JPS63108346A - 電子写真感光体 - Google Patents
電子写真感光体Info
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- JPS63108346A JPS63108346A JP25426186A JP25426186A JPS63108346A JP S63108346 A JPS63108346 A JP S63108346A JP 25426186 A JP25426186 A JP 25426186A JP 25426186 A JP25426186 A JP 25426186A JP S63108346 A JPS63108346 A JP S63108346A
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording-members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat or to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
- G03G5/08—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08235—Silicon-based comprising three or four silicon-based layers
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
- G03G5/00—Recording-members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat or to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
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- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/08221—Silicon-based comprising one or two silicon based layers
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光導電性アモルファスシリコンカーバイド層か
ら成る電子写真感光体に関し、特に正極性に帯電可能な
電子写真感光体に関するものである。
ら成る電子写真感光体に関し、特に正極性に帯電可能な
電子写真感光体に関するものである。
近年、電子写真感光体の進歩は目覚ましく、感光体を搭
載する複写機やプリンター等の開発に伴って感光体自体
にも種々の特性が要求されている、この要求に対してア
モルファスシリコン層が耐熱性、耐摩耗性、無公害性並
びに光感度特性等に優れているという理由から注目され
ている。
載する複写機やプリンター等の開発に伴って感光体自体
にも種々の特性が要求されている、この要求に対してア
モルファスシリコン層が耐熱性、耐摩耗性、無公害性並
びに光感度特性等に優れているという理由から注目され
ている。
しかし乍ら、アモルファスシリコン(以下、a−3iと
略す)31は、それに何ら不純物元素をドーピングしな
いと約10雫Ω・clmの暗抵抗率しか得られず、これ
を電子写真用感光体に用いる場合には1012Ω・cm
以上の暗抵抗率にして電荷保持能力を高める必要がある
。そのために酸素や窒素などの元素を微少量ドーピング
して高抵抗化にし得るが、その反面、光導電性が低下す
るという問題がある。また、ホウ素などを添加しても高
抵抗化が期待できるが、十分に満足し得るような暗抵抗
率が得られず約IQI1.Ω・cm程度にすぎない。
略す)31は、それに何ら不純物元素をドーピングしな
いと約10雫Ω・clmの暗抵抗率しか得られず、これ
を電子写真用感光体に用いる場合には1012Ω・cm
以上の暗抵抗率にして電荷保持能力を高める必要がある
。そのために酸素や窒素などの元素を微少量ドーピング
して高抵抗化にし得るが、その反面、光導電性が低下す
るという問題がある。また、ホウ素などを添加しても高
抵抗化が期待できるが、十分に満足し得るような暗抵抗
率が得られず約IQI1.Ω・cm程度にすぎない。
一方、上記の如きドーピング剤の開発と共に、a−5i
光導電層に別の非光導電層を積層して成る積層型感光体
が提案されている。
光導電層に別の非光導電層を積層して成る積層型感光体
が提案されている。
例えば、第2図はこの積層型感光体であり、基板(1)
の上にキャリア注入阻止層(2) 、a−St光導電N
(3)及び表面保護層(4)が順次積層されている。
の上にキャリア注入阻止層(2) 、a−St光導電N
(3)及び表面保護層(4)が順次積層されている。
この積層型光体によれば、キャリア注入阻止層(2)は
基板(1)からのキャリアの注入を阻止するものであり
、表面保護層(4)はa−9i光導電層(3)を保護し
て耐湿性等を向上させるものであるが、両者の層(2)
及び(4)ともに感光体の暗抵抗率を大きくして帯電能
を高めることが目的であり、そのためにこれらの層を光
導電性にする必要はない。
基板(1)からのキャリアの注入を阻止するものであり
、表面保護層(4)はa−9i光導電層(3)を保護し
て耐湿性等を向上させるものであるが、両者の層(2)
及び(4)ともに感光体の暗抵抗率を大きくして帯電能
を高めることが目的であり、そのためにこれらの層を光
導電性にする必要はない。
このように従来周知のa−St電子写真感光体は光キヤ
リア発生層をa−3i光導電層により形成させた点に大
きな特徴があり、これによって耐熱性、耐久性及び光感
度特性などに優れた長所を有している反面、暗抵抗率が
不十分であるためにドーピング剤を用いたり、更に積層
型感光体にすることで暗抵抗率を大きくしている。即ち
、積層型感光体に形成されるキャリア注入阻止層(2)
及び表面保護層(4)はa−5i光導電層自体が有する
欠点を補完するものであり、a−5i光導電層(3)と
実質上区別し得る層と言える。
リア発生層をa−3i光導電層により形成させた点に大
きな特徴があり、これによって耐熱性、耐久性及び光感
度特性などに優れた長所を有している反面、暗抵抗率が
不十分であるためにドーピング剤を用いたり、更に積層
型感光体にすることで暗抵抗率を大きくしている。即ち
、積層型感光体に形成されるキャリア注入阻止層(2)
及び表面保護層(4)はa−5i光導電層自体が有する
欠点を補完するものであり、a−5i光導電層(3)と
実質上区別し得る層と言える。
本発明者等は上記事情に鑑みて、既にアモルファ°スシ
リコンカーバイド(以下、a−SiCと略す)は光導電
性を有すると共に暗抵抗率がドーピング剤の有無と無関
係に容易に1013Ω・C−以上になり、更にドーピン
グ剤の選択によって正極性に帯電可能な電子写真感光体
と成り得ることを見い出した。
リコンカーバイド(以下、a−SiCと略す)は光導電
性を有すると共に暗抵抗率がドーピング剤の有無と無関
係に容易に1013Ω・C−以上になり、更にドーピン
グ剤の選択によって正極性に帯電可能な電子写真感光体
と成り得ることを見い出した。
上記a−5iC層が電子写真感光体と成り得た理由は、
その層が大きなキャリア移動度をもち、更に10− ’
3(Ω・cab)−’以下の暗導電率であり、これに
