JPS6289367A - 太陽電池用大面積シリコン結晶体の製造方法 - Google Patents
太陽電池用大面積シリコン結晶体の製造方法Info
- Publication number
- JPS6289367A JPS6289367A JP61241136A JP24113686A JPS6289367A JP S6289367 A JPS6289367 A JP S6289367A JP 61241136 A JP61241136 A JP 61241136A JP 24113686 A JP24113686 A JP 24113686A JP S6289367 A JPS6289367 A JP S6289367A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- silicon
- heat treatment
- foil
- crystal
- light source
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B13/00—Single-crystal growth by zone-melting; Refining by zone-melting
- C30B13/16—Heating of the molten zone
- C30B13/22—Heating of the molten zone by irradiation or electric discharge
- C30B13/24—Heating of the molten zone by irradiation or electric discharge using electromagnetic waves
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F71/00—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass
- H10F71/121—The active layers comprising only Group IV materials
- H10F71/1221—The active layers comprising only Group IV materials comprising polycrystalline silicon
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/546—Polycrystalline silicon PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/547—Monocrystalline silicon PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
- Recrystallisation Techniques (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野]
この発明は太陽電池用大面積シリコン結晶体の製造方法
に関する。
に関する。
[従来の技術]
原料として結晶粒度の小さいシリコン粉末を用い、焼結
プロセスにより箔の形に転換する方法は、ドイツ連邦共
和国特許出願公開第211127088号公報(アメリ
カ合衆国特許第4330358号明細書及び特開昭58
−15082号公報に同じ)により知られている。この
方法においてはシリコン粉末を有機結合剤と混合してス
リップを作り、このスリップを引き伸ばしシューを用い
て下敷き上に引き伸ばしたシリコン箔をアルゴンガス流
中で1350℃で焼結し、その際17hmの小さい直径
のシリコン粒子が箔の厚さの大きい直径を有する粒子に
成長する。焼結温度は溶融温度にできるだけ近く選ばれ
、焼結は十分な粒子成長が行われるまで長く続けられる
。
プロセスにより箔の形に転換する方法は、ドイツ連邦共
和国特許出願公開第211127088号公報(アメリ
カ合衆国特許第4330358号明細書及び特開昭58
−15082号公報に同じ)により知られている。この
方法においてはシリコン粉末を有機結合剤と混合してス
リップを作り、このスリップを引き伸ばしシューを用い
て下敷き上に引き伸ばしたシリコン箔をアルゴンガス流
中で1350℃で焼結し、その際17hmの小さい直径
のシリコン粒子が箔の厚さの大きい直径を有する粒子に
成長する。焼結温度は溶融温度にできるだけ近く選ばれ
、焼結は十分な粒子成長が行われるまで長く続けられる
。
しかし粒子成長と縮化は各シリコン粒子を囲む酸化物被
膜により著しく妨げられる。満足な縮化は溶融プロセス
が行われた所だけで実現できる。
膜により著しく妨げられる。満足な縮化は溶融プロセス
が行われた所だけで実現できる。
しかしこのことは長時間の焼結の際に下敷きとの反応の
ために避けなければならない。
ために避けなければならない。
ドイツ連邦共和国特許出願公開第3017923号公報
によりシリコン箔の製造方法が知られており、この方法
では焼結プロセス中にシリコン箔の表面範囲を1回又は
複数回の熱パルスにより短時間溶融する。その際熱放射
は高温空気噴射により作られ、またシリコン焼結箔の溶
融されなかった下面が除去される。この方法は比較的実
施が面倒であり、箔裏面の除去による材料損失及びそれ
に基づく生産量の低下のために、経済的に太陽電池基礎
材料を製造するのにあまり適していない。更に連続的な
加工プロセスを実施するのは困難である。
によりシリコン箔の製造方法が知られており、この方法
では焼結プロセス中にシリコン箔の表面範囲を1回又は
複数回の熱パルスにより短時間溶融する。その際熱放射
は高温空気噴射により作られ、またシリコン焼結箔の溶
融されなかった下面が除去される。この方法は比較的実
