JPS6284176A - 高分子錯体膜及びエレクトロクロミツク表示素子 - Google Patents
高分子錯体膜及びエレクトロクロミツク表示素子Info
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- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
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- 229920003176 water-insoluble polymer Polymers 0.000 description 1
Landscapes
- Electrochromic Elements, Electrophoresis, Or Variable Reflection Or Absorption Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は多核金属錯体を含有する高分子錯体膜及び該錯
体膜と電極基板とを接合してなるエレクトロクロミック
表示素子に関する。
体膜と電極基板とを接合してなるエレクトロクロミック
表示素子に関する。
は、酩気化学的な作用により色素、金属錯体などのレド
ツクス剤が酸化及び還元されることによシ可逆的に色変
化を起すことを利用した表示素子を指す。表示素子には
大別して発光型と非発光型のもあがめる。前者にはCR
T(ブラウン管)をはじめ、IJD (発光ダイオード
)、FDP(プラズマ表く2 示)、ELD(エレクトロミネツセンス表示)などがあ
り、後者にはLCD(液晶表示)、ECD などが知ら
れている。上記の表示素子はいずれもそれぞれの特徴が
あって、用途によシ使い分けられているのが現状である
が、LCDJf−ECDは大面積状72ツトパネル形に
できる点で注目されており、低いこと、(3)表示メモ
リー性があること、(4)使用温度範囲が広いこと、(
5)表示の視角依存性が少ないこと、(6)多色化が比
較的容易なこと。問題点としては、素子寿命が他のもの
とくらべて短かいことが挙げられている。
ツクス剤が酸化及び還元されることによシ可逆的に色変
化を起すことを利用した表示素子を指す。表示素子には
大別して発光型と非発光型のもあがめる。前者にはCR
T(ブラウン管)をはじめ、IJD (発光ダイオード
)、FDP(プラズマ表く2 示)、ELD(エレクトロミネツセンス表示)などがあ
り、後者にはLCD(液晶表示)、ECD などが知ら
れている。上記の表示素子はいずれもそれぞれの特徴が
あって、用途によシ使い分けられているのが現状である
が、LCDJf−ECDは大面積状72ツトパネル形に
できる点で注目されており、低いこと、(3)表示メモ
リー性があること、(4)使用温度範囲が広いこと、(
5)表示の視角依存性が少ないこと、(6)多色化が比
較的容易なこと。問題点としては、素子寿命が他のもの
とくらべて短かいことが挙げられている。
これまで作製されてき九ECDには、表示物質(以下E
C剤と言う)が無機化合物であるものと有機化合物であ
るものの2種類に大別され、前者の方が安定性の点で優
れているため開発がよυ進んでいる。具体例としては、
前者には酸化タングステン、酸化イリジウムなどの金属
酸化物が、後者の例としてはビオローゲン誘導体が一般
に使われてき九が、最近では、ポリピロール、ポリチオ
フェンなどの電解重合膜が盛んに利用されている。
C剤と言う)が無機化合物であるものと有機化合物であ
るものの2種類に大別され、前者の方が安定性の点で優
れているため開発がよυ進んでいる。具体例としては、
前者には酸化タングステン、酸化イリジウムなどの金属
酸化物が、後者の例としてはビオローゲン誘導体が一般
に使われてき九が、最近では、ポリピロール、ポリチオ
フェンなどの電解重合膜が盛んに利用されている。
素子全体を構成するに当りては、電解液を使うか固体電
解質を使うかで深型セルと固体セルの2種類があるが、
上記EC剤が無機化合物の場合は主として固体型セルが
作られてお6、gc剤が有機化合物の場合は深型セルが
多い。前者の代衣例として、VIOs/Ta205/I
rOxの構成の全固体素子が報告されている。深型セル
には希硫酸などの酸性水溶液、或いは過塩素酸塩をとか
したプロピレンカーボネートなどの有機溶媒が一般に用
いられている。
解質を使うかで深型セルと固体セルの2種類があるが、
上記EC剤が無機化合物の場合は主として固体型セルが
作られてお6、gc剤が有機化合物の場合は深型セルが
多い。前者の代衣例として、VIOs/Ta205/I
rOxの構成の全固体素子が報告されている。深型セル
には希硫酸などの酸性水溶液、或いは過塩素酸塩をとか
したプロピレンカーボネートなどの有機溶媒が一般に用
いられている。
ところで、深型セルではEC剤の電極からのけく雌・溶
出等の問題があるうえ、漏液による周辺部品への弊害な
ど、いくつかの欠点が指摘されている。然るに、素子形
態としては全固体型が望ましいのであるが、例えば、上
記のWO3/Ta□05/I rOxセルを構成するに
は電極基板上に各成分を真空蒸着又はスパッタリングで
逐次積層化する訳で真空状態で素子を製造するため大量
生産の際の作業能率に大きな難点を残している。
出等の問題があるうえ、漏液による周辺部品への弊害な
ど、いくつかの欠点が指摘されている。然るに、素子形
態としては全固体型が望ましいのであるが、例えば、上
記のWO3/Ta□05/I rOxセルを構成するに
は電極基板上に各成分を真空蒸着又はスパッタリングで
逐次積層化する訳で真空状態で素子を製造するため大量
生産の際の作業能率に大きな難点を残している。
本発明の目的は、上述の問題点を鑑みて、生産性の高い
全固体薄膜型ECD$子を開発することにある。即ち、
高分子電解質を含む背景体に、′EC剤でめる金属錯体
を固相重合法により該膜内で多核化・析出せしめる新し
いプロセヌを用いテ得うれる高分子錯体膜及び該錯体膜
を利用した表示コントラストに着れた全固体薄膜ECD
素A供することにある。
全固体薄膜型ECD$子を開発することにある。即ち、
高分子電解質を含む背景体に、′EC剤でめる金属錯体
を固相重合法により該膜内で多核化・析出せしめる新し
いプロセヌを用いテ得うれる高分子錯体膜及び該錯体膜
を利用した表示コントラストに着れた全固体薄膜ECD
素A供することにある。
本発明の不透明背景体(以下背景体という)との製造法
には、例えば以下に示すいくつかの方法がある。即ち、
囚背景体が多孔質膜であるもの、及び(均背景体が着色
粒子の2種類について、各背景体と複合化する高分子電
解質の種類により、次に示すいくつかの方法を例示する
ことができる。
には、例えば以下に示すいくつかの方法がある。即ち、
囚背景体が多孔質膜であるもの、及び(均背景体が着色
粒子の2種類について、各背景体と複合化する高分子電
解質の種類により、次に示すいくつかの方法を例示する
ことができる。
