク装置５等で電子部品３のリードを測定装置４のソケッ
ト６から抜く。後は順次以上説明した作業を繰り返す。
■ ＜η′しよ゛と る口 占
測定すべき電子部品によって多少異なるが、一般に、電
子部品の諸特性を測定するには異なる多数の測定装置で
それぞれ別々に行う必要があるため、上記説明した作業
を１つの電子部品について何回も繰り返さなければなら
ない。つまり、従来の方法では、測定すべき電子部品の
リードを各測定装置のソケットへ何回も抜き差しさせて
いるため、電子部品のリードが折れ曲がったり或いは破
損したりして製品としての歩留りの低下を招来していた
。
子部品の諸特性を測定するには異なる多数の測定装置で
それぞれ別々に行う必要があるため、上記説明した作業
を１つの電子部品について何回も繰り返さなければなら
ない。つまり、従来の方法では、測定すべき電子部品の
リードを各測定装置のソケットへ何回も抜き差しさせて
いるため、電子部品のリードが折れ曲がったり或いは破
損したりして製品としての歩留りの低下を招来していた
。
よって、この発明の目的とする処は、電子部品のリード
が折れ曲がったり或いは破損したりすることのない電子
部品の測定方法を提供することにある。
が折れ曲がったり或いは破損したりすることのない電子
部品の測定方法を提供することにある。
ロ 占 ° るための
上記目的を達成するため、この発明は、測定すべき電子
部品のリードをソケットに差し込んで、このソケットの
リードを測定装置に設けたソケットに差し込むことによ
り、電子部品と測定装置とを電気的に接続させて信号を
やりとりさせるようにした。
部品のリードをソケットに差し込んで、このソケットの
リードを測定装置に設けたソケットに差し込むことによ
り、電子部品と測定装置とを電気的に接続させて信号を
やりとりさせるようにした。
作且
測定すべき電子部品をソケットに差し込んだ状態で測定
ラインを通せるようになる。つまり、電子部品のリード
をソケットに差し込んだまま、当該ソケットのリードを
測定装置のソケットに抜き差しさせるから、測定中は電
子部品のリードを抜き差しする必要がないと共にソケッ
トが電子部品のリードを守る働きをする。
ラインを通せるようになる。つまり、電子部品のリード
をソケットに差し込んだまま、当該ソケットのリードを
測定装置のソケットに抜き差しさせるから、測定中は電
子部品のリードを抜き差しする必要がないと共にソケッ
トが電子部品のリードを守る働きをする。
実ＪＬ例−
第２図はこの発明の一実施例で用いるソケットと電子部
品を示す斜視図である。
品を示す斜視図である。
同図において、符号１０はＩＣやＬＳＩチップ等がレジ
ンパッケージされて出来た電子部品であり、この実施例
ではいわゆるデュアルインライン型を用いる。符号２０
はソケットであり、電子部品１０が矢印のように抜き差
し可能に装着しうるように構 。
ンパッケージされて出来た電子部品であり、この実施例
ではいわゆるデュアルインライン型を用いる。符号２０
はソケットであり、電子部品１０が矢印のように抜き差
し可能に装着しうるように構 。
成されている。このソケット２０は、略長方体をした樹
脂本体２１と、この樹脂本体２１の上面に配設された多
数のリード保持金具２２と、このリード保持金具２２と
電気的に導通され、かつ樹脂本体２１の下面から下方に
延在するように取り付けられたり−ド２３とを備えてい
る。なお、リード保持金具２２は、電子部品１０のリー
ド１１が差し込まれると、その状態を保持するように構
成されている。一方、電子部品１０を差し込むと、電子
部品１０のリード１１とソケット２０のリード２３とが
電気的に接続される。
脂本体２１と、この樹脂本体２１の上面に配設された多
数のリード保持金具２２と、このリード保持金具２２と
電気的に導通され、かつ樹脂本体２１の下面から下方に
延在するように取り付けられたり−ド２３とを備えてい
る。なお、リード保持金具２２は、電子部品１０のリー
ド１１が差し込まれると、その状態を保持するように構
成されている。一方、電子部品１０を差し込むと、電子
部品１０のリード１１とソケット２０のリード２３とが
電気的に接続される。
第１図にこの発明の一実施例の模式図を示し、同図を参
照して説明する。
照して説明する。
同図において、符号３０は薄板状の搬送パレットで、こ
