JPS6287818A - 輝度計測装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、輝度測定時の測定精度を向上させた輝度計測
装置の光学系に関するものである。

従来の技術 近年、輝度測定においては、測定精度の向上が必要とな
ってきておシ、このため、光学系・増幅器などの改善が
進められている。

以下、従来の輝度計測装置の光学系について説明する。

第３図は従来の輝度計測装置の光学系の構成図を示すも
ので、１は対物レンズ、２はガラス部２ａ上に開口部人
以外にミラ一部２ｂを設けたアパーチャミラー、３は受
光素子、４はファインダ、８は光学筒である。なお、４
ａはファインダ像を結像するレンズである。

以上のように構成された従来の輝度計測装置について以
下動作を説明する。

まず、輝度を測定しようとする視野は対物レンズ１によ
ってアパーチャミラー２上に結像される。

アパーチャミラー２は、対物レンズ１の光軸に対してθ
なる角度で配置されている。θは一般に４６°〜６０″
の角度が用いられる。アパーチャミラー２上に結像され
た測定視野を含む像のうち、アパーチャミラー２の開口
邦人に相当する部分の光は、アパーチャミラー２を透過
して受光素子３に入射し電気信号に変換され、輝度値と
して測定される。一方、アパーチャミラー２のミラ一部
２ｂ上の像は反射され、レンズ４ａでファインダ４にフ
ァインダ像として結像される。すなわち、アパーチャミ
ラー２の開口邦人に相当する部分の輝度が測定され、開
口部人以外はファインダ４で観測される。このとき、フ
ァインダ４内ではアパーチャミラー２の開口部部分は暗
くなる。

通常は対物レンズ１を通過した光のうち、測定視野内の
光は第３図で１１〜ｆ４に示すようにアパーチャミラー
２の開口部ｉｆ透過する。一方、測定視野外の光は、第
３図ｇに示すようにアパーチャミラー２のミラ一部２ａ
で反射されファインダ４へ導かれる。

発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では、第３図６１に示す
ようにファインダ視野外から入射した光はアパーチャミ
ラー２ａの開口邦人に到達し、このうち一部は反射され
、残シは透過する。反射された光は光学系内光学筒８で
反射され、第３図０２に示すように再び開口邦人を通過
することがある。

一方、ｅｌのうち、開口邦人を透過した光はアパーチャ
ミラー２の裏面で透過・反射する。反射された光はアパ
ーチャミラー２のガラス部りａ内で反射される。このよ
うな状態を繰返しながら受光素子３に到達し検出される
。すなわち、受光素子３への入射光をＬｌｏとし測定視
野内からの寄与部分をＬとし、測定視野外からの寄与部
分をΔＬとすると ＬＤ＝Ｌ＋ΔＬ　　　　　　　　・・・・・・・・・・
・・（１）で表わされる。ここでΔＬは ΔＬ　：　ｆ　ＪＬｎｄｎ　　　　　　　　・・・・・
・・・・・・・（２）で表わされ、測定対象外からの入
射光によるものの積分値を示す。第３図で０２に相当す
る部分は、ΔＬｅ５２”ＬＩＨＸρ５×ρ、×τ。・・
・・・・・・・・・・（３）Ｌｅ＋：光路ｅ１から入射
する光の強さρ８　ニアパーチャミラー２の開口邦人の
反射率 ρ、：光学系内での反射率 τＧ　ニアパーチャミラーの透過率 で表わされ、θ３構成は ΔＬｅ３”Ｌ１５１Ｘτ；×ρ□×ρ２・・・・・・・
・・・・・（４）で表わされる。

（３）式に示すΔＬ６２は光学系内の反射率ρ１を低下
するように光学系を構成すれば低下させることができる
が、（４）式に示すΔＬθ３はアパーチャミラー内によ
るものであり、特にρ２が　鏡面性で大きいため誤差の
原因となっていた。なお、τｏとτ６が異なるのは光路
長が異なるためである。

このように、従来の構成では測定視野外からの入射光（
たとえば、第３図に示す６１）のため、（１）式に示す
ように、測定輝度値に誤差が生ずるという問題点をもっ
ていた。

本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、測定視
野外から入射した光が受光素子へ到達するのを防止した
輝度計測装置を提供することを目的とする。

問題点を解決するための手段 本発明は、アパーチャミラーの裏面部のうち測定視野外
からの光が透過する部分を遮光し、さらにアパーチャミ
ラーの表面および裏面開口部に無反射処理を設けた輝度
計測装置である。

作用 本発明は上記した構成により、アパーチャミラーの裏面
遮光部が測定視野外から開口部に入射した光のうち、ア
パーチャミラーを透過した光が受光素子へ到達するのを
防止し、また開口部の無反射処理が開口部での反射光を
なくし、迷光を低下させる。

実施列 第１図は本発明の実施列における輝度計測装置の構成図
を示すものである。第１図において、１は対物レンズ、
５はアパーチャミラー、３は受光素子、４はファインダ
、６は光電流増幅器である。

アパーチャミラー６は対物レンズ１の結像面に設置し、
対物レンズ１の光軸とθなる角度で配置する。θは４６
°〜６００の角度とする。さらにアパーチャミラー５は
、ガラス部５ａの表面に測定視野内を除いてミラ一部５
ｂが設けられ、また裏面には測定視野内の光がアパーチ
ャミラー５を透過する部分のみ、すなわち、第１図で光
路ａで示すように対物レンズ１の８点とアパーチャミラ
ー５の開口部ＡのＵ点を結ぶ延長上で、アパーチャミラ
ーの裏面との交点Ｖまで、遮光部５ｃｉ設けた。

この遮光部５Ｇは対物レンズ１の周囲に８点を回転させ
た状態に対応して設けた。さらに、アパーチャミラー５
の表面の開口邦人および裏面開口部Ｂ、すなわち、アパ
ーチャミラー６で測定視野部分の光が正規に透過する部
分（ミラ一部５ｂおよび遮光部５Ｃが存在しない部分）
を無反射処理し、アパーチャミラー６の開口部境界部で
の反射をなくした。無反射処理としては多層膜コーティ
ングが一般的である。

以上のように構成された本実施例の輝度計測装置につい
て以下その動作を説明する。

対物し／ズ１によ量測定視野を含む像がアパーチャミラ
ー５上に結１ｐする。このうち、アパーチャミラー５の
開口邦人、すなわち、測定視野に相当する部分を透過し
た光は受光素子３に到達し光電流に変換され、光電流増
幅器６で増幅され輝度量カフが得られる。第１図におい
て光電流増幅器としては演算増幅器７ａを用いた列を示
しておシ、出カフには光電流ｘＲ，なる電圧値が得られ
る。

一方、測定視野外からの光はアパーチャミラー５のミラ
一部Ｓｂ上に結像さｎ１ミラ一部５ｂで反射されてレン
ズ４２Ｌｉ通じてファインダ４へ導かれる。アパーチャ
ミラー５の透過する光の状態を第２図の拡大図を用いて
詳しく説明する。第２図で光路ａは測定視野の下限の光
路を示すものであシ、また光路すは測定視野の上限の光
路を示すものである。この光路ａ、ｂに沿ってガラス部
５ａの外側にミラ一部６ｂと遮光部５Ｃを設けた。第２
図で光路ａおよび光路すの光は、アパーチャミラー５の
開口邦人および開口部Ｂｉ透過して受光部３に達する。

一方、測定視野外から入射した光は第２図で光路Ｃおよ
び光路ｄに示すようにアパーチャミラー５の開口邦人に
入射した時、開口邦人の無反射処理によシ、反射光が零
となシすべでがアパーチャミラー５に入射する。さらに
、アノζ−チャミラー５に入射した光は遮光部５０で反
射または吸収されを繰返し、アパーチャミラー５の端部
へ進み減衰する。また、アパーチャミラー６の開口邦人
およびＢの無反射処理によシ、測定視野内の光がアパー
チャミラー５内でロスすることなく受光素子に導くこと
ができる。

以上のように、本実施列によれば、上記のように構成さ
れたアパーチャミラーを設けることにより、輝度測定時
に、アパーチャミラーの反射・透過による迷光をなくし
、測定誤差をなくすることができる。

発明の効果 本発明の輝度計測装置は、アパーチャミラーの裏面部の
うち、測定視野外からの光が透過する部分を遮光し、さ
らに、アパーチャミラーの表面および裏面開口部に無反
射処理を設けることにより、測定視野外からの入射光が
受光素子へ到達するのを防止し、輝度測定精度を向上す
ることができ、その実用的効果は太きい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施列における輝度計測装置の構成図
、第２図はアパーチャミラ一部での光路の拡大図、第３
図は従来の輝度計測装置の構成図である。 １・・・・・・対物レンズ、２．５・・・・・アパーチ
ャミラー、３・・・・・・受光素子、４・・・・・ファ
インダ、６・・・・・光電流増幅器、８・・・・・・光
学筒。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 対物レンズと、対物レンズの結像面に配置し測定対象視
   野部分の光のみを透過し測定対象視野外の光はファイン
   ダ側へ反射するアパーチャミラーと、アパーチャミラー
   からの透過光のみを受光する受光素子とからなる輝度計
   測装置であって、前記アパーチャミラーの測定対象視野
   以外からの光が透過する裏面部分を遮光し、さらに前記
   アパーチャミラーの表面部開口部および裏面部開口部を
   無反射処理した輝度計測装置。