JPS63113372A - ダイオ−ドの機能自動試験装置 - Google Patents
ダイオ−ドの機能自動試験装置Info
- Publication number
- JPS63113372A JPS63113372A JP61259260A JP25926086A JPS63113372A JP S63113372 A JPS63113372 A JP S63113372A JP 61259260 A JP61259260 A JP 61259260A JP 25926086 A JP25926086 A JP 25926086A JP S63113372 A JPS63113372 A JP S63113372A
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- JP
- Japan
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- diode
- voltage
- measured
- terminal
- backward
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
プリント板パッケージ（以下パッケージと称す）等に組
み込まれたダイオードに、パフケージ内の他の回路を破
損や劣化させない測定電圧を加え、ダイオードの逆方向
電圧と順方向電圧とを、それぞれの基準電圧と順次比較
して、ダイオードの機能の良否を自動的に判定するよう
にしたものである。
み込まれたダイオードに、パフケージ内の他の回路を破
損や劣化させない測定電圧を加え、ダイオードの逆方向
電圧と順方向電圧とを、それぞれの基準電圧と順次比較
して、ダイオードの機能の良否を自動的に判定するよう
にしたものである。
本発明はパッケージ等に搭載された、ダイオードの機能
の良否を判定する、ダイオードの機能自動試験装置に関
する。
の良否を判定する、ダイオードの機能自動試験装置に関
する。
ダイオードの機能試験は、単体の場合は簡単に行えるが
、パッケージ等に搭載されている場合は、測定に使用さ
れる電圧で他の回路が破損されたり、劣化が起こされた
りすることがあるので、他の回路に影響の無い測定、電
圧により、機能試験が行えるダイオードの機能自動試験
装置の提供が望まれる。
、パッケージ等に搭載されている場合は、測定に使用さ
れる電圧で他の回路が破損されたり、劣化が起こされた
りすることがあるので、他の回路に影響の無い測定、電
圧により、機能試験が行えるダイオードの機能自動試験
装置の提供が望まれる。
〔従来の技術と発明が解決しようとする問題点〕従来の
ダイオードの機能試験はテスター等により逆方向、順方
向の電圧を測定し、良否を判定している。
ダイオードの機能試験はテスター等により逆方向、順方
向の電圧を測定し、良否を判定している。
しかしながら、パッケージ等に組み込まれ、例えば、保
護用等に使用されているダイオードが不良の場合、上記
の手段では組み込まれた他の回路が破損したり、劣化し
たりする問題点がある。
護用等に使用されているダイオードが不良の場合、上記
の手段では組み込まれた他の回路が破損したり、劣化し
たりする問題点がある。
第１図は本発明の原理ブロック図である。
図において、１はパッケージ等に実装されたダイオード
に、ダイオードの逆方向、順方向に対する測定電圧を供
給する測定電圧供給部、２は被測定ダイオードの逆方向
、順方向の電圧を、予め定められた逆方向、順方向の基
準電圧と比較して、機能の良否を判定する判定部、３は
上記逆方向。
に、ダイオードの逆方向、順方向に対する測定電圧を供
給する測定電圧供給部、２は被測定ダイオードの逆方向
、順方向の電圧を、予め定められた逆方向、順方向の基
準電圧と比較して、機能の良否を判定する判定部、３は
上記逆方向。
順方向の測定電圧を供給する順番及び判定の順番を規定
するタイミング信号を送出する制御部である。これ等各
部の動作により上記問題点が解決される。
するタイミング信号を送出する制御部である。これ等各
部の動作により上記問題点が解決される。
Ｃ作用〕
測定電圧供給部１は、制御部３のシーケンス動作により
発住されるタイミング信号により、測定端子Ｔｌ、Ｔ２
に接続された被測定ダイオードに、他の回路を破損や劣
化させない値の逆方向及び順方向の測定電圧を順次供給
する。判定部２は測定端子ＴＩ、Ｔ２に表れた電圧を、
制御部３の送出するタイミング信号の順番に従って、予
め定めた逆方向。
発住されるタイミング信号により、測定端子Ｔｌ、Ｔ２
に接続された被測定ダイオードに、他の回路を破損や劣
化させない値の逆方向及び順方向の測定電圧を順次供給
する。判定部２は測定端子ＴＩ、Ｔ２に表れた電圧を、
制御部３の送出するタイミング信号の順番に従って、予
め定めた逆方向。
順方向の基準電圧と順次比較して、自動的に機能の良否
を判定する。
を判定する。
かくして、パッケージ等に組み込まれたダイオードの機
能試験を、他の回路を破損や劣化させることなく、自動
的に行うことができる。
能試験を、他の回路を破損や劣化させることなく、自動
的に行うことができる。
以下図示実施例により本発明を具体的に説明する。
第２図は本発明の一実施例のダイオードの機能自動試験
装置回路図、第３図はダイオードの機能自動試験のタイ
ムチャート図である。企図を通じ同一符号は同一対象物
を示す。
装置回路図、第３図はダイオードの機能自動試験のタイ
ムチャート図である。企図を通じ同一符号は同一対象物
を示す。
第２図において、リレーＲＬＩ、ＲＬ２ 、抵抗Ｒ１は
第１図の測定電源供給部１に対応し、コンパレータ３１
．３２ 、Ｄタイプフリップフロップ（以下ＯＦＦと称
す）３３．３４、アンドゲート３５、ブザー回路３６、
抵抗Ｒ２〜Ｒ５は第１図の判定部２に対応し、動作順序
制御回路１１、電鍵Ｔは第１図の制御部３に対応する。
第１図の測定電源供給部１に対応し、コンパレータ３１
．３２ 、Ｄタイプフリップフロップ（以下ＯＦＦと称
す）３３．３４、アンドゲート３５、ブザー回路３６、
抵抗Ｒ２〜Ｒ５は第１図の判定部２に対応し、動作順序
制御回路１１、電鍵Ｔは第１図の制御部３に対応する。
またＶＦは順方向測定電圧（＋０．２５Ｖ）、ＶＲは逆
方向測定電圧（−５Ｖ）である。
方向測定電圧（−５Ｖ）である。
ダイオードの機能自動試験のため電鍵Ｔが押下されると
、動作順序制御回路１１が起動されタイミング信号が第
３図に示す如く順次送出される。
、動作順序制御回路１１が起動されタイミング信号が第
３図に示す如く順次送出される。
先ず、端子５１に第３図の如き矩形波信号が出され、リ
レーＲＬＩがそれに応じて動作され、その接点ｒｌｌが
閉じ、リレーＲＬＩの動作中逆方向測定電圧ＶＲが抵抗
Ｒ１を介し、端子Ｔｌ、Ｔ２を経由して被測定パッケー
ジのダイオードに与えられる。
レーＲＬＩがそれに応じて動作され、その接点ｒｌｌが
閉じ、リレーＲＬＩの動作中逆方向測定電圧ＶＲが抵抗
Ｒ１を介し、端子Ｔｌ、Ｔ２を経由して被測定パッケー
ジのダイオードに与えられる。
被測定ダイオードの逆方向電圧は点Ａに表れ、第３図の
点Ａに示す一例の波形となる。この電圧はコンパレータ
３１の端子−に加えられ、端子＋に加えられた抵抗Ｒ２
，Ｒ３により作成された逆方向基準電圧ＶＳＲ（−３ν
）と比較される。上記逆方向電圧が逆方向基準電圧ＶＳ
Ｒより一例の場合は試験結果カ良であり、コンパレータ
３１の出力はＤＰＦ３３の端子りをハイレベルとする。
点Ａに示す一例の波形となる。この電圧はコンパレータ
３１の端子−に加えられ、端子＋に加えられた抵抗Ｒ２
，Ｒ３により作成された逆方向基準電圧ＶＳＲ（−３ν
）と比較される。上記逆方向電圧が逆方向基準電圧ＶＳ
Ｒより一例の場合は試験結果カ良であり、コンパレータ
３１の出力はＤＰＦ３３の端子りをハイレベルとする。
この間に、動作順序制御回路１１の端子ＣＬＩから第３
図に示す時点にタイミング信号（クロック信号）が叶Ｆ
３３の端子ＣＬに与えられると、叶Ｆ３３の出力端子Ｑ
がハイレベルにセットされ、アンドゲート３５の入力点
Ｂがハイレベルになる。
図に示す時点にタイミング信号（クロック信号）が叶Ｆ
３３の端子ＣＬに与えられると、叶Ｆ３３の出力端子Ｑ
がハイレベルにセットされ、アンドゲート３５の入力点
Ｂがハイレベルになる。
動作順序制御回路１１の端子Ｓ１のタイミング信号送出
が終わりリレーＲＬＩが復旧し、続いて端子Ｓ２からの
タイミング信号が第３図の如く出されると、リレーＲＬ
２が動作され、その接点ｒ１２で順方向測定電圧ＶＦ（
＋０．５Ｖ）が抵抗Ｒ１を介し、端子Ｔｌ、Ｔ２を経由
して被測定パフケージのダイオードに与えられる。
が終わりリレーＲＬＩが復旧し、続いて端子Ｓ２からの
タイミング信号が第３図の如く出されると、リレーＲＬ
２が動作され、その接点ｒ１２で順方向測定電圧ＶＦ（
＋０．５Ｖ）が抵抗Ｒ１を介し、端子Ｔｌ、Ｔ２を経由
して被測定パフケージのダイオードに与えられる。
被測定ダイオードの順方向電圧は点Ａに表れ第３図の点
Ａに示す＋側の波形となる。この電圧はコンパレータ３
２の端子−に加えられ、端子＋に加えられた抵抗Ｒ４，
Ｒ５により作成された順方向基準電圧ＶＳＰ（＋０．２
５Ｖ）と比較される。上記順方向電圧が順方向基準電圧
ＶＳＦ以下の場合は試験結果が良であり、コンパレータ
３２の出力はＤＦＦ３４の端子りをハイレベルとする。
Ａに示す＋側の波形となる。この電圧はコンパレータ３
２の端子−に加えられ、端子＋に加えられた抵抗Ｒ４，
Ｒ５により作成された順方向基準電圧ＶＳＰ（＋０．２
５Ｖ）と比較される。上記順方向電圧が順方向基準電圧
ＶＳＦ以下の場合は試験結果が良であり、コンパレータ
３２の出力はＤＦＦ３４の端子りをハイレベルとする。
この間に、 動作順序制御回路１１の端子ＣＬ２から第
３図に示す時点にタイミング信号（クロック信号）が叶
Ｆ３４の端子ＣＬに与えられると、ＤＦＦ３４の出力端
子Ｑがハイレベルにセットされ、アンドゲート３５の入
力点Ｃがハイレベルになる。
３図に示す時点にタイミング信号（クロック信号）が叶
Ｆ３４の端子ＣＬに与えられると、ＤＦＦ３４の出力端
子Ｑがハイレベルにセットされ、アンドゲート３５の入
力点Ｃがハイレベルになる。
入力点Ｂと入力点Ｃの両方がハイレベルになったことに
よりアンドゲート３５の出力点りはハイレベルとなり、
ブザー回路３６を起動してブザーを鳴動させダイオード
の機能が良いことを報知する。
よりアンドゲート３５の出力点りはハイレベルとなり、
ブザー回路３６を起動してブザーを鳴動させダイオード
の機能が良いことを報知する。
続いて、動作順序制御回路１１は端子ＲＳから試験を終
了させるタイミング信号を０ＦＦ３３．３４の端子Ｒに
送り、これ等の出力をロウレベルとしてブザー回路３６
を復旧させ、自動試験を終了させる。
了させるタイミング信号を０ＦＦ３３．３４の端子Ｒに
送り、これ等の出力をロウレベルとしてブザー回路３６
を復旧させ、自動試験を終了させる。
以上詳細に説明した如く本発明にあっては、適切な逆方
向及順逆方向の測定電圧を順次自動的にパッケージ等に
搭載されたダイオードに印加し、該ダイオードの逆方向
及び順方向の電圧を、逆方向及び順方向の基準電圧と順
次比較してダイオードの機能の良否を判定するので、被
試験パッケージ等の回路を破損や劣化させることなく、
ダイオードの機能試験を効率よく行うことができる。
向及順逆方向の測定電圧を順次自動的にパッケージ等に
搭載されたダイオードに印加し、該ダイオードの逆方向
及び順方向の電圧を、逆方向及び順方向の基準電圧と順
次比較してダイオードの機能の良否を判定するので、被
試験パッケージ等の回路を破損や劣化させることなく、
ダイオードの機能試験を効率よく行うことができる。
第１図は本発明の原理ブロック図、
第２図は本発明の一実施例のダイオードの機能自動試験
装置回路図、 第３図はダイオードの機能自動試験のタイムチャート図
である。 図において、 １は測定電圧供給部、 ２は判定部、 ３は制御部を示す。
装置回路図、 第３図はダイオードの機能自動試験のタイムチャート図
である。 図において、 １は測定電圧供給部、 ２は判定部、 ３は制御部を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ダイオードの逆方向、順方向に対する測定電圧を供給す
る測定電圧供給部（１）と、 前記測定電圧を供給された被測定ダイオードの逆方向、
順方向の電圧を、予め定められた逆方向、順方向の基準
電圧と比較して機能の良否を判定する判定部（２）と、 前記逆方向、順方向の測定電圧を供給する順番及び判定
の順番を規定するタイミング信号を送出する制御部（３
）とを設けてなることを特徴とするダイオードの機能自
動試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61259260A JPS63113372A (ja) | 1986-10-30 | 1986-10-30 | ダイオ−ドの機能自動試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61259260A JPS63113372A (ja) | 1986-10-30 | 1986-10-30 | ダイオ−ドの機能自動試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63113372A true JPS63113372A (ja) | 1988-05-18 |
Family
ID=17331631
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61259260A Pending JPS63113372A (ja) | 1986-10-30 | 1986-10-30 | ダイオ−ドの機能自動試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63113372A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111147046A (zh) * | 2019-12-23 | 2020-05-12 | 陕西电器研究所 | 一种继电器阵列控制装置及方法 |
-
1986
- 1986-10-30 JP JP61259260A patent/JPS63113372A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111147046A (zh) * | 2019-12-23 | 2020-05-12 | 陕西电器研究所 | 一种继电器阵列控制装置及方法 |
| CN111147046B (zh) * | 2019-12-23 | 2023-02-28 | 陕西电器研究所 | 一种继电器阵列控制装置及方法 |
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