JPS6283651A - 検査ヘツド - Google Patents
検査ヘツドInfo
- Publication number
- JPS6283651A JPS6283651A JP60225316A JP22531685A JPS6283651A JP S6283651 A JPS6283651 A JP S6283651A JP 60225316 A JP60225316 A JP 60225316A JP 22531685 A JP22531685 A JP 22531685A JP S6283651 A JPS6283651 A JP S6283651A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- elastic body
- plate
- holder
- ultrasonic
- probe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は２種々の被検材に接して、その欠陥を検出す
る検査ヘッドに関し、その特徴とするところは、接材時
の衝撃を緩和するとともに、超音波プローブを被検材近
傍を中心に首撮り動作させ超音波入射点の位置の移動を
小さくすることに関するものである。なお説明の便宜上
、板の表面に接して板肉の欠陥を検査する検査ヘッドに
ついて説明する。
る検査ヘッドに関し、その特徴とするところは、接材時
の衝撃を緩和するとともに、超音波プローブを被検材近
傍を中心に首撮り動作させ超音波入射点の位置の移動を
小さくすることに関するものである。なお説明の便宜上
、板の表面に接して板肉の欠陥を検査する検査ヘッドに
ついて説明する。
第３図は従来の検査ヘッドを示す斜視図、第４図はその
断面図、第５図は動作を説明するための断面図であり、
（１）は被検材である板、（２）はこの板（１）に対し
一定距離はなれて対向する円筒状の超音波プローブ、（
３）はこの超音波プローブ（２）を保持するホルダ、（
４）はこのホルダに取り付けられ板＋１１に接するシュ
ーである。また（５）は第１のジンバルフレーム、 ｔ
６ｐｉｄこの第１のジンバルフレーム＋５＋ Ｋ 取り
付けられ、ホルダ（３）を回転支持する第１のピン１（
力は第２のジンバルフレーム、（８）はこの第２のジン
バルフレーム（７）に取り付けられ、第１のジンバルフ
レーム（５）を回転支持する第２のビンであり。
断面図、第５図は動作を説明するための断面図であり、
（１）は被検材である板、（２）はこの板（１）に対し
一定距離はなれて対向する円筒状の超音波プローブ、（
３）はこの超音波プローブ（２）を保持するホルダ、（
４）はこのホルダに取り付けられ板＋１１に接するシュ
ーである。また（５）は第１のジンバルフレーム、 ｔ
６ｐｉｄこの第１のジンバルフレーム＋５＋ Ｋ 取り
付けられ、ホルダ（３）を回転支持する第１のピン１（
力は第２のジンバルフレーム、（８）はこの第２のジン
バルフレーム（７）に取り付けられ、第１のジンバルフ
レーム（５）を回転支持する第２のビンであり。
ジンバル機構を構成している。
従来の検査ヘッドは上記のように構成され１例えば板（
１１が搬送されてくると、第２のジンバルフレーム（７
）を、第２のビン（８）とは水平かつ直角方向に支持す
る検査ヘッド接離材機構（図示せず）の動作によって、
シュー（４）は板＋１１に高速度で接する。
１１が搬送されてくると、第２のジンバルフレーム（７
）を、第２のビン（８）とは水平かつ直角方向に支持す
る検査ヘッド接離材機構（図示せず）の動作によって、
シュー（４）は板＋１１に高速度で接する。
板＋１１に曲がり等の不整がある場合は、シュー（４）
が上記板ｉｌ＋の不整に対し第１のビン（６）とホルダ
（３）。
が上記板ｉｌ＋の不整に対し第１のビン（６）とホルダ
（３）。
第２のビン（８）と第１のジンバルフレーム（５；との
回転動作さらに、検査ヘッド接離村機構による上下動作
によって倣い、超音波プローブ（２）が破検材（１）の
表面の法線方向に一致するようになっている。
回転動作さらに、検査ヘッド接離村機構による上下動作
によって倣い、超音波プローブ（２）が破検材（１）の
表面の法線方向に一致するようになっている。
上記のような従来の検査ヘッドでは、ホルダ＋３１゜第
１のビン（６１，ｉｔのジンバルフレーム＋５１．第２
のビン（８）、第２のジンバルフレーム（７）が剛に結
合されているため、検査ヘッド接離材機構の動作により