の上面には、上述°したソケット２０が縦横に取り外し
可能に取り付けられている。この搬送パレット３０の裏
面からはソケット２０のリード２３が突出している。ま
た、搬送パレット３０は１般送チエーン４０によって搬
送される。この搬送チェーン４０は、４個のスプロケッ
ト５０にかみ合っていて、この実施例では時計の回転方
向と逆の方向に回転駆動される。
の上面には、上述°したソケット２０が縦横に取り外し
可能に取り付けられている。この搬送パレット３０の裏
面からはソケット２０のリード２３が突出している。ま
た、搬送パレット３０は１般送チエーン４０によって搬
送される。この搬送チェーン４０は、４個のスプロケッ
ト５０にかみ合っていて、この実施例では時計の回転方
向と逆の方向に回転駆動される。
符号６０ａ〜６０ｎはそれぞれ異なる測定をするための
測定装置である。この各測定装置６０ａ〜６０ｎには、
上述したソケット２０と同一種類のソケット７０ａ〜７
０ｎが設けられている。そして、測定装置６０ａ〜６０
ｎは、＋Ｕ送パレット３０に取付けたソケット２０と対
応して測定台８０上に縦横に配設されている。この測定
台８０は、図示しないが油圧又はエアーシリンダ等の昇
降装置によって昇降されるようになっている。なお、測
定装置６０ａ〜６０ｎをそれぞれ個別に昇降させるよう
に構成してもかまわない。さらに、測定装置６０ａ〜６
０ｎの数は測定すべき電子部品１０の種類によって決め
る。
測定装置である。この各測定装置６０ａ〜６０ｎには、
上述したソケット２０と同一種類のソケット７０ａ〜７
０ｎが設けられている。そして、測定装置６０ａ〜６０
ｎは、＋Ｕ送パレット３０に取付けたソケット２０と対
応して測定台８０上に縦横に配設されている。この測定
台８０は、図示しないが油圧又はエアーシリンダ等の昇
降装置によって昇降されるようになっている。なお、測
定装置６０ａ〜６０ｎをそれぞれ個別に昇降させるよう
に構成してもかまわない。さらに、測定装置６０ａ〜６
０ｎの数は測定すべき電子部品１０の種類によって決め
る。
次に電子部品の測定方法とその手順を説明する。
まず、搬送パレット３０に取付けたソケット２０に電子
部品１０のリード１１を差し込んで、搬送パレット３０
を矢印Ａ方向から搬送チェーン４０上に搬送する。搬送
パレット３０の先端が搬送チェーン４０上に位置すると
、スプロケット５０により搬送チェーン４０が回転して
搬送パレット３０が矢印Ｂ方向に搬送されてくる。ここ
で、搬送パレット３０の先頭のソケット２０が測定装置
６０ａの上に位置すると、搬送パレッ）３０が停止され
る。次いで、測定台８０が矢印Ｃ１方向に上がり、測定
装置６０ａのソケット７０ａと、電子部品１０を保持し
たソケット２０のリード２３とが嵌る。この状態により
、電子部品１０と測定装置６０ａが電気的に接続されて
信号をやりとりさせる。測定が終了すると、測定台８０
が矢印Ｃ２方向に下がり、ソケット２０のリード２３が
ソケット７０ａから抜ける。
部品１０のリード１１を差し込んで、搬送パレット３０
を矢印Ａ方向から搬送チェーン４０上に搬送する。搬送
パレット３０の先端が搬送チェーン４０上に位置すると
、スプロケット５０により搬送チェーン４０が回転して
搬送パレット３０が矢印Ｂ方向に搬送されてくる。ここ
で、搬送パレット３０の先頭のソケット２０が測定装置
６０ａの上に位置すると、搬送パレッ）３０が停止され
る。次いで、測定台８０が矢印Ｃ１方向に上がり、測定
装置６０ａのソケット７０ａと、電子部品１０を保持し
たソケット２０のリード２３とが嵌る。この状態により
、電子部品１０と測定装置６０ａが電気的に接続されて
信号をやりとりさせる。測定が終了すると、測定台８０
が矢印Ｃ２方向に下がり、ソケット２０のリード２３が
ソケット７０ａから抜ける。
次に、搬送パレット３０の先頭のソケット２０が次の測
定装置６０ｂ上に位置するように搬送チェーン４０で搬
送パレット３０を所定ピッチだけ搬送する。
定装置６０ｂ上に位置するように搬送チェーン４０で搬
送パレット３０を所定ピッチだけ搬送する。
このとき、搬送パレット３０の２番目のソケット２０は
測定装置６０ａ上に位置している。ここで、前述と同様
にして測定装置６０ａおよび測定装置６０ｂと、搬送パ