施が面倒であり、箔裏面の除去による材料損失及びそれ
に基づく生産量の低下のために、経済的に太陽電池基礎
材料を製造するのにあまり適していない。更に連続的な
加工プロセスを実施するのは困難である。
[発明が解決しようとする問題点]
この発明は、かかる欠点を有していない太陽電池用大面
積シリコン結晶体の製造方法を提供することを特徴とす
る特にこの材料から作られた太陽電池の結晶品質と電気
的特性を低下させるおそれのある不純物が、焼結プロセ
ス及び溶融プロセス中に結晶体の中に入り込まないこと
を保証しようとするものである。
積シリコン結晶体の製造方法を提供することを特徴とす
る特にこの材料から作られた太陽電池の結晶品質と電気
的特性を低下させるおそれのある不純物が、焼結プロセ
ス及び溶融プロセス中に結晶体の中に入り込まないこと
を保証しようとするものである。
[問題点を解決するための手段]
この11的は前記の種類の方法においてこの発明に基づ
き、 a)少なくとも表面がシリコン又はシリコン化合物から
成り製造すべき結晶体の大きさに適合した型の中で、シ
リコン粉末をプレスにより粒子直径の複数倍の厚さを有
する層に圧縮し、 〔b〕圧縮した層を第1の熱処理中に焼結により自立す
るシリコン焼結箔に転換し、 C)シリコン焼結箔を第2の熱処理中に片側からのエネ
ルギー入射により、層厚さの少なくとも半分まで溶融し
て再結晶し、 d)残りの層厚さを第3の熱処理中に溶融して再結晶し
、それにより第2の熱処理の後に再結晶して大きくなっ
た結晶粒を更にシリコン体の層厚さ全体にわたって成長
させる ことにより達成される。
き、 a)少なくとも表面がシリコン又はシリコン化合物から
成り製造すべき結晶体の大きさに適合した型の中で、シ
リコン粉末をプレスにより粒子直径の複数倍の厚さを有
する層に圧縮し、 〔b〕圧縮した層を第1の熱処理中に焼結により自立す
るシリコン焼結箔に転換し、 C)シリコン焼結箔を第2の熱処理中に片側からのエネ
ルギー入射により、層厚さの少なくとも半分まで溶融し
て再結晶し、 d)残りの層厚さを第3の熱処理中に溶融して再結晶し
、それにより第2の熱処理の後に再結晶して大きくなっ
た結晶粒を更にシリコン体の層厚さ全体にわたって成長
させる ことにより達成される。
その際熱処理を片側からの光学的加熱により、特に順次
投入される集束光源により行うと有利である。
投入される集束光源により行うと有利である。
この発明の実施態様は特許請求の範囲第2項以下に記載
されている。
されている。
[発明の作用効果]
ドイツ連邦共和国特許出願公開第3338335号公報
から太陽電池用大面積シリコン結晶体の製造方法が知ら
れており、この方法ではシリコン焼結体を自立状態で溶
融し、シリコン結晶体の比較的高い純度と結晶品質とを
保証しているけれども、ここではシリコン焼結箔を流れ
作業原理に基づき水平な加熱装置を通って、溶融したシ
リコンにより濡れない又は濡れにくい支持体例えばガラ
ス繊維織物上に載せて移動し、−回の熱処理で完全に溶
融する。結晶化の後に支持体を再び取り去る。
から太陽電池用大面積シリコン結晶体の製造方法が知ら
れており、この方法ではシリコン焼結体を自立状態で溶
融し、シリコン結晶体の比較的高い純度と結晶品質とを
保証しているけれども、ここではシリコン焼結箔を流れ
作業原理に基づき水平な加熱装置を通って、溶融したシ
リコンにより濡れない又は濡れにくい支持体例えばガラ
ス繊維織物上に載せて移動し、−回の熱処理で完全に溶
融する。結晶化の後に支持体を再び取り去る。
特別に構成された加熱器により平面上のシリコン結晶体
を中心から外に向かって凝固するということが達成され
る。しかしこの方法では自立するシリコン焼結箔が少な
くとも一時的にその機械的安定性を失い、また粒子が不
均一に成長することを防止できない。更に支持体から不
純物を持ち込む危険及び箔の溶着が起こる。
を中心から外に向かって凝固するということが達成され
る。しかしこの方法では自立するシリコン焼結箔が少な
くとも一時的にその機械的安定性を失い、また粒子が不
均一に成長することを防止できない。更に支持体から不
純物を持ち込む危険及び箔の溶着が起こる。
これに対してこの発明の理論に基づく方法では、結合剤
を用いないで圧縮を行い、箔の機械的な安定性だけを目
的として同様の材料から成る冷たい下敷き上で焼結を実
施することによるだけでも既に、最初から不純物の持ち
込みが回避される。更に石英から成る反応室を用い、こ
の反応室は熱処理の際にも冷たい状態のままである。こ
の発明の方法では粒子は均一に成長する。なぜならば最
初に層厚さの半分だけを溶融し、この層部分の再結晶の
後に初めて残りの層厚さを溶融し再結晶するからである
。再溶融プロセスの際には片側からのエネルギー入射に
より下敷きは冷たい状態のままであるので、箔の下敷き
との接着又は融合が避けられる。
を用いないで圧縮を行い、箔の機械的な安定性だけを目
的として同様の材料から成る冷たい下敷き上で焼結を実
施することによるだけでも既に、最初から不純物の持ち
込みが回避される。更に石英から成る反応室を用い、こ
の反応室は熱処理の際にも冷たい状態のままである。こ
の発明の方法では粒子は均一に成長する。なぜならば最
初に層厚さの半分だけを溶融し、この層部分の再結晶の
後に初めて残りの層厚さを溶融し再結晶するからである
。再溶融プロセスの際には片側からのエネルギー入射に
より下敷きは冷たい状態のままであるので、箔の下敷き
との接着又は融合が避けられる。
しかしながらこの発明の木質は、自立するシリコン焼結
箔がまず上側から所望の深さく少なくとも半分)まで溶
かして作られ、大きい粒子に再結晶され、その際箔の溶
かされなかった層部分が溶融兼再結晶過程のために必要
な機械的安定性を与え、それから箔をいわばその裏面か
ら溶かして作り、その際既に再結晶された上側の層部分