シュー（４）が板（１）に高速度で接する時強い衝撃を
受けることになる〇 一方、板＋１１の左端からＬの距離のところに超音波入
射点Ａを定め検査する場合、第４図に示すよ５に板（１
）が水平状態の場合は、第２のビン（８）の回転中心Ｂ
と、超音波入射点Ａは共に板の左端からＬの距離のとこ
ろにあり所定の検査をすることができるが、第５図に示
すように板（１）が例えば超音波入射点Ａのまわりに左
方上に傾いた場合には。
１のビン（６１，ｉｔのジンバルフレーム＋５１．第２
のビン（８）、第２のジンバルフレーム（７）が剛に結
合されているため、検査ヘッド接離材機構の動作により
シュー（４）が板（１）に高速度で接する時強い衝撃を
受けることになる〇 一方、板＋１１の左端からＬの距離のところに超音波入
射点Ａを定め検査する場合、第４図に示すよ５に板（１
）が水平状態の場合は、第２のビン（８）の回転中心Ｂ
と、超音波入射点Ａは共に板の左端からＬの距離のとこ
ろにあり所定の検査をすることができるが、第５図に示
すように板（１）が例えば超音波入射点Ａのまわりに左
方上に傾いた場合には。
第２のビン（８）の回転中心Ｂは板（１）の左端からＬ
の距離のところにあるが、超音波入射点Ａは第２のビン
（８）が板（１）に近接して構成できないので、その回
転中心Ｂのまわりに回転するため、左方上Ｃに。
の距離のところにあるが、超音波入射点Ａは第２のビン
（８）が板（１）に近接して構成できないので、その回
転中心Ｂのまわりに回転するため、左方上Ｃに。
水平距離換算でΔしたけ左方に大きく移動することにな
るという問題点があった。ここでは第２のビン（８）の
回転中心Ｂのまわりについて述べたが。
るという問題点があった。ここでは第２のビン（８）の
回転中心Ｂのまわりについて述べたが。
第１のピ／（６）の回転についても同様の問題点があっ
た。
た。
この発明はかかる問題点を解決するためになされたもの
で、シューが板に接する時の衝撃を緩和するとともに、
板が例えば超音波入射点まわりに傾いた場合でも、超音
波入射点の移動を小さくすることができる検査ヘッドを
得ることを目的とする。
で、シューが板に接する時の衝撃を緩和するとともに、
板が例えば超音波入射点まわりに傾いた場合でも、超音
波入射点の移動を小さくすることができる検査ヘッドを
得ることを目的とする。
この発明にかかる検査ヘッドは、検査ヘッド接離材機構
に支持されたハウジングが、超音波プローブを取り付け
たホルダ硬質弾性体および軟質弾性体とを介装して保持
したものである。
に支持されたハウジングが、超音波プローブを取り付け
たホルダ硬質弾性体および軟質弾性体とを介装して保持
したものである。
この発明においては、超音波プローブを取り付けたホル
ダが板に近接する周囲を硬質弾性体にて円筒面支持され
、板から離れて軟質弾性体によシ周囲を支持されている
ので、ホルダに取り付けられたシューが板に接するとき
の衝撃を上記硬質弾性体及び軟質弾性体で緩和するとと
もに、板に近接した硬質弾性体を支点として軟質弾性体
が容易に変形し首振り動作をするので、板が例えば超音
波入射点のまわりに傾いても、超音波入射点の位置の移
動を小さくすることができる。
ダが板に近接する周囲を硬質弾性体にて円筒面支持され
、板から離れて軟質弾性体によシ周囲を支持されている
ので、ホルダに取り付けられたシューが板に接するとき
の衝撃を上記硬質弾性体及び軟質弾性体で緩和するとと
もに、板に近接した硬質弾性体を支点として軟質弾性体
が容易に変形し首振り動作をするので、板が例えば超音
波入射点のまわりに傾いても、超音波入射点の位置の移
動を小さくすることができる。
第１図はこの発明の一実施例を示す断面図、第２図は動
作を説明するための断面図であり、（１）は板、（２）
〜（４）は上記従来の検査ヘッドと全く同一のものであ
る。（９）は超音波プローブの板（１）に近接する周囲
を円筒面支持する硬質弾性体、αＧはこの硬質弾性体よ
り板（１）から離れて、超音波プローブ（２）の周囲を
支持する軟質弾性体、αυは上記硬質弾性体（９）及び
上記軟質弾性体００を保持するハウジングである。
作を説明するための断面図であり、（１）は板、（２）
〜（４）は上記従来の検査ヘッドと全く同一のものであ
る。（９）は超音波プローブの板（１）に近接する周囲
を円筒面支持する硬質弾性体、αＧはこの硬質弾性体よ
り板（１）から離れて、超音波プローブ（２）の周囲を
支持する軟質弾性体、αυは上記硬質弾性体（９）及び