レット３０の先頭および２番目のソケット２０に差し込
まれた電子部品１０とが電気的に接続され、それぞれ信
号をやりとりさせる。先頭のソケット２０で保持してい
る電子部品１０は、前記の測定とは別の測定が行われる
。以後、上記のような動作が順次行われ、搬送パレット
３０上のソケット２０に保持した全ての電子部品１０を
測定し終えると、矢印Ｂ方向に搬送パレット３０が送り
出され、矢印Ａ方向から新たな搬送バレン）３０が搬送
チェーン４０上に搬送されてくる。
測定装置６０ａ上に位置している。ここで、前述と同様
にして測定装置６０ａおよび測定装置６０ｂと、搬送パ
レット３０の先頭および２番目のソケット２０に差し込
まれた電子部品１０とが電気的に接続され、それぞれ信
号をやりとりさせる。先頭のソケット２０で保持してい
る電子部品１０は、前記の測定とは別の測定が行われる
。以後、上記のような動作が順次行われ、搬送パレット
３０上のソケット２０に保持した全ての電子部品１０を
測定し終えると、矢印Ｂ方向に搬送パレット３０が送り
出され、矢印Ａ方向から新たな搬送バレン）３０が搬送
チェーン４０上に搬送されてくる。
ところで、搬送パレット３０に取付けたソケット２０お
よび測定装置６０ａ〜６０ｎのソケット７０ａ〜７０ｎ
の各リードは電子部品１０のリード１１よりも頑丈であ
るが、長期使用に際していずれかのソケットのリードが
破損したら、破損したソケットのみを交換させると良い
。
よび測定装置６０ａ〜６０ｎのソケット７０ａ〜７０ｎ
の各リードは電子部品１０のリード１１よりも頑丈であ
るが、長期使用に際していずれかのソケットのリードが
破損したら、破損したソケットのみを交換させると良い
。
なお、他の実施例として、例えば搬送パレ・ノド３０に
取り付けたソケット２０および測定装置６０ａ〜６０ｎ
のソケット７０２〜７０ｎをそれぞれ２個ずつ重ねて用
いることも考えられる。このようにした場合、それぞれ
上に重ねたソケットを交換するだけでよくなり、搬送パ
レット３０や測定装置６０ａ〜６０ｎに取り付けたソケ
ット２０および７０ａ〜？Ｏｎを取り換える煩わしい作
業を行う必要がなくなる。
取り付けたソケット２０および測定装置６０ａ〜６０ｎ
のソケット７０２〜７０ｎをそれぞれ２個ずつ重ねて用
いることも考えられる。このようにした場合、それぞれ
上に重ねたソケットを交換するだけでよくなり、搬送パ
レット３０や測定装置６０ａ〜６０ｎに取り付けたソケ
ット２０および７０ａ〜？Ｏｎを取り換える煩わしい作
業を行う必要がなくなる。
また、上記実施例では、搬送パレット３０にソケット２
０を多数取付けて複数の電子部品１０を一度に行うよう
にしているから、検査効率の向上が図れる。さらに、搬
送パレットの搬送方法はチェーンを搬送パレットに固定
し、無限軌道で搬送パレットを搬送し、電子部品１０を
チェーンの両端で抜き差しを行うことも可能である。
０を多数取付けて複数の電子部品１０を一度に行うよう
にしているから、検査効率の向上が図れる。さらに、搬
送パレットの搬送方法はチェーンを搬送パレットに固定
し、無限軌道で搬送パレットを搬送し、電子部品１０を
チェーンの両端で抜き差しを行うことも可能である。
発肌夏班来
以上説明したように、この発明によれば、電子部品のリ
ードをソケットに差し込んで、このソケットのリードを
各測定装置に設けたソケットに差し込んで電気的に接続
させているから、電子部品の特性等の測定を多数の測定
装置で複数回にわたって行っても電子部品のリードをわ
ざわざ何回も抜き差ししなくてよい。つまり、電子部品
のリードがソケットによって守られているから、当該電
子部品のリードが折れ曲がったり或いは破損したりする
ことがなく、結果的に従来よりも製品としての歩留りが
向上することとなる。しかもソケットで電子部品を保持
したまま、各測定装置との接続作業を行っているから、
電子部品の保持・搬送が容易になるという別異の効果を
奏する。
ードをソケットに差し込んで、このソケットのリードを
各測定装置に設けたソケットに差し込んで電気的に接続
させているから、電子部品の特性等の測定を多数の測定
装置で複数回にわたって行っても電子部品のリードをわ
ざわざ何回も抜き差ししなくてよい。つまり、電子部品
のリードがソケットによって守られているから、当該電
子部品のリードが折れ曲がったり或いは破損したりする
