JPS6288969A - 妨害波強度測定装置 - Google Patents
妨害波強度測定装置Info
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- JPS6288969A JPS6288969A JP60229681A JP22968185A JPS6288969A JP S6288969 A JPS6288969 A JP S6288969A JP 60229681 A JP60229681 A JP 60229681A JP 22968185 A JP22968185 A JP 22968185A JP S6288969 A JPS6288969 A JP S6288969A
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- JP
- Japan
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- spectrum
- measurement
- frequency
- peak
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 39
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 32
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 15
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
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- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
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- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は妨害波強度測定装置でのピーク値の収集手段に
関する。特番こ、時間軸上の特定の範囲でのピーク値の
最大値の収集手段に関する。
関する。特番こ、時間軸上の特定の範囲でのピーク値の
最大値の収集手段に関する。
本発明は無線通信装置その他に妨害を与える各種電磁機
器から発生する放射ノイズを測定する装置として利用す
る。
器から発生する放射ノイズを測定する装置として利用す
る。
本発明は、測定対象から放射される電磁波のスペクトル
レベルの周波数別の最大値を示ずスペクトルを生成する
妨害波強度測定装置において、測定される周波数帯域を
小帯域に区分し、この小帯域での全方位におけるスペク
トルレベルの最大値を決定することにより、 方位および周波数にかかわる測定を同時に行って測定時
間を短縮することができるようにしたものである。
レベルの周波数別の最大値を示ずスペクトルを生成する
妨害波強度測定装置において、測定される周波数帯域を
小帯域に区分し、この小帯域での全方位におけるスペク
トルレベルの最大値を決定することにより、 方位および周波数にかかわる測定を同時に行って測定時
間を短縮することができるようにしたものである。
近年、電気(電子)機器からの放射ノイズによる電磁障
害が問題化されその測定の機会が増加している。従来の
放射ノイズ測定では、妨害波の周波数スペクトラムをス
ペクトラムライザーなどで探査し、その周波数毎に被測
定対象物の方向およびアンテナの高さをパラメータとし
て変えて、妨害波強度計などでレベル測定を行うのが一
般的である。また、測定を自動化する自動計測システム
が公知であるが、これらは概してスペクトラム曲線の自
動描画またはそのハードコピーを目指したものである。
害が問題化されその測定の機会が増加している。従来の
放射ノイズ測定では、妨害波の周波数スペクトラムをス
ペクトラムライザーなどで探査し、その周波数毎に被測
定対象物の方向およびアンテナの高さをパラメータとし
て変えて、妨害波強度計などでレベル測定を行うのが一
般的である。また、測定を自動化する自動計測システム
が公知であるが、これらは概してスペクトラム曲線の自
動描画またはそのハードコピーを目指したものである。
前述したように、妨害波強度の測定は被測定対象物の方
向、アンテナの高さおよび周波数の三つをパラメータと
してとらえねばならない。ところで、従来例測定方法で
は、各周波数毎に被測定対象装置の方向を最悪二回転さ
せる必要があり、全測定時間に占める回転に伴う待時間
の割合が大きく、−回の測定に四十分から一時間近くを
費やし、測定効率向上を阻害する欠点になっていた。な
お、この欠点は被測定対象装置が大型である程顕著にな
る。
向、アンテナの高さおよび周波数の三つをパラメータと
してとらえねばならない。ところで、従来例測定方法で
は、各周波数毎に被測定対象装置の方向を最悪二回転さ
せる必要があり、全測定時間に占める回転に伴う待時間
の割合が大きく、−回の測定に四十分から一時間近くを
費やし、測定効率向上を阻害する欠点になっていた。な
お、この欠点は被測定対象装置が大型である程顕著にな
る。
本発明は、この測定は(11周波数スペクトルの全てに
対してデータをとる必要は必すしもなく、適当な周波数
インターバル毎にその間の最大値が計測できればよ<
、f2)あらゆる回転角度に対する全てのデータをとる
必要は必ずしもなく、妨害波強度が最大値となる方向の
みでよいことに着目して、周波数軸上を高速にスキャン
し、妨害波強度の最大ピークを記憶して、被測定対象を
一回転させるだけで測定が実行できる妨害波強度測定装
置を提供することを目的とする。
対してデータをとる必要は必すしもなく、適当な周波数
インターバル毎にその間の最大値が計測できればよ<
、f2)あらゆる回転角度に対する全てのデータをとる
必要は必ずしもなく、妨害波強度が最大値となる方向の
みでよいことに着目して、周波数軸上を高速にスキャン
し、妨害波強度の最大ピークを記憶して、被測定対象を
一回転させるだけで測定が実行できる妨害波強度測定装
置を提供することを目的とする。
本発明は、測定対象から放射される電磁波の所定周波数
帯域に含まれる周波数に対応して、この電磁波のスペク
トルレベルのそれぞれの最大値を示すスペクトルを生成
する妨害波強度測定装置において、上記所定の周波数帯
域を区分した小帯域のそれぞれに含まれるスペクトルレ
ベルの最大値を選択し上記測定ごとに保持する信号選択
保持手段を備えたことを特徴とする。
帯域に含まれる周波数に対応して、この電磁波のスペク
トルレベルのそれぞれの最大値を示すスペクトルを生成
する妨害波強度測定装置において、上記所定の周波数帯
域を区分した小帯域のそれぞれに含まれるスペクトルレ
ベルの最大値を選択し上記測定ごとに保持する信号選択
保持手段を備えたことを特徴とする。
複数個の方位での測定に基づいて、測定対象から放射さ
れる電磁波の所定周波数帯域に含まれる周波数に対応し
て、この電磁波のスペクトルレベルのそれぞれの最大値
を示すスペクトルを生成する妨害波強度測定装置におい
て、上記所定の周波数帯域を区分した小帯域のそれぞれ
に含まれるスペクトルレベルの最大値を選択し上記測定
ごとに保持する第一の信号選択保持手段と、上記複数個
の方位での測定により定まる上記スペクトルレベルの最
大値の上記複数個のうちで最大値を呈するスペクトルレ
ベルを上記小帯域ごとに選択し保持する第二の選択保持
手段とを備えたことを特1枚とする。
れる電磁波の所定周波数帯域に含まれる周波数に対応し
て、この電磁波のスペクトルレベルのそれぞれの最大値
を示すスペクトルを生成する妨害波強度測定装置におい
て、上記所定の周波数帯域を区分した小帯域のそれぞれ
に含まれるスペクトルレベルの最大値を選択し上記測定
ごとに保持する第一の信号選択保持手段と、上記複数個
の方位での測定により定まる上記スペクトルレベルの最
大値の上記複数個のうちで最大値を呈するスペクトルレ
ベルを上記小帯域ごとに選択し保持する第二の選択保持
手段とを備えたことを特1枚とする。
測定対象から放射される電磁波のスペクトルレベルを測
定し、この電磁波の所定周波数帯域を区分した小帯域の
それぞれに含まれるスペクトルレベルの最大値を選択し
、これに基づいてスペクトルを生成する。
定し、この電磁波の所定周波数帯域を区分した小帯域の
それぞれに含まれるスペクトルレベルの最大値を選択し
、これに基づいてスペクトルを生成する。
また、複数個の方位に対してこの測定を実行するときは
、一つの方位に位置する測定対象から放射される電磁波
のスペクトルレベルから第一の信号選択保持手段により
分割された周波数帯域での最大値が選択され、次の方位
の測定まで保持される。次に、第二の信号選択保持手段
で、ひきつづく方位の測定結果のうちより値の大きいス
ペクトルレベルが選択される。すなわち、すべての方位
につきこれが繰返えされると、すべての方位での最大値
を示すスペクトルが分割された小帯域別に保持される。
、一つの方位に位置する測定対象から放射される電磁波
のスペクトルレベルから第一の信号選択保持手段により
分割された周波数帯域での最大値が選択され、次の方位
の測定まで保持される。次に、第二の信号選択保持手段
で、ひきつづく方位の測定結果のうちより値の大きいス
ペクトルレベルが選択される。すなわち、すべての方位
につきこれが繰返えされると、すべての方位での最大値
を示すスペクトルが分割された小帯域別に保持される。
この保持された情報に基づいて所望のスペクトルが生成
される。
される。
以下、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明実施例装置の構成を示すブロック構成図
である。第2図ないし第4図はこの実施例装置の動作を
説明する図面である。
である。第2図ないし第4図はこの実施例装置の動作を
説明する図面である。
第1図で、スペクトラム分析部33はX軸に周波数、Y
軸に入力信号レベルが表示されるスペクトルアナライザ
を含む。周波数区分化制御部25は、スペクトラム分析
部33の周波数レンジで決まる被測定周波数範囲を任意
の区間に区分化し、ピークホールド回路22に対するリ
セット43号17を各区分の境界毎に発生ずるほかに、
周波数レンジ情報14と組合せてアドレスエンコーダ2
6にエンコード情報35を供給し、また、表示出力時に
は、表示起動信号18を受けてメモリアドレス情報36
を発生する。
軸に入力信号レベルが表示されるスペクトルアナライザ
を含む。周波数区分化制御部25は、スペクトラム分析
部33の周波数レンジで決まる被測定周波数範囲を任意
の区間に区分化し、ピークホールド回路22に対するリ
セット43号17を各区分の境界毎に発生ずるほかに、
周波数レンジ情報14と組合せてアドレスエンコーダ2
6にエンコード情報35を供給し、また、表示出力時に
は、表示起動信号18を受けてメモリアドレス情報36
を発生する。
ピークホールド回路22は妨害波強度信号11のピーク
レベルをホールドする回路であり、かつ、以前のホール
ドレベルより大きいピークが入力された場合にかぎりそ
のレベルをホールドし、それ以外の人力は2B<視され
る。なお、このボールド動作は周波数区分化制御部25
からのリセット信号17が入力されるたびにいったんリ
セットされ、改めてホールドを開始する。A−D変換器
23は、ピークホールド回路22から出力されるホール
ド信号レベルとスペクトラム分析部33のアッテネータ
/アンプレンジ情報13とを組合せてディジタル情報で
ある妨害波強度情報15に変換する。A−D変換器24
は周波数軸スキャン信号12をディジタル情報である周
波数情報16に変換する。アドレスエンコーダ26は、
周波数情報16と周波数区分化制御部25からのエンコ
ード情報35とを組合せて特定のアドレス情報34を生
成し、アドレスレジスタ27に送出する。
レベルをホールドする回路であり、かつ、以前のホール
ドレベルより大きいピークが入力された場合にかぎりそ
のレベルをホールドし、それ以外の人力は2B<視され
る。なお、このボールド動作は周波数区分化制御部25
からのリセット信号17が入力されるたびにいったんリ
セットされ、改めてホールドを開始する。A−D変換器
23は、ピークホールド回路22から出力されるホール
ド信号レベルとスペクトラム分析部33のアッテネータ
/アンプレンジ情報13とを組合せてディジタル情報で
ある妨害波強度情報15に変換する。A−D変換器24
は周波数軸スキャン信号12をディジタル情報である周
波数情報16に変換する。アドレスエンコーダ26は、
周波数情報16と周波数区分化制御部25からのエンコ
ード情報35とを組合せて特定のアドレス情報34を生
成し、アドレスレジスタ27に送出する。
アドレスレジスタ27はメモリ30のアドレスを指定す
。ALU (八riLhemetic Logical
1init) 28は妨害波強度情報15とアドレス
レジスタで示されるメモリの内容(すなわち、現在の妨
害波強度情報と同一周波数区分の現在までの最大値)と
を比較し、前者の値が大きい場合に限りその値をデータ
レジスタ29を経てメモリ30に記憶する。表示制御部
31はメモリの内容の続出制御およびプリンタまたはプ
o 7タ32に対する表示制御を行う。
。ALU (八riLhemetic Logical
1init) 28は妨害波強度情報15とアドレス
レジスタで示されるメモリの内容(すなわち、現在の妨
害波強度情報と同一周波数区分の現在までの最大値)と
を比較し、前者の値が大きい場合に限りその値をデータ
レジスタ29を経てメモリ30に記憶する。表示制御部
31はメモリの内容の続出制御およびプリンタまたはプ
o 7タ32に対する表示制御を行う。
第2図は被測定周波数範囲が0〜100100O、周波
数区分数が10の場合の例を示す。第2図で、周波数軸
スキャン信号12は三角波αで与えられ、最大ピークで
のA−D変換値をAOOOOとすると、各周波数区分の
境界でのA−D変換値すなわち周波数情報はそれぞれ0
0000 、10000.20000、− ・−・90
000 、AOOOOになる。アドレスエンコーダ26
は周波数情報がoooooから10000の間(すなわ
ち、0からLOOMllzの間をスキャンしている間)
特定アドレス情報0000を生成し、また10000か
ら20000の間は0001を生成し、同様に各周波数
区分毎に特定アドレス情報を生成する。このようにして
、周波数軸がスキャンされる毎にメモリアドレスは上記
特定アドレスをくり返す。
数区分数が10の場合の例を示す。第2図で、周波数軸
スキャン信号12は三角波αで与えられ、最大ピークで
のA−D変換値をAOOOOとすると、各周波数区分の
境界でのA−D変換値すなわち周波数情報はそれぞれ0
0000 、10000.20000、− ・−・90
000 、AOOOOになる。アドレスエンコーダ26
は周波数情報がoooooから10000の間(すなわ
ち、0からLOOMllzの間をスキャンしている間)
特定アドレス情報0000を生成し、また10000か
ら20000の間は0001を生成し、同様に各周波数
区分毎に特定アドレス情報を生成する。このようにして
、周波数軸がスキャンされる毎にメモリアドレスは上記
特定アドレスをくり返す。
一方、被測定装置の向きを時間の経過と共に三回変化さ
せた場合のスペク1−ラムをそれぞれB8、B2および
B3とする。スペクトラムβ1は各周波数区分毎のピー
クレベルaH、bl 、C1、−・−j、を有し、スペ
クトラムβ2はピークレベル、、12、bz 、Cz
、−Jzを有し、スペクトラムβ3はピークレベルa3
、3、C1、−1」3を有する。ピークホールド回路2
2は周波数軸がスキャンされるたびに各周波数区分を代
表する最大ピークレベルをホールドし、その値はA−D
変換器によりディジタル情報へ変換される。例えばal
はA。
せた場合のスペク1−ラムをそれぞれB8、B2および
B3とする。スペクトラムβ1は各周波数区分毎のピー
クレベルaH、bl 、C1、−・−j、を有し、スペ
クトラムβ2はピークレベル、、12、bz 、Cz
、−Jzを有し、スペクトラムβ3はピークレベルa3
、3、C1、−1」3を有する。ピークホールド回路2
2は周波数軸がスキャンされるたびに各周波数区分を代
表する最大ピークレベルをホールドし、その値はA−D
変換器によりディジタル情報へ変換される。例えばal
はA。
に、B2はA2に、blはB1に、b2はB2に変換さ
れる。これらディジタル情報化された妨害波強度情報は
ΔLU28の一端へ加えられる。
れる。これらディジタル情報化された妨害波強度情報は
ΔLU28の一端へ加えられる。
第3図はメモリ30の内容の遷移状態を示す。はじめに
、スペクトラムβ1の妨害波強度情flAl 、BI、
C1、−・−1J1が各周波数区分に応したメモリアド
レスに記憶される。次に、スペクトラムβ2が入力され
た場合に、ALU28の動作により各周波数区分毎にス
ペク1−ラムβ1より大きい妨害波強度情報り、、B2
.1□のみが更新される。
、スペクトラムβ1の妨害波強度情flAl 、BI、
C1、−・−1J1が各周波数区分に応したメモリアド
レスに記憶される。次に、スペクトラムβ2が入力され
た場合に、ALU28の動作により各周波数区分毎にス
ペク1−ラムβ1より大きい妨害波強度情報り、、B2
.1□のみが更新される。
さらにスペクトラムβ3が人力されると、スペクトラム
β1、B2より大きい周波数区分のみが妨害波強度情報
A、およびB3で更新される。一般に周波数軸のスキャ
ン速度は被測定装置の回転速度に比較し著しく速いので
、被測定装置を一回転すればあらゆる回転角度あらゆる
時間におけるピーク情報がメモリ30に蓄積される。
β1、B2より大きい周波数区分のみが妨害波強度情報
A、およびB3で更新される。一般に周波数軸のスキャ
ン速度は被測定装置の回転速度に比較し著しく速いので
、被測定装置を一回転すればあらゆる回転角度あらゆる
時間におけるピーク情報がメモリ30に蓄積される。
第4図はスペクトラムβ1、β2およびβ3のデータに
基いたメモリ30の内容をプロッタ32に出力した場合
の表示例を示す。メモリ30は周波数区分毎に常に最大
値で更新されているので、このように最大値情報をハー
ドコピーとして得ることが可能になっている。
基いたメモリ30の内容をプロッタ32に出力した場合
の表示例を示す。メモリ30は周波数区分毎に常に最大
値で更新されているので、このように最大値情報をハー
ドコピーとして得ることが可能になっている。
本発明は以上説明したように、周波数区分毎にその区分
内のスペクトラムの最大値が常時更新される形で記憶さ
れるので表示測定装置の方向、周波数およびアンテナ高
さの三つの測定パラメータのうち、被測定装置の方向を
一回転するだけで方向、周波数の二つのパラメータに関
する測定を終了させることができ、測定時間を大幅に短
縮できる効果がある。また、測定結果をプロッタまはプ
リンタなどにハードコピーすることが容易に行える効果
がある。
内のスペクトラムの最大値が常時更新される形で記憶さ
れるので表示測定装置の方向、周波数およびアンテナ高
さの三つの測定パラメータのうち、被測定装置の方向を
一回転するだけで方向、周波数の二つのパラメータに関
する測定を終了させることができ、測定時間を大幅に短
縮できる効果がある。また、測定結果をプロッタまはプ
リンタなどにハードコピーすることが容易に行える効果
がある。
第1図は本発明実施例装置の構成を示すブロック構成図
。 第2図は本発明実施例装置の動作を説明する波形図。 第3図は本発明実施例装置のメモリ内のデータの遷移図
。 第4図は本発明実施例装置の出力を示すスペクトル図。 19・・・アドレス生成部、20・・・記憶部、22・
・・ピークホールド回路、23.24・・・A−D変換
器、25・・・周波数区分化制御部、26・・・アドレ
スエンコーダ、27・・・アドレスレジスタ、28・・
・ALU、29・・・データレジスタ、30・・・メモ
リ、31・・・表示制御部、32・・・プロッタ(プリ
ンタ)、33・・・スペクトル分析部。
。 第2図は本発明実施例装置の動作を説明する波形図。 第3図は本発明実施例装置のメモリ内のデータの遷移図
。 第4図は本発明実施例装置の出力を示すスペクトル図。 19・・・アドレス生成部、20・・・記憶部、22・
・・ピークホールド回路、23.24・・・A−D変換
器、25・・・周波数区分化制御部、26・・・アドレ
スエンコーダ、27・・・アドレスレジスタ、28・・
・ALU、29・・・データレジスタ、30・・・メモ
リ、31・・・表示制御部、32・・・プロッタ(プリ
ンタ)、33・・・スペクトル分析部。
Claims (2)
- (1)測定対象から放射される電磁波の所定周波数帯域
に含まれる周波数に対応して、この電磁波のスペクトル
レベルのそれぞれの最大値を示すスペクトルを生成する
妨害波強度測定装置において、上記所定の周波数帯域を
区分した小帯域のそれぞれに含まれるスペクトルレベル
の最大値を選択し上記測定ごとに保持する信号選択保持
手段を備えたことを特徴とする妨害波強度測定装置。 - (2)複数個の方位での測定に基づいて、測定対象から
放射される電磁波の所定周波数帯域に含まれる周波数に
対応して、この電磁波のスペクトルレベルのそれぞれの
最大値を示すスペクトルを生成する妨害波強度測定装置
において、 上記所定の周波数帯域を区分した小帯域のそれぞれに含
まれるスペクトルレベルの最大値を選択し上記測定ごと
に保持する第一の信号選択保持手段と、 上記複数個の方位での測定により定まる上記スペクトル
レベルの最大値の上記複数個のうちで最大値を呈するス
ペクトルレベルを上記小帯域ごとに選択し保持する第二
の選択保持手段と を備えたことを特徴とする妨害波強度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60229681A JPS6288969A (ja) | 1985-10-15 | 1985-10-15 | 妨害波強度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60229681A JPS6288969A (ja) | 1985-10-15 | 1985-10-15 | 妨害波強度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6288969A true JPS6288969A (ja) | 1987-04-23 |
Family
ID=16896022
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60229681A Pending JPS6288969A (ja) | 1985-10-15 | 1985-10-15 | 妨害波強度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6288969A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6465940A (en) * | 1987-09-05 | 1989-03-13 | Yuseisho Tsushin Sogo Kenk | Multipath measuring instrument |
| JP2012194090A (ja) * | 2011-03-17 | 2012-10-11 | Fujitsu Ltd | ノイズ測定方法、ノイズ測定装置、およびノイズ測定プログラム |
-
1985
- 1985-10-15 JP JP60229681A patent/JPS6288969A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6465940A (en) * | 1987-09-05 | 1989-03-13 | Yuseisho Tsushin Sogo Kenk | Multipath measuring instrument |
| JP2012194090A (ja) * | 2011-03-17 | 2012-10-11 | Fujitsu Ltd | ノイズ測定方法、ノイズ測定装置、およびノイズ測定プログラム |
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