上記軟質弾性体００を保持するハウジングである。
上記のように構成された検査ヘッドにおいては。
超音波プローブ（２）を取り付けているホルダ（３）が
硬質弾性体（９）及び軟質弾性体ＯＧを介装してハウジ
ングａ９に取り付けられているので、検査ヘッド接離材
機構の動作によってシュー（４）が板ｆｉｌに高速度で
接しても、上記硬質弾性体（９）及び軟質弾性体ＯＩが
。
硬質弾性体（９）及び軟質弾性体ＯＧを介装してハウジ
ングａ９に取り付けられているので、検査ヘッド接離材
機構の動作によってシュー（４）が板ｆｉｌに高速度で
接しても、上記硬質弾性体（９）及び軟質弾性体ＯＩが
。
超音波プローブ（２）に働く衝撃を緩和すると同時に。
ハウジングαυより上位の検査ヘッド接離材機構に働く
衝撃をも緩和することになる。
衝撃をも緩和することになる。
また硬質弾性体（９）は板ｉｌ＋に近接して超音波プロ
ー７″＋２）を取り付けているホルダ（３）の周囲を円
筒面支持しているので、超音波プローブ（２）はこの硬
質弾性体（９）を支点として首振り動作をする。一方軟
質弾性体αｑは、上記首振り動作による移動を受けて変
形することになる。したがって、板＋１１の左端から乙
のところに超音波入射点Ａを定め検査する場合、第１図
に示すように板ｆｉ＋が水平状態の場合は、従来の検査
ヘッドと同様であるが、第２図に示したように、板（１
）が例えば超音波入射点Ａのまわりに左方上に従来の検
査ヘッドと同−量傾いた場合は、超音波プローブ（２）
は硬質弾性体（９）による仮想回転中心りのまわりを回
転することになるので、超音波入射点Ａは左方上Ｅに移
動するが、水平距離換算では従来の検査ヘッドΔＬより
小さな６Ｍとなシ、超音波入射点の位置の移動金小さく
することができる。
ー７″＋２）を取り付けているホルダ（３）の周囲を円
筒面支持しているので、超音波プローブ（２）はこの硬
質弾性体（９）を支点として首振り動作をする。一方軟
質弾性体αｑは、上記首振り動作による移動を受けて変
形することになる。したがって、板＋１１の左端から乙
のところに超音波入射点Ａを定め検査する場合、第１図
に示すように板ｆｉ＋が水平状態の場合は、従来の検査
ヘッドと同様であるが、第２図に示したように、板（１
）が例えば超音波入射点Ａのまわりに左方上に従来の検
査ヘッドと同−量傾いた場合は、超音波プローブ（２）
は硬質弾性体（９）による仮想回転中心りのまわりを回
転することになるので、超音波入射点Ａは左方上Ｅに移
動するが、水平距離換算では従来の検査ヘッドΔＬより
小さな６Ｍとなシ、超音波入射点の位置の移動金小さく
することができる。
ところで上記説明では、この発明を板肉の欠陥を検査す
る検査ヘッドに利用する場合について述べたが、その他
の形状の被検材の欠陥を検査ヘッドに利用できることは
いうまでもない。
る検査ヘッドに利用する場合について述べたが、その他
の形状の被検材の欠陥を検査ヘッドに利用できることは
いうまでもない。
この発明は以上説明したとおり、超音波プローブを取り
付けたホルダを被検材に近接する周囲で円筒面支持する
硬質弾性体、この硬質弾性体よシ被検材から離れてホル
ダの周囲を支持する軟質弾性体を保持するハウジングに
よって検査ヘッドを構成することにより、接材時の衝撃
を緩和するとともに、超音波プローブを被検材に近接し
た仮想回転中心まわりに首振り動作をさせることにより
超音波入射点の位置の移動を小さくするという効果があ
る。
付けたホルダを被検材に近接する周囲で円筒面支持する
硬質弾性体、この硬質弾性体よシ被検材から離れてホル
ダの周囲を支持する軟質弾性体を保持するハウジングに
よって検査ヘッドを構成することにより、接材時の衝撃
を緩和するとともに、超音波プローブを被検材に近接し
た仮想回転中心まわりに首振り動作をさせることにより
超音波入射点の位置の移動を小さくするという効果があ
る。
第１図はこの発明の一実施例を示す断面図、第２図は動
作を説明するための断面図、第３図は従来の検査ヘッド
を示す斜視図、第４図はその断面図、第５図は動作を説
明するための断面図である。 図において、（１）は被検材である板、（２Ｊは超音波
プローブ、（３）はホルダ、（４）はシュー、（９）は
硬質弾性体、住１は軟質弾性体、Ｕυはハウジングでら
るａなお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す
。
作を説明するための断面図、第３図は従来の検査ヘッド
を示す斜視図、第４図はその断面図、第５図は動作を説
明するための断面図である。 図において、（１）は被検材である板、（２Ｊは超音波
プローブ、（３）はホルダ、（４）はシュー、（９）は
硬質弾性体、住１は軟質弾性体、Ｕυはハウジングでら
るａなお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す
。
Claims (1)
- 被検材に対し一定距離はなれて対向する円筒状の超音波
プローブと、この超音波プローブを取り付けるホルダと
、このホルダに取り付けられ上記被検材に接するシュー
と、上記ホルダの上記被検材に近接する周囲を円筒面支
持する硬質弾性体と、この硬質弾性体より被検材から離
れて上記ホルダの周囲を支持する軟質弾性体と、上記硬
質弾性体と上記軟質弾性体を保持するハウジングとを備
え、上記シューが上記被検材に接するときの衝撃を緩和
するとともに、上記超音波プローブの上記被検材に対す
る超音波入射点の位置の移動を小さくするようにしたこ
とを特徴とする検査ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60225316A JPS6283651A (ja) | 1985-10-09 | 1985-10-09 | 検査ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60225316A JPS6283651A (ja) | 1985-10-09 | 1985-10-09 | 検査ヘツド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6283651A true JPS6283651A (ja) | 1987-04-17 |
Family
ID=16827442
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60225316A Pending JPS6283651A (ja) | 1985-10-09 | 1985-10-09 | 検査ヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6283651A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04278429A (ja) * | 1991-03-07 | 1992-10-05 | Tonichi Seisakusho:Kk | 超音波によるボルト軸力測定用センサの保持具 |
| FR2862519A1 (fr) * | 2003-11-25 | 2005-05-27 | Gen Electric | Ensemble d'interface de sonde et systeme d'imagerie automatise comprenant un tel ensemble |
| JP2014206476A (ja) * | 2013-04-15 | 2014-10-30 | 株式会社日立製作所 | 超音波板厚測定装置 |
-
1985
- 1985-10-09 JP JP60225316A patent/JPS6283651A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04278429A (ja) * | 1991-03-07 | 1992-10-05 | Tonichi Seisakusho:Kk | 超音波によるボルト軸力測定用センサの保持具 |
| FR2862519A1 (fr) * | 2003-11-25 | 2005-05-27 | Gen Electric | Ensemble d'interface de sonde et systeme d'imagerie automatise comprenant un tel ensemble |
| US7299806B2 (en) | 2003-11-25 | 2007-11-27 | General Electric Company | Compliant probe interface assembly |
| JP2014206476A (ja) * | 2013-04-15 | 2014-10-30 | 株式会社日立製作所 | 超音波板厚測定装置 |
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