ことがなく、結果的に従来よりも製品としての歩留りが
向上することとなる。しかもソケットで電子部品を保持
したまま、各測定装置との接続作業を行っているから、
電子部品の保持・搬送が容易になるという別異の効果を
奏する。
第１図はこの発明の一実施例を示す模式図、第２図はこ
の発明の一実施例で用いるソケットと電子部品を示す斜
視図、第３図は従来の電子部品の測定方法を説明するた
め°の説明図である。 １０・・・電子部品 １１・・・リード ２０・・・ソケット ２１・・・リード ６０ａ〜６０ｎ・・、・測定装置 ７０ａ〜７０ｎ・・・ソケット。 特許出願人 ローム株式会社 代理人 弁理士 大 西 孝 治 第１図 第２図
の発明の一実施例で用いるソケットと電子部品を示す斜
視図、第３図は従来の電子部品の測定方法を説明するた
め°の説明図である。 １０・・・電子部品 １１・・・リード ２０・・・ソケット ２１・・・リード ６０ａ〜６０ｎ・・、・測定装置 ７０ａ〜７０ｎ・・・ソケット。 特許出願人 ローム株式会社 代理人 弁理士 大 西 孝 治 第１図 第２図
Claims (1)
- （１）測定すべき電子部品のリードをソケットに差し込
んで、このソケットのリードを測定装置に設けたソケッ
トに差し込むことにより、前記電子部品と測定装置とを
電気的に接続して信号をやりとりさせることを特徴とす
る電子部品の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60222469A JPH0814602B2 (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 電子部品の測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60222469A JPH0814602B2 (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 電子部品の測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6281579A true JPS6281579A (ja) | 1987-04-15 |
| JPH0814602B2 JPH0814602B2 (ja) | 1996-02-14 |
Family
ID=16782901
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60222469A Expired - Fee Related JPH0814602B2 (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 電子部品の測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0814602B2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS518363U (ja) * | 1974-07-01 | 1976-01-21 | ||
| JPS5390875A (en) * | 1977-01-21 | 1978-08-10 | Hitachi Ltd | Test equipment for semiconductor device |
-
1985
- 1985-10-04 JP JP60222469A patent/JPH0814602B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS518363U (ja) * | 1974-07-01 | 1976-01-21 | ||
| JPS5390875A (en) * | 1977-01-21 | 1978-08-10 | Hitachi Ltd | Test equipment for semiconductor device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0814602B2 (ja) | 1996-02-14 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |