JPS6286747A - 高密度実装部品 - Google Patents
高密度実装部品Info
- Publication number
- JPS6286747A JPS6286747A JP22670185A JP22670185A JPS6286747A JP S6286747 A JPS6286747 A JP S6286747A JP 22670185 A JP22670185 A JP 22670185A JP 22670185 A JP22670185 A JP 22670185A JP S6286747 A JPS6286747 A JP S6286747A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wax
- density mounting
- resin
- mounting parts
- coated
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/22—Secondary treatment of printed circuits
- H05K3/28—Applying non-metallic protective coatings
- H05K3/284—Applying non-metallic protective coatings for encapsulating mounted components
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Details Of Resistors (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はセラミック基板を使用したハイブリッドIC,
a−C複合部品などの高密度実装部品Eこ関する。
a−C複合部品などの高密度実装部品Eこ関する。
セラミック基板を使用した高密度実装部品は、搭載部品
の耐湿性を向上させるためFこ、フェノール系樹脂をコ
ーティングした後、ワックスを含浸させて搭載部品を保
護している。
の耐湿性を向上させるためFこ、フェノール系樹脂をコ
ーティングした後、ワックスを含浸させて搭載部品を保
護している。
しかし、ワックス含浸樹脂でコーティングされた高密度
実装部品は、磁気バブルメモリボード製造工程での半田
付は時の熱でワックスが溶出し、部品の耐湿性が低下す
る。また半田付は後、フラックス及び早出ボール除去の
ため、洗浄液()Vオン’rBs)+こより全面洗浄す
ると、前記のように半田付は時の熱番こよって溶出した
ワックスにフレオンが接触し、セラミックス基板のラン
ド部及びワックス含浸樹脂に不透明物が生成し、外観不
良となる。
実装部品は、磁気バブルメモリボード製造工程での半田
付は時の熱でワックスが溶出し、部品の耐湿性が低下す
る。また半田付は後、フラックス及び早出ボール除去の
ため、洗浄液()Vオン’rBs)+こより全面洗浄す
ると、前記のように半田付は時の熱番こよって溶出した
ワックスにフレオンが接触し、セラミックス基板のラン
ド部及びワックス含浸樹脂に不透明物が生成し、外観不
良となる。
本発明の目的は、信頼性及び商品価値の高い高密度実装
部品を提供することにある。
部品を提供することにある。
ワックス含浸樹脂の表面に更Eこワックス溶出防止用樹
脂をコーティングしてなる。これlこより、半田付け、
洗浄を行なった場合、ワックス溶出及び不透明変色が防
止される。
脂をコーティングしてなる。これlこより、半田付け、
洗浄を行なった場合、ワックス溶出及び不透明変色が防
止される。
以下、本発明の一実施例を図1こより説明する。
セラミック基板1の両面にはAg−Pd導体2が形成さ
れ、この導体2上fこは、一方の面lこチップ積層セラ
ミックコンデンサ3が半田4で接続され、他方の面lこ
印刷抵抗体5が設けられ、この印刷抵抗体5は保護ガラ
ス6で覆われている。またセラミック基板1の端部には
偏平リード7が半田8で接続されている。そして、偏平
リード7の一部を残して全体がワックス含浸樹脂9でコ
ーティングされ、セラミック基板1への搭載部品が保護
されている。前記ワックス含浸樹脂9の表面lこは、更
につVタン、エポキシ、シリコン等よりなるワックス溶
出防止用樹脂10がコーティングされている。
れ、この導体2上fこは、一方の面lこチップ積層セラ
ミックコンデンサ3が半田4で接続され、他方の面lこ
印刷抵抗体5が設けられ、この印刷抵抗体5は保護ガラ
ス6で覆われている。またセラミック基板1の端部には
偏平リード7が半田8で接続されている。そして、偏平
リード7の一部を残して全体がワックス含浸樹脂9でコ
ーティングされ、セラミック基板1への搭載部品が保護
されている。前記ワックス含浸樹脂9の表面lこは、更
につVタン、エポキシ、シリコン等よりなるワックス溶
出防止用樹脂10がコーティングされている。
このようlこ、ワックス含浸樹脂9の表面にはワックス
溶出防止用樹脂10がコーティングされているので、磁
気バブルメモリ装置への半田付は工程5こおいて、ワッ
クスが溶出して耐湿性が低下するのが防止される。また
洗浄によって不透明変色が生ずるのが防止される。
溶出防止用樹脂10がコーティングされているので、磁
気バブルメモリ装置への半田付は工程5こおいて、ワッ
クスが溶出して耐湿性が低下するのが防止される。また
洗浄によって不透明変色が生ずるのが防止される。
以上の説明から明らかなようlこ、本発明によれば、耐
湿性及び外観品質が向上し、製品としての信頼性及び商
品価値が向上する。
湿性及び外観品質が向上し、製品としての信頼性及び商
品価値が向上する。
図は本発明の一実施例を示す断面図である。
1・・・セラミック基板、 3・・・チップ積層セ
ラミックコンデンサ、 訃・・印刷抵抗体、7・・
・偏平リード、 9・・・ワックス含浸樹脂、10
・・・ワックス溶出防止用樹脂。
ラミックコンデンサ、 訃・・印刷抵抗体、7・・
・偏平リード、 9・・・ワックス含浸樹脂、10
・・・ワックス溶出防止用樹脂。
Claims (1)
- セラミック基板に搭載された部品を保護するために、
ワックス含浸樹脂をコーテイングしてなる高密度実装部
品において、前記ワックス含浸樹脂の表面にワックス溶
出防止用樹脂をコーテイングしたことを特徴とする高密
度実装部品。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22670185A JPS6286747A (ja) | 1985-10-14 | 1985-10-14 | 高密度実装部品 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22670185A JPS6286747A (ja) | 1985-10-14 | 1985-10-14 | 高密度実装部品 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6286747A true JPS6286747A (ja) | 1987-04-21 |
Family
ID=16849289
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22670185A Pending JPS6286747A (ja) | 1985-10-14 | 1985-10-14 | 高密度実装部品 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6286747A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5057457A (en) * | 1989-09-13 | 1991-10-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Multimold semiconductor device and the manufacturing method therefor |
-
1985
- 1985-10-14 JP JP22670185A patent/JPS6286747A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5057457A (en) * | 1989-09-13 | 1991-10-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Multimold semiconductor device and the manufacturing method therefor |
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