JPS6295473A - 論理回路図表示装置 - Google Patents
論理回路図表示装置Info
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- JPS6295473A JPS6295473A JP60235575A JP23557585A JPS6295473A JP S6295473 A JPS6295473 A JP S6295473A JP 60235575 A JP60235575 A JP 60235575A JP 23557585 A JP23557585 A JP 23557585A JP S6295473 A JPS6295473 A JP S6295473A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 title claims abstract description 49
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims abstract description 11
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 22
- 239000002131 composite material Substances 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 7
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 7
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は論理回路の回路図表示装置に関し、特に論理接
続情報と論理回路に設定された故障情報とにより論理回
路図を生成して故障情報と合わせて表示する論理回路図
表示装置に関する。
続情報と論理回路に設定された故障情報とにより論理回
路図を生成して故障情報と合わせて表示する論理回路図
表示装置に関する。
（従来の技術）
従来、論理回路の機能試験においては、充分に機能試験
が実行できる試験パターンを生成する方式として、試験
対象論理回路に対して一〇＃縮退モードの故障、あるい
は％１１縮退モードの故障を設定し、その故障を検出す
る試験パターンを生成し、故障シミュレーション手法に
よって、どの程度まで検出されたかを評価していた。評
価の結果、未検出の故障があれば、さらにその未検出故
障を検出するための試験パターンを生成し、故障シミュ
レーションを実行して評価し、これを満足のゆくまで繰
返し実行するという方式が採用されていた。
が実行できる試験パターンを生成する方式として、試験
対象論理回路に対して一〇＃縮退モードの故障、あるい
は％１１縮退モードの故障を設定し、その故障を検出す
る試験パターンを生成し、故障シミュレーション手法に
よって、どの程度まで検出されたかを評価していた。評
価の結果、未検出の故障があれば、さらにその未検出故
障を検出するための試験パターンを生成し、故障シミュ
レーションを実行して評価し、これを満足のゆくまで繰
返し実行するという方式が採用されていた。
斯かる技術に関しては、例えば、電子通信学会により編
集され、オーム社により１９８４年に発行された％ＬＳ
Ｉハンドブックｌ第３編第２章を参照されたい。
集され、オーム社により１９８４年に発行された％ＬＳ
Ｉハンドブックｌ第３編第２章を参照されたい。
斯かる方式においては、いかにして未検出故障を検出す
るための試験パターンを短時間で、少ない試験パターン
量で効率よく作成するかが重要な鍵である。
るための試験パターンを短時間で、少ない試験パターン
量で効率よく作成するかが重要な鍵である。
したがって、未検出故障が試験対象論理回路上のどこに
存在するかを探し出す必要があシ、探索方式として論理
回路上の位置、入力側故障であるか、あるいは出力側故
障であるか、１０Ｉ縮退モードの故障であるか、あるい
は１１１縮退モードの故障であるかなどの故障情報をも
とに人手によって論理回路図上をトレースし、該当する
個所を探し出す必要性があった。
存在するかを探し出す必要があシ、探索方式として論理
回路上の位置、入力側故障であるか、あるいは出力側故
障であるか、１０Ｉ縮退モードの故障であるか、あるい
は１１１縮退モードの故障であるかなどの故障情報をも
とに人手によって論理回路図上をトレースし、該当する
個所を探し出す必要性があった。
（発明が解決しようとする問題点）
上述した従来の機能試験では、充分に機能試験を実施で
きる試験パターンを生成する際、故障情報をもとにして
人手によって論理回路図上をトレースして、未検出故障
が試験対象論理回路上のどこに存在するかを求めなけれ
ばならないため、非常に長時間を要し、回路図上に記入
する際に誤って記入しがちであるという欠点がある。
きる試験パターンを生成する際、故障情報をもとにして
人手によって論理回路図上をトレースして、未検出故障
が試験対象論理回路上のどこに存在するかを求めなけれ
ばならないため、非常に長時間を要し、回路図上に記入
する際に誤って記入しがちであるという欠点がある。
本発明の目的は、試験対象論理回路の論理接続情報と故
障情報とをもとにして、未検出故障が試験対象論理回路
上のどこに存在するかを示す論理回路図を生成し、故障
情報と合わせて表示するととによ勺上記欠点を除去し、
短時間で正確に故障情報を表示できるように構成した論
理回路図表示装置を提供することにある。
障情報とをもとにして、未検出故障が試験対象論理回路
上のどこに存在するかを示す論理回路図を生成し、故障
情報と合わせて表示するととによ勺上記欠点を除去し、
短時間で正確に故障情報を表示できるように構成した論
理回路図表示装置を提供することにある。
（問題点を解決するための手段）
本発明による論理回路図表示装置は、論理接続情報入力
手段と、故障情報入力手段と、合成手段と、表示手段と
を具備して構成したものである。
手段と、故障情報入力手段と、合成手段と、表示手段と
を具備して構成したものである。
論理接続情報入力手段は、試験対象論理回路の論理接続
情報を入力するた°めのものである。
情報を入力するた°めのものである。
故障情報入力手段は、試験対象論理回路に設定された故
障情報を入力するためのものである。
障情報を入力するためのものである。
合成手段は、論理接続情報および故障情報を合成して論
理接続／故障情報を得るためのものである。
理接続／故障情報を得るためのものである。
表示手段は、合成手段によって得られた論理接続／故障
情報から論理回路図を生成して故障情報と合わせて表示
するだめのものである。
情報から論理回路図を生成して故障情報と合わせて表示
するだめのものである。
（実施例）
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図は、本発明による論理回路図表示装置の要部の一
実施例を示すブロック図である。第１図において、ｌは
論理回路図表示装置、２は論理接続情報収集手段、３は
故障情報収集手段、４は論理接続情報入力手段、５は故
障情報入力手段、６は合成手段、フは表示手段である。
実施例を示すブロック図である。第１図において、ｌは
論理回路図表示装置、２は論理接続情報収集手段、３は
故障情報収集手段、４は論理接続情報入力手段、５は故
障情報入力手段、６は合成手段、フは表示手段である。
第１図において、論理回路図表示装置ｌは試験対象論理
回路の論理接続情報収集手段２を入力するための論理接
続情報入力手段４と、試験対象論理回路に設定された故
障情報を故障情報収集手段３から入力するための故障情
報入力手段５と、上記論理接続情報入力手段４と故障情
報入力手段５とによって入力された論理接続情報と故障
情報とを合成するための合成手段６と、その論理接続情
報と故障情報とを合成するための合成手段６によって合
成された論理接続／故障情報から論理回路図を生成し、
故障情報と合わせて表示するための表示手段７とを備え
ている。
回路の論理接続情報収集手段２を入力するための論理接
続情報入力手段４と、試験対象論理回路に設定された故
障情報を故障情報収集手段３から入力するための故障情
報入力手段５と、上記論理接続情報入力手段４と故障情
報入力手段５とによって入力された論理接続情報と故障
情報とを合成するための合成手段６と、その論理接続情
報と故障情報とを合成するための合成手段６によって合
成された論理接続／故障情報から論理回路図を生成し、
故障情報と合わせて表示するための表示手段７とを備え
ている。
以下に、論理回路図表示装置ｌの動作について説明する
。
。
第２図は、被試験用論理回路の一例を示すブロック図で
ある。第２図において、ｌＯ〜１２゜１５．１６はそれ
ぞれ端子形素子、１３はＡＮＤゲート、１４はＡＮＤ／
ＮＡＮＤゲートである。
ある。第２図において、ｌＯ〜１２゜１５．１６はそれ
ぞれ端子形素子、１３はＡＮＤゲート、１４はＡＮＤ／
ＮＡＮＤゲートである。
論理接続情報収集手段２により収集された情報には回路
図上の位置、素子間の接続関係、形状、ならびにｘ −
ｙ座標などの情報が入っている。これらの情報は、論理
接続情報入力手段４によって論理回路図表示装置１へ入
力される。
図上の位置、素子間の接続関係、形状、ならびにｘ −
ｙ座標などの情報が入っている。これらの情報は、論理
接続情報入力手段４によって論理回路図表示装置１へ入
力される。
一方、故障情報収集手段３には第２図に示す論理回路の
故障情報が収集されている。これらの故障情報には論理
回路図上での位置、入力側が故障であるか、あるいは出
力側が故障であるかの区別、ピン番号、％Ｏ１縮退モー
ドの故障であるか、あるいは％１〃縮退モードの故障で
あるかの区別が含まれる。これらの情報は、故障情報入
力手段５によって論理回路図表示装置ｌへ入力される。
故障情報が収集されている。これらの故障情報には論理
回路図上での位置、入力側が故障であるか、あるいは出
力側が故障であるかの区別、ピン番号、％Ｏ１縮退モー
ドの故障であるか、あるいは％１〃縮退モードの故障で
あるかの区別が含まれる。これらの情報は、故障情報入
力手段５によって論理回路図表示装置ｌへ入力される。
論理接続情報と故障情報とを合成するための合成手段６
ば、以下の第１〜第４の手順によって動作し、論理接続
情報と故障情報とを合成する。
ば、以下の第１〜第４の手順によって動作し、論理接続
情報と故障情報とを合成する。
最初に手順１では、論理接続情報のうちで、−つの素子
に対する情報を取出す。
に対する情報を取出す。
第２の手順２では、取出された情報のなかから回路図上
の位置を取出し、すべての故障情報のなかの位置情報と
比較する。比較の結果、一致するものがない場合には、
該当する素子に対する故障情報はないものとして論理接
続／故障情報を作成し、手順１へ戻る。比較の結果、一
致するものがあった場合には、次の手順８へ行く。
の位置を取出し、すべての故障情報のなかの位置情報と
比較する。比較の結果、一致するものがない場合には、
該当する素子に対する故障情報はないものとして論理接
続／故障情報を作成し、手順１へ戻る。比較の結果、一
致するものがあった場合には、次の手順８へ行く。
一つの素子に対する論理接続情報の記述の規則として、
項番の若い！１＠に第１の入力／第１の出力の記述、第
２の入力／第２の出力の記述、さらに続けて第ｎの入力
／ ｍ ｎの出力の記述と順序付けられて記述されてい
るため、第３の手順３では故障情報より入力側の故障で
あるか、あるいは出力側の故障であるかの区別、ならび
にピン番号から成る情報を取出し、それぞれ対応する論
理接続情報と故障情報とをみつけて合成する。
項番の若い！１＠に第１の入力／第１の出力の記述、第
２の入力／第２の出力の記述、さらに続けて第ｎの入力
／ ｍ ｎの出力の記述と順序付けられて記述されてい
るため、第３の手順３では故障情報より入力側の故障で
あるか、あるいは出力側の故障であるかの区別、ならび
にピン番号から成る情報を取出し、それぞれ対応する論
理接続情報と故障情報とをみつけて合成する。
第４の手順４では、上記手原１〜手順３を論理接続情報
がなくなるまで繰返す。
がなくなるまで繰返す。
第３図〜第５図は、それぞれ論理接続情報、故障情報、
ならびに論理接続／故障情報を要約して示す説明図であ
る。
ならびに論理接続／故障情報を要約して示す説明図であ
る。
第１図〜第５図を参照して素子１０を例に挙げて説明す
ると、手順１により第８図の項番８−１が取出される。
ると、手順１により第８図の項番８−１が取出される。
手順２により素子１０の回路図上の位置％ＯＩＡ’が取
出され、第４図の故障情報のなかよ勺同−位置をもつ故
障情報を探し出す。
出され、第４図の故障情報のなかよ勺同−位置をもつ故
障情報を探し出す。
そこで、項番４−１が送出される。第３図の項番８−１
の回路図情報は、手順３によって素子１０の第１の入力
／第１の出力の記述であることが判別され、同時に第４
図の項番４−１によって素子１０の第１の出力であるこ
とが判別される。したがって、論理接続情報と故障情報
とが合成されて第５図の素子１０に対する論理接続／故
障情報が得られる。
の回路図情報は、手順３によって素子１０の第１の入力
／第１の出力の記述であることが判別され、同時に第４
図の項番４−１によって素子１０の第１の出力であるこ
とが判別される。したがって、論理接続情報と故障情報
とが合成されて第５図の素子１０に対する論理接続／故
障情報が得られる。
以下、同様にして手順１〜手順４を論理接続情報がなく
なるまで繰返すことによシ、素子１０〜素子１６に対す
る論理接続情報と故障情報とが合成され、結果的には第
５図に示すような論理接続／故障情報が生成される。
なるまで繰返すことによシ、素子１０〜素子１６に対す
る論理接続情報と故障情報とが合成され、結果的には第
５図に示すような論理接続／故障情報が生成される。
論理回路図を生成し、故障情報と合わせて表示するだめ
の表示手段７は、論理接続情報と故障情報とを合成する
ための合成手段６によって生成された論理接続／故障情
報を入力して、論理回路図および故障値を同一画面上に
表示する。一つの素子に関して、画面上の位置、形状、
および故障モードを表示手段７に表示するかは、論理接
続／故障情報の内部のＸ座標、およびＸ座標の欄に入っ
ている値によって位置が決定され、形状欄の型名によっ
てどのような形状を表示するかが決定され、故障値欄の
入力側であるか、あるいは出力側であるかの区別によっ
て故障値を形状の右側に表示するか、あるいは左側に表
示するかが決定される。
の表示手段７は、論理接続情報と故障情報とを合成する
ための合成手段６によって生成された論理接続／故障情
報を入力して、論理回路図および故障値を同一画面上に
表示する。一つの素子に関して、画面上の位置、形状、
および故障モードを表示手段７に表示するかは、論理接
続／故障情報の内部のＸ座標、およびＸ座標の欄に入っ
ている値によって位置が決定され、形状欄の型名によっ
てどのような形状を表示するかが決定され、故障値欄の
入力側であるか、あるいは出力側であるかの区別によっ
て故障値を形状の右側に表示するか、あるいは左側に表
示するかが決定される。
すなわち、入力側に故障値が記述されているならば、形
状の左側に故障値を表示し、出力側に故障値が記述され
ているならば形状の右側に故障値が表示される。
状の左側に故障値を表示し、出力側に故障値が記述され
ているならば形状の右側に故障値が表示される。
畑らに、各素子間の接続線路は、論理接続／故障情報の
接続欄に入っている接続先の素子のＸ座標／Ｘ座標値と
、自身のＸ座標／Ｘ座標値とによって決定される。
接続欄に入っている接続先の素子のＸ座標／Ｘ座標値と
、自身のＸ座標／Ｘ座標値とによって決定される。
ここで、自身を素子Ａ１接続先の素子を素子Ｂとしよう
。このときに素子ＡのＸ座標と素子ＢのＸ座標との差を
Δｙとすれば、Δｙ＝Ｑであるならば素子のＸ座標／Ｘ
座標と素子ＢのＸ座標／Ｘ座標とを結んで直線を描く。
。このときに素子ＡのＸ座標と素子ＢのＸ座標との差を
Δｙとすれば、Δｙ＝Ｑであるならば素子のＸ座標／Ｘ
座標と素子ＢのＸ座標／Ｘ座標とを結んで直線を描く。
Δｙ＝±ｎであるならば、素子ＡのＸ座標／Ｘ座標よシ
直線を引き、途中で６１分がΔｙ ＝ ＋ ｎであるな
らば画面の下位方向へ折れ、Δｙ ＝ −ｎであるなら
ば画面の上位方向へ折れて、素子ＢのＸ座標／Ｘ座標へ
接続する直線を引く。
直線を引き、途中で６１分がΔｙ ＝ ＋ ｎであるな
らば画面の下位方向へ折れ、Δｙ ＝ −ｎであるなら
ば画面の上位方向へ折れて、素子ＢのＸ座標／Ｘ座標へ
接続する直線を引く。
以上の操作を繰返して実行することにより、同一画面上
に論理回路図と故障情報とを合わせて表示することがで
きる。
に論理回路図と故障情報とを合わせて表示することがで
きる。
第２図の論理回路に対して、第２図の論理回路図および
第５図の論理接続／故障情報をもとにして論理回路図を
作成し、故障情報と合わせて同一画面上に表示した例を
第６図に示す。
第５図の論理接続／故障情報をもとにして論理回路図を
作成し、故障情報と合わせて同一画面上に表示した例を
第６図に示す。
（発明の効果）
以上説明したように本発明は、試験対象論理回路の論理
接続情報と故障情報とをもとにして未検出故障が試験対
象論理回路上のどこに存在するかを示す論理回路図を生
成し、故障情報と合わせて表示することによシ、故障情
報をもとに人手で論理回路図上をトレースして求める際
に時間を短縮でき、さらに故障の回路図上への記入を正
確に行うことができるため省力化と経済性向上と、が達
成できるという効果がある。
接続情報と故障情報とをもとにして未検出故障が試験対
象論理回路上のどこに存在するかを示す論理回路図を生
成し、故障情報と合わせて表示することによシ、故障情
報をもとに人手で論理回路図上をトレースして求める際
に時間を短縮でき、さらに故障の回路図上への記入を正
確に行うことができるため省力化と経済性向上と、が達
成できるという効果がある。
第１図は、本発明による論理回路図表示装置の一実施例
を示すブロック図である。 第２図は、被試験用論理回路の一例を示すブロック図で
ある。 第８図〜第５図は、それぞれ論理接続情報、故障情報、
ならびに論理接続／故障情報を要約して示す説明図であ
る。 第６図は、第２図と第５図とをもとにして作成した被試
験論理回路図である。 ｌ・・・論理回路図表示装置 ２・・・論理接続情報収集手段 ３・・・故障情報収集手段 ４・・・論理接続情報入力手段 ５・・・故障情報入力手段 ６・・・合成手段 ７・・・表示手段 １０〜１２，１５．１６−・・端子形素子１３・ｍ−Ａ
ＮＤゲート
を示すブロック図である。 第２図は、被試験用論理回路の一例を示すブロック図で
ある。 第８図〜第５図は、それぞれ論理接続情報、故障情報、
ならびに論理接続／故障情報を要約して示す説明図であ
る。 第６図は、第２図と第５図とをもとにして作成した被試
験論理回路図である。 ｌ・・・論理回路図表示装置 ２・・・論理接続情報収集手段 ３・・・故障情報収集手段 ４・・・論理接続情報入力手段 ５・・・故障情報入力手段 ６・・・合成手段 ７・・・表示手段 １０〜１２，１５．１６−・・端子形素子１３・ｍ−Ａ
ＮＤゲート
Claims (1)
- 試験対象論理回路の論理接続情報を入力するための論理
接続情報入力手段と、前記試験対象論理回路に設定され
た故障情報を入力するための故障情報入力手段と、前記
論理接続情報および前記故障情報とを合成するための合
成手段と、前記合成手段によつて得られた論理接続／故
障情報から論理回路図を生成して故障情報と合わせて表
示するための表示手段とを具備して構成したことを特徴
とする論理回路図表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60235575A JPS6295473A (ja) | 1985-10-22 | 1985-10-22 | 論理回路図表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60235575A JPS6295473A (ja) | 1985-10-22 | 1985-10-22 | 論理回路図表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6295473A true JPS6295473A (ja) | 1987-05-01 |
Family
ID=16988018
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60235575A Pending JPS6295473A (ja) | 1985-10-22 | 1985-10-22 | 論理回路図表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6295473A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01131470A (ja) * | 1987-11-17 | 1989-05-24 | Mitsubishi Electric Corp | Ｌｓｉ故障解析装置 |
| JP2010127895A (ja) * | 2008-12-01 | 2010-06-10 | Ricoh Co Ltd | モニタ信号出力装置、方法及びプログラム |
-
1985
- 1985-10-22 JP JP60235575A patent/JPS6295473A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01131470A (ja) * | 1987-11-17 | 1989-05-24 | Mitsubishi Electric Corp | Ｌｓｉ故障解析装置 |
| JP2010127895A (ja) * | 2008-12-01 | 2010-06-10 | Ricoh Co Ltd | モニタ信号出力装置、方法及びプログラム |
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