JPS6292925A - カメラ用測光装置 - Google Patents
カメラ用測光装置Info
- Publication number
- JPS6292925A JPS6292925A JP60232800A JP23280085A JPS6292925A JP S6292925 A JPS6292925 A JP S6292925A JP 60232800 A JP60232800 A JP 60232800A JP 23280085 A JP23280085 A JP 23280085A JP S6292925 A JPS6292925 A JP S6292925A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- photoelectric conversion
- photometric
- light
- conversion element
- camera
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Exposure Control For Cameras (AREA)
- Viewfinders (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
こ産業上の利用分野]
本発明は、−眼レフレックスカメラのようにピント板を
備えたカメラに内蔵されるカメラ用測光装置に関するも
のである。
備えたカメラに内蔵されるカメラ用測光装置に関するも
のである。
[従来の技術]
従来、−眼レフレックスカメラの測光装置は、例えばコ
ンデンサレンズに形成したマイクロビームスプリッタな
どの光分割部材によって測光素子へ光束を導く方式、或
いはペンタプリズムの光束出射面に設けたフレネルレン
ズを介して集光する方式などが提案されている。しかし
、ファインダ視野での光量分布の阻害、又は測光方式を
変更する場合には光分割部材の交換を要するなどの欠点
を有している。
ンデンサレンズに形成したマイクロビームスプリッタな
どの光分割部材によって測光素子へ光束を導く方式、或
いはペンタプリズムの光束出射面に設けたフレネルレン
ズを介して集光する方式などが提案されている。しかし
、ファインダ視野での光量分布の阻害、又は測光方式を
変更する場合には光分割部材の交換を要するなどの欠点
を有している。
第6図、第7図はそれぞれ従来の測光装置の一例であり
、第6図は一眼レフレックスカメラの光釆系の断面図で
ある。ここで、撮影レンズ1を透過した被写体光は、レ
フレックスミラー2により上方に反射され、ピント板3
、光分割部材4、測光素子5、コンデンサレンズ6、ベ
ンタプリズム7を経て接脂レンズ8に至るようになって
いる。
、第6図は一眼レフレックスカメラの光釆系の断面図で
ある。ここで、撮影レンズ1を透過した被写体光は、レ
フレックスミラー2により上方に反射され、ピント板3
、光分割部材4、測光素子5、コンデンサレンズ6、ベ
ンタプリズム7を経て接脂レンズ8に至るようになって
いる。
この測定方式では、接脂レンズ8を介して被写体を見た
とき、光分割部材4を通過する光束の一部が遮光され、
ファインダ中央部に陰影が生ずる弊害がある。また、測
光素子5に取り込む光線の領域は光分割部材4の形状に
よって決定されるものであり、画面中央部を重点とする
中央重点測光、画面全体の平均像とし捉える平均測光等
があって、それぞれの測定領域は固定されている。従っ
て、測光領域を変える場合には、光分割部材4が形成さ
れたコンデンサレンズ6を取り換える必要がある。
とき、光分割部材4を通過する光束の一部が遮光され、
ファインダ中央部に陰影が生ずる弊害がある。また、測
光素子5に取り込む光線の領域は光分割部材4の形状に
よって決定されるものであり、画面中央部を重点とする
中央重点測光、画面全体の平均像とし捉える平均測光等
があって、それぞれの測定領域は固定されている。従っ
て、測光領域を変える場合には、光分割部材4が形成さ
れたコンデンサレンズ6を取り換える必要がある。
第7図の従来例においては、図示しない撮影レンズを透
過した被写体光は、レフレックスミラー2で反射されピ
ント板3を経て、ペンタプリズム7で屈折し接眼レンズ
8に至っている。一方、ペンタプリズム7の出射面に設
置されたフレネルレンズ9により、その出射位置に対応
して設けられた測光素子5に集光する方式である。この
場合は第6図の場合と異なって、ファインダ中央部に陰
影が生ずることはないが、前述の多様な測光方式に対応
し得るものではなく、測光方式の切換えを行うことは殆
ど不可能である。
過した被写体光は、レフレックスミラー2で反射されピ
ント板3を経て、ペンタプリズム7で屈折し接眼レンズ
8に至っている。一方、ペンタプリズム7の出射面に設
置されたフレネルレンズ9により、その出射位置に対応
して設けられた測光素子5に集光する方式である。この
場合は第6図の場合と異なって、ファインダ中央部に陰
影が生ずることはないが、前述の多様な測光方式に対応
し得るものではなく、測光方式の切換えを行うことは殆
ど不可能である。
〔発明の目的]
本発明の目的は、上述のような従来例の欠点を改善する
ため、ファインダ視野に影響を与えることなく、被写体
の測光を精度良く行えるようにしたカメラ用測光装置を
提供することにある。
ため、ファインダ視野に影響を与えることなく、被写体
の測光を精度良く行えるようにしたカメラ用測光装置を
提供することにある。
[発明の概要]
上述の目的を達成するための本発明の要旨は、測光光軸
上に微細な複数の光電変換素子体を設けた測光装置にお
いて、前記ピント板の少なくとも前記光電変換素子体と
光軸上において重なる領域又はその近傍の領域の光拡散
性を他の領域の光拡散性とを異ならせたことを特徴とす
るカメラ用測光装置である。
上に微細な複数の光電変換素子体を設けた測光装置にお
いて、前記ピント板の少なくとも前記光電変換素子体と
光軸上において重なる領域又はその近傍の領域の光拡散
性を他の領域の光拡散性とを異ならせたことを特徴とす
るカメラ用測光装置である。
゛ [発明の実施例]
本発明を第1図〜第5図に図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。
に説明する。
′g1図は本発明を適用した一部レフレックスカメラの
測光系の構成を示し、被写体光りはレフレックスミラー
11、第2図に示す光電変換素子群を有する測光部材1
2、多数のマイクロレンズを有するピント板13、コン
デンサレンズ14、ペンタプリズム15を経て接眼レン
ズ16に到達するようになっている。なお、17は感光
フィルムを表している。
測光系の構成を示し、被写体光りはレフレックスミラー
11、第2図に示す光電変換素子群を有する測光部材1
2、多数のマイクロレンズを有するピント板13、コン
デンサレンズ14、ペンタプリズム15を経て接眼レン
ズ16に到達するようになっている。なお、17は感光
フィルムを表している。
測光部材12には、例えば第2図に示すような櫛歯状を
成す複数個の光電変換素子体18が配列されており、第
3図は光電変換素子体18の具体的な構成例である。即
ち、ガラス等の透明基板19上に、光を通す透明な材料
から成る下部電極20、CdS・アモルファスシリコン
等の光電変換物質21、上部電極22を順次に積層して
構成され、線幅dが数10ルm以下の微細な線状体によ
って櫛歯部及び連結部が形成されている。そして、下部
電極20及び上部電極22の端部には、同程度のtag
を有する微細なリード線23.24が接続され、下部電
極20、光電変換物質21、上部電極22.リード!!
23.24は一体的に構成されている。
成す複数個の光電変換素子体18が配列されており、第
3図は光電変換素子体18の具体的な構成例である。即
ち、ガラス等の透明基板19上に、光を通す透明な材料
から成る下部電極20、CdS・アモルファスシリコン
等の光電変換物質21、上部電極22を順次に積層して
構成され、線幅dが数10ルm以下の微細な線状体によ
って櫛歯部及び連結部が形成されている。そして、下部
電極20及び上部電極22の端部には、同程度のtag
を有する微細なリード線23.24が接続され、下部電
極20、光電変換物質21、上部電極22.リード!!
23.24は一体的に構成されている。
このように構成された光電変換素子体18は、ii部の
組合わせにより幾つかのブロックに分割され、例えば中
央重点測光方式や平均測光方式等の多様な測光方式に対
応できるように配着されている。また、それぞれの下部
電極20、上部電極22に接続されたリード線23.2
4を結ぶ電気回路により、単独に使用する場合と合成し
て使用する場合とに切換えることができるようになって
いる。
組合わせにより幾つかのブロックに分割され、例えば中
央重点測光方式や平均測光方式等の多様な測光方式に対
応できるように配着されている。また、それぞれの下部
電極20、上部電極22に接続されたリード線23.2
4を結ぶ電気回路により、単独に使用する場合と合成し
て使用する場合とに切換えることができるようになって
いる。
一方、ピント板13は第4図の断面図に示すように、多
数の微細なマイクロレンズ25を有し、V光部材12の
光電変換素子体18と重なる領域Aとその近傍の領域B
とは他の部分よりもマイクロレンズ25の焦点距離が短
く光拡散性が大きくなっている。
数の微細なマイクロレンズ25を有し、V光部材12の
光電変換素子体18と重なる領域Aとその近傍の領域B
とは他の部分よりもマイクロレンズ25の焦点距離が短
く光拡散性が大きくなっている。
゛光電変換物質21として、CdS又はアモルファスシ
リコン等を単独で使用する場合には、これらの物質は可
視光に対する透過率が小さいため、ファインダの視界が
妨げられることになる。
リコン等を単独で使用する場合には、これらの物質は可
視光に対する透過率が小さいため、ファインダの視界が
妨げられることになる。
しかし、実施例において使用される光電変換素子体18
の線幅dは数10gm以下であること、かつピント板工
3の少なくとも光電変換素子体18と重なる領域A及び
その近傍の領域Bの光拡散性が他の領域よりも大きくな
っていること、更にピント板13と測光部材12との間
に距離があることによって、ファインダを覗いても光電
変換素子体18のパターンが見える虞れがなくなり、従
来のようにファインダの視界が妨げられることはない。
の線幅dは数10gm以下であること、かつピント板工
3の少なくとも光電変換素子体18と重なる領域A及び
その近傍の領域Bの光拡散性が他の領域よりも大きくな
っていること、更にピント板13と測光部材12との間
に距離があることによって、ファインダを覗いても光電
変換素子体18のパターンが見える虞れがなくなり、従
来のようにファインダの視界が妨げられることはない。
ピント板13と測光部材12どの間隔によっては、ピン
ト板13の光電変換素子体18と重なる領域Aのみの光
拡散性を強くしたり、或いは領域Aの近傍の領域Bだけ
の光拡散性を大きくしてもよい。更に場合によっては、
領域A、領域B、その他の領域の光拡散性を少しずつ変
化するようにしてもよい。
ト板13の光電変換素子体18と重なる領域Aのみの光
拡散性を強くしたり、或いは領域Aの近傍の領域Bだけ
の光拡散性を大きくしてもよい。更に場合によっては、
領域A、領域B、その他の領域の光拡散性を少しずつ変
化するようにしてもよい。
上述の実施例では、マイクロレンズ25の焦点距離を異
ならせて光拡散性を変える例を示したが、例えばマイク
ロレンズ25のピッチを異ならせて光拡散性に変化をつ
けるなど、その他の方法で光拡散性を変えることもでき
る。光電変換素子体18のパターンは必ずしも*歯状に
するとは限らず、例えば網目状又は格子状等のパターン
にしてもよい。更に測光部材12として、光が照射され
ると起電力を発生する光起電力型のもの、或いは光照射
によって抵抗が変化するような光導電型のもの等を代用
することもできる。
ならせて光拡散性を変える例を示したが、例えばマイク
ロレンズ25のピッチを異ならせて光拡散性に変化をつ
けるなど、その他の方法で光拡散性を変えることもでき
る。光電変換素子体18のパターンは必ずしも*歯状に
するとは限らず、例えば網目状又は格子状等のパターン
にしてもよい。更に測光部材12として、光が照射され
ると起電力を発生する光起電力型のもの、或いは光照射
によって抵抗が変化するような光導電型のもの等を代用
することもできる。
また、第5図に示すように測光部材12とピント板13
とを一体とし、マイクロレンズ25と光電変換素子体1
8とを共通の透明基板26の表裏に形成することもでき
、この場合は部品点数及びコストをWI減することがで
きる。
とを一体とし、マイクロレンズ25と光電変換素子体1
8とを共通の透明基板26の表裏に形成することもでき
、この場合は部品点数及びコストをWI減することがで
きる。
[発明の効果]
以上説明したように本発明に係るカメラ用測光装置は、
ピント板の少なくとも光電変換素子体と重なる領域、又
はその近傍の領域の光拡散性を他め領域と異ならせたた
め、ファインダ視野に悪影響を与えることなく、被写体
光を精度良く測光できるという効果がある。
ピント板の少なくとも光電変換素子体と重なる領域、又
はその近傍の領域の光拡散性を他め領域と異ならせたた
め、ファインダ視野に悪影響を与えることなく、被写体
光を精度良く測光できるという効果がある。
図面第1図〜第5図は本発明に係るカメラ用測光装置の
実施例を示し、第1図は本発明を適用した一眼レフレッ
クスカメラの測光系の構成図、第2図は測光部材の平面
図、第3図は光電変換素子体の斜視図、第4図はピント
板と光電変換素子体の断面図、第5図はピント板と測光
部材とを一体にした場合の断面図であり、第6図、第7
図は従来のカメラ用測光装置の構成図である。 符号11はレフレックスミラー、12は測光部材、13
はピント板、14はコンデンサレンズ、15はペンタプ
リズム、16は接眼レンズ、18は光電変換素子体、1
9は透明基板、20は下部電極、21は光電変換物質、
22は上部電極、23.24はリード線、25はマイク
ロレンズ、26は透明基板である。 特許出願人 キャノン株式会社 第1図 第2図 紀3図 第4図 第5図 第6図 第7図
実施例を示し、第1図は本発明を適用した一眼レフレッ
クスカメラの測光系の構成図、第2図は測光部材の平面
図、第3図は光電変換素子体の斜視図、第4図はピント
板と光電変換素子体の断面図、第5図はピント板と測光
部材とを一体にした場合の断面図であり、第6図、第7
図は従来のカメラ用測光装置の構成図である。 符号11はレフレックスミラー、12は測光部材、13
はピント板、14はコンデンサレンズ、15はペンタプ
リズム、16は接眼レンズ、18は光電変換素子体、1
9は透明基板、20は下部電極、21は光電変換物質、
22は上部電極、23.24はリード線、25はマイク
ロレンズ、26は透明基板である。 特許出願人 キャノン株式会社 第1図 第2図 紀3図 第4図 第5図 第6図 第7図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、ピント板を内蔵するカメラの測光用素子として、該
ピント板を含む測光光軸上に微細な複数の光電変換素子
体を設けた測光装置において、前記ピント板の少なくと
も前記光電変換素子体と光軸上において重なる領域又は
その近傍の領域の光拡散性を他の領域の光拡散性とを異
ならせたことを特徴とするカメラ用測光装置。 2、前記ピント板の前記光電変換素子体と重なる領域又
はその近傍の領域の光拡散性を他の領域の光拡散性より
も大きくした特許請求の範囲第1項に記載のカメラ用測
光装置。 3、前記光拡散性は前記ピント板に設けたマイクロレン
ズにより与えるようにした特許請求の範囲第1項に記載
のカメラ用測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60232800A JPS6292925A (ja) | 1985-10-18 | 1985-10-18 | カメラ用測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60232800A JPS6292925A (ja) | 1985-10-18 | 1985-10-18 | カメラ用測光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6292925A true JPS6292925A (ja) | 1987-04-28 |
Family
ID=16944955
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60232800A Pending JPS6292925A (ja) | 1985-10-18 | 1985-10-18 | カメラ用測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6292925A (ja) |
-
1985
- 1985-10-18 JP JP60232800A patent/JPS6292925A/ja active Pending
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