により、後の溶融プロセスの際の安定性が保証されると
いうことにある。その際上側の層部分の既に発生してい
る大きい粒子が、更に成長するための出発点を形成する
。
箔がまず上側から所望の深さく少なくとも半分)まで溶
かして作られ、大きい粒子に再結晶され、その際箔の溶
かされなかった層部分が溶融兼再結晶過程のために必要
な機械的安定性を与え、それから箔をいわばその裏面か
ら溶かして作り、その際既に再結晶された上側の層部分
により、後の溶融プロセスの際の安定性が保証されると
いうことにある。その際上側の層部分の既に発生してい
る大きい粒子が、更に成長するための出発点を形成する
。
この発明の方法により非常に薄いかつ滑らかな任意の大
きさのシリコン結晶板又は帯が容易に流れ作業により製
造できる。効率は少なくとも10%の値に達する。
きさのシリコン結晶板又は帯が容易に流れ作業により製
造できる。効率は少なくとも10%の値に達する。
この発明により作られた平面シリコンは、半導体素子の
製造のための非常に経済的なシリコン基板材料としても
有利に使用できる。
製造のための非常に経済的なシリコン基板材料としても
有利に使用できる。
[実施例]
次にこの発明に基づく方法の一実施例を示す図面により
この発明の詳細な説明する。すべての図面において同じ
部分は同じ符号が付けられている。
この発明の詳細な説明する。すべての図面において同じ
部分は同じ符号が付けられている。
第1図においては、石英から成る漏斗形の貯蔵容器1か
ら80μmないし150uLmの範囲の粒度を有するシ
リコン粉末2が、例えばシリコンから成る型3の中に例
えば1500JLmの層厚さで入れられる。粉末層4の
面積は例えば50 mmX 100 mmである。矢印
5によりシリコンの型3の運動方向が示されている。
ら80μmないし150uLmの範囲の粒度を有するシ
リコン粉末2が、例えばシリコンから成る型3の中に例
えば1500JLmの層厚さで入れられる。粉末層4の
面積は例えば50 mmX 100 mmである。矢印
5によりシリコンの型3の運動方向が示されている。
第2図においては、型3の中に形成された層4がプレス
により、シリコンカーバイドで被覆された材料から成る
パンチ23を用いて4kN/cm2の圧力で圧縮される
。矢印7は圧縮方向を示す。符号6により圧縮されたシ
リコン粉末層を示す。
により、シリコンカーバイドで被覆された材料から成る
パンチ23を用いて4kN/cm2の圧力で圧縮される
。矢印7は圧縮方向を示す。符号6により圧縮されたシ
リコン粉末層を示す。
第3図は1350’cないし1400°Cでの焼結によ
り圧縮された層6から自立するシリコン焼結箔8(厚さ
10100JLを作る工程を示す。
り圧縮された層6から自立するシリコン焼結箔8(厚さ
10100JLを作る工程を示す。
焼結は集束された放射線9(詳細は第6図参照)を用い
て行われる。矢印5はここでも圧縮された粉末6又は焼
結箔8を装入された型3の運動方向を示す。速度は10
mm毎分に設定されている。
て行われる。矢印5はここでも圧縮された粉末6又は焼
結箔8を装入された型3の運動方向を示す。速度は10
mm毎分に設定されている。
このプロセスと次のプロセスとはアルゴンガスを充填さ
れた反応炉(第3図ないし第5図には示されていない)
の中で実施される。
れた反応炉(第3図ないし第5図には示されていない)
の中で実施される。
第4図においては、第1の表面溶融プロセスが行われ、
このプロセスでは放射線源9(第3図)に比べて大きい
容量を有する片側からの光照射線10により、シリコン
焼結箔8が少なくともその厚さの半分まで(望ましくは
その厚さの3分の2まで)溶融され再結晶される。再結
晶されたシリコン層は符号11を付けられ、溶融域(幅
約8mm)は符号12を付けられている。再結晶された
層部分11の粒度は約500 μmである。
このプロセスでは放射線源9(第3図)に比べて大きい
容量を有する片側からの光照射線10により、シリコン
焼結箔8が少なくともその厚さの半分まで(望ましくは
その厚さの3分の2まで)溶融され再結晶される。再結
晶されたシリコン層は符号11を付けられ、溶融域(幅
約8mm)は符号12を付けられている。再結晶された
層部分11の粒度は約500 μmである。
第5図においては、箔(層)8.11の回転(回転矢印
13参照)の後に、第2の表面溶融プロセス焼結が実施
され箔8の残りの層厚さが溶融して再結晶される。その
際放射線源10(第4図)におけるのと同一の容量の集
束放射線源14を用いて処理される。第4図に示す再結
晶の際に生じた粗粒の層11は今や再結晶のための核生
成層として役立ち、再結晶の際には粒子は層厚さ全体に
まで成長する。大きいシリコン結晶体15が完成する。
13参照)の後に、第2の表面溶融プロセス焼結が実施
され箔8の残りの層厚さが溶融して再結晶される。その
際放射線源10(第4図)におけるのと同一の容量の集
束放射線源14を用いて処理される。第4図に示す再結
晶の際に生じた粗粒の層11は今や再結晶のための核生
成層として役立ち、再結晶の際には粒子は層厚さ全体に
まで成長する。大きいシリコン結晶体15が完成する。
符号16により溶融域(幅約8mm)が示されている。
矢印5はここでも運動方向を示す。速度は焼結プロセス
(第3図)及び第1の溶融プロセス(第4図)の場合の
速度に合わせられる。このようにしてこの発明に基づく
方法は流れ作業による連続処理方法のために好適に用い
ることができる。
(第3図)及び第1の溶融プロセス(第4図)の場合の
速度に合わせられる。このようにしてこの発明に基づく
方法は流れ作業による連続処理方法のために好適に用い
ることができる。
放射線源14がシリコン焼結体8,11の下方に配置さ
れているときには、回転工程(13)を省略することが
できる。そのとき特にシリコン体8.11の縁は(第5
図に示されているような)開放された型18の中に保持
されている。
れているときには、回転工程(13)を省略することが
できる。そのとき特にシリコン体8.11の縁は(第5
図に示されているような)開放された型18の中に保持
されている。
第6図により例えば第4図に示されたような第1の溶融
兼結晶化プロセスが更に詳細に描かれている。その際簡
単化のためにシリコン焼結箔8(及び11)は保持装置
3を省略して描かれている。
兼結晶化プロセスが更に詳細に描かれている。その際簡
単化のためにシリコン焼結箔8(及び11)は保持装置
3を省略して描かれている。
図示のようなだ円形の断面を有する筒形の鏡17を用い
て、6kWの最大容量の棒状ハロゲンランフ’19の放
射線lOが、搬送コンベヤ20の上に載せられ石英反応
炉21を通って(型3に入れて)送られるシリコン焼結
箔8の上に集束される。反応炉21はプロセスの間アル
ゴンガスから成る保護ガスを流し込まれる。用いられた
棒状ハロゲンランプ19は230mmのフィラメント長
さを有する。放射線10の最適利用のためにシリコン箔
8の幅は約200 m mとすることができる。
て、6kWの最大容量の棒状ハロゲンランフ’19の放
射線lOが、搬送コンベヤ20の上に載せられ石英反応
炉21を通って(型3に入れて)送られるシリコン焼結
箔8の上に集束される。反応炉21はプロセスの間アル
ゴンガスから成る保護ガスを流し込まれる。用いられた
棒状ハロゲンランプ19は230mmのフィラメント長
さを有する。放射線10の最適利用のためにシリコン箔
8の幅は約200 m mとすることができる。
放射線装置17.19の効率を最善に保つために、反射
鏡17はその反射面22に関して、断面だ円が70mm
の半袖aと60 m mの半軸すを有するように設計さ
れている。その際反射面22はできるだけシリコン体表
面8.11の端部範囲にまで達するようにすべきである
。
鏡17はその反射面22に関して、断面だ円が70mm
の半袖aと60 m mの半軸すを有するように設計さ
れている。その際反射面22はできるだけシリコン体表
面8.11の端部範囲にまで達するようにすべきである
。
第1図ないし第5図はそれぞれこの発明に基づく製造方
法の一実施例の各処理段階を示す断面図、第6図はシリ
コン焼結箔を送り込まれた連続処理装置に関して第4図
に示す放射線源装置の一実施例を示す断面略図である。 2・・−シリコン粉末、 3−・・型、 6・・・
圧縮層、 8−・・焼結箔(シリコン体)、11・・
・結晶粒(シリコン体)、 12−・・溶融域、
15φ・・結晶体(シリコン体)、17.19−・拳集
束光源(反射鏡とハロゲンラ77’)、 20@m
・搬送コンベヤ、 22・・・反射面。
法の一実施例の各処理段階を示す断面図、第6図はシリ
コン焼結箔を送り込まれた連続処理装置に関して第4図
に示す放射線源装置の一実施例を示す断面略図である。 2・・−シリコン粉末、 3−・・型、 6・・・
圧縮層、 8−・・焼結箔(シリコン体)、11・・
・結晶粒(シリコン体)、 12−・・溶融域、
15φ・・結晶体(シリコン体)、17.19−・拳集
束光源(反射鏡とハロゲンラ77’)、 20@m
・搬送コンベヤ、 22・・・反射面。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)原料として結晶粒度の小さいシリコン粉末を用い、
焼結プロセスにより箔の形に転換する太陽電池用大面積
シリコン結晶体の製造方法において、 a)少なくとも表面がシリコン又はシリコン化合物から
成り製造すべき結晶体(15)の大きさに適合した型(
3)の中で、シリコン粉末(2)をプレス(7)により
粒子直径の複数倍の厚さを有する層(6)に圧縮し、 b)圧縮した層(6)を第1の熱処理(9)中に焼結に
より自立するシリコン焼結箔(8)に転換し、 c)シリコン焼結箔(8)を第2の熱処理(10)中に
片側からのエネルギー入射により、層厚さの少なくとも
半分(12)まで溶融して再結晶し、 d)残りの層厚さ(8)を第3の熱処理(14)中に溶
融して再結晶し、それにより第2の熱処理(10)の後
に再結晶して大きくなった結晶粒(11)を更にシリコ
ン体(15)の層厚さ全体にわたって成長させることを
特徴とする太陽電池用大面積シリコン結晶体の製造方法
。 2)熱処理を片側からの光学的加熱(9、10、14)
により行うことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
の方法。 3)光学的加熱を順次投入される集束光源(17、19
)により行うことを特徴とする特許請求の範囲第1項又
は第2項記載の方法。 4)原料として最大で200μmの粒度を有するシリコ
ン粉末(2)を用いることを特徴とする特許請求の範囲
第1項ないし第3項のいずれか1項に記載の方法。 5)焼結箔(8)の層厚さを300μmないし1000
μmの範囲に設定することを特徴とする特許請求の範囲
第1項ないし第4項のいずれか1項に記載の方法。 6)処理段階〔b〕による焼結プロセスを1350℃な
いし1400℃で約1分間実施することを特徴とする特
許請求の範囲第1項ないし第5項のいずれか1項に記載
の方法。 7)処理段階〔b〕、〔c〕、〔d〕による熱処理段階
を連続処理方法(5)で実施し、その際圧縮されたシリ
コン粒子から成り結晶化すべきシリコン体(8)を搬送
コンベヤ(20)の上に載せて、反射鏡(17)により
集束され順次投入される三つの光源(19)から成る装
置を通って移動し、その際第1及び第2の光源を上方か
らまた第3の光源を下方からシリコン体(8)に作用さ
せるか、又はすべての三つの集束光源(17、19)を
上方から作用させ、その際第2及び第3の熱処理の間で
シリコン体(8、11)を180°回転することを特徴
とする特許請求の範囲第1項ないし第6項のいずれか1
項に記載の方法。 8)処理段階〔b〕、〔c〕、〔d〕による熱処理を連
続処理方法で実施し、その際固定配置されたシリコン体
(8、11)を越えて集束光源(17、19)を駆動装
置により導くことを特徴とする特許請求の範囲第1項な
いし第6項のいずれか1項に記載の方法。 9)光源として少なくとも各6kWの容量を有する棒状
ハロゲンランプ(19)を用い、その放射線(9、10
、14)を少なくとも85%の反射率を有しだ円形の断
面を備えた筒形の鏡(17)により集束することを特徴
とする特許請求の範囲第1項ないし第8項のいずれか1
項に記載の方法。 10)反射面(22)がシリコン体表面(8、11)の
端部範囲にまで達する反射鏡(17)を用いることを特
徴とする特許請求の範囲第1項ないし第9項のいずれか
1項に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3536743.1 | 1985-10-15 | ||
| DE3536743A DE3536743C2 (de) | 1985-10-15 | 1985-10-15 | Verfahren zum Herstellung von großflächigen Siliziumkristallkörpern für Solarzellen |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6289367A true JPS6289367A (ja) | 1987-04-23 |
| JPH07120810B2 JPH07120810B2 (ja) | 1995-12-20 |
Family
ID=6283620
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61241136A Expired - Lifetime JPH07120810B2 (ja) | 1985-10-15 | 1986-10-09 | 太陽電池用大面積シリコン結晶体の製造方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4690797A (ja) |
| JP (1) | JPH07120810B2 (ja) |
| DE (1) | DE3536743C2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004247325A (ja) * | 2002-12-19 | 2004-09-02 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 集積型薄膜太陽電池の評価装置および評価方法 |
| WO2012127769A1 (ja) * | 2011-03-22 | 2012-09-27 | パナソニック株式会社 | 半導体薄膜の形成方法、半導体装置、半導体装置の製造方法、基板及び薄膜基板 |
| JP5761172B2 (ja) * | 2010-02-25 | 2015-08-12 | 産機電業株式会社 | シリコン粉末を用いた太陽電池セルの製造方法 |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3813737A1 (de) * | 1988-04-23 | 1989-11-02 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zum herstellen von solarzellen sowie spiegelofen zur durchfuehrung des verfahrens |
| DE4018967A1 (de) * | 1990-06-13 | 1991-12-19 | Wacker Chemitronic | Verfahren und vorrichtung zum giessen von siliciumbloecken mit kolumnarstruktur als grundmaterial fuer solarzellen |
| US5336335A (en) * | 1992-10-09 | 1994-08-09 | Astropower, Inc. | Columnar-grained polycrystalline solar cell and process of manufacture |
| US6800137B2 (en) | 1995-06-16 | 2004-10-05 | Phoenix Scientific Corporation | Binary and ternary crystal purification and growth method and apparatus |
| US5993540A (en) * | 1995-06-16 | 1999-11-30 | Optoscint, Inc. | Continuous crystal plate growth process and apparatus |
| ES2163563T3 (es) * | 1996-09-18 | 2002-02-01 | Tece Technical Ceramics Gmbh & | Substrato ceramico para pilas solares de capa delgada a base de silicio cristalino. |
| DE19652818A1 (de) * | 1996-12-18 | 1998-07-02 | Priesemuth W | Verfahren zum Herstellen einer Solarzelle sowie Solarzelle |
