JPS628505Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS628505Y2 JPS628505Y2 JP1397277U JP1397277U JPS628505Y2 JP S628505 Y2 JPS628505 Y2 JP S628505Y2 JP 1397277 U JP1397277 U JP 1397277U JP 1397277 U JP1397277 U JP 1397277U JP S628505 Y2 JPS628505 Y2 JP S628505Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- sample
- diffuser
- photoelectric conversion
- conversion element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は測光装置に関するものである。
測光装置、例えば分光光度計において、ガラス
ブロツクやレンズなどのように高い屈折率をもつ
試料の透過光を測定する場合には、このような試
料は光を屈折させるので透過光が集束あるいは発
散され従つて試料によつて検出器の受光面におけ
る光束の断面形状あるいは大きさが変化し、この
ため受光面の局所的な感度むらの影響を強く受け
正確な透過光の測定が行われ難い。
ブロツクやレンズなどのように高い屈折率をもつ
試料の透過光を測定する場合には、このような試
料は光を屈折させるので透過光が集束あるいは発
散され従つて試料によつて検出器の受光面におけ
る光束の断面形状あるいは大きさが変化し、この
ため受光面の局所的な感度むらの影響を強く受け
正確な透過光の測定が行われ難い。
この点にかんがみ、測光部に積分球を用いこれ
を試料からの光束の光軸方向に変位させて光束に
対する積分球の位置を調整することが行われてい
る。しかしこの方式によれば積分球の入口附近の
光束の断面の大きさを等しくすることはできるけ
れども、光束が積分球の内壁に当る部分の面積
は、入口附近の光束断面が等しくても、試料によ
つて変わるので積分球内壁面の塗料の局所的なむ
らによる影響が特に400nmより短かい紫外域では
大きく、正確な測定ができない。
を試料からの光束の光軸方向に変位させて光束に
対する積分球の位置を調整することが行われてい
る。しかしこの方式によれば積分球の入口附近の
光束の断面の大きさを等しくすることはできるけ
れども、光束が積分球の内壁に当る部分の面積
は、入口附近の光束断面が等しくても、試料によ
つて変わるので積分球内壁面の塗料の局所的なむ
らによる影響が特に400nmより短かい紫外域では
大きく、正確な測定ができない。
本考案はこの点にかんがみ提案されたもので、
光源と、分光器と、試料保持部と、光検出器とか
らなり、この光検出器を、受光面の前面に密接ま
たは近接して光拡散体が配備された光電変換素子
と、この素子を試料からの光の光軸方向に変位自
在に保持する手段とによつて構成したことを特徴
とするものである。
光源と、分光器と、試料保持部と、光検出器とか
らなり、この光検出器を、受光面の前面に密接ま
たは近接して光拡散体が配備された光電変換素子
と、この素子を試料からの光の光軸方向に変位自
在に保持する手段とによつて構成したことを特徴
とするものである。
以下、図示実施例に従つて詳細に説明する。
第１図において、１は光源、２は分光器、３は
試料保持部、４は試料、例えば光学レンズ、５は
検出器、６はデイフユーザ、７は光電変換素子、
例えば光電子増倍管である。デイフユーザ６は光
電子増倍管７の受光面の前面に近接または密接し
て配備される。
試料保持部、４は試料、例えば光学レンズ、５は
検出器、６はデイフユーザ、７は光電変換素子、
例えば光電子増倍管である。デイフユーザ６は光
電子増倍管７の受光面の前面に近接または密接し
て配備される。
光源からの光は分光器で分光され、その単色光
が試料のレンズに照射される。試料を透過した光
はデイフユーザに照射され拡散された光が光電子
増倍管７に入射される。
が試料のレンズに照射される。試料を透過した光
はデイフユーザに照射され拡散された光が光電子
増倍管７に入射される。
本考案の特徴はデイフユーザを備えた光電変換
素子を試料を透過した光の光軸方向に変位調整し
デイフユーザに当る光束の断面形状を試料の違い
にかかわりなく実質上同一に保持できるようにし
たことにある。
素子を試料を透過した光の光軸方向に変位調整し
デイフユーザに当る光束の断面形状を試料の違い
にかかわりなく実質上同一に保持できるようにし
たことにある。
検出器を光軸方向に変位させる機構の一例を第
２図に示す。１０は試料４の透過光の光軸Ｌに平
行に設けた案内ベンチで、上面に凸条１１が設け
られている。１２は光電子増倍管７、デイフユー
ザ６を収納したキヤリツジで、底面に案内ベンチ
１０の凸条１１が嵌合される溝１３を設け、凸条
に沿つて摺動自在となす。凸条１１を「あり形」
とし溝１３を対応する「あり溝」とするのが望ま
しい。
２図に示す。１０は試料４の透過光の光軸Ｌに平
行に設けた案内ベンチで、上面に凸条１１が設け
られている。１２は光電子増倍管７、デイフユー
ザ６を収納したキヤリツジで、底面に案内ベンチ
１０の凸条１１が嵌合される溝１３を設け、凸条
に沿つて摺動自在となす。凸条１１を「あり形」
とし溝１３を対応する「あり溝」とするのが望ま
しい。
１４はキヤリツジを案内ベンチ上の所望位置に
固定するためのねじ、１５はキヤリツジ前面に設
けた入射窓、１６は光電管の出力電気信号を取り
出すためのコードである。
固定するためのねじ、１５はキヤリツジ前面に設
けた入射窓、１６は光電管の出力電気信号を取り
出すためのコードである。
本案の装置によれば、先ず試料を光路中に配置
しないで（エアブランクの状態で）光をデイフユ
ーザに当て100％ラインの調整を行う（第３図
ａ）。このときのデイフユーザ６の表面上の光束
の断面形状ないし大きさｄを例えばデイフユーザ
面の直前に設けたシヤツターの目盛によつて記録
し、この断面形状ないし大きさに試料を入れたと
きの透過光のデイフユーザ面上の断面形状ないし
大きさを合わせるように光電変換素子の位置を調
節すれば、異る試料によるデイフユーザ面上の光
束断面形状ないし大きさの違いに基づく測定誤差
を除くことができる。すなわち、例えば試料が焦
点距離の短い凸レンズ４ａであればキヤリツジ１
２を試料の方に接近させ（第３図ｂ）、逆に試料
が焦点距離の長い凸レンズ４６であればキヤリツ
ジを試料から遠ざけ（第３図ｃ）ることにより、
いずれの場合もデイフユーザ前面上の光束断面形
状ないし大きさをエアブランクにおけるそれに合
致させる。
しないで（エアブランクの状態で）光をデイフユ
ーザに当て100％ラインの調整を行う（第３図
ａ）。このときのデイフユーザ６の表面上の光束
の断面形状ないし大きさｄを例えばデイフユーザ
面の直前に設けたシヤツターの目盛によつて記録
し、この断面形状ないし大きさに試料を入れたと
きの透過光のデイフユーザ面上の断面形状ないし
大きさを合わせるように光電変換素子の位置を調
節すれば、異る試料によるデイフユーザ面上の光
束断面形状ないし大きさの違いに基づく測定誤差
を除くことができる。すなわち、例えば試料が焦
点距離の短い凸レンズ４ａであればキヤリツジ１
２を試料の方に接近させ（第３図ｂ）、逆に試料
が焦点距離の長い凸レンズ４６であればキヤリツ
ジを試料から遠ざけ（第３図ｃ）ることにより、
いずれの場合もデイフユーザ前面上の光束断面形
状ないし大きさをエアブランクにおけるそれに合
致させる。
光電子増倍管は図示実施例では大径のエンドオ
ンタイプのものを使用し、このタイプのものが望
ましいが、サンドオンタイプのものでもよい。ま
た光電管以外にも光導電セルや太陽電池などを用
いてもよい。
ンタイプのものを使用し、このタイプのものが望
ましいが、サンドオンタイプのものでもよい。ま
た光電管以外にも光導電セルや太陽電池などを用
いてもよい。
デイフユーザとしては乳白ガラスを使用できる
が、石英板の両面ないし片面をすり面にしたもの
を使用すれば340nmより短い紫外領域もカバーで
きる。第４図に示すように内面に例えばアルミニ
ユウムを蒸着したパイプ２０の前端にデイフユー
ザ６を装着したものを光電変換素子の前面に配備
してもよい。
が、石英板の両面ないし片面をすり面にしたもの
を使用すれば340nmより短い紫外領域もカバーで
きる。第４図に示すように内面に例えばアルミニ
ユウムを蒸着したパイプ２０の前端にデイフユー
ザ６を装着したものを光電変換素子の前面に配備
してもよい。
ベンチの上面あるいは凸条の上面にはキヤリツ
ジの位置を示す目盛を設けてもよい。また光電変
換素子をデイフユーザと共に変位させる機構も図
示例に限らず、例えばベンチ側に溝を穿設し、キ
ヤリツジに凸条を設けてもよいし、他の構成も可
能である。
ジの位置を示す目盛を設けてもよい。また光電変
換素子をデイフユーザと共に変位させる機構も図
示例に限らず、例えばベンチ側に溝を穿設し、キ
ヤリツジに凸条を設けてもよいし、他の構成も可
能である。
試料は図示のレンズのような固体に限らず液体
試料でもよいこと勿論である。
試料でもよいこと勿論である。
以上のように本考案によれば測光装置におい
て、直前にデイフユーザを配備した光電変換素子
を試料に対して光軸方向に変位させるようにした
ので試料透過光のデイフユーザ面上における光束
断面形状ないし大きさを試料にかかわりなく一定
にすることができるので、光電変換素子の受光面
における局所的感度むらの影響を最小ならしめる
ことができる。また試料と検出器の間の距離を変
えることができるので、懸濁液のような半透明試
料の場合は、検出器を試料に近づけて透過光を感
度よく測定できるし、逆に螢光を発生する試料に
対しては検出器を遠ざけることにより螢光の影響
を実質上完全に除去することができるといつた効
果がある。尚、本考案は分光光度計に限らず他の
測光装置にも実施できること勿論である。
て、直前にデイフユーザを配備した光電変換素子
を試料に対して光軸方向に変位させるようにした
ので試料透過光のデイフユーザ面上における光束
断面形状ないし大きさを試料にかかわりなく一定
にすることができるので、光電変換素子の受光面
における局所的感度むらの影響を最小ならしめる
ことができる。また試料と検出器の間の距離を変
えることができるので、懸濁液のような半透明試
料の場合は、検出器を試料に近づけて透過光を感
度よく測定できるし、逆に螢光を発生する試料に
対しては検出器を遠ざけることにより螢光の影響
を実質上完全に除去することができるといつた効
果がある。尚、本考案は分光光度計に限らず他の
測光装置にも実施できること勿論である。
第１図は本案の構成原理図、第２図は検出器を
光軸方向に変位させる具体的構成の一例を示す斜
視図、第３図ａ〜ｃは動作説明図、第４図はデイ
フユーザの変形例を示す図である。 ４……試料、６……デイフユーザ、７……光電
変換素子、１０……案内ベンチ、１２……キヤリ
ツジ、Ｌ……光軸。
光軸方向に変位させる具体的構成の一例を示す斜
視図、第３図ａ〜ｃは動作説明図、第４図はデイ
フユーザの変形例を示す図である。 ４……試料、６……デイフユーザ、７……光電
変換素子、１０……案内ベンチ、１２……キヤリ
ツジ、Ｌ……光軸。
Claims (1)
- 光源と、分光器と、試料保持部と、光検出器と
からなり、この光検出器を、受光面の前面に密接
または近接して光拡散体が配備された光電変換素
子と、この素子を試料からの光の光軸方向に変位
自在に保持する手段とによつて構成したことを特
徴とする測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1397277U JPS628505Y2 (ja) | 1977-02-07 | 1977-02-07 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1397277U JPS628505Y2 (ja) | 1977-02-07 | 1977-02-07 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS53109488U JPS53109488U (ja) | 1978-09-01 |
| JPS628505Y2 true JPS628505Y2 (ja) | 1987-02-27 |
Family
ID=28833030
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1397277U Expired JPS628505Y2 (ja) | 1977-02-07 | 1977-02-07 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS628505Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6205162B2 (ja) * | 2013-04-12 | 2017-09-27 | パナソニック デバイスＳｕｎｘ株式会社 | 光電センサ及び受光器 |
-
1977
- 1977-02-07 JP JP1397277U patent/JPS628505Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS53109488U (ja) | 1978-09-01 |
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