よって大きな帯電能が得られたためである。
その層が大きなキャリア移動度をもち、更に10− ’
3(Ω・cab)−’以下の暗導電率であり、これに
よって大きな帯電能が得られたためである。
しかしながら、このように大きなキャリア移動度をもつ
a−5iC電子写真感光体であっても、感光体搭載用機
器の開発が進展するのに伴って更に一層優れた電子写真
特性が望まれており、例えば光感度特性が用途に対して
十分に満足し得ない場合であれば、画像のカブリが生じ
たり、残留電位が大きくなったりするなどが生じ、その
特性の改善が望まれる。
a−5iC電子写真感光体であっても、感光体搭載用機
器の開発が進展するのに伴って更に一層優れた電子写真
特性が望まれており、例えば光感度特性が用途に対して
十分に満足し得ない場合であれば、画像のカブリが生じ
たり、残留電位が大きくなったりするなどが生じ、その
特性の改善が望まれる。
従って本発明は畝上に鑑みて案出されたものであり、そ
の目的は表面像!i層及びキャリア注入阻止層を実質上
不要とし、全層に亘って光導電性a−3iCと成し、且
つ光感度特性を改善して所要な電子写真特性を向上させ
ることができた電子写真感光体を提供することにある。
の目的は表面像!i層及びキャリア注入阻止層を実質上
不要とし、全層に亘って光導電性a−3iCと成し、且
つ光感度特性を改善して所要な電子写真特性を向上させ
ることができた電子写真感光体を提供することにある。
本発明の他の目的は正極性に帯電可能な電子写真感光体
を提供することにある。
を提供することにある。
本発明によれば、基板上に5X10−5乃至1原子%の
酸素及び0.1乃至10.OOOppmの周期律表第I
IIa族元素(以下、I[[a族元素と略す)を含有し
た光導電性a−3iC層を形成したことを特徴とする正
極性に帯電可能な電子写真感光体が提供される。
酸素及び0.1乃至10.OOOppmの周期律表第I
IIa族元素(以下、I[[a族元素と略す)を含有し
た光導電性a−3iC層を形成したことを特徴とする正
極性に帯電可能な電子写真感光体が提供される。
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明の電子写真感光体は光導電性a−3iCNに所定
の範囲内で酸素を含有させることを特徴とするものであ
り、また、この光導電性a−5iCJigについてはI
IIa族元素を含有させて正極性に帯電させた感光体と
成り得ることは既に本発明者等が提案した通りである。
の範囲内で酸素を含有させることを特徴とするものであ
り、また、この光導電性a−5iCJigについてはI
IIa族元素を含有させて正極性に帯電させた感光体と
成り得ることは既に本発明者等が提案した通りである。
即ち、第1図によれば導電性基板(1)上に、例えばグ
ロー放電分解法によって光導電性a−SiCJig(5
)を形成したものであり、この層厚方向に亘って炭素と
IIIa族元素をそれぞれ同一含有比率で含有させてい
る。これによって暗抵抗率が10′3Ω・0111以上
となると共に明抵抗率に比べて1000倍以上となるこ
とを見い出し、この知見に基づく後述する実施例から明
らかな通り、この単一組成の層だけで十分に実用性のあ
るa−3IC感光体と成り得たことは予想外の成果であ
った。
ロー放電分解法によって光導電性a−SiCJig(5
)を形成したものであり、この層厚方向に亘って炭素と
IIIa族元素をそれぞれ同一含有比率で含有させてい
る。これによって暗抵抗率が10′3Ω・0111以上
となると共に明抵抗率に比べて1000倍以上となるこ
とを見い出し、この知見に基づく後述する実施例から明
らかな通り、この単一組成の層だけで十分に実用性のあ
るa−3IC感光体と成り得たことは予想外の成果であ
った。
更に本発明者等はこのa−3iC感光体を正極性又は負
極性に帯電させて両者の帯電性能を比較した場合、この
a−3iC層(5)にIIIa族元素を0.1乃至10
、000ppmの範囲、好適には0.1乃至11000
ppの範囲内でドーピングすると正極性で有利に帯電能
を高めることができる。
極性に帯電させて両者の帯電性能を比較した場合、この
a−3iC層(5)にIIIa族元素を0.1乃至10
、000ppmの範囲、好適には0.1乃至11000
ppの範囲内でドーピングすると正極性で有利に帯電能
を高めることができる。
このようにIIIa族元素のドーピングによって正極性
に帯電し易くなる点については、未だ解明されておらず
、推論の域を脱し得ないが、a−3iCliが正電荷を
保持するのに十分に高い抵抗率をもち、また、基板から
の負電荷の注入を防ぐ効果にも優れ、更に正電荷に対す
る電荷移動度が優れている等の理由によると考えられる
。
に帯電し易くなる点については、未だ解明されておらず
、推論の域を脱し得ないが、a−3iCliが正電荷を
保持するのに十分に高い抵抗率をもち、また、基板から
の負電荷の注入を防ぐ効果にも優れ、更に正電荷に対す
る電荷移動度が優れている等の理由によると考えられる
。
また、このIIIa族元素としてはB、AI+Ga、
In等があるが、就中、Bが共有結合性に優れて半導体
特性を敏感に変え得る点で望ましい。
In等があるが、就中、Bが共有結合性に優れて半導体
特性を敏感に変え得る点で望ましい。
本発明のa−3iCNが光導電性を有するようになった
点については、アモルファス化したケイ素と炭素を不可
欠な構成元素とし、更にそのダングリングボンドを終端
させるべく水素元素(H)やハロゲン元素を所要の範囲
内で含有させることによって光導電性が生じるものと考
えられる0本発明者等が炭素の含有比率を幾通りにも変
えて光導電性の有無を確かめる実験を行ったところ、a
−’SiC層(5)中に炭素を1乃至90原子χ、好適
には5乃至50原子χの範囲内で含有させるとよく、或
いはこの範囲内で層厚方向に亘って炭素含有量を変えて
もよい。
点については、アモルファス化したケイ素と炭素を不可
欠な構成元素とし、更にそのダングリングボンドを終端
させるべく水素元素(H)やハロゲン元素を所要の範囲
内で含有させることによって光導電性が生じるものと考
えられる0本発明者等が炭素の含有比率を幾通りにも変
えて光導電性の有無を確かめる実験を行ったところ、a
−’SiC層(5)中に炭素を1乃至90原子χ、好適
には5乃至50原子χの範囲内で含有させるとよく、或
いはこの範囲内で層厚方向に亘って炭素含有量を変えて
もよい。
また、水素元素(H)やハロゲン元素の含有量は5乃至
50原子χ、好適には5乃至4o原子χ、最適には10
乃至30原子χがよく、通常、H元素が用いられている
。このH元素はダングリングボンドの終端部に取り込ま
れ易いのでバンドギャップ中の局在準位密度を低減化さ
せ、これにより、優れた半導体特性が得られる。
50原子χ、好適には5乃至4o原子χ、最適には10
乃至30原子χがよく、通常、H元素が用いられている
。このH元素はダングリングボンドの終端部に取り込ま
れ易いのでバンドギャップ中の局在準位密度を低減化さ
せ、これにより、優れた半導体特性が得られる。
更にこのH元素の一部をハロゲン元素に置換してもよく
、これにより、a−SiC層の局在準位密度を下げて光
導電性及び耐熱性(温度特性)を高めることができる。
、これにより、a−SiC層の局在準位密度を下げて光
導電性及び耐熱性(温度特性)を高めることができる。
その置換比率はダングリングボンド終端用全元素中0.
01乃至50原子χ、好適には1乃至30原子χがよい
。また、ハロゲン元素にはF、CI+Br+I+At等
があるが、就中、Fを用いるとその大きな電気陰性度に
よって原子間の結合が大きくなり、これによって熱的安
定性に優れるという点で望ましい。
01乃至50原子χ、好適には1乃至30原子χがよい
。また、ハロゲン元素にはF、CI+Br+I+At等
があるが、就中、Fを用いるとその大きな電気陰性度に
よって原子間の結合が大きくなり、これによって熱的安
定性に優れるという点で望ましい。
本発明によれば、上記のような光導電性a−SiC層に
酸素を5×10−%乃至l原子χ含有された点に特徴が
あり、この範囲内では電子写真特性全般に亘って特性の
改善が期待できるが、特に光感度特性に顕著な効果があ
ることを見い出した。
酸素を5×10−%乃至l原子χ含有された点に特徴が
あり、この範囲内では電子写真特性全般に亘って特性の
改善が期待できるが、特に光感度特性に顕著な効果があ
ることを見い出した。
即ち、酸素をa−SiC層中に5X10−5乃至1原子
χ、好適には5X10−’乃至0.1原子χ、最適には
5X10−’乃至0.1原子χの範囲内で含有させた場
合、光感度が向上しており、これによってこの感光体を
搭載した機器を更に広範な用途に適応し得るようになり
、当然のことながら光感度の低下に伴って生じていた画
像のカブリや残留電位が高(なるという問題が解決され
る。
χ、好適には5X10−’乃至0.1原子χ、最適には
5X10−’乃至0.1原子χの範囲内で含有させた場
合、光感度が向上しており、これによってこの感光体を
搭載した機器を更に広範な用途に適応し得るようになり
、当然のことながら光感度の低下に伴って生じていた画
像のカブリや残留電位が高(なるという問題が解決され
る。
このようにして解決し得た点について本発明者等は未だ
十分に解明していないが、酸素が上述したダングリング
ボンド終端用元素になっているものと考えられる。
十分に解明していないが、酸素が上述したダングリング
ボンド終端用元素になっているものと考えられる。
光導電性のa−SiC層に酸素を含有させるに当たって
は、種々の薄膜生成方法の原料ガス中に酸素ガス(02
)、C01cot 、N0SN露0 、No、等の酸素
含有ガスを含有すればよく、或いは上述の範囲内で膜中
に含有されるのであれば、不純物として不可避的に含有
されたものであってもよい。
は、種々の薄膜生成方法の原料ガス中に酸素ガス(02
)、C01cot 、N0SN露0 、No、等の酸素
含有ガスを含有すればよく、或いは上述の範囲内で膜中
に含有されるのであれば、不純物として不可避的に含有
されたものであってもよい。
上記の如き光導電性a−3iC層(5)の厚みは、少な
くとも5μ−以上あればよく、これによって表面電位が
一200v以上となり、更に画像の分解能及び画像流れ
が生じない範囲内でその上限が適宜選ばれており、本発
明者等の実験によれば、5乃至100μ−1好適には1
0乃至50μ輌の範囲内に設定するとよい。
くとも5μ−以上あればよく、これによって表面電位が
一200v以上となり、更に画像の分解能及び画像流れ
が生じない範囲内でその上限が適宜選ばれており、本発
明者等の実験によれば、5乃至100μ−1好適には1
0乃至50μ輌の範囲内に設定するとよい。
更に、このa−SiC層の暗減衰曲線及び光減衰曲線を
求めたところ、高い表面電位をもっと共に優れた光感度
特性を有し、また、残留電位が小さくなっていることを
確かめた。
求めたところ、高い表面電位をもっと共に優れた光感度
特性を有し、また、残留電位が小さくなっていることを
確かめた。
か(して層厚方向に亘って単一組成の光導電性a−3i
C層だけで十分に実用と成り得る電子写真感光体が提供
される。
C層だけで十分に実用と成り得る電子写真感光体が提供
される。
そこで、本発明者等は上記の結果を踏まえて、更に鋭意
研究に努めたところ、この単一組成の層内部に種々の層
領域を生成させることによってi子写真特性を更に向上
し得る。
研究に努めたところ、この単一組成の層内部に種々の層
領域を生成させることによってi子写真特性を更に向上
し得る。
即ち、本発明の電子写真感光体においては、構成元素で
ある炭素又はIIIa族元素の含有比率を層厚方向に亘
って変化させ、これによって複数の層領域を生成させ、
この層領域の数に対応して下記の第1の態様乃至第4の
態様までの電子写真感光体が得られる。
ある炭素又はIIIa族元素の含有比率を層厚方向に亘
って変化させ、これによって複数の層領域を生成させ、
この層領域の数に対応して下記の第1の態様乃至第4の
態様までの電子写真感光体が得られる。
本発明に係る下記の態様のなかで、光導電性a−3iC
層に生成した層領域のいずれもが光キヤリア発生機能が
有り、これにより、その層領域についても酸素を5 X
l0−5乃至1原子χ、好適には5×10′5乃至0.
1原子χ、最適には5 Xl0−’乃至0.1原子2の
範囲内で含有させることができ、その結果、光感度特性
が顕著に向上する。
層に生成した層領域のいずれもが光キヤリア発生機能が
有り、これにより、その層領域についても酸素を5 X
l0−5乃至1原子χ、好適には5×10′5乃至0.
1原子χ、最適には5 Xl0−’乃至0.1原子2の
範囲内で含有させることができ、その結果、光感度特性
が顕著に向上する。
以下、本発明の各種態様について詳細に述べる。
星上皇皿挟
第1の態様によれば、基板上に光導電性a−3iC層を
形成した電子写真感光体であって、前記a−5iC層は
少なくとも第1の層領域及び第2の層領域を具備し、第
1のNwA域は第2の層領域より基板側に配置され且つ
第2の層領域に比べてIIIa族元素が多く含まれてい
ることを特徴とする正極性に帯電可能な電子写真感光体
が提供される。
形成した電子写真感光体であって、前記a−5iC層は
少なくとも第1の層領域及び第2の層領域を具備し、第
1のNwA域は第2の層領域より基板側に配置され且つ
第2の層領域に比べてIIIa族元素が多く含まれてい
ることを特徴とする正極性に帯電可能な電子写真感光体
が提供される。
即ち、この第1の態様によれば、第1図に示した単一組
成の光導電性a−9iC層に対してIIIa族元素を含
有させ、その含有比率を変えることにより少なくとも第
1の層領域及び第2のwi層領域生成させるものであり
、この態様を第3図乃至第9図により説明する。
成の光導電性a−9iC層に対してIIIa族元素を含
有させ、その含有比率を変えることにより少なくとも第
1の層領域及び第2のwi層領域生成させるものであり
、この態様を第3図乃至第9図により説明する。
第3図においては導電性基板(1)上に第1の層領域(
6)及び第2の層領域(7)を順次形成し、両者のN9
11域が一体化した光導電性a−3iC層(5a)から
成っており、そして、第1の層領域(6)には第2の層
領域(7)に比べてIIIa族元素が多く含まれている
ことが重要である。
6)及び第2の層領域(7)を順次形成し、両者のN9
11域が一体化した光導電性a−3iC層(5a)から
成っており、そして、第1の層領域(6)には第2の層
領域(7)に比べてIIIa族元素が多く含まれている
ことが重要である。
第2の層領域(7)はIIIa族元素の含有量が0.1
乃至10.000ppmの範囲内で、好適には0.1乃
至1゜Goo pps+の範囲内で適宜法められ、これ
によって正極性に帯電すると共に表面電位、光感度特性
等の所要な電子写真特性が得られる。そして、この層領
域よりもIIIa族元素を多く含有した第1の層領域(
6)を形成すると光感電性a−3iCJi(5a)の基
板側領域で導電率が大きくなり、これにより、基板側か
らのキャリアの注入が阻止されると共にa−3iC層の
全領域で発生した光キャリアが基板へ円滑に流れ、その
結果、表面電位が大きくなると共に光感度特性が向上す
る。
乃至10.000ppmの範囲内で、好適には0.1乃
至1゜Goo pps+の範囲内で適宜法められ、これ
によって正極性に帯電すると共に表面電位、光感度特性
等の所要な電子写真特性が得られる。そして、この層領
域よりもIIIa族元素を多く含有した第1の層領域(
6)を形成すると光感電性a−3iCJi(5a)の基
板側領域で導電率が大きくなり、これにより、基板側か
らのキャリアの注入が阻止されると共にa−3iC層の
全領域で発生した光キャリアが基板へ円滑に流れ、その
結果、表面電位が大きくなると共に光感度特性が向上す
る。
この第1の態様によれば、炭素含有量を第4図乃至第9
図に示す通りに設定してもよい。これらの図において、
横軸は基板から感光体表面に至る層厚を示し、縦軸は炭
素含有量を示している。尚、この横軸において(6)
、 (7)に示すそれぞれの範囲は第1の層領域及び第
2の層領域を表している。
図に示す通りに設定してもよい。これらの図において、
横軸は基板から感光体表面に至る層厚を示し、縦軸は炭
素含有量を示している。尚、この横軸において(6)
、 (7)に示すそれぞれの範囲は第1の層領域及び第
2の層領域を表している。
即ち、第4図は炭素含有比率が全層に亘って一定であり
、或いは第5図は第1の層領域で炭素含を量を少なくし
ており、これに対して第6図乃至′ 第9図は第1の
層領域が第2の層領域に比べて炭素が多く含有されてい
ることを示すものであり、これによって表面電位が一段
と高くなって光感度・ 特性が向上する。また、第7
図乃至來9図のように炭素の含有量を層厚方向に亘って
漸次変えると表面電位及び光感度を一層高め且つ残留電
位が小さくなる。
、或いは第5図は第1の層領域で炭素含を量を少なくし
ており、これに対して第6図乃至′ 第9図は第1の
層領域が第2の層領域に比べて炭素が多く含有されてい
ることを示すものであり、これによって表面電位が一段
と高くなって光感度・ 特性が向上する。また、第7
図乃至來9図のように炭素の含有量を層厚方向に亘って
漸次変えると表面電位及び光感度を一層高め且つ残留電
位が小さくなる。
1主」すl阻
第2の態様によれば、基板上に光導電性a−SiC層を
形成した電子写真感光体であって、前記a−5iC層は
少なくとも第1の層領域、第2の層領域及び第3の層領
域を具備し、第1のN領域は第2の層領域より、第2の
層領域は第3のWI層領域りそれぞれ基板側に配置され
、且つ第3の層領域は第2の層領域に比べて炭素が多(
含まれていると共に第2の層領域は0.1乃至10.0
00pp+sのIIIa族元素が含まれており、更に第
1のN fill域は第2の層領域よりもl1la族元
素が多く含まれていることを特徴とする正極性に帯電可
能な電子写真感光体が提供される。
形成した電子写真感光体であって、前記a−5iC層は
少なくとも第1の層領域、第2の層領域及び第3の層領
域を具備し、第1のN領域は第2の層領域より、第2の
層領域は第3のWI層領域りそれぞれ基板側に配置され
、且つ第3の層領域は第2の層領域に比べて炭素が多(
含まれていると共に第2の層領域は0.1乃至10.0
00pp+sのIIIa族元素が含まれており、更に第
1のN fill域は第2の層領域よりもl1la族元
素が多く含まれていることを特徴とする正極性に帯電可
能な電子写真感光体が提供される。
即ち、この第2の態様によれば、第10図に示す通り、
第1の態様にて示した第2の層領域(7)の上に更に第
3の層領域(8)を形成し、第3の層領域(8)の炭素
含有量を第2のN領域(7)よりも多くし、そして、第
1の層領域(6)、第2のNN域(7)及び第3のN6
1域(8)を実質上一体化して光導電性a−5iCN(
5b)とした。
第1の態様にて示した第2の層領域(7)の上に更に第
3の層領域(8)を形成し、第3の層領域(8)の炭素
含有量を第2のN領域(7)よりも多くし、そして、第
1の層領域(6)、第2のNN域(7)及び第3のN6
1域(8)を実質上一体化して光導電性a−5iCN(
5b)とした。
この第3の層領域(8)を形成すると、a−3iC層(
5b)の表面側の暗抵抗率が太き(なり、これに伴って
感光体の表面電位が顕著に向上する。
5b)の表面側の暗抵抗率が太き(なり、これに伴って
感光体の表面電位が顕著に向上する。
即ち、第3の層領域(8)は光導電性a−5iC層(5
b)の表面側を高抵抗化させるために形成されており、
第2図にて述べた従来周知の表面保fliJi (4)
とは全く区別し得るものである。また、光キヤリア発生
層とキャリア輸送層とに分けられた機能分離型感光体に
よれば、キャリア輸送層を10′!Ω・C11以上に高
抵抗化させるが、この層に格別大きな光導電性が要求さ
れておらず、通常、光導電率の暗導電率に対する比率が
1000倍未満の光導電性に設定されているに過ぎない
、これに対して、第3の層領域(8)はこの比率が10
00倍以上の光導電性を有しており、上記キャリア輸送
層に対しても十分に区別し得る。
b)の表面側を高抵抗化させるために形成されており、
第2図にて述べた従来周知の表面保fliJi (4)
とは全く区別し得るものである。また、光キヤリア発生
層とキャリア輸送層とに分けられた機能分離型感光体に
よれば、キャリア輸送層を10′!Ω・C11以上に高
抵抗化させるが、この層に格別大きな光導電性が要求さ
れておらず、通常、光導電率の暗導電率に対する比率が
1000倍未満の光導電性に設定されているに過ぎない
、これに対して、第3の層領域(8)はこの比率が10
00倍以上の光導電性を有しており、上記キャリア輸送
層に対しても十分に区別し得る。
第3の層領域(8)の層厚は、第2の層領域(7)に比
べて1倍以下、好ましくは1/2倍以下、最適には1/
4倍以下がよく、これにより、表面電位が顕著に向上す
ると共に光感度に優れ、且つ残留電位が小さくなり、望
ましいと言える。
べて1倍以下、好ましくは1/2倍以下、最適には1/
4倍以下がよく、これにより、表面電位が顕著に向上す
ると共に光感度に優れ、且つ残留電位が小さくなり、望
ましいと言える。
この第2の態様によれば、光導電性B−5iC層(5b
)の炭素含有分布は第11図乃至第16図に示す通りで
あり、横軸は基板から感光体表面に至る層厚を示し、縦
軸は炭素含有量は示している。尚、この横軸において、
(6) (7) (8)に示すそれぞれの範囲は第1の
層領域、第2のN fil域及び第3の層領域を表して
いる。
)の炭素含有分布は第11図乃至第16図に示す通りで
あり、横軸は基板から感光体表面に至る層厚を示し、縦
軸は炭素含有量は示している。尚、この横軸において、
(6) (7) (8)に示すそれぞれの範囲は第1の
層領域、第2のN fil域及び第3の層領域を表して
いる。
第12図、第14図、第15図及び第16図によれば、
層厚方向に亘って炭素の含有量を漸次変えており、これ
により、表面電位が向上すると共に光感度に優れ、且つ
残留電位が小さくなる。
層厚方向に亘って炭素の含有量を漸次変えており、これ
により、表面電位が向上すると共に光感度に優れ、且つ
残留電位が小さくなる。
星り象皿盪
第3の態様によれは、基板上に光導電性a−SiC層を
形成した電子写真感光体であって、前記a−5iC層は
少なくとも第1の層領域、第2の層領域、第3の層領域
、第4の層領域を基板側から感光体表面へ向けて順次具
備し且つ第3の層領域は第2の層領域に比べて、第4の
層領域は第3の層領域に比べてそれぞれ炭素が多(含ま
れていると共に第2の層領域は0.1乃至10.000
pp−のIla族元素が含まれており、更に第1ON領
域は第2のl!層領域りもl1la族元素が多く含まれ
ていることを特徴とする正極性に帯電可能な電子写真感
光体が提供される。
形成した電子写真感光体であって、前記a−5iC層は
少なくとも第1の層領域、第2の層領域、第3の層領域
、第4の層領域を基板側から感光体表面へ向けて順次具
備し且つ第3の層領域は第2の層領域に比べて、第4の
層領域は第3の層領域に比べてそれぞれ炭素が多(含ま
れていると共に第2の層領域は0.1乃至10.000
pp−のIla族元素が含まれており、更に第1ON領
域は第2のl!層領域りもl1la族元素が多く含まれ
ていることを特徴とする正極性に帯電可能な電子写真感
光体が提供される。
即ち、第3の態様によれば、第17図に示す通り、第2
の態様にて示した第3の3181域(8)の上に更に第
4の層領域(9)を形成し、第4の層領域(9)が第3
の層領域(8)に比べて炭素を多(含んでおり、そして
、第1のNM域(6)から第4のJi M域(9)を実
質上一体化して光導電性a−3iC層(5c)とした。
の態様にて示した第3の3181域(8)の上に更に第
4の層領域(9)を形成し、第4の層領域(9)が第3
の層領域(8)に比べて炭素を多(含んでおり、そして
、第1のNM域(6)から第4のJi M域(9)を実
質上一体化して光導電性a−3iC層(5c)とした。
この第4のJii FJ域(9)は第3の層領域(8)
に比べて炭素を多く含有させて高抵抗化させ、これより
、帯電能を高めて表面電位を向上させることができ、そ
の結果、耐電圧が高くて長寿命の感光体を得ることがで
きる。
に比べて炭素を多く含有させて高抵抗化させ、これより
、帯電能を高めて表面電位を向上させることができ、そ
の結果、耐電圧が高くて長寿命の感光体を得ることがで
きる。
更に第3の態様によれば、光導電性a−3iC層(5C
)の炭素含有分布は第18図乃至第21図に示す通りで
あり、横軸は基板から感光体表面に至る層厚を示し、縦
軸は炭素含有量を示している。尚、この横軸において、
(6) (7) (8) (9)に示すそれぞれの範囲
は第1のN wI域、第2の層領域、第3の層領域及び
第4の領域を表している。
)の炭素含有分布は第18図乃至第21図に示す通りで
あり、横軸は基板から感光体表面に至る層厚を示し、縦
軸は炭素含有量を示している。尚、この横軸において、
(6) (7) (8) (9)に示すそれぞれの範囲
は第1のN wI域、第2の層領域、第3の層領域及び
第4の領域を表している。
第19図及び第21図によれば、層厚方向に亘って炭素
の含有量を漸次変えており、これにより、表面電位及び
光感度が向上し、且つ残留電位が小さくなる。
の含有量を漸次変えており、これにより、表面電位及び
光感度が向上し、且つ残留電位が小さくなる。
1土」υ劇I
第4図の態様によれば、基板上に光導電性a−3iC層
及びa−3iC表面保1層を順次形成した電子写真感光
体であって、前記光導電性a−SiC層は少なくとも第
1の層領域、第2の層領域及び第3の層領域を具備し、
第1の層領域は第2の層領域より基板側に、第2の領域
は第3のN領域より基板側にそれぞれ配置され、且つ第
3の層領域は第2の層領域に比べて炭素が多く含まれて
いると共に第2の層領域は0.1乃至10.OOOpp
mのIIIa族元素が含まれており、更に第1の層領域
は第2のFJ 81域よりもIIIa族元素が多(含ま
れていることを特徴とする正極性に帯電可能な電子写真
感光体が提供される。
及びa−3iC表面保1層を順次形成した電子写真感光
体であって、前記光導電性a−SiC層は少なくとも第
1の層領域、第2の層領域及び第3の層領域を具備し、
第1の層領域は第2の層領域より基板側に、第2の領域
は第3のN領域より基板側にそれぞれ配置され、且つ第
3の層領域は第2の層領域に比べて炭素が多く含まれて
いると共に第2の層領域は0.1乃至10.OOOpp
mのIIIa族元素が含まれており、更に第1の層領域
は第2のFJ 81域よりもIIIa族元素が多(含ま
れていることを特徴とする正極性に帯電可能な電子写真
感光体が提供される。
即ち、この第4の態様によれば、第22図に示す通り、
第2の態様にて示した第3の層領域(8)の上に更にa
−5iC表面保護層(10)を形成したものであり、こ
のa−5iC表面保護層(10)は光導電性a−3iC
層(5b)の表面をオーバーコートして保護するために
形成される。
第2の態様にて示した第3の層領域(8)の上に更にa
−5iC表面保護層(10)を形成したものであり、こ
のa−5iC表面保護層(10)は光導電性a−3iC
層(5b)の表面をオーバーコートして保護するために
形成される。
a−3iC表面保護層(lO)はa−3iCから成ると
いう点では光導電性a−5iC層(5b)と同じである
が、炭素の含有量を多くして高硬度とし、これによって
表面保護作用をもたらす。
いう点では光導電性a−5iC層(5b)と同じである
が、炭素の含有量を多くして高硬度とし、これによって
表面保護作用をもたらす。
こ゛のa−5iC表面保護層(10)は、その構成元素
の組成比を変えて光導電性又は非光導電性とすることが
でき、炭素の含有量を多くすると非光導電性になる傾向
があり、これに伴って高硬度特性が得られ、高硬度a−
3iC表面保護層となる。
の組成比を変えて光導電性又は非光導電性とすることが
でき、炭素の含有量を多くすると非光導電性になる傾向
があり、これに伴って高硬度特性が得られ、高硬度a−
3iC表面保護層となる。
更に第4の態様によれば、炭素含有分布は第23図及び
第24図に示す通りであり、横軸は基板から感光体表面
に至る層厚を示し、縦軸は炭素含有量を示している。尚
、この横軸において(6) (7) (8) (10)
に示すそれぞれの範囲は第1の層領域、第2の層領域、
第3の層領域及びa−5iC表面保護層を表している。
第24図に示す通りであり、横軸は基板から感光体表面
に至る層厚を示し、縦軸は炭素含有量を示している。尚
、この横軸において(6) (7) (8) (10)
に示すそれぞれの範囲は第1の層領域、第2の層領域、
第3の層領域及びa−5iC表面保護層を表している。
かくして、第1の態様乃至第4の態様によれば、第1図
に示した単一組成のa−8iC感光体に比べて格段に高
性能な電子写真感光体が提供される。
に示した単一組成のa−8iC感光体に比べて格段に高
性能な電子写真感光体が提供される。
また、本発明によれば、単一組成のa−5iC層並びに
第1乃至第3の態様のa−5iC層は、いずれも光導電
性a−3iC層から成り、これによって十分実用的な電
子写真特性が得られるが、これらのa−5iC層の表面
上に従来周知の表面保護層を形成してもよい。
第1乃至第3の態様のa−5iC層は、いずれも光導電
性a−3iC層から成り、これによって十分実用的な電
子写真特性が得られるが、これらのa−5iC層の表面
上に従来周知の表面保護層を形成してもよい。
この表面保護層はそれ自体高絶縁性、高耐食性及び高硬
度特性を有するものであれば種々の材料を用いることが
でき、例えばポリイミド樹脂などの有機材料+a−3i
C@5iOt+5iOtAI意0ssSiCsSIJ*
5a−5i+a−Si:Hta−3i :F、a−3i
C:H,a−5iC:Fなどの無機材料を用いることが
できる。
度特性を有するものであれば種々の材料を用いることが
でき、例えばポリイミド樹脂などの有機材料+a−3i
C@5iOt+5iOtAI意0ssSiCsSIJ*
5a−5i+a−Si:Hta−3i :F、a−3i
C:H,a−5iC:Fなどの無機材料を用いることが
できる。
次に本発明の電子写真感光体の製法を述べる。
本発明に係るa−5iC層を形成するに当たってグロー
放電分解法、イオンブレーティング法、反応性スパッタ
リング法、真空蒸着法、CVD法などの薄膜生成技術を
用いることができ、また、これに用いられる原料には固
体、液体、気体のいずれでもよい0例えばグロー放電分
解法に用いられる気体原料として5iHa+5iJ6+
SxりHlなどのSi系ガス、CH*、CtHt、CJ
s、CdL、CJsなどのC系ガスがあり、そして、H
eガス、H冨ガス等をキャリアガスとして用いればよい
。
放電分解法、イオンブレーティング法、反応性スパッタ
リング法、真空蒸着法、CVD法などの薄膜生成技術を
用いることができ、また、これに用いられる原料には固
体、液体、気体のいずれでもよい0例えばグロー放電分
解法に用いられる気体原料として5iHa+5iJ6+
SxりHlなどのSi系ガス、CH*、CtHt、CJ
s、CdL、CJsなどのC系ガスがあり、そして、H
eガス、H冨ガス等をキャリアガスとして用いればよい
。
本発明の電子写真感光体を製作するに当たっては、グロ
ー放電分解によってケイ素(St)含有ガス及びアセチ
レン(Cd)l□)ガスの混合ガスよりa−SiC層を
形成させた場合、著しく大きな高速成膜性が達成できる
点で望ましい0本発明者等が繰り返し行った実験によれ
ば、このSi含有ガスとして前述した種々のSi系ガス
を用いることができるが、例えばSiH,ガス及びC1
)l□ガスを用いた場合、5乃至20μ−7時の成膜速
度が得られた。因に5il14ガスとCH4ガスを用い
てa−3iC膜を生成した場合、その成膜速度は約0.
3乃至lμlll1時である。
ー放電分解によってケイ素(St)含有ガス及びアセチ
レン(Cd)l□)ガスの混合ガスよりa−SiC層を
形成させた場合、著しく大きな高速成膜性が達成できる
点で望ましい0本発明者等が繰り返し行った実験によれ
ば、このSi含有ガスとして前述した種々のSi系ガス
を用いることができるが、例えばSiH,ガス及びC1
)l□ガスを用いた場合、5乃至20μ−7時の成膜速
度が得られた。因に5il14ガスとCH4ガスを用い
てa−3iC膜を生成した場合、その成膜速度は約0.
3乃至lμlll1時である。
次に本発明の実施例に用いられる容量結合型グロー放電
分解装置を第25図により説明する。
分解装置を第25図により説明する。
図中、第1.第2.第3.第4.第5.第6タンク(1
1) (12) (13) (14) (15) (1
6)には、それぞれ5iHe+CzHx+BzHa(H
*ガス希釈で0.2χ含有)、IhHa(Hzガス希釈
で38pp−含有)、Ht、Heガスが密封されており
、H8はキャリアーガスとしても用いられる。これらの
ガスは対応する第1.第2.第3.第4.第5.第6調
整弁(17) (18) (19) (20) (21
) (22)を開放することにより放出され、その流量
がマスフローコントローラ(23)(24)(25)(
26) (27) (2B)により制御され、第1、第
2.第3.第4.第5タンク(11) (12) (1
3) (14) (15)からのガスは第1主管(29
)へ、第6タジク(16)からのHeガスは第2主管(
30)へ送られる。尚、(31)(32)は止め弁であ
る。第1主管(29)及び第2主管(30)を通じて流
れるガスは反応管(33)へと送り込まれるが、この反
応管(33)の内部には容量結合型放電用電極(34)
が設置されており、それに印加される高周波電力は50
w乃至3Kwが、また周波数はI MHz乃至10MH
2が適当である0反応管(33)の内部には、アルミニ
ウムから成る筒状の成膜用基板(35)が試料保持台(
36)の上に載置されており、この保持台(36)はモ
ーター(37)により回転駆動されるようになっており
、そして、基板(35)は適当な加熱手段により、約2
00乃至400℃好ましくは約200乃至350℃の温
度に均一に加熱される。更に、反応管(33)の内部は
a−3iCwA影形成時高度の真空状態(放電圧0.1
乃至2.0Torr )を必要とすることにより回転ポ
ンプ(38)と拡散ポンプ(39)に連結されている。
1) (12) (13) (14) (15) (1
6)には、それぞれ5iHe+CzHx+BzHa(H
*ガス希釈で0.2χ含有)、IhHa(Hzガス希釈
で38pp−含有)、Ht、Heガスが密封されており
、H8はキャリアーガスとしても用いられる。これらの
ガスは対応する第1.第2.第3.第4.第5.第6調
整弁(17) (18) (19) (20) (21
) (22)を開放することにより放出され、その流量
がマスフローコントローラ(23)(24)(25)(
26) (27) (2B)により制御され、第1、第
2.第3.第4.第5タンク(11) (12) (1
3) (14) (15)からのガスは第1主管(29
)へ、第6タジク(16)からのHeガスは第2主管(
30)へ送られる。尚、(31)(32)は止め弁であ
る。第1主管(29)及び第2主管(30)を通じて流
れるガスは反応管(33)へと送り込まれるが、この反
応管(33)の内部には容量結合型放電用電極(34)
が設置されており、それに印加される高周波電力は50
w乃至3Kwが、また周波数はI MHz乃至10MH
2が適当である0反応管(33)の内部には、アルミニ
ウムから成る筒状の成膜用基板(35)が試料保持台(
36)の上に載置されており、この保持台(36)はモ
ーター(37)により回転駆動されるようになっており
、そして、基板(35)は適当な加熱手段により、約2
00乃至400℃好ましくは約200乃至350℃の温
度に均一に加熱される。更に、反応管(33)の内部は
a−3iCwA影形成時高度の真空状態(放電圧0.1
乃至2.0Torr )を必要とすることにより回転ポ
ンプ(38)と拡散ポンプ(39)に連結されている。
以上のように構成されたグロー放電分解装置において、
例えば、a−5iC膜(酸素、Bを含有する)を基板(
35)に形成する場合には、第1.第2.第3.第5!
II整弁(17) (1B) (19) (21)を開
いてそれぞれよりSiH4,C!HtIBxHi、lh
ガスを放出するし、且つ第6調整弁(2′2)を開いて
NOガスを放出する。放出量はマスフローコントローラ
(23)(24)(25) (27) (2B)により
制御され、SiH*、CJt、BxHi−Hzの混合ガ
スは第1主管(29)を介して、NOガスは第2主管(
30)を介して反応管(33)へと流し込まれる。そし
て、反応管(33)の内部が0.1乃至2,0Torr
程度の真空状態、基板温度が200乃至400℃、容量
型放電用電極(34)の高周波電力が50−乃至3Kw
、または周波数が1乃至50?IHzに設定されてい
ることに相俟ってグロー放電が起こり、ガスが分解して
酸素及びBを含有したa−5iC膜が基板上に高速で形
成される。
例えば、a−5iC膜(酸素、Bを含有する)を基板(
35)に形成する場合には、第1.第2.第3.第5!
II整弁(17) (1B) (19) (21)を開
いてそれぞれよりSiH4,C!HtIBxHi、lh
ガスを放出するし、且つ第6調整弁(2′2)を開いて
NOガスを放出する。放出量はマスフローコントローラ
(23)(24)(25) (27) (2B)により
制御され、SiH*、CJt、BxHi−Hzの混合ガ
スは第1主管(29)を介して、NOガスは第2主管(
30)を介して反応管(33)へと流し込まれる。そし
て、反応管(33)の内部が0.1乃至2,0Torr
程度の真空状態、基板温度が200乃至400℃、容量
型放電用電極(34)の高周波電力が50−乃至3Kw
、または周波数が1乃至50?IHzに設定されてい
ることに相俟ってグロー放電が起こり、ガスが分解して
酸素及びBを含有したa−5iC膜が基板上に高速で形
成される。
次に本発明の実施例を詳細に説明する。
(例1)
本例においては、層厚方向に亘って均一な単一組成の光
導電性a−3iC層をアルミニウム製成膜用基板(31
)に生成し、電子写真特性を測定した。
導電性a−3iC層をアルミニウム製成膜用基板(31
)に生成し、電子写真特性を測定した。
即ち、第65図に示した容量結合型グロー放電分解装置
を用いて第1タンク(9)よりSignガスを150s
ecmの流量で、第2タンク(10)よりC18ガスを
10scc−の流量で、第4タンク(12)よりBJi
ガスを90scc−の流量で、第5タンク(13)より
6ガスを100sec−の流量で、第6タンク(14)
よりNOガスを0、1accsの流量で放゛出し、グロ
ー放電分解法に基いて約30μ閣の厚みのa−3iC膜
を製作した。尚、製造条件として基板温度を300℃、
ガス圧を0.5Toor、高周波電力を18061に設
定した。
を用いて第1タンク(9)よりSignガスを150s
ecmの流量で、第2タンク(10)よりC18ガスを
10scc−の流量で、第4タンク(12)よりBJi
ガスを90scc−の流量で、第5タンク(13)より
6ガスを100sec−の流量で、第6タンク(14)
よりNOガスを0、1accsの流量で放゛出し、グロ
ー放電分解法に基いて約30μ閣の厚みのa−3iC膜
を製作した。尚、製造条件として基板温度を300℃、
ガス圧を0.5Toor、高周波電力を18061に設
定した。
か(して得られた感光体に対して、表面電圧、及び光感
度及び残留電位を測定したところ、下記の通りの結果が
得られた。この測定は+5.6KVのコロナチャージで
帯電させ、次いで分光された単色光(650aa+)を
感光体表面に照射して求めた。
度及び残留電位を測定したところ、下記の通りの結果が
得られた。この測定は+5.6KVのコロナチャージで
帯電させ、次いで分光された単色光(650aa+)を
感光体表面に照射して求めた。
尚、残留電位は露光開始の5秒後の値7ある。
表面電位・・・+ 680v
光感度 ・・・0.40 c■* e r g −1残
留型位・・・ 30 V これに対して第6調整弁(20)を閉じてNOガスの放
出を止めた場合、 表面電位・・・+ 620V 光感度 ・・・0.36 cm+”erg−’残留電位
・・・ 30 V となった。
留型位・・・ 30 V これに対して第6調整弁(20)を閉じてNOガスの放
出を止めた場合、 表面電位・・・+ 620V 光感度 ・・・0.36 cm+”erg−’残留電位
・・・ 30 V となった。
(例2)
本例においては、第1の態様の感光体を第1表に示す条
件で製作し、これによって下記の電子写真特性が得られ
た。
件で製作し、これによって下記の電子写真特性が得られ
た。
尚、電子写真特性は(例1)と同じであり、本実施例の
すべてに共通とする。
すべてに共通とする。
表面電位・・・+ 780v
光感度 ・・・0.45 cm+”erg−’残留電位
・・・ 35 V (以下余白) (例3) 本例においては、第2のB様の感光体を第2表に示す条
件で製作し、これによって下記の電子写真特性が得られ
た。
・・・ 35 V (以下余白) (例3) 本例においては、第2のB様の感光体を第2表に示す条
件で製作し、これによって下記の電子写真特性が得られ
た。
表面電位・・・+ 850v
光感度 ・・・0.44 ca+”erg−’残留電位
・・・ 40 V (以下余白) (例4) 本例においては、第3の態様の感光体を第3表に示す条
件で製作し、これによって下記の電子写真特性が得られ
た。
・・・ 40 V (以下余白) (例4) 本例においては、第3の態様の感光体を第3表に示す条
件で製作し、これによって下記の電子写真特性が得られ
た。
表面電位・・・+ 960■
光感度 ・・・0.45cm”erg−’残留電位・・
・ 40.■ (以下余白) 〔発明の効果〕 以上の通り、本発明の電子写真感光体によれば、全層に
亘って光導電性を有するa−3iCが高い暗抵抗率とな
り、且つ光感度特性にも優れていることによって実質上
表面保護層及びキャリア注入阻止層を不要とすることが
でき、その結果、光導電性a−5iC層だけから成る電
子写真感光体が提供できた。
・ 40.■ (以下余白) 〔発明の効果〕 以上の通り、本発明の電子写真感光体によれば、全層に
亘って光導電性を有するa−3iCが高い暗抵抗率とな
り、且つ光感度特性にも優れていることによって実質上
表面保護層及びキャリア注入阻止層を不要とすることが
でき、その結果、光導電性a−5iC層だけから成る電
子写真感光体が提供できた。
また本発明の電子写真感光体によれば、酸素を膜中に所
定量含有させることによって光感度が向上し、更に電子
写真特性全船に亘って改善され、その結果、一段と高性
能な電子写真感光体が提供できる。
定量含有させることによって光感度が向上し、更に電子
写真特性全船に亘って改善され、その結果、一段と高性
能な電子写真感光体が提供できる。
更に本発明の電子写真感光体によれば、層厚方向に′亘
って炭素及びIIIa族元素の含有量を変えることによ
って表面電位を向上させると共に光感度特性を高め、且
つ残留電位を顕著に小さくすることができる。特に、炭
素の含有量を層厚方向に亘って変えると、抵抗率が制御
されて所要の層領域が得られ、その結果、格段に高性能
な電子写真感光体が提供できる。
って炭素及びIIIa族元素の含有量を変えることによ
って表面電位を向上させると共に光感度特性を高め、且
つ残留電位を顕著に小さくすることができる。特に、炭
素の含有量を層厚方向に亘って変えると、抵抗率が制御
されて所要の層領域が得られ、その結果、格段に高性能
な電子写真感光体が提供できる。
また、本発明によれば、正極性に有利に帯電することが
できる正極性用電子写真感光体が提供される。
できる正極性用電子写真感光体が提供される。
本発明の電子写真感光体によれば、それ自体で帯電能及
び耐環境性に優れていることから、特に保護層を設ける
必要がな(、例えばコロナ放電による被曝或いは現像剤
の樹脂成分の感光体表面へのフィルミング等によって表
面が劣化した場合、その劣化した表面を研摩剤等で研摩
再生を繰り返し行ってもその研摩量において制限を受け
ずに感光体の初期特性を維持することができ、それによ
って初期における良好な画像を長期に亘り安定して供給
することが可能となる。
び耐環境性に優れていることから、特に保護層を設ける
必要がな(、例えばコロナ放電による被曝或いは現像剤
の樹脂成分の感光体表面へのフィルミング等によって表
面が劣化した場合、その劣化した表面を研摩剤等で研摩
再生を繰り返し行ってもその研摩量において制限を受け
ずに感光体の初期特性を維持することができ、それによ
って初期における良好な画像を長期に亘り安定して供給
することが可能となる。
更に、従来のa−3t悪感光を長期間に亘って使用した
場合にはコロナ放電に伴って感光体表面の局所的な放電
破壊が発生し易くなり、これに起因して画像に斑点が生
じるという問題があったが、本発明によれば、a−St
の誘電率が8=12であるのに対してa−3iCはε・
7と約半分程度であるために帯電能に優れており、これ
により、表面電位を高くしても何ら上記の放電破壊が発
生しなくなり、その結果、高品質且つ高信頼性の電子写
真感光体が提供される。
場合にはコロナ放電に伴って感光体表面の局所的な放電
破壊が発生し易くなり、これに起因して画像に斑点が生
じるという問題があったが、本発明によれば、a−St
の誘電率が8=12であるのに対してa−3iCはε・
7と約半分程度であるために帯電能に優れており、これ
により、表面電位を高くしても何ら上記の放電破壊が発
生しなくなり、その結果、高品質且つ高信頼性の電子写
真感光体が提供される。
更に本発明の電子写真感光体を従来のa−Si感光体と
比較した場合、このa−3i悪感光の問題点として耐湿
性に劣っているので画像流れが生じ易(、また、帯電能
に劣っているのでゴースト現象が発生するが、これを解
決するためにa−3i悪感光の使用時にヒータを用いて
その感光体を加熱し、その発生を防止している。これに
対して本発明の電子写真感光体は耐湿性且つ帯電能に優
れているために上記のようにヒータを用いて使用する必
要はないという利点がある。
比較した場合、このa−3i悪感光の問題点として耐湿
性に劣っているので画像流れが生じ易(、また、帯電能
に劣っているのでゴースト現象が発生するが、これを解
決するためにa−3i悪感光の使用時にヒータを用いて
その感光体を加熱し、その発生を防止している。これに
対して本発明の電子写真感光体は耐湿性且つ帯電能に優
れているために上記のようにヒータを用いて使用する必
要はないという利点がある。
また、本発明の電子写真感光体はa−5i悪感光と比べ
て炭素の含有量を変えるだけで幅広い分光感度特性(ピ
ーク600〜700nm )が得られると共に光感度自
体を増大させることができ、更に必要に応じて不純物元
素をドーピングすれば長波長側の増感も可能になるとい
う利点がある。
て炭素の含有量を変えるだけで幅広い分光感度特性(ピ
ーク600〜700nm )が得られると共に光感度自
体を増大させることができ、更に必要に応じて不純物元
素をドーピングすれば長波長側の増感も可能になるとい
う利点がある。
第1図は本発明の電子写真感光体の層構成を示す説明図
、第2図は従来の電子写真感光体の層構造を示す説明図
、第3図は本発明に係る第1の態様の感光体の層領域を
示す説明図、第4図、第5図、第6図、第7図、第8図
及び第9図はそれぞれ本発明に係る第1の態様の感光体
の炭素含有量を示す説明図、第1O図は本発明に係る第
2の態様の感光体の層領域を示す説明図、第11図、第
12図、第13図、第14図、第15図及び第16図は
それぞれ本発明に係る第2の態様の感光体の炭素含有量
を示す説明図、第17図は本発明に係る第3の態様の感
光体の層領域を示す説明図、第18図、第19図、第2
0図及び第21図はそれぞれ本発明に係る第3の態様の
感光体の炭素含有量を示す説明図、第22図は本発明に
係る第4の態様の怒光体品。N領域を示す説明図、第2
3図及び第24図は本発明に係る第4の態様の感光体の
炭素含有量を示す説明図、第25図は本発明の実施例に
用いられる容量結合型グロー放電分解装置の・説明図で
ある。 l・・・基板 5.5a、5b、5c・・・・光導電性アモルファスシ
リコンカーバイド層 6・・・第1の層領域 7・・・第2の層領域 8・・・第3のNN域 9・・・第4の層領域 10・・・アモルファスシリコンカーバイド表面保護層
。 特許出願人 (663)京セラ株式会社同 河村
孝夫
、第2図は従来の電子写真感光体の層構造を示す説明図
、第3図は本発明に係る第1の態様の感光体の層領域を
示す説明図、第4図、第5図、第6図、第7図、第8図
及び第9図はそれぞれ本発明に係る第1の態様の感光体
の炭素含有量を示す説明図、第1O図は本発明に係る第
2の態様の感光体の層領域を示す説明図、第11図、第
12図、第13図、第14図、第15図及び第16図は
それぞれ本発明に係る第2の態様の感光体の炭素含有量
を示す説明図、第17図は本発明に係る第3の態様の感
光体の層領域を示す説明図、第18図、第19図、第2
0図及び第21図はそれぞれ本発明に係る第3の態様の
感光体の炭素含有量を示す説明図、第22図は本発明に
係る第4の態様の怒光体品。N領域を示す説明図、第2
3図及び第24図は本発明に係る第4の態様の感光体の
炭素含有量を示す説明図、第25図は本発明の実施例に
用いられる容量結合型グロー放電分解装置の・説明図で
ある。 l・・・基板 5.5a、5b、5c・・・・光導電性アモルファスシ
リコンカーバイド層 6・・・第1の層領域 7・・・第2の層領域 8・・・第3のNN域 9・・・第4の層領域 10・・・アモルファスシリコンカーバイド表面保護層
。 特許出願人 (663)京セラ株式会社同 河村
孝夫
Claims (1)
- 基板上に5×10^−^5乃至1原子%の酸素及び0.
1乃至10,000ppmの周期律表第IIIa族元素を
含有した光導電性アモルファスシリコンカーバイド層を
形成したことを特徴とする正極性に帯電可能な電子写真
感光体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61254261A JPH0789234B2 (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61254261A JPH0789234B2 (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 | 電子写真感光体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63108346A true JPS63108346A (ja) | 1988-05-13 |
| JPH0789234B2 JPH0789234B2 (ja) | 1995-09-27 |
Family
ID=17262518
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61254261A Expired - Lifetime JPH0789234B2 (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0789234B2 (ja) |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57119357A (en) * | 1981-01-16 | 1982-07-24 | Canon Inc | Photoconductive member |
| JPS57119358A (en) * | 1981-01-16 | 1982-07-24 | Canon Inc | Photoconductive member |
| JPS57119356A (en) * | 1981-01-16 | 1982-07-24 | Canon Inc | Photoconductive member |
| JPS60177357A (ja) * | 1984-02-24 | 1985-09-11 | Canon Inc | 光受容部材 |
| JPS60185956A (ja) * | 1984-03-05 | 1985-09-21 | Canon Inc | 光受容部材 |
| JPS61100759A (ja) * | 1984-10-24 | 1986-05-19 | Toshiba Corp | 光導電部材 |
-
1986
- 1986-10-24 JP JP61254261A patent/JPH0789234B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57119357A (en) * | 1981-01-16 | 1982-07-24 | Canon Inc | Photoconductive member |
| JPS57119358A (en) * | 1981-01-16 | 1982-07-24 | Canon Inc | Photoconductive member |
| JPS57119356A (en) * | 1981-01-16 | 1982-07-24 | Canon Inc | Photoconductive member |
| JPS60177357A (ja) * | 1984-02-24 | 1985-09-11 | Canon Inc | 光受容部材 |
| JPS60185956A (ja) * | 1984-03-05 | 1985-09-21 | Canon Inc | 光受容部材 |
| JPS61100759A (ja) * | 1984-10-24 | 1986-05-19 | Toshiba Corp | 光導電部材 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0789234B2 (ja) | 1995-09-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |