JPS6285802A - 打抜孔が設けられた被検査物の自動検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈従来の技術〉 一般にＩＣのリードフレーム等のように打抜孔が設けら
れた精密加工部品（以下、被検査物と記す）の外観検査
及び寸法計測には万能投影機が使用されていた。詳しく
は、被検査物を万能投影機の載物台に載せて下方から光
を照射してその被検査物の形状をズームレンズで拡大し
てスクリーン上に投影し、その投影された形状をスクリ
ーン上の十字線を使用して肉眼でもって外観検査及び寸
法計測が行われていた。

〈発明が解決しようとする問題点〉 上記の如き従来の万能投影機を利用した被検査物の外観
検査及び寸法計測に於ては、■その外観検査及び寸法計
測がスクリーン上の十字線を使用して肉眼で行われるの
で、読み取りｘ差が生じろという問題点、■更には手動
により種々の計測が行われるので、被検査物の測定箇所
が多い場合には多大の測定時間を必要とし、しかもその
測定結果を予め設定された公差の許容範囲内にあるかど
うかの照合にも時間を要するという問題点、■しかもこ
れらの測定結果の統計処理が主に人手で行われているた
め、統計処理に費やされろ時間が多大でコストがかかる
という問題点、■更には上記問題点■、■、■のため多
量の被検査物の外観検査及び寸法計測を所定時間内に行
うことができないという問題点があった。

く問題点を解決するための手段〉 上記従来からの問題点を解決すべく鋭意研究した結果、
本発明装置においては、被検査物の外観検査及び寸法計
測が上記スクリーン上の十字線を利用した肉眼による読
み取りで行うという方式を排除して、上記十字線の替わ
りに光センサーを使用した方式で行われており、しかも
測定結果が自動的に処理され、且つ統計処理も自動的に
行われている。

即ち、本発明による被検査物の自動検査装置は（ａ）打
抜孔が設けられた被検査物を載置し且つパルスモータの
駆動により移動可能な載物台と、被検査物の測定位置の
前後を教え込むためのリニアスケールと、スクリーンに
拡大投影された被検査物のエツジを感知するための光セ
ンサーとを具備する万能投影機と、（ｂ）上記万能投影
機のリニアスケールからの信号と光センサーからの信号
とが入力されて被検査物の測定点の座標を決定ずろため
の測定点座標決定手段と、（ｃ）上記測定点座標決定手
段からの信号が入力され且つ上記万能投影機のパルスモ
ータの駆動制御を行うための記憶制御手段と、該記憶制
御手段に入力記憶されたデータに基づいて演算及び統計
処理を行うための演算統計処理手段とからなる中央処理
装置と、（ｄ）上記中央処理装置の演算統計処理手段に
接続されている上記演算及び統計処理結果をプリントア
ウトするためのプリンＩ・手段とからなることを特徴と
している。

く作　用〉 上記の構成により光センサーでスクリーンに拡大投影さ
れた被検査物のエツジを明から暗あるいは暗から明の変
化でとらえるので、読み取り誤差が生じない。又、測定
点座標決定手段にて被検査物の測定点の座標が自動的に
決まり、しかも測定点座標に基づくデータの処理が中央
処理装置にて自動的に行われ、その処理結果がプリント
手段にてプリントアウトされろ。

以下、本発明を第１図〜第２図に示された実施例に基づ
いて説明する。

第１図りよ本発明装置の概要を示すブロック図で、第１
図において１は万能投影機、１１は測定点座標決定手段
、１４は中央処理装置、２１はプリント手段を示す。測
定点座標決定手段１１はカウンター１２とＣＰＵＺ−８
０１３とがらなり、中央処理装置１４は記憶制御手段１
５と演算統計処理手段１８とからなっている。万能投影
８！１はＸ・テーブル２ＸとＹ・テーブル２ｙとからな
る載物台２と、リニアスケール３と、ズームレンズ４と
、載物台２に載せられた被検査物の形状が光源（図示せ
ず）とズームレンズ４によって拡大投影されるスクリー
ン５と、上記載物台のＸ・テーブル２Ｘをｘ　−ｙ座標
軸のＸ軸方向に駆動させるパルスモークロと、上記載物
台のＹ・テーブル２ｙ？ｙ軸方向に駆動させるパルスモ
ータ７と、スクリーン５の中心部に刻まれた十字線８と
所定間隔を置いて設けられた光センサ−９とを具備して
いる。

リニアスケール３は第２図（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）に示
すように、Ｘ・リニアスケール３ＸとＹ・リニアスケー
ル３ｙとからなり、Ｘ・リニアスケール３ｘはｘ　−ｙ
座標軸のＸ軸方向に、Ｙ・リニアスケール３　ｙＩ；ｔ
　Ｘ軸方向に固定されている。載物台のＸ・テーブル２
Ｘの中心部は、第２図（Ａ）に示すように、被検査物を
のせて光源からの光を照射できるように透明状のガラス
１０で形成されている。又、パルスモータ６および７は
中央処理装置１４の記憶制御手段１５により駆動制御さ
れる。

光センサ−９はスクリーン５上に拡大投影された被検査
物のエツジを明から暗まｔ：は暗から明の変化でとらえ
て、その読みの信号（１−リガ）をカウンター１２へ送
る。カウンター１２には、Ｘ・テーブル２ＸとＹ・テー
ブル２ｙのＸ軸方向及びｙ軸方向の移動によって生じる
Ｘ座標およびＸ座標を示すパルス信号も入力されて、Ｘ
座標値およびｙＦｉｉ！標値が表示されるようになって
いる。ＣＰＵＺ−８０１３はカウンター１２から出力さ
れる上記光センサ−９からの読みの信号（トリガ）と上
記パルス信号とを受けてリニアスケール３を読み込む作
業をするとともに、光センサ−９とリニアスケール３の
コントロールも行っている。

中央処理装置１４の記憶制御手段１５はＣＰＵ８０８６
・８０８７　１６とデータ収集用ディスク１７とからな
り、演算統計処理手段１８はＣＰＵ８０８６・８０８７
　１９とプログラム用ディスク２０とからなっている。

記憶制御手段１５はＣＰＵＺ−８０１３から送られてく
るリニアスケールの値を読み取り記憶するとともに、載
物台のＸ・テーブル２ｘ及びＹテーブル２ｙを検査の所
定方向に移動させろためにパルスモータ６および７に制
御信号を送るへく作動する。演算統計処理手段１：ｉ予
め設定された演算プログラムにしたがって、記憶制御手
段１５に記憶された情報に基づいて被検査物の外観検査
や寸法計測の計算を行い、その演算結果および該演算結
果に基づく統計処理結果をプリンター２２あるいはＸ−
Ｙブロック−２３に表示するべく作動する。

中央処理装置１４にはプログラム用のディスク１枚とデ
ータ収集用ディスク１枚の計２枚が用意されている。プ
ログラム用ディスクには被測定物について予め本装置に
測定手順、測定箇所を指示するためのティーチングプロ
グラムと、該ティーチングプログラムにしたがって自動
測定された測定点値に基づいて被検査物の外観形状や寸
法の計算を行い且つ予め設定された公差との比較を行う
演算プログラムと、測定および演算結果を統計処理する
ための統計処理プログラムが記憶されている。

上記のティーチングプログラムに教え込まれた測定箇所
は、点、円、長円、角型、ピッチの５種類に限定して行
えるようにしている。又、上記演算ブロゲラムは、測定
された上記５種類の測定箇所データを基に演算するもの
で、演算コマンドとして大別すると、座標、距離、角度
、交点、線、分割、面積、接線及びピッチ等が用意され
ており、これらを用いることにより、被検査物の必要と
するほとんどあらゆる部分の位置・寸法の算出が可能と
なる。

又、上記統計処理プログラムは、測定データＸ１平均数
Ｘ、標準偏差δ、測定データ範囲Ｒ１工程能力指数、管
理図、ヒストグラム及び確率密度分布及び数分図が用意
されており、このことにより、よりきめこまかい品質管
理が可能になるとともに、現場への敏速な対応が可能と
なる。

プリンター２２は中央処理装置１４の演算統計処理手段
１８に接続されており、自動計測時の演算結果、統計処
理結果及び検査表をプリン）・アウトする。Ｘ−Ｙプロ
ッター２３は作図を必要とする統計処理に使用される。

被検査物の計測実行にあたって（よ、まず被検査物を万
能投影機１の載物台２のＸ・テーブル２Ｘのガラス面１
０に、被検査物の一辺（例えば、長方形の被検査物のと
きにはその長手軸）がほぼ平行になるように載せる。こ
の場合、本装置では自動的にサーチし、座標を決定して
ゆくので正確に（平行に）置く必要はない、このように
して置かれた被検査物の計測実行は、中央処理装置１４
のＣＰＵ８０８６・８０８７　１６によりゴログラム用
ディスク２０に設定記憶されている。ティーチングプロ
グラムにしたがってパルスモータ６及□び７を駆動制御
して載物台２を移動することにより行われろ。即ち、光
センサ−９からの信号とリニアスケール３からの信号が
カウンター１２に入力され、ＣＰＵＺ−８０１３にてこ
れらの信号をもとにして被検査物の測定点の座標が決定
され、決定された座標を示す信号がＣＰＵ８０８６・８
０８７　１６に入力されてデータ収集用ディスク１７に
記憶される。そして、プログラム用デ・ｒスフ２０に予
め設定記憶されている演算プログラムにしたがって被検
査物の寸法計測あるいは外観検査等の演算処理が行われ
てプリンター２１あるいは作図が必要とする場合にはＸ
−Ｙプ、ロック−２３にプリントアウトされる。又、演
算処理されたデータ　（データ収集用ディスク１７に一
旦記憶されている）はプログラム用ディスク２０に予め
設定記憶されている統計処理プログラムにしたがって統
計処理されてプリンター２１あるいはＸ−Ｙプロッター
２３にプリントアウトされる。

く効　果〉 上述の如く、本発明によろ打抜孔が設けられた被検査物
の自動検査装置は、 ■　光センサーにて被検査物のエツジを検出することに
より測定が行われているので、測定の際に読み取り誤差
が生しないこと、 ■　演算プログラム、統計処理プログラムを駆使するこ
とにより、より高度な演算・測定結果の処理が可能であ
ること、 ■　被検査物の自動計測中にプリントアウトされたデー
タには公差照合も含まれているので、不良品の検出が速
やかに行われること、 ■　更には上記■、■、■の理由により位置、寸法の精
度を要求されるハイテク分野や各種工業の分野での測定
や、品質管理に適する装置であること等の効果を有して
いる。

【図面の簡単な説明】 第１図は本発明装置の概要を示すブロック図、第２図（
Ａ）、（Ｂ）、及び（Ｃ）は各々載物台とリニアスケー
ルの位置関係を示す平面図、正面図及び側面図である。 １　・万能投影機、２・−載物台、 ３　リニアスケール、５　スクリーン、６．７　・パル
スモータ、９　光センサ、１１・測定点座標決定手段、

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （ａ）打抜孔が設けられた被検査物を載置し且つパルス
   モータの駆動により移動可能な載物台と、被検査物の測
   定位置の前後を教え込むためのリニアスケールと、スク
   リーンに拡大投影された被検査物のエッジを感知するた
   めの光センサーとを具備する万能投影機と、 （ｂ）上記万能投影機のリニアスケールからの信号と光
   センサーからの信号とが入力されて被検査物の測定点の
   座標を決定するための測定点座標決定手段と、 （ｃ）上記測定点座標決定手段からの信号が入力され且
   つ上記万能投影機のパルスモータの駆動制御を行うため
   の記憶制御手段と、該記憶制御手段に入力記憶されたデ
   ータに基づいて演算及び統計処理を行うための演算統計
   処理手段とからなる中央処理装置と、 （ｄ）上記中央処理装置の演算統計処理手段に接続され
   ている上記演算及び統計処理結果をプリントアウトする
   ためのプリント手段と、 からなる打抜孔が設けられた被検査物の自動検査装置。