| US6402840B1 (en) | 1999-08-10 | 2002-06-11 | Optoscint, Inc. | Crystal growth employing embedded purification chamber |
| WO2004019393A1 (ja) * | 2002-08-23 | 2004-03-04 | Jsr Corporation | シリコン膜形成用組成物およびシリコン膜の形成方法 |
| ES2363699T3 (es) * | 2004-04-15 | 2011-08-12 | Faculdade De Ciencias Da Universidade De Lisboa | Método y aparato para el crecimiento de semiconductores, en particular de cintas de silicio. |
| NL1026377C2 (nl) | 2004-06-10 | 2005-12-14 | Stichting Energie | Werkwijze voor het fabriceren van kristallijn-siliciumfolies. |
| DE102004060737B4 (de) * | 2004-12-15 | 2007-03-08 | Degussa Ag | Verfahren zur Herstellung von halbleitenden oder photovoltaisch aktiven Filmen |
| US7572334B2 (en) | 2006-01-03 | 2009-08-11 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for fabricating large-surface area polycrystalline silicon sheets for solar cell application |
| US7569462B2 (en) * | 2006-12-13 | 2009-08-04 | Applied Materials, Inc. | Directional crystallization of silicon sheets using rapid thermal processing |
| ATE498665T1 (de) * | 2007-08-28 | 2011-03-15 | Commissariat Energie Atomique | Verfahren zur herstellung von festen und porösen filmen aus teilchenförmigen stoffen durch quelle hohen wärmeflusses |
| WO2009028974A1 (en) * | 2007-08-31 | 2009-03-05 | Faculdade De Ciências Da Universidade De Lisboa | Method for the production of semiconductor ribbons from a gaseous feedstock |
| US8545944B2 (en) * | 2008-09-19 | 2013-10-01 | Sri International | Method for producing solar grade films from semiconductor powders |
| US8603242B2 (en) * | 2009-02-26 | 2013-12-10 | Uri Cohen | Floating semiconductor foils |
| US8501139B2 (en) * | 2009-02-26 | 2013-08-06 | Uri Cohen | Floating Si and/or Ge foils |
| US8790460B2 (en) * | 2009-05-18 | 2014-07-29 | Empire Technology Development Llc | Formation of silicon sheets by impinging fluid |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5296864A (en) * | 1976-02-09 | 1977-08-15 | Motorola Inc | Method of transforming slice of polycrystal semiconductor into slice of huge crystal semiconductor |
| JPS5481091A (en) * | 1977-12-12 | 1979-06-28 | Agency Of Ind Science & Technol | Plate-type silicon semiconductor and its manufacture |
| JPS5787181A (en) * | 1980-09-20 | 1982-05-31 | Licentia Gmbh | Silicon layer solar battery |
| JPS5791519A (en) * | 1980-10-06 | 1982-06-07 | Olin Mathieson | Device and method for recrystallizing thin strip material |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4090851A (en) * | 1976-10-15 | 1978-05-23 | Rca Corporation | Si3 N4 Coated crucible and die means for growing single crystalline silicon sheets |
| US4099924A (en) * | 1977-03-16 | 1978-07-11 | Rca Corporation | Apparatus improvements for growing single crystalline silicon sheets |
| DD155283A3 (de) * | 1979-05-03 | 1982-06-02 | Reiner Irmisch | Verfahren zur herstellung von hochreinen presslingen |
| DE2927086C2 (de) * | 1979-07-04 | 1987-02-05 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zum Herstellen von platten- oder bandförmigen Siliziumkristallkörpern mit Säulenstruktur für Solarzellen |
| DE3017923A1 (de) * | 1980-05-09 | 1981-11-12 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zum herstellen von platten- oder bandfoermigen siliziumkristallkoerpern mit einer der kolumnarstruktur gleichwertigen saeulenstruktur durch sintern |
| DE3019635A1 (de) * | 1980-05-22 | 1981-11-26 | SIEMENS AG AAAAA, 1000 Berlin und 8000 München | Verbesserung eines verfahrens zur herstellung von platten-, band- oder folienfoermigen siliziumkristallkoerpern fuer solarzellen |
| DE3019654A1 (de) * | 1980-05-22 | 1981-11-26 | SIEMENS AG AAAAA, 1000 Berlin und 8000 München | Verbesserung eines verfahrens zur herstellung von platten-, band- oder foliefoermigen siliziumkristallkoerpern fuer solarzellen |
| US4486265A (en) * | 1981-11-24 | 1984-12-04 | Spire Corporation | Process of making thin film materials for high efficiency solar cells |
| DD213458A1 (de) * | 1983-02-01 | 1984-09-12 | Adw Ddr | Verfahren und vorrichtung zur tiegelfreien herstellung von profilkristallen |
| DE3338335A1 (de) * | 1983-10-21 | 1985-05-09 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zum herstellen von grossflaechigen siliziumkristallkoerpern fuer solarzellen |
| US4643797A (en) * | 1984-08-28 | 1987-02-17 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for the manufacture of large area silicon crystal bodies for solar cells |
-
1985
- 1985-10-15 DE DE3536743A patent/DE3536743C2/de not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-09-17 US US06/908,165 patent/US4690797A/en not_active Expired - Fee Related
- 1986-10-09 JP JP61241136A patent/JPH07120810B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5296864A (en) * | 1976-02-09 | 1977-08-15 | Motorola Inc | Method of transforming slice of polycrystal semiconductor into slice of huge crystal semiconductor |
| JPS5481091A (en) * | 1977-12-12 | 1979-06-28 | Agency Of Ind Science & Technol | Plate-type silicon semiconductor and its manufacture |
| JPS5787181A (en) * | 1980-09-20 | 1982-05-31 | Licentia Gmbh | Silicon layer solar battery |