これらの方法において重要なことは、該複合高分子1解
質a<Jが含有する高分子電解質を水中において膜から
溶出させないよう工夫することである。
質a<Jが含有する高分子電解質を水中において膜から
溶出させないよう工夫することである。
(A−1)高分子電解質自体が水には不溶で有機溶媒に
可溶なる溶解特性を有する高分子でちって、このような
高分子電解質の溶液を多孔質膜上に塗布・乾燥する。
可溶なる溶解特性を有する高分子でちって、このような
高分子電解質の溶液を多孔質膜上に塗布・乾燥する。
(人−2)高分子電解質自体は水溶性であるめ工、これ
と水に不mで、有機者媒に可溶なる溶4fS特性を有す
る高分子とを混ぜ合わせ、これら両者をともKとかず溶
媒に溶解したのち多孔質膜上に塗布・乾燥する。
と水に不mで、有機者媒に可溶なる溶4fS特性を有す
る高分子とを混ぜ合わせ、これら両者をともKとかず溶
媒に溶解したのち多孔質膜上に塗布・乾燥する。
(人−3)高分子電解質自体は水溶性であるが、これと
架橋性基を有する第二の水溶性高分子とを混ぜ合わせ、
このような高分子組成物をとかした水溶液を多孔質膜上
に塗布後、加熱蒸射線照射または化学試剤によシ架橋す
る。
架橋性基を有する第二の水溶性高分子とを混ぜ合わせ、
このような高分子組成物をとかした水溶液を多孔質膜上
に塗布後、加熱蒸射線照射または化学試剤によシ架橋す
る。
(A−4)高分子電解質が解離基を持つモノマー及び架
橋剤からなる高分子でありて、このような低分子組成物
をとかした溶液を多孔質膜上に塗布後、重合・架橋する
。
橋剤からなる高分子でありて、このような低分子組成物
をとかした溶液を多孔質膜上に塗布後、重合・架橋する
。
(A−5)高分子電解質が解離基を導入しうる或いは解
離基に変換しうる官能基を有するモノマー及び架橋剤か
らなる高分子であって、このような低分子組成物をとか
しな溶液を多孔質膜上に塗布後、重合・架橋し、次いで
解離基の導入或いは変換反応を施す。
離基に変換しうる官能基を有するモノマー及び架橋剤か
らなる高分子であって、このような低分子組成物をとか
しな溶液を多孔質膜上に塗布後、重合・架橋し、次いで
解離基の導入或いは変換反応を施す。
(B−1)高分子電解質が(人−1)に記載のものと同
一で、このような高分子をとかし々溶液に着色粒子を分
散した後、基板上に流延して溶媒を蒸発させる。
一で、このような高分子をとかし々溶液に着色粒子を分
散した後、基板上に流延して溶媒を蒸発させる。
(B−2)高分子電解質が(A−2)に記載のものと同
一で、このような高分子組成物をとかした溶液に着色粒
子を分散した後、基板上に流延して溶媒を蒸発させる。
一で、このような高分子組成物をとかした溶液に着色粒
子を分散した後、基板上に流延して溶媒を蒸発させる。
(B−3)高分子電解質が(A−3)に記載のものと同
一で、このような高分子組成物をとかした溶液に着色粒
子を分散した後、基板上に流延後加熱、放射線照射また
は化学試剤により架橋する。
一で、このような高分子組成物をとかした溶液に着色粒
子を分散した後、基板上に流延後加熱、放射線照射また
は化学試剤により架橋する。
(B−4)高分子wlc解質が(A−4)に記載のもの
と同一で、このような低分子組成物をとかした溶液に着
色粒子を分散し基板上に流延後、重合・架橋する。
と同一で、このような低分子組成物をとかした溶液に着
色粒子を分散し基板上に流延後、重合・架橋する。
(B−5)高分子電解質が(A−5)に記載のものと同
一で、このような低分子組成物をとかした溶液に着色粒
子を分散し基板上に流延後、重合・架橋する。
一で、このような低分子組成物をとかした溶液に着色粒
子を分散し基板上に流延後、重合・架橋する。
上記の(A−1)に記載の水に不溶で有機溶媒に可溶な
る溶解特性を有する高分子電解質としては、市販品とし
てはパーフルオロポリエチレン系の可溶性ナフィオン(
商標)などがある。一般には、解離基を持つモノマー、
例えば、スチレンスルホン酸、2−アクリルアミド−2
−メチルプロパンスルホン酸、アクリル酸、メタクリル
酸、アリルアミン、N、N−ジメチルアミノプロビルア
クリルアミド、4−ビニルピリジンなどと疎水性モノマ
ー、例えば、スチレン、メチルメタクリレート、エチレ
ン、プロピレン、塩化ビニルなどとの共重合体を合成し
て、これに用いることができる。この際、解離基を持つ
モノマーと疎水性モノマーの共重合体中の含有率を制御
することにょシ、水に不溶の高分子とすることができる
。上記のようなどニルポリマー以外の重合体についても
、疎水基と解離基の含有率を制御することにより、幽該
高分子電解質を合成することができる。
る溶解特性を有する高分子電解質としては、市販品とし
てはパーフルオロポリエチレン系の可溶性ナフィオン(
商標)などがある。一般には、解離基を持つモノマー、
例えば、スチレンスルホン酸、2−アクリルアミド−2
−メチルプロパンスルホン酸、アクリル酸、メタクリル
酸、アリルアミン、N、N−ジメチルアミノプロビルア
クリルアミド、4−ビニルピリジンなどと疎水性モノマ
ー、例えば、スチレン、メチルメタクリレート、エチレ
ン、プロピレン、塩化ビニルなどとの共重合体を合成し
て、これに用いることができる。この際、解離基を持つ
モノマーと疎水性モノマーの共重合体中の含有率を制御
することにょシ、水に不溶の高分子とすることができる
。上記のようなどニルポリマー以外の重合体についても
、疎水基と解離基の含有率を制御することにより、幽該
高分子電解質を合成することができる。
上記の(A−2)に記載の水溶性高分子電解質としては
、ポリスチレンスルホン酸、ポリアクリル酸、ポリエチ
レンスルホン酸、ポリリン酸、ポリビニルピリジン、ポ
リビニルアミン、ポリエチレンイミンなどを例示するこ
とができる。ま六、水に不溶で有機溶媒に可溶なる溶解
特性を有する高分子としては、通常の疎水性線状高分子
、例えば、ポリスチレン、ポリメチルメタクリレート、
ポリエチレン、ポリ塩化ビニル、ポリアクリロニドとア
クリロニトリルと塩化ビニルの共重合体などを挙げるこ
とができる。
、ポリスチレンスルホン酸、ポリアクリル酸、ポリエチ
レンスルホン酸、ポリリン酸、ポリビニルピリジン、ポ
リビニルアミン、ポリエチレンイミンなどを例示するこ
とができる。ま六、水に不溶で有機溶媒に可溶なる溶解
特性を有する高分子としては、通常の疎水性線状高分子
、例えば、ポリスチレン、ポリメチルメタクリレート、
ポリエチレン、ポリ塩化ビニル、ポリアクリロニドとア
クリロニトリルと塩化ビニルの共重合体などを挙げるこ
とができる。
上記の(A−3)K記載の架橋性基を有する水溶性高分
子としては、ポリビニルアルコール、ポリアリルアミン
、ポリアクリル酸、ポリエチレンイミン、ポリ(N−メ
チロール)アクリルアミドなどを例示することができる
。架橋反応に用いる化学試剤としては、ゲルタールアル
デヒド、ホルムアルデヒド、ヒドラジン、塩化シアヌル
などを例示することかできる。
子としては、ポリビニルアルコール、ポリアリルアミン
、ポリアクリル酸、ポリエチレンイミン、ポリ(N−メ
チロール)アクリルアミドなどを例示することができる
。架橋反応に用いる化学試剤としては、ゲルタールアル
デヒド、ホルムアルデヒド、ヒドラジン、塩化シアヌル
などを例示することかできる。
上記の(A−4)に記載の解離基を持つモノマートシて
は、スチレンスルホン酸、2−アクリルアミド−2−メ
チルプロパンスルホン酸、アクリル酸、メタクリル酸、
アリルアミン、N、N−ジメチルアミノプロピルアクリ
ルアミド、4−ビニルピリジン表とを例示しうる。架橋
剤としてはジビニルベンゼン、メチレンビスアクリルア
ミドなどが一般に用いられるが、これ以外に重合可能な
官能基を分子内に2つまたはそれ以上含む化合物ならは
とくにその構造を限定するものではない。
は、スチレンスルホン酸、2−アクリルアミド−2−メ
チルプロパンスルホン酸、アクリル酸、メタクリル酸、
アリルアミン、N、N−ジメチルアミノプロピルアクリ
ルアミド、4−ビニルピリジン表とを例示しうる。架橋
剤としてはジビニルベンゼン、メチレンビスアクリルア
ミドなどが一般に用いられるが、これ以外に重合可能な
官能基を分子内に2つまたはそれ以上含む化合物ならは
とくにその構造を限定するものではない。
上記の(A−5)に記載の解離基を導入しうるモノマー
としては、スチレン、2.4−ジメチルフェノールなど
スルホン化の可能なフェニル基ヲ持つモノマー、ビニル
ピリジン、N、N−ジメチルアミノプロピルアクリルア
ミドな曾三級アミノ基を持つモノマーなどを例示するこ
とができる。また、解離基に変換しうるモノマーとして
は、ビニルスルホン酸ブチルエステル、メチルメタクリ
レートなどのエステル基を持つモノマーを例示すること
ができる。
としては、スチレン、2.4−ジメチルフェノールなど
スルホン化の可能なフェニル基ヲ持つモノマー、ビニル
ピリジン、N、N−ジメチルアミノプロピルアクリルア
ミドな曾三級アミノ基を持つモノマーなどを例示するこ
とができる。また、解離基に変換しうるモノマーとして
は、ビニルスルホン酸ブチルエステル、メチルメタクリ
レートなどのエステル基を持つモノマーを例示すること
ができる。
多孔質背景膜としては、含フツ素ポリマー系の7C10
ポア(商標)、ボアテックス(商標)或いはポリオレフ
ィン系のハイボア(商標)などの市販の白色多孔質膜を
用いることができる。また、次のような方法で製造する
ことも可能である。例えば、水に不溶な高分子を水と混
り合う有機溶媒、例えば、ジメチルホルムアミド、ジメ
チルスルホキシド、テトラヒドロ7ランなどにとかした
溶液を基板上に塗布後、水中に浸漬することにより多孔
質膜を作ることができる。本発明で用いる多孔質膜の孔
径としてはo、o i〜10μmの範囲のものを用いる
ことができるが、該膜に高分子電解質を含有してなる複
合高分子電解質[K多核金属錯体を含有せしめる際の膜
と錯体の接着性、錯体形成速度等から考えると、孔径が
0.1〜5μm程度であることが好ましい。
ポア(商標)、ボアテックス(商標)或いはポリオレフ
ィン系のハイボア(商標)などの市販の白色多孔質膜を
用いることができる。また、次のような方法で製造する
ことも可能である。例えば、水に不溶な高分子を水と混
り合う有機溶媒、例えば、ジメチルホルムアミド、ジメ
チルスルホキシド、テトラヒドロ7ランなどにとかした
溶液を基板上に塗布後、水中に浸漬することにより多孔
質膜を作ることができる。本発明で用いる多孔質膜の孔
径としてはo、o i〜10μmの範囲のものを用いる
ことができるが、該膜に高分子電解質を含有してなる複
合高分子電解質[K多核金属錯体を含有せしめる際の膜
と錯体の接着性、錯体形成速度等から考えると、孔径が
0.1〜5μm程度であることが好ましい。
るが、色彩学的にみて表示コントラストを最も明瞭にで
きるのは一般に白色背景の場合であるので、亜鉛華、リ
トポン(硫化亜鉛と硫酸バリウムの混合物)、チタン白
、鉛白などの白色顔料或いは高分子ラテックスのような
架橋高分子微粒子を用いることが望ましい。
きるのは一般に白色背景の場合であるので、亜鉛華、リ
トポン(硫化亜鉛と硫酸バリウムの混合物)、チタン白
、鉛白などの白色顔料或いは高分子ラテックスのような
架橋高分子微粒子を用いることが望ましい。
複合高分子電解質膜に含有さ囁ヘ一般式MIで表わされ
る遷移金属イオンと一般式Mn (CN ) sLで表
わされる金属イオンとから形成される多核金属錯体にお
いて、MXA及びMYBで表わされる金属イオンとして
は2価ないし3価の遷移金属イオンを例示しうるが、特
KFe %Fe 、Ni 。
る遷移金属イオンと一般式Mn (CN ) sLで表
わされる金属イオンとから形成される多核金属錯体にお
いて、MXA及びMYBで表わされる金属イオンとして
は2価ないし3価の遷移金属イオンを例示しうるが、特
KFe %Fe 、Ni 。
Co 、Co 、Ru 、Ru 、Os お
よびo SM +などの第■属に属する2価ないし3価
の遷移金属イオンが好適である。Lで表わされる配位子
としては、CN 、 80.”、AaO□、NH,、H
2O、。
よびo SM +などの第■属に属する2価ないし3価
の遷移金属イオンが好適である。Lで表わされる配位子
としては、CN 、 80.”、AaO□、NH,、H
2O、。
H2N−NH2およびCOなどを例示しうる。このよシ
! うなMysおよびLを含む一般式Mn(CQ)hLで表
わされる金属錯イオンとしては、例えば、(re(CN
)6) 、(Fe(CN)6) 、CFe(CN)
s。
! うなMysおよびLを含む一般式Mn(CQ)hLで表
わされる金属錯イオンとしては、例えば、(re(CN
)6) 、(Fe(CN)6) 、CFe(CN)
s。
H2O) 、(Pg(CN)5・Co) および(
Ru (CN ) 6] などが挙げられる。
Ru (CN ) 6] などが挙げられる。
次に1複合高分子電解質内に上記の多核金属錯体を含有
せしめる方法としては、次に示す固相重合法が有効であ
る。即ち、複合高分子電解質膜がアニオン性解離基を有
する場合には、MXAで表わを浸漬し、イオン交換反応
によりMXAで表わされる金属イオンを含有せしめた後
、一般式M B (CN ) s L で表わされる
金属錯イオンの供給物質、例えば、Ks (B’e (
CN) 6 )、Cs 5(1’ e (CN ) 6
]、Ka (k e (CN )b )、K2(Fe
(CN)5−H2O)、K2 (B”e (ON )
s 。
せしめる方法としては、次に示す固相重合法が有効であ
る。即ち、複合高分子電解質膜がアニオン性解離基を有
する場合には、MXAで表わを浸漬し、イオン交換反応
によりMXAで表わされる金属イオンを含有せしめた後
、一般式M B (CN ) s L で表わされる
金属錯イオンの供給物質、例えば、Ks (B’e (
CN) 6 )、Cs 5(1’ e (CN ) 6
]、Ka (k e (CN )b )、K2(Fe
(CN)5−H2O)、K2 (B”e (ON )
s 。
Co)又はKa (シ(CN) b )などの水溶液に
浸漬させることにより、多核金属錯体を上記複合高分子
電解質膜に好適に含有せしめることができる。
浸漬させることにより、多核金属錯体を上記複合高分子
電解質膜に好適に含有せしめることができる。
上記のMXで表わされる金属イオンを含む水溶液及び一
般式MA(CN)5L”で表わされる金属錯イオンを含
む水溶液は任意の濃度でよいが、濃度が低くすぎると反
応に時間を要するので、0.5mM〜50mMの濃度が
好ましい。多核金属錯体を含有した腹合高分子電解質膜
内に残留する未反応の金属イオンを除去するため、例え
ば、KCI、RbC[、CsC1又はNH2O1などの
任意の濃度の水溶液に錯体含有膜を浸漬させることによ
シ、未反応金属イオンをK 、 Rh 、Ca 、 N
H4などの陽イオンと交換することができる。複合高分
子電解質膜がカチオン性解離基を有する場合には、上記
とは逆の順序でM B(CN ) s L 及びMX
Aを逐次膜内に含有させることにより、多核金属錯体を
複合高分子・区解質膜内に含有させることができる。
般式MA(CN)5L”で表わされる金属錯イオンを含
む水溶液は任意の濃度でよいが、濃度が低くすぎると反
応に時間を要するので、0.5mM〜50mMの濃度が
好ましい。多核金属錯体を含有した腹合高分子電解質膜
内に残留する未反応の金属イオンを除去するため、例え
ば、KCI、RbC[、CsC1又はNH2O1などの
任意の濃度の水溶液に錯体含有膜を浸漬させることによ
シ、未反応金属イオンをK 、 Rh 、Ca 、 N
H4などの陽イオンと交換することができる。複合高分
子電解質膜がカチオン性解離基を有する場合には、上記
とは逆の順序でM B(CN ) s L 及びMX
Aを逐次膜内に含有させることにより、多核金属錯体を
複合高分子・区解質膜内に含有させることができる。
このようにして形成される多核金属錯体は、例えば、(
k’s )5Ck″e (CN)6)2(ターンプル
プルー)、(1’e )4(Fe (CN)6)3
(不溶性プル77yブルー)、xI−゛ (Fe )4(Ru (CN)6)、 (ル?=ウムパ
ープル)、(Fe )4(Os (CT’J)613
(オスミウムパープル)、re (re (CN)5−
H2O)、FeCFC(G+r)5・闇、〕、 x Fe (Be (CT4)s・co)、Pe(Fe (
CN)6) 、 x Co (Fe (CN)6) などの組成式で表わさ
れaCイオンを架橋配位子として原子価状態の異なる同
種又は異種の金属イオンが三次元的に複数個連結してい
るものと思われる。しかし、必らずしも上記のような錯
体組成に限定されず、高分子電解質中に存在する解離基
及び/又はイオンが関与した錯体組成も考えることがで
きる。
k’s )5Ck″e (CN)6)2(ターンプル
プルー)、(1’e )4(Fe (CN)6)3
(不溶性プル77yブルー)、xI−゛ (Fe )4(Ru (CN)6)、 (ル?=ウムパ
ープル)、(Fe )4(Os (CT’J)613
(オスミウムパープル)、re (re (CN)5−
H2O)、FeCFC(G+r)5・闇、〕、 x Fe (Be (CT4)s・co)、Pe(Fe (
CN)6) 、 x Co (Fe (CN)6) などの組成式で表わさ
れaCイオンを架橋配位子として原子価状態の異なる同
種又は異種の金属イオンが三次元的に複数個連結してい
るものと思われる。しかし、必らずしも上記のような錯
体組成に限定されず、高分子電解質中に存在する解離基
及び/又はイオンが関与した錯体組成も考えることがで
きる。
伺、多核金属錯体がイオンの場合には、高分子電解質中
で1価の陽イオンを対イオンとして、電荷が中性な塩と
して存在するが、このような塩としテハ、例えば、KF
e (Fe (CN)6)(可溶プに’/ア/ブルー)
又はKCo (Fe (cN)6) などが挙げられ
る。同、対イオンである1価の陽イオンとしては、K
以外にRb 、 Ca 又は■) なども例示できる
。これらの1価の階イオンは、上記の一般式MYB (
CN )sL で表わされる金属錯イオンの供給物質
、例えば、K3〔Fe(cN)6〕、Ca s (k’
e (cN) 6 )、Ka (F e (CN )
6 )、K2(Fe(ON)s−H2O)、K2 (
1’ e (CN ) s ・Go )、K4 (’B
−u (CN ) b )など、又は、未反応のMXA
で表わされる金属イオンの除去のために使用したKCI
、RbC1、CaC1、■。CIなどの物質から供給さ
れるものである。
で1価の陽イオンを対イオンとして、電荷が中性な塩と
して存在するが、このような塩としテハ、例えば、KF
e (Fe (CN)6)(可溶プに’/ア/ブルー)
又はKCo (Fe (cN)6) などが挙げられ
る。同、対イオンである1価の陽イオンとしては、K
以外にRb 、 Ca 又は■) なども例示できる
。これらの1価の階イオンは、上記の一般式MYB (
CN )sL で表わされる金属錯イオンの供給物質
、例えば、K3〔Fe(cN)6〕、Ca s (k’
e (cN) 6 )、Ka (F e (CN )
6 )、K2(Fe(ON)s−H2O)、K2 (
1’ e (CN ) s ・Go )、K4 (’B
−u (CN ) b )など、又は、未反応のMXA
で表わされる金属イオンの除去のために使用したKCI
、RbC1、CaC1、■。CIなどの物質から供給さ
れるものである。
以上のようにして得られた多核金属錯体を含む複合高分
子電解質膜(以下高分子錯体膜と言う、)は、電極基板
と接合することにより、全固体型薄膜のエレクトロクロ
ミツソ表示素子を構成することができる。該高分子錯体
膜と電極基板の接合方法としては、該高分子一体膜の両
面に真空蒸着法、スパッタリング法、無心解メツ午法な
どによシ金、白金などの電気化学的に不活性な金属の半
透明薄St−コーティングして、これを電極基板とする
ことも可能であるし、或いは、2枚の透明電極基板、例
えば、ネサガラス、導電性透明プラスチックフィルムな
どを電極基板として該高分子錯体膜に圧着することもで
きる。
子電解質膜(以下高分子錯体膜と言う、)は、電極基板
と接合することにより、全固体型薄膜のエレクトロクロ
ミツソ表示素子を構成することができる。該高分子錯体
膜と電極基板の接合方法としては、該高分子一体膜の両
面に真空蒸着法、スパッタリング法、無心解メツ午法な
どによシ金、白金などの電気化学的に不活性な金属の半
透明薄St−コーティングして、これを電極基板とする
ことも可能であるし、或いは、2枚の透明電極基板、例
えば、ネサガラス、導電性透明プラスチックフィルムな
どを電極基板として該高分子錯体膜に圧着することもで
きる。
以上のようにして得られた全固体エレクトロタ10ミツ
ク表示素子の作動原理を簡単に説明する。
ク表示素子の作動原理を簡単に説明する。
上記の高分子錯体膜において、膜断面のX線解析及び顕
微鏡観察より、多核金属錯体が複合高分子電解質膜の外
層部にのみ析出し、EC剤/固体電解質/EC剤という
ミクロ不均一な積層構造を有することが確認されている
。従って、該膜を2枚の支持電極に接合した全固体セル
においては、陽極上では多核金属錯体が高原子価状態に
酸化される一方、陰極上では同錯体が低原子価状態に還
元される。その際、錯体の酸化及び還元にともない色が
可逆的に変化するので、該薄膜セルの両面で異なる色変
化を示すことができる。更に、酸化側及び還元側の各E
C剤が上記のように直接接していないため、相互間の色
調干渉を起さないばかりか、各EC剤間の逆電子移動反
応が抑制され表示のメモリー性が発現される。
微鏡観察より、多核金属錯体が複合高分子電解質膜の外
層部にのみ析出し、EC剤/固体電解質/EC剤という
ミクロ不均一な積層構造を有することが確認されている
。従って、該膜を2枚の支持電極に接合した全固体セル
においては、陽極上では多核金属錯体が高原子価状態に
酸化される一方、陰極上では同錯体が低原子価状態に還
元される。その際、錯体の酸化及び還元にともない色が
可逆的に変化するので、該薄膜セルの両面で異なる色変
化を示すことができる。更に、酸化側及び還元側の各E
C剤が上記のように直接接していないため、相互間の色
調干渉を起さないばかりか、各EC剤間の逆電子移動反
応が抑制され表示のメモリー性が発現される。
全固体型薄膜表示素子を作ることがこの分野において一
つの目標とされているが、これに利用できる製造技術と
しては従来蒸着法しかなかった〇本発明の高分子錯体膜
並びにこれを用いた表示素子の製造技術は、従来法より
も生産性の高い新しいプロセスを提供するものであって
、以下のような特徴を有する: (1) ″錯体固相型合法7という新規な湿式法により
、EC剤と高分子固体電解質をきわめて簡便、経済的か
つ能率的に薄膜積層化することが可能である。
つの目標とされているが、これに利用できる製造技術と
しては従来蒸着法しかなかった〇本発明の高分子錯体膜
並びにこれを用いた表示素子の製造技術は、従来法より
も生産性の高い新しいプロセスを提供するものであって
、以下のような特徴を有する: (1) ″錯体固相型合法7という新規な湿式法により
、EC剤と高分子固体電解質をきわめて簡便、経済的か
つ能率的に薄膜積層化することが可能である。
(2)素子全体をフレキシブルな簿mJこできるため、
従来困難であった曲面画素を構成することが可能である
。
従来困難であった曲面画素を構成することが可能である
。
(3)全回体製であるので、漏液がなく接続部品の腐蝕
等の問題が発生しない。
等の問題が発生しない。
(4) 大面積化が容易なため、例えば大盤フラット
パネル表示に応用可能である0 次に、実施例により本発明を具体的に説明する。
パネル表示に応用可能である0 次に、実施例により本発明を具体的に説明する。
実施例1
可溶性ナフィオン(商標:デュポン社、5wt%水−ア
ルコール溶液)20μ!を、ポリテトラフルオロエチレ
ン多孔質膜フロロポア(商標:住友電工(株)、孔径1
、Op/lL、膜厚100 μ+)の膜片(表面積Z
ct! )上に塗布し室温で風乾後40”Oにて一晩
減圧乾燥した。このようにして得た複合高分子電解質膜
をアルゴン気流下で10mM塩化第一鉄水溶液に約1時
間浸漬し水洗後、アルゴン気流下で0.5mMフェリシ
アン化カリウム水溶液に約15時間浸漬した。この際膜
内において多核金属錯体が析出するのにともない、膜は
ターンプルブルー特有の青色に均一着色した。次に得ら
れた青色膜を1M塩化カリウム水溶液に数時間浸漬する
ことにより、膜内に残存する喚饅応Fe 2 + <オ
ントイオΣ ンと交換することによって膜中からFe2+イオンを除
去した。
ルコール溶液)20μ!を、ポリテトラフルオロエチレ
ン多孔質膜フロロポア(商標:住友電工(株)、孔径1
、Op/lL、膜厚100 μ+)の膜片(表面積Z
ct! )上に塗布し室温で風乾後40”Oにて一晩
減圧乾燥した。このようにして得た複合高分子電解質膜
をアルゴン気流下で10mM塩化第一鉄水溶液に約1時
間浸漬し水洗後、アルゴン気流下で0.5mMフェリシ
アン化カリウム水溶液に約15時間浸漬した。この際膜
内において多核金属錯体が析出するのにともない、膜は
ターンプルブルー特有の青色に均一着色した。次に得ら
れた青色膜を1M塩化カリウム水溶液に数時間浸漬する
ことにより、膜内に残存する喚饅応Fe 2 + <オ
ントイオΣ ンと交換することによって膜中からFe2+イオンを除
去した。
このようにして作製した高分子錯体膜を2枚の透明なI
TO電極(インジウム−スズ酸化物コートガラス:松崎
真空(株)、表ホ約ioΩ/口)の間に圧着し、これら
2枚の電極の一方を作用極とし、もう一方を対極として
参照極のない2極全固体セルとしてポルタッグラムを求
めた。そのときの電圧−電流曲線を第1図に示した。こ
の図は、上記の青色錯体が異なる複数の酸化還元状態を
有していることを示すものである◇尚、この曲線は電圧
の掃引速度を10mV/Sとしたときのものであるが、
この値を変えることによって電圧−電流曲線の波形は多
少変化した。更に、この波形<−t’9’を中心として
正側及び負側に対称的にピークが出現することを示して
おり、電池活物質である高分子錯体の電気化学的に正負
対称であることを示すものである。また、¥Vのピーク
と±0.68Vの両端ピークの高さの比は試料並び番こ
t位印加の仕方により多少の変動が認められた。ところ
で、当該素子は高分子錯体の酸化還元にともなって可逆
的に色変化した0即ち、1.5Vの電圧を印加する゛と
、膜の片方では青色から黄緑色に、反対面では青色から
白色にそれぞれ変化しゃ(消色過程)、両端子を短絡す
ると膜の両面とも元の青色に戻った。
TO電極(インジウム−スズ酸化物コートガラス:松崎
真空(株)、表ホ約ioΩ/口)の間に圧着し、これら
2枚の電極の一方を作用極とし、もう一方を対極として
参照極のない2極全固体セルとしてポルタッグラムを求
めた。そのときの電圧−電流曲線を第1図に示した。こ
の図は、上記の青色錯体が異なる複数の酸化還元状態を
有していることを示すものである◇尚、この曲線は電圧
の掃引速度を10mV/Sとしたときのものであるが、
この値を変えることによって電圧−電流曲線の波形は多
少変化した。更に、この波形<−t’9’を中心として
正側及び負側に対称的にピークが出現することを示して
おり、電池活物質である高分子錯体の電気化学的に正負
対称であることを示すものである。また、¥Vのピーク
と±0.68Vの両端ピークの高さの比は試料並び番こ
t位印加の仕方により多少の変動が認められた。ところ
で、当該素子は高分子錯体の酸化還元にともなって可逆
的に色変化した0即ち、1.5Vの電圧を印加する゛と
、膜の片方では青色から黄緑色に、反対面では青色から
白色にそれぞれ変化しゃ(消色過程)、両端子を短絡す
ると膜の両面とも元の青色に戻った。
(着色過程)。このときの応答速度は、第2図1ζ示す
ように、初期電流値の半減期から求めると着消色いずれ
の過程も約0.5秒であった◇肉限的Cζは2〜3秒で
画面の色がほぼ完全に変化することが認められた。尚、
着消色を少なくとも50回繰り返した後でも、該エレク
トロクロミック表示素子の特性は何ら変化しなかった。
ように、初期電流値の半減期から求めると着消色いずれ
の過程も約0.5秒であった◇肉限的Cζは2〜3秒で
画面の色がほぼ完全に変化することが認められた。尚、
着消色を少なくとも50回繰り返した後でも、該エレク
トロクロミック表示素子の特性は何ら変化しなかった。
実施例2
実施例1で用いた可溶性ナフイ、オン30μlを、ポリ
エチレン多孔質膜ハイボア300(商標:旭化成(株)
、孔径0.5μ蝋、膜厚50741)の膜片(表面積2
cIL)c7)上に塗布し富温で風乾後、40℃にて一
晩減圧乾燥した。このようにして得た複合高分子電解質
膜をアルゴン気流下で10mM塩化第一鉄水溶液に約1
時間浸漬し水洗後、アルゴン気流下で10mM シアン
化第二鉄カルボニルカリウム(K2(re(CN)5−
Co))水溶液に約15時間浸漬し化Fe2+イオンの
除去を行なった。
エチレン多孔質膜ハイボア300(商標:旭化成(株)
、孔径0.5μ蝋、膜厚50741)の膜片(表面積2
cIL)c7)上に塗布し富温で風乾後、40℃にて一
晩減圧乾燥した。このようにして得た複合高分子電解質
膜をアルゴン気流下で10mM塩化第一鉄水溶液に約1
時間浸漬し水洗後、アルゴン気流下で10mM シアン
化第二鉄カルボニルカリウム(K2(re(CN)5−
Co))水溶液に約15時間浸漬し化Fe2+イオンの
除去を行なった。
このようにして作製した高分子錯体膜を実施例1で示し
たのと同様の方法でエレクト・り・9′・り表示特性を
調べた結果、色調変化、応答速度、繰り返し安定性等に
おいて実施例1に示したものとほぼ同様の成績が得られ
た。
たのと同様の方法でエレクト・り・9′・り表示特性を
調べた結果、色調変化、応答速度、繰り返し安定性等に
おいて実施例1に示したものとほぼ同様の成績が得られ
た。
実施例3
ポリスチレンスルホン酸ナトリウム(PS8Na。
分子量20,000)とポリビニルアルコール(PVA
。
。
分子量22,000)をエタノール/水(1/1容積比
)の混合溶媒に溶解(重量比PVA/PS8Na=3/
2)L/、ポリマー濃度5wtチのキャスト溶液を調製
した。この溶液40μlに10%ゲルタールアルデヒド
−′のエタノール/水溶液(エタノール/水5,1省比
1/1)40μlを加え、これをポリエチレン多孔質膜
ハイボアの膜片(表面積4cm2)上に塗布し、両面を
テフロン膜でおおい60℃にて数時間加熱した。
)の混合溶媒に溶解(重量比PVA/PS8Na=3/
2)L/、ポリマー濃度5wtチのキャスト溶液を調製
した。この溶液40μlに10%ゲルタールアルデヒド
−′のエタノール/水溶液(エタノール/水5,1省比
1/1)40μlを加え、これをポリエチレン多孔質膜
ハイボアの膜片(表面積4cm2)上に塗布し、両面を
テフロン膜でおおい60℃にて数時間加熱した。
このようにして得られた複合高分子電解質膜に1実施例
1に示した方法に準じてFe とFe(CN)ニーか
ら成る多核金属錯体を含有させた。得られた高分子錯体
膜を2枚のITO電極間に圧着してエレクトロクロミッ
ク表示特性を調べたところ、実施例1に示した結果とほ
ぼ同じであった。
1に示した方法に準じてFe とFe(CN)ニーか
ら成る多核金属錯体を含有させた。得られた高分子錯体
膜を2枚のITO電極間に圧着してエレクトロクロミッ
ク表示特性を調べたところ、実施例1に示した結果とほ
ぼ同じであった。
実施例4
ポリビニルアルコール(PVA、分子量22.000
)とポリスチレンスルホン酸ナトリウム(P88ANa
。
)とポリスチレンスルホン酸ナトリウム(P88ANa
。
分子fjk20,000)をエタノール/水(1/l
容積比)の混合溶媒に溶解(重量比PVA/P8SN
a = 3/2 )し、ポリマー濃度IQwt%のキャ
スト溶液を調製した。これにチタン白粉末を1wt%に
なるように添加し超音波を数十秒間照射し、チタン白を
均一に分散させた。得られた分散液をテフロン板上に流
延し、30℃で士時間加温後、120℃で2時間加熱処
理した。その後、基板ごと水中に浸漬して膜をはがした
。
容積比)の混合溶媒に溶解(重量比PVA/P8SN
a = 3/2 )し、ポリマー濃度IQwt%のキャ
スト溶液を調製した。これにチタン白粉末を1wt%に
なるように添加し超音波を数十秒間照射し、チタン白を
均一に分散させた。得られた分散液をテフロン板上に流
延し、30℃で士時間加温後、120℃で2時間加熱処
理した。その後、基板ごと水中に浸漬して膜をはがした
。
このようにして作製した複合高分子電解質膜に実施例1
に示した方法に準じてFe とFC(cN)ニーから
成る多核金属錯体を含有させた。得られた高分子錯体膜
を2枚のITOt極間に圧着してエレクトロクロミック
表示特性を調べた結果、実施例1に示したものとほぼ同
様の成績が得られた。
に示した方法に準じてFe とFC(cN)ニーから
成る多核金属錯体を含有させた。得られた高分子錯体膜
を2枚のITOt極間に圧着してエレクトロクロミック
表示特性を調べた結果、実施例1に示したものとほぼ同
様の成績が得られた。
実施例5
t−ブチルアクリルアミドスルホン酸(TBA8゜日東
化学(株))2IとN、N−メチレンビスアクリルアミ
ド0.3.9及びα、α′−アゾビスイソブチロニトリ
ル0.15Fをジメチルホルムアミド7.2Ilこ溶解
した。この溶液1OOfilをポリエチレン多孔質膜ハ
イボア300の膜片(表面積4J)に塗布し膜の両面を
テフロン膜でおおい、アルゴン雰囲気下50℃で30時
間加熱重合した。
化学(株))2IとN、N−メチレンビスアクリルアミ
ド0.3.9及びα、α′−アゾビスイソブチロニトリ
ル0.15Fをジメチルホルムアミド7.2Ilこ溶解
した。この溶液1OOfilをポリエチレン多孔質膜ハ
イボア300の膜片(表面積4J)に塗布し膜の両面を
テフロン膜でおおい、アルゴン雰囲気下50℃で30時
間加熱重合した。
このようにして得られた複合高分子電解質に、実施例2
に示した方法番ζ準じてFe とFe(CN)ニーか
ら成る多核金属錯体を含有させた。得られた高分子錯体
膜を2枚のITO電極間に圧着してエレクトロクロミッ
ク表示特性を調べた結果、実施例1で示したものと同程
度の結果を得た。
に示した方法番ζ準じてFe とFe(CN)ニーか
ら成る多核金属錯体を含有させた。得られた高分子錯体
膜を2枚のITO電極間に圧着してエレクトロクロミッ
ク表示特性を調べた結果、実施例1で示したものと同程
度の結果を得た。
実施例6
ポリスチレンスルホン酸ナトリウム(P88Na。
分子量20,000)及びアクリロニトリル−スチレン
共重合体(PAS t 、共重合体中のスチレン組成4
4モルS)をジメチルスルホキシドに溶解(重量比 P
S8Na/PA8t=l/l)L、ポリマー濃度□5w
t%のキャスト溶液を調製した。この溶液60μlをポ
リエチレン多孔質膜ハイボアの膜片(表面積2 cn*
2)上に塗布し、50”Oにて一日減圧乾燥した。
共重合体(PAS t 、共重合体中のスチレン組成4
4モルS)をジメチルスルホキシドに溶解(重量比 P
S8Na/PA8t=l/l)L、ポリマー濃度□5w
t%のキャスト溶液を調製した。この溶液60μlをポ
リエチレン多孔質膜ハイボアの膜片(表面積2 cn*
2)上に塗布し、50”Oにて一日減圧乾燥した。
このようにして得られた複合高分子電解質膜に実施例1
に示した方法に準じてFe とFe(CN)七から成
る多核金属錯体を含有させた。得られた高分子錯体膜を
2枚のITO電極間に圧着してエレクトロクロミック表
示特性を調べた結果、応答速度及び繰り返し安定性は実
施例1に示した膜と同程度であった。
に示した方法に準じてFe とFe(CN)七から成
る多核金属錯体を含有させた。得られた高分子錯体膜を
2枚のITO電極間に圧着してエレクトロクロミック表
示特性を調べた結果、応答速度及び繰り返し安定性は実
施例1に示した膜と同程度であった。
第1図は本発明のエレクトロクロミック表示素子のポル
タッグラムの1例を示す。 第2図は本発明のエレクトロクロミック表示素子の着消
色過程の応答速度の1例を示す。 第1図 成 圧(V) 第 2 図 5.補正の内容 手続補正書(自発) 昭和61年10月 22日 特許庁長官 黒 1)明 雄 殿 1、事件の表示 昭和60年特許願第 201665 号2、発明の名
称 高分子錯体膜及びエレクトロクロミンク表示素子 3、補正をする者 「発明の詳細な説明」の欄 ら膚る各眩金鳳七体を金言させた。得られた高(1)本
願明細書29頁12行〜13行の間に下記挿入する。 記 実施例7 ポリスチレンスルホン酸ナトリウム(PSSN a %
分子量20.000)とポリビニルアルコール(PVA
、分子量22.000)をイオン交換蒸留水に溶解(重
量比P V A / P S S N a = 3 /
2 )し、ポリマー4度15wt%のキャスト溶液を
調整した。この溶液40μlに25%ゲルタールアルデ
ヒド160μlを加え、これを多孔質ポリエステル不織
布(日本バイリーン類)の膜片(表面積4ctJ)上に
塗布し、両面をテフロン膜でおおい45℃にて数十時間
加熱した。このようにして得られた複合高分子電解質膜
に、実例1に示した方法に準じてFe”とFe (CN
)”6か分子錯体膜を2枚にITO電極に圧着してエ
レクトロクロミック表示特性を調べたところ、実施例1
に示した結果とほぼ同じであった。 実施例8 ポリビニルアルコール(PVA、 分子量22.000
)をポリスチレンスルホン酸ナトリウム(PSSNa、
分子量20.000)をイオン交換蒸留水に溶解(重量
比PVA/PSSNa−3/2)L、ポリマー濃度15
wt%のキャスト溶液を調整した。これに25%ゲルタ
ールアルデヒド3Qwt%また、チタン白粉末を1wt
%になるように添加し、超音波数十秒間照射し、チタン
白を均一に分散させた。得られた。 分散液をテフロン板上に流延し、45℃にて数時間加温
後、基板ごと水中に浸漬して膜をはがした。このよにし
て作製した複合高分子電解質膜に実施例1に示した方法
に準してFe”とFe(CN)1.−から成る多核金属
錯体を含有させた。 得られた高分子錯体膜を2枚にITO電極間に圧着して
エレクトロクロミック表示特性を調べたところ、実施例
1に示したものとほぼ同様の成績が得られた。 実施例9 t−ブチルアクリルアミドスルホン酸 (TBAS、日東化学■)0.5gとN、N−メチレン
ビスアクリルアミド0.5g及び過硫酸アンモニウム0
.013gを60℃に加温したイオン交換蒸留水4gに
溶解した。この溶液2.6gをガラス皿(面積18cd
)上に流延し70℃で2時間加熱重合した。このように
して得られた複合高分子電解質に、実施例2に示した方
法に準じてFe”とFe(CN)’iから成る多核金属
錯体を含有させた。得られた高分子錯体膜を2枚にIT
O電極に圧着してニレクロミック表示特性を調べた結果
、実施例1で示したものと同程度の結果を得た。 以上 手続補正書(自発) 昭和61年)o月31日 特許庁長官 黒 1)明 雄 殿 1、事件の表示 昭和60年特許願第 201665 号2、発明の名
称 高分子錯体膜及びエレクトロクロミック表示素子 3、補正をする者 [発明の詳細な説明Jの欄 5、補正の内容 (1) 昭和61年lθ月22日付提出の手続補正書
第2頁12行の「調整」を’ !11 HJに訂正する
。 (2) 同第2頁12行ノ「コノ溶液40ulに25
%ゲルタールアルデヒド160μlを加え、」を「この
溶液40μlに25%ゲルタールアルデヒド160μl
を加え、jに訂正する。 (3)同第2頁17行〜最下行の「実施1」を「実施例
IJに訂正する。 (4) 同第3頁2行の「2枚に」を22枚の」に訂
る。 (6) 同第3頁11行の「調整」をr調製jに訂正
する。 (7) 同第3頁11行〜12行の「ゲルタールアル
デヒド13Qwt%また」を「グルタールアルデヒトを
9Qwt%に」に訂正する。 (8)同第3頁13行〜14行の「超音波数十秒間照射
し、」をr超音波を数十秒間照射して」に訂正する。 (9) 同第3頁il1行の「得られ?、:#J(7
)’*Jt−削除する。 α0 同第3頁15行〜16行の「数時間」をr数十時
間jに訂正する。 αυ 同第4頁3行の「2枚に」を12枚の1に訂正す
る。 (ロ)同第4頁最下行の「2枚に」を12枚の1に訂正
する。 以上
タッグラムの1例を示す。 第2図は本発明のエレクトロクロミック表示素子の着消
色過程の応答速度の1例を示す。 第1図 成 圧(V) 第 2 図 5.補正の内容 手続補正書(自発) 昭和61年10月 22日 特許庁長官 黒 1)明 雄 殿 1、事件の表示 昭和60年特許願第 201665 号2、発明の名
称 高分子錯体膜及びエレクトロクロミンク表示素子 3、補正をする者 「発明の詳細な説明」の欄 ら膚る各眩金鳳七体を金言させた。得られた高(1)本
願明細書29頁12行〜13行の間に下記挿入する。 記 実施例7 ポリスチレンスルホン酸ナトリウム(PSSN a %
分子量20.000)とポリビニルアルコール(PVA
、分子量22.000)をイオン交換蒸留水に溶解(重
量比P V A / P S S N a = 3 /
2 )し、ポリマー4度15wt%のキャスト溶液を
調整した。この溶液40μlに25%ゲルタールアルデ
ヒド160μlを加え、これを多孔質ポリエステル不織
布(日本バイリーン類)の膜片(表面積4ctJ)上に
塗布し、両面をテフロン膜でおおい45℃にて数十時間
加熱した。このようにして得られた複合高分子電解質膜
に、実例1に示した方法に準じてFe”とFe (CN
)”6か分子錯体膜を2枚にITO電極に圧着してエ
レクトロクロミック表示特性を調べたところ、実施例1
に示した結果とほぼ同じであった。 実施例8 ポリビニルアルコール(PVA、 分子量22.000
)をポリスチレンスルホン酸ナトリウム(PSSNa、
分子量20.000)をイオン交換蒸留水に溶解(重量
比PVA/PSSNa−3/2)L、ポリマー濃度15
wt%のキャスト溶液を調整した。これに25%ゲルタ
ールアルデヒド3Qwt%また、チタン白粉末を1wt
%になるように添加し、超音波数十秒間照射し、チタン
白を均一に分散させた。得られた。 分散液をテフロン板上に流延し、45℃にて数時間加温
後、基板ごと水中に浸漬して膜をはがした。このよにし
て作製した複合高分子電解質膜に実施例1に示した方法
に準してFe”とFe(CN)1.−から成る多核金属
錯体を含有させた。 得られた高分子錯体膜を2枚にITO電極間に圧着して
エレクトロクロミック表示特性を調べたところ、実施例
1に示したものとほぼ同様の成績が得られた。 実施例9 t−ブチルアクリルアミドスルホン酸 (TBAS、日東化学■)0.5gとN、N−メチレン
ビスアクリルアミド0.5g及び過硫酸アンモニウム0
.013gを60℃に加温したイオン交換蒸留水4gに
溶解した。この溶液2.6gをガラス皿(面積18cd
)上に流延し70℃で2時間加熱重合した。このように
して得られた複合高分子電解質に、実施例2に示した方
法に準じてFe”とFe(CN)’iから成る多核金属
錯体を含有させた。得られた高分子錯体膜を2枚にIT
O電極に圧着してニレクロミック表示特性を調べた結果
、実施例1で示したものと同程度の結果を得た。 以上 手続補正書(自発) 昭和61年)o月31日 特許庁長官 黒 1)明 雄 殿 1、事件の表示 昭和60年特許願第 201665 号2、発明の名
称 高分子錯体膜及びエレクトロクロミック表示素子 3、補正をする者 [発明の詳細な説明Jの欄 5、補正の内容 (1) 昭和61年lθ月22日付提出の手続補正書
第2頁12行の「調整」を’ !11 HJに訂正する
。 (2) 同第2頁12行ノ「コノ溶液40ulに25
%ゲルタールアルデヒド160μlを加え、」を「この
溶液40μlに25%ゲルタールアルデヒド160μl
を加え、jに訂正する。 (3)同第2頁17行〜最下行の「実施1」を「実施例
IJに訂正する。 (4) 同第3頁2行の「2枚に」を22枚の」に訂
る。 (6) 同第3頁11行の「調整」をr調製jに訂正
する。 (7) 同第3頁11行〜12行の「ゲルタールアル
デヒド13Qwt%また」を「グルタールアルデヒトを
9Qwt%に」に訂正する。 (8)同第3頁13行〜14行の「超音波数十秒間照射
し、」をr超音波を数十秒間照射して」に訂正する。 (9) 同第3頁il1行の「得られ?、:#J(7
)’*Jt−削除する。 α0 同第3頁15行〜16行の「数時間」をr数十時
間jに訂正する。 αυ 同第4頁3行の「2枚に」を12枚の1に訂正す
る。 (ロ)同第4頁最下行の「2枚に」を12枚の1に訂正
する。 以上
Claims (4)
- (1)不透明背景体と高分子電解質とからなる複合高分
子電解質膜に多核金属錯体を含有してなる高分子錯体膜
。 - (2)多核金属錯体が一般式M^X_Aで表わされる遷
移金属イオンと一般式M^Y_B(CN)_5L^Zで
表わされる金属錯アニオンとから形成される特許請求の
範囲第1項記載の高分子錯体膜(ただし、M^X_A及
びM^Y_BはそれぞれX価及びY価の遷移金属イオン
を表わし、L^ZはZ価の配位子を表わす。)。 - (3)不透明背景体と高分子電解質とからなる複合高分
子電解質膜に多核金属錯体を含有してなる高分子錯体膜
と電極基板とを接合してなるエレクトロクロミック表示
素子。 - (4)多核金属錯体が一般式M^X_Aで表わされる遷
移金属イオンと一般式M^Y_B(CN)_5L^Zで
表わされる金属錯アニオンとから形成される特許請求の
範囲第3項記載のエレクトロクロミック表示素子(ただ
し、M^X_A及びM^Y_BはそれぞれX価及びY価
の遷移金属イオンを表わし、L^ZはZ価の配位子を表
わす。)。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60201665A JPH0730312B2 (ja) | 1985-09-13 | 1985-09-13 | 高分子錯体膜及びエレクトロクロミツク表示素子 |
| EP19860104314 EP0197465A3 (en) | 1985-03-29 | 1986-03-27 | Solid electrochemically reactive materials and thin-film devices using the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60201665A JPH0730312B2 (ja) | 1985-09-13 | 1985-09-13 | 高分子錯体膜及びエレクトロクロミツク表示素子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6284176A true JPS6284176A (ja) | 1987-04-17 |
| JPH0730312B2 JPH0730312B2 (ja) | 1995-04-05 |
Family
ID=16444865
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60201665A Expired - Lifetime JPH0730312B2 (ja) | 1985-03-29 | 1985-09-13 | 高分子錯体膜及びエレクトロクロミツク表示素子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0730312B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013214061A (ja) * | 2012-03-07 | 2013-10-17 | Nec Corp | 電極及びその製造方法 |
-
1985
- 1985-09-13 JP JP60201665A patent/JPH0730312B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013214061A (ja) * | 2012-03-07 | 2013-10-17 | Nec Corp | 電極及びその製造方法 |
| JP2013214060A (ja) * | 2012-03-07 | 2013-10-17 | Nec Corp | 化合物粒子の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0730312B2 (ja) | 1995-04-05 |
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