| JPS5791519A (en) * | 1980-10-06 | 1982-06-07 | Olin Mathieson | Device and method for recrystallizing thin strip material |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004247325A (ja) * | 2002-12-19 | 2004-09-02 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 集積型薄膜太陽電池の評価装置および評価方法 |
| JP5761172B2 (ja) * | 2010-02-25 | 2015-08-12 | 産機電業株式会社 | シリコン粉末を用いた太陽電池セルの製造方法 |
| WO2012127769A1 (ja) * | 2011-03-22 | 2012-09-27 | パナソニック株式会社 | 半導体薄膜の形成方法、半導体装置、半導体装置の製造方法、基板及び薄膜基板 |
| JP5508535B2 (ja) * | 2011-03-22 | 2014-06-04 | パナソニック株式会社 | 半導体薄膜の形成方法、半導体装置、半導体装置の製造方法、基板及び薄膜基板 |
| US9275855B2 (en) | 2011-03-22 | 2016-03-01 | Joled Inc. | Semiconductor thin-film forming method, semiconductor device, semiconductor device manufacturing method, substrate, and thin-film substrate |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3536743A1 (de) | 1987-04-23 |
| JPH07120810B2 (ja) | 1995-12-20 |
| US4690797A (en) | 1987-09-01 |
| DE3536743C2 (de) | 1994-11-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6289367A (ja) | 太陽電池用大面積シリコン結晶体の製造方法 | |
| US4637855A (en) | Process for producing crystalline silicon spheres | |
| US4187126A (en) | Growth-orientation of crystals by raster scanning electron beam | |
| US5800611A (en) | Method for making large area single crystal silicon sheets | |
| US5492079A (en) | Process for producing rods or blocks of semiconductor material and an apparatus for carrying out the process | |
| US4599245A (en) | Method for making large-surface silicon crystal bodies | |
| CN112570729A (zh) | 一种降低开裂敏感性的激光增材制造方法 | |
| US8420515B2 (en) | Method of producing a solar cell | |
| CN112513342A (zh) | 一种氧化镓晶体冷坩埚生长方法 | |
| KR100428699B1 (ko) | 수직-수평 온도구배를 갖는 대형 결정 육성장치 및 그육성방법 | |
| KR101287525B1 (ko) | 자가-지지형 결정화 실리콘 박막의 제조 방법 | |
| US4643797A (en) | Method for the manufacture of large area silicon crystal bodies for solar cells | |
| JPH05170430A (ja) | マグネシア単結晶の製造方法 | |
| CN114945712A (zh) | 薄板状单晶制造装置及薄板状单晶制造方法 | |
| JP2000351688A (ja) | 結晶シリコン製造用ルツボ及びその製造方法 | |
| CN103352248B (zh) | 多晶硅的结晶工艺和多晶硅的铸锭工艺 | |
| JPH11274537A (ja) | 大粒径多結晶シリコンの製造法 | |
| JPH05294791A (ja) | 多結晶基板の製造方法および製造装置 | |
| EP0073938B1 (en) | Production of semicrystalline silicon sheets | |
| JPH03183700A (ja) | シリコン成形品の製造方法 | |
| KR20200109451A (ko) | 실리콘 웨이퍼 제조 방법 | |
| JPS63147312A (ja) | シリコン基板の製造方法 | |
| JP2001518720A (ja) | 半導体材料からなるウェハーを製造する方法と装置 | |
| JPS6335500A (ja) | 強誘電体単結晶の単一分域化方法 | |
| Tawata et al. | Effect of laser irradiation on evaporated stearic acid |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |