JPS63113887A - 磁気デイスク装置 - Google Patents
磁気デイスク装置Info
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- JPS63113887A JPS63113887A JP61259135A JP25913586A JPS63113887A JP S63113887 A JPS63113887 A JP S63113887A JP 61259135 A JP61259135 A JP 61259135A JP 25913586 A JP25913586 A JP 25913586A JP S63113887 A JPS63113887 A JP S63113887A
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- moisture
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/14—Reducing influence of physical parameters, e.g. temperature change, moisture, dust
- G11B33/1446—Reducing contamination, e.g. by dust, debris
- G11B33/1453—Reducing contamination, e.g. by dust, debris by moisture
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B25/00—Apparatus characterised by the shape of record carrier employed but not specific to the method of recording or reproducing, e.g. dictating apparatus; Combinations of such apparatus
- G11B25/04—Apparatus characterised by the shape of record carrier employed but not specific to the method of recording or reproducing, e.g. dictating apparatus; Combinations of such apparatus using flat record carriers, e.g. disc, card
- G11B25/043—Apparatus characterised by the shape of record carrier employed but not specific to the method of recording or reproducing, e.g. dictating apparatus; Combinations of such apparatus using flat record carriers, e.g. disc, card using rotating discs
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、電子計算機の外部記憶装置として用いられ
る磁気ディスク装置に係り、特にその除湿機構の改良に
関するものである。
る磁気ディスク装置に係り、特にその除湿機構の改良に
関するものである。
第５図は例えば特開昭５６−１３５ ’７０号公報に示
された従来の磁気ディスク装置を示す断面図であり、図
において、１は図示しない磁気ヘッドにより記録再生が
行われる磁気ディスク、２は各種構造物を取りつける為
のベース、３はこのベース２と共に磁気ディスク１を被
う密閉構造のエンクロージャ、４は上記ベース２の下面
側に設けられたスピンドルモータで、上記磁気ディスク
１はこのスピンドルモータ４により回転駆動される。
された従来の磁気ディスク装置を示す断面図であり、図
において、１は図示しない磁気ヘッドにより記録再生が
行われる磁気ディスク、２は各種構造物を取りつける為
のベース、３はこのベース２と共に磁気ディスク１を被
う密閉構造のエンクロージャ、４は上記ベース２の下面
側に設けられたスピンドルモータで、上記磁気ディスク
１はこのスピンドルモータ４により回転駆動される。
５は上記ベース２に穿設された孔に設けられ通気量を調
整する第１の絞り、６はこの第１の絞り５を被う如くベ
ース２の下面側に設けられたプレスフィルタで、エンク
ロージャ３の内外気圧差を防塵状態で調整する為のもの
である。一方、７は上記エンクロージャ３内の湿気を吸
収して低湿度に保つ為の除湿機構であり、シリカゲル等
から成る乾燥剤８と、この乾燥剤８を収納する容器９と
。
整する第１の絞り、６はこの第１の絞り５を被う如くベ
ース２の下面側に設けられたプレスフィルタで、エンク
ロージャ３の内外気圧差を防塵状態で調整する為のもの
である。一方、７は上記エンクロージャ３内の湿気を吸
収して低湿度に保つ為の除湿機構であり、シリカゲル等
から成る乾燥剤８と、この乾燥剤８を収納する容器９と
。
乾燥剤８の微粉が流出するのを防止するため容器９の開
口部に設けられたフィルタ１０と、ベース２に穿設され
た孔に設けられ乾燥剤８の吸湿速度を調整する第２の絞
り１１とから構成され、この第２の絞り１１を被う如く
ベース２の下面側に容器９が取り付けられている。
口部に設けられたフィルタ１０と、ベース２に穿設され
た孔に設けられ乾燥剤８の吸湿速度を調整する第２の絞
り１１とから構成され、この第２の絞り１１を被う如く
ベース２の下面側に容器９が取り付けられている。
さて、以上のように構成された従来の磁気ディスク装置
にあっては、プレスフィルタ６からエンクロージャ３の
内部に侵入した湿気は乾燥剤８に吸収され、エンクロー
ジャ３の内部の相対湿度は外気に比べて低く抑えられる
。これにより、磁気ディスク１の劣化や磁気ディスク１
とヘッド間の吸着現象の発生を抑制することができる。
にあっては、プレスフィルタ６からエンクロージャ３の
内部に侵入した湿気は乾燥剤８に吸収され、エンクロー
ジャ３の内部の相対湿度は外気に比べて低く抑えられる
。これにより、磁気ディスク１の劣化や磁気ディスク１
とヘッド間の吸着現象の発生を抑制することができる。
ここで、乾燥剤８の量について考察する。エンクロージ
ャ３の内部に侵入する湿気の量は第１の絞り５の構造に
よって決まる。例えば、第１の絞り５を穴径０．２５鶴
、長さ１龍のもの２段とすれば、侵入水分量は１日当り
１２ｍｇであり、装置寿命の５年間に侵入する総水分量
は２２ｇ（＝１２Ｘ３６５Ｘ５■）となる。乾燥剤８と
してシリカゲル（Ｊ ｉ ５−２０７０１）を用いると
乾燥剤８の吸水能力は２５％重量比であるから、必要量
は８８ ｇ （＝ ２２ ＋０．２５）となる。シリカ
ゲルの見かけ比重は０．９であるからその体積は９８ｃ
ｎ！（＝８８÷０．９）となる。ここで注目するべき点
は、侵入水分量が装置の外形寸法を決定するエンクロー
ジャ３の容積によらないことであって、云いかえれば乾
燥剤８の体積もエンクロージャ３の容積によらないこと
になり、装置を小形化しても装置寿命の間信頼性を維持
するためには所定量の乾燥剤８が必要となる。
ャ３の内部に侵入する湿気の量は第１の絞り５の構造に
よって決まる。例えば、第１の絞り５を穴径０．２５鶴
、長さ１龍のもの２段とすれば、侵入水分量は１日当り
１２ｍｇであり、装置寿命の５年間に侵入する総水分量
は２２ｇ（＝１２Ｘ３６５Ｘ５■）となる。乾燥剤８と
してシリカゲル（Ｊ ｉ ５−２０７０１）を用いると
乾燥剤８の吸水能力は２５％重量比であるから、必要量
は８８ ｇ （＝ ２２ ＋０．２５）となる。シリカ
ゲルの見かけ比重は０．９であるからその体積は９８ｃ
ｎ！（＝８８÷０．９）となる。ここで注目するべき点
は、侵入水分量が装置の外形寸法を決定するエンクロー
ジャ３の容積によらないことであって、云いかえれば乾
燥剤８の体積もエンクロージャ３の容積によらないこと
になり、装置を小形化しても装置寿命の間信頼性を維持
するためには所定量の乾燥剤８が必要となる。
従来の磁気ディスク装置は以上のように構成されている
ので、乾燥剤８の体積が大きくなり、小形化には限度が
あった。例えば、直径１３０ｆｌの薄形固定ディスク装
置では、装置外形寸法（１４６ｍＸ４１ｍｍＸ２０３ｍ
）から求めた体積は１，２１５ｃＪであるが、エンクロ
ージャ３の容積は約４００２であり、さらに乾燥剤８を
収容できる部分は約２０ｃｄとなる。しかし、シリカゲ
ルを用いた乾燥剤８の体積は前述のように９８ｃ＋ｄ必
要であるから、これをエンクロージャ３内に収納するこ
とはあきらかに不可能である。従って、第５図従来例に
示す如く、エンクロージャ３の外部に除湿機構７を設け
て所定量の乾燥剤８を収納するか、あるいはエンクロー
ジャ３内に可能なだけの乾燥剤８を収納して信頼性は犠
牲にせざるを得なくなる。云いかえれば、従来の除湿機
構７は小形装置に適用することが困難であった。
ので、乾燥剤８の体積が大きくなり、小形化には限度が
あった。例えば、直径１３０ｆｌの薄形固定ディスク装
置では、装置外形寸法（１４６ｍＸ４１ｍｍＸ２０３ｍ
）から求めた体積は１，２１５ｃＪであるが、エンクロ
ージャ３の容積は約４００２であり、さらに乾燥剤８を
収容できる部分は約２０ｃｄとなる。しかし、シリカゲ
ルを用いた乾燥剤８の体積は前述のように９８ｃ＋ｄ必
要であるから、これをエンクロージャ３内に収納するこ
とはあきらかに不可能である。従って、第５図従来例に
示す如く、エンクロージャ３の外部に除湿機構７を設け
て所定量の乾燥剤８を収納するか、あるいはエンクロー
ジャ３内に可能なだけの乾燥剤８を収納して信頼性は犠
牲にせざるを得なくなる。云いかえれば、従来の除湿機
構７は小形装置に適用することが困難であった。
この発明は、上記のような問題点を解消するためになさ
れたもので、小形化可能な除湿機構を有する信頼性の高
い磁気ディスク装置を得ることを目的とする。
れたもので、小形化可能な除湿機構を有する信頼性の高
い磁気ディスク装置を得ることを目的とする。
この発明に係る磁気ディスク装置は、除湿機構を構成す
る乾燥剤として、周囲条件により吸湿ばかりでなく放湿
も行うことのできる可逆性乾燥剤を用いたものである。
る乾燥剤として、周囲条件により吸湿ばかりでなく放湿
も行うことのできる可逆性乾燥剤を用いたものである。
この発明において用いられる可逆性乾燥剤は、温度の変
化や外部からの湿気の侵入による湿度の変化に伴なって
吸湿と放湿を繰り返すので、少量でも長期間の使用に耐
え、除湿機構の小形化と長寿命化が図れる。
化や外部からの湿気の侵入による湿度の変化に伴なって
吸湿と放湿を繰り返すので、少量でも長期間の使用に耐
え、除湿機構の小形化と長寿命化が図れる。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図は実施例の磁気ディスク装置を示す断面図であり、第
５図従来例と同−又は相当部分には同一符号を付してそ
の説明は省略する。図において、１２は本願における除
湿機構を示し、この除湿機構１２には乾燥剤として後述
する公知の可逆性乾燥剤１３が用いられている。この可
逆性乾燥剤１３は、第２の絞り１１が備えられた蓋１４
ａ及びフィルタ１０を有する金属性の、容器１４に収納
され、この容器１４がベース２の上面側に固定されてエ
ンクロージャ３内の所定位置に配置されている。なお、
１５は図示しない磁気ヘッドを駆動する為のアクチュエ
ータである。
図は実施例の磁気ディスク装置を示す断面図であり、第
５図従来例と同−又は相当部分には同一符号を付してそ
の説明は省略する。図において、１２は本願における除
湿機構を示し、この除湿機構１２には乾燥剤として後述
する公知の可逆性乾燥剤１３が用いられている。この可
逆性乾燥剤１３は、第２の絞り１１が備えられた蓋１４
ａ及びフィルタ１０を有する金属性の、容器１４に収納
され、この容器１４がベース２の上面側に固定されてエ
ンクロージャ３内の所定位置に配置されている。なお、
１５は図示しない磁気ヘッドを駆動する為のアクチュエ
ータである。
次に作用について説明する。
まず、可逆性乾燥剤１３の性質について第２図を用いて
説明する。第２図（ａｌは、可逆性乾燥剤。
説明する。第２図（ａｌは、可逆性乾燥剤。
例えば商品名ドライカラット（（株）東拓、東京都中央
区銀座４−１２−２０．取扱い）の吸湿特性を示す。（
なお、ドライカラットについては、特開昭５３−９６９
８５号公報に示される如（粒状乾燥剤としての製法特許
の出願がある。）低湿（相対湿度５０％）条件下におけ
る吸湿率をＪｉｓ−Ｚ０７０１−１９７７の方法にそっ
て測定し、乾燥剤の吸水率として示すと３０．５％であ
った。次に、相対湿度７０％条件下においては吸水率は
４３．１％、さらに高湿の相対湿度９０％においては吸
水率が５４．８％であった。
区銀座４−１２−２０．取扱い）の吸湿特性を示す。（
なお、ドライカラットについては、特開昭５３−９６９
８５号公報に示される如（粒状乾燥剤としての製法特許
の出願がある。）低湿（相対湿度５０％）条件下におけ
る吸湿率をＪｉｓ−Ｚ０７０１−１９７７の方法にそっ
て測定し、乾燥剤の吸水率として示すと３０．５％であ
った。次に、相対湿度７０％条件下においては吸水率は
４３．１％、さらに高湿の相対湿度９０％においては吸
水率が５４．８％であった。
次に、相対湿度を９０％から７０％に低下させると乾燥
剤の吸水率は４６．０％になり、さらに低湿の５０％に
低下させると吸水率は３３．７％となった。
剤の吸水率は４６．０％になり、さらに低湿の５０％に
低下させると吸水率は３３．７％となった。
すなわち、低湿条件下から高温条件下に移行するときは
吸湿して重量が増加するが、再び低湿条件下に戻すと放
湿して重量が減小することがわかった。このような性質
をもった乾燥剤は可逆性乾燥剤と呼ぶことができる。
吸湿して重量が増加するが、再び低湿条件下に戻すと放
湿して重量が減小することがわかった。このような性質
をもった乾燥剤は可逆性乾燥剤と呼ぶことができる。
ここで、比較のために従来の乾燥剤の特性について第２
図（ｂ）を用いて説明する。従来の乾燥剤として一般的
に知られるものはＪｉｓ−Ｚ０７０１に示されるシリカ
ゲルである。シリカゲルでは、相対湿度を増加させる過
程における相対湿度２０゜５０．９０％に対する乾燥剤
の吸水率は、１２゜２３．３５％であった。そして、相
対湿度を減小させる過程においては、相対湿度２０％に
対する吸水率は２９％であった。すなわち、低湿から高
温になると吸湿するが、高温から低湿になっても放湿は
不十分であり、−度吸湿した水分は乾燥剤から出ていか
ない。云いかえれば、従来の乾燥剤は非可逆性乾燥剤と
いうことができる。
図（ｂ）を用いて説明する。従来の乾燥剤として一般的
に知られるものはＪｉｓ−Ｚ０７０１に示されるシリカ
ゲルである。シリカゲルでは、相対湿度を増加させる過
程における相対湿度２０゜５０．９０％に対する乾燥剤
の吸水率は、１２゜２３．３５％であった。そして、相
対湿度を減小させる過程においては、相対湿度２０％に
対する吸水率は２９％であった。すなわち、低湿から高
温になると吸湿するが、高温から低湿になっても放湿は
不十分であり、−度吸湿した水分は乾燥剤から出ていか
ない。云いかえれば、従来の乾燥剤は非可逆性乾燥剤と
いうことができる。
さて、磁気ディスク装置のエンクロージャ３内の湿度を
考える場合、磁気ディスク装置が非動作で放置されてい
る場合と稼動状態にある場合では、内部温度分布条件が
異っており乾燥剤の作用も異ってくる。第３図は可逆性
乾燥剤１３を除湿機構１２に用いたこの発明の一実施例
の動作特性を示す図である。図中、ＡＢは第２の絞り１
１を有する可逆性乾燥剤１３の特性を示す。すなわち、
相対湿度ＸＡ （％ＲＨ）のとき、可逆性乾燥剤１３の
吸水量はＷＡ （ダラム）であり、ｘｓ （％ＲＨ）
のときＷ、（ダラム）である。次に、Ｗ、Ｘ、は温度が
Ｔｏ （”ｃ）であって、可逆性乾燥剤１３のない場
合のエンクロージャ３内の特性を示す。すなわち、可逆
性乾燥剤１３を除いたエンクロージャ３内にＷｏ （ダ
ラム）の水分があったとき、エンクロージャ３内はＸｏ
（％ＲＨ）の相対湿度を示すものとする。次に、エ
ンクロージャ３内に可逆性乾燥剤１３を入れると、内部
の湿度が可逆性乾燥剤１３に吸湿されて、図中の０点、
すなわちＸｃ （％ＲＨ）の相対湿度にて平衡状態に
なる。
考える場合、磁気ディスク装置が非動作で放置されてい
る場合と稼動状態にある場合では、内部温度分布条件が
異っており乾燥剤の作用も異ってくる。第３図は可逆性
乾燥剤１３を除湿機構１２に用いたこの発明の一実施例
の動作特性を示す図である。図中、ＡＢは第２の絞り１
１を有する可逆性乾燥剤１３の特性を示す。すなわち、
相対湿度ＸＡ （％ＲＨ）のとき、可逆性乾燥剤１３の
吸水量はＷＡ （ダラム）であり、ｘｓ （％ＲＨ）
のときＷ、（ダラム）である。次に、Ｗ、Ｘ、は温度が
Ｔｏ （”ｃ）であって、可逆性乾燥剤１３のない場
合のエンクロージャ３内の特性を示す。すなわち、可逆
性乾燥剤１３を除いたエンクロージャ３内にＷｏ （ダ
ラム）の水分があったとき、エンクロージャ３内はＸｏ
（％ＲＨ）の相対湿度を示すものとする。次に、エ
ンクロージャ３内に可逆性乾燥剤１３を入れると、内部
の湿度が可逆性乾燥剤１３に吸湿されて、図中の０点、
すなわちＸｃ （％ＲＨ）の相対湿度にて平衡状態に
なる。
このとき可逆性乾燥剤１３はＣＣ′に相当する湿気ｗｏ
ｗｃ （ダラム）を吸湿している。
ｗｃ （ダラム）を吸湿している。
さて、エンクロージャ３の内部温度が７．（’ｃ）に上
昇すると、飽和水蒸気圧が上昇するため平衡状態の動作
点は図中のＤ点、すなわち相対湿度Ｘｎ （％ＲＨ）
に低下する。（なお、ｘｌは温度Ｔ＋において可逆性乾
燥剤１３が存在しない場合の相対湿度である。） 次に、動作点ＣからＤへの移行に際し、可逆性乾燥剤１
３の吸水量がどのように変化するかについて述べる。図
中、動作点ＣではＷ。−Ｗ、＝ＣＣ゛に相当する水分を
吸湿するが、動作点りではＷｏ−Ｗ、＝ＤＤ’ に相当
する水分を吸湿する。
昇すると、飽和水蒸気圧が上昇するため平衡状態の動作
点は図中のＤ点、すなわち相対湿度Ｘｎ （％ＲＨ）
に低下する。（なお、ｘｌは温度Ｔ＋において可逆性乾
燥剤１３が存在しない場合の相対湿度である。） 次に、動作点ＣからＤへの移行に際し、可逆性乾燥剤１
３の吸水量がどのように変化するかについて述べる。図
中、動作点ＣではＷ。−Ｗ、＝ＣＣ゛に相当する水分を
吸湿するが、動作点りではＷｏ−Ｗ、＝ＤＤ’ に相当
する水分を吸湿する。
図中あきらかなように、ＣＣ’ ＞ＤＤ’ だからＷ
ｏ−Ｗｃ＞Ｗｏ−ＷＤであり、動作点がＣからＤに移る
と乾燥剤からはＷｔ＋ Ｗｅに相当する水分が放湿さ
れる。すなわち、エンクロージャ３の内部温度の変化が
あったとき、動作点をＣ又はＤに移動させ内部相対湿度
を平衝させるよう可逆性乾燥剤１３が吸湿又は放湿して
いることになる。
ｏ−Ｗｃ＞Ｗｏ−ＷＤであり、動作点がＣからＤに移る
と乾燥剤からはＷｔ＋ Ｗｅに相当する水分が放湿さ
れる。すなわち、エンクロージャ３の内部温度の変化が
あったとき、動作点をＣ又はＤに移動させ内部相対湿度
を平衝させるよう可逆性乾燥剤１３が吸湿又は放湿して
いることになる。
また、乾燥剤がない場合、エンクロージャ３内部の湿度
変化はＸｏ−Ｘ、であるが、可逆性乾燥剤１３を用いれ
ばＸｃ−Ｘｏとなり、Ｘｃ −Ｘｎ＜ｘ（、−ｘ、だか
ら、可逆性乾燥剤１３を用いた方が湿度変化幅が小さく
なる。すなわち、一定湿度に近づく。また、平均湿度に
着目すれば、（Ｘｃ ＋ｘｏ ）／２＜ （ｘｏ ＋ｘ
、）／２となるから、可逆性乾燥剤１３を用いた方が平
均湿度は低くなる。
変化はＸｏ−Ｘ、であるが、可逆性乾燥剤１３を用いれ
ばＸｃ−Ｘｏとなり、Ｘｃ −Ｘｎ＜ｘ（、−ｘ、だか
ら、可逆性乾燥剤１３を用いた方が湿度変化幅が小さく
なる。すなわち、一定湿度に近づく。また、平均湿度に
着目すれば、（Ｘｃ ＋ｘｏ ）／２＜ （ｘｏ ＋ｘ
、）／２となるから、可逆性乾燥剤１３を用いた方が平
均湿度は低くなる。
また、乾燥剤が従来の非可逆性のものであれば、内部湿
度がＴｏからＴＩに上昇したとき乾燥剤からの放湿が期
待できないので、内部湿度は図中のｘｉ （＜Ｘ！ｌ
）となり （Ｗｅ Ｅ’ ／／ Ｗｏ Ｘ＋ ）過渡
の乾燥状態となる。
度がＴｏからＴＩに上昇したとき乾燥剤からの放湿が期
待できないので、内部湿度は図中のｘｉ （＜Ｘ！ｌ
）となり （Ｗｅ Ｅ’ ／／ Ｗｏ Ｘ＋ ）過渡
の乾燥状態となる。
さて、磁気ディスク装置にあっては、１日のうち１４時
間は非通電で放置条件にあり、残り１０時間は通電して
使用条件にあるというようなサイクルで使用されること
が多い。この場合のエンクロージャ３内の温度の変化を
第４図（ａ）に示す。この例では、非通電条件では２５
℃とし、通電条件では磁気ディスク１の回転に伴う発熱
、スピンドルモータ４の発熱、アクチュエータ１５０発
熱等のために１５℃の温度上昇があり、４０℃になって
いる。
間は非通電で放置条件にあり、残り１０時間は通電して
使用条件にあるというようなサイクルで使用されること
が多い。この場合のエンクロージャ３内の温度の変化を
第４図（ａ）に示す。この例では、非通電条件では２５
℃とし、通電条件では磁気ディスク１の回転に伴う発熱
、スピンドルモータ４の発熱、アクチュエータ１５０発
熱等のために１５℃の温度上昇があり、４０℃になって
いる。
エンクロージャ３の内部の相対湿度は、第４図（ト））
に示すようにＸｏ （％ＲＨ）からＸｃ （％ＲＨ
）まで変動する。非通電条件下では内部湿度は上昇する
が、可逆性乾燥剤１３の吸湿作用により一定値Ｘｃで制
限されている。また、通電条件下では内部湿度は下降す
るが、可逆性乾燥剤１１の放湿作用により一定値ｘＤで
制限され、過渡の乾燥条件になることはない。
に示すようにＸｏ （％ＲＨ）からＸｃ （％ＲＨ
）まで変動する。非通電条件下では内部湿度は上昇する
が、可逆性乾燥剤１３の吸湿作用により一定値Ｘｃで制
限されている。また、通電条件下では内部湿度は下降す
るが、可逆性乾燥剤１１の放湿作用により一定値ｘＤで
制限され、過渡の乾燥条件になることはない。
一方、可逆性乾燥剤１３の重量は第４図ｆｃ）に示すよ
うに増減を繰り返すが、１日１サイクル毎にＷ０’−Ｗ
、＝１２■の吸湿と、ｗ０’−ｗ、＝１０■の放湿を行
い、１日あたりＷ＋ Ｗｏ＝２■の増加がみられる。
うに増減を繰り返すが、１日１サイクル毎にＷ０’−Ｗ
、＝１２■の吸湿と、ｗ０’−ｗ、＝１０■の放湿を行
い、１日あたりＷ＋ Ｗｏ＝２■の増加がみられる。
従って、装置寿命の５年間では３．６５グラム（＝２Ｘ
３６５Ｘ５■）の増加となる。可逆性乾燥剤１３として
ドライカラットを用いると相対湿度５０％近傍での吸水
能力は３０％重量比であるから、その量は１２．２グラ
ム（＝３．６５÷０．３０）となる。ドライカラットの
見かけ比重は０．７であるから可逆性乾燥剤１３の体積
は１７．４ｃｄ （＝１２．２÷０．７）となり、前述
した直径１３ Ｑ ＋＋ｎの磁気ディスクを用いた装置
のように乾燥剤の収容能力が２０ｄしかない小形磁気デ
ィスク装置にも収容することが可能となった。
３６５Ｘ５■）の増加となる。可逆性乾燥剤１３として
ドライカラットを用いると相対湿度５０％近傍での吸水
能力は３０％重量比であるから、その量は１２．２グラ
ム（＝３．６５÷０．３０）となる。ドライカラットの
見かけ比重は０．７であるから可逆性乾燥剤１３の体積
は１７．４ｃｄ （＝１２．２÷０．７）となり、前述
した直径１３ Ｑ ＋＋ｎの磁気ディスクを用いた装置
のように乾燥剤の収容能力が２０ｄしかない小形磁気デ
ィスク装置にも収容することが可能となった。
次に、除湿機構１２のより効果的な配置法について述べ
る。磁気ディスク装置の主な発熱源は磁気ディスク１と
スピンドルモータ４とアクチュエータ１５である。磁気
ディスク１は高速回転すると回転数の略３乗に比例した
風損を生じ、エンクロージャ３の内部空気を加熱する。
る。磁気ディスク装置の主な発熱源は磁気ディスク１と
スピンドルモータ４とアクチュエータ１５である。磁気
ディスク１は高速回転すると回転数の略３乗に比例した
風損を生じ、エンクロージャ３の内部空気を加熱する。
スピンドルモータ４およびアクチュエータ１５は電気機
械であって電流損失および機械損失により発熱する。こ
れらから発生した熱は、ベース２を加熱し２間接的にエ
ンクロージャ３内の空気を加熱する。前述したように、
除湿機構１２の長寿命化を図るには乾燥剤１３に可逆的
な吸湿特性を有するものを採用することが最も大切であ
るが、さらにその効果を高めるためには除湿機構１２を
スピンドル４あるいはアクチュエータ１４の近くに配置
し、かつ磁気ディスク１の回転により生じる風路に沿っ
ていることが望ましい。このようにすれば、磁気ディス
ク装置の動作時と非動作時における除湿機構１２の温度
変化が大きくとれ、ひいては乾燥剤１３の放湿が十分に
行われ、吸湿、放湿サイクルにおける乾燥剤１３の吸湿
重量増加を抑制することができる。
械であって電流損失および機械損失により発熱する。こ
れらから発生した熱は、ベース２を加熱し２間接的にエ
ンクロージャ３内の空気を加熱する。前述したように、
除湿機構１２の長寿命化を図るには乾燥剤１３に可逆的
な吸湿特性を有するものを採用することが最も大切であ
るが、さらにその効果を高めるためには除湿機構１２を
スピンドル４あるいはアクチュエータ１４の近くに配置
し、かつ磁気ディスク１の回転により生じる風路に沿っ
ていることが望ましい。このようにすれば、磁気ディス
ク装置の動作時と非動作時における除湿機構１２の温度
変化が大きくとれ、ひいては乾燥剤１３の放湿が十分に
行われ、吸湿、放湿サイクルにおける乾燥剤１３の吸湿
重量増加を抑制することができる。
次に、除湿機構１２の容器１４については、従来一般的
に合成樹脂が用いられるが、この発明の主旨を生かすた
めには、金属を用いベース２からの熱伝導を良くして、
より加熱しやすくすることが有効である。
に合成樹脂が用いられるが、この発明の主旨を生かすた
めには、金属を用いベース２からの熱伝導を良くして、
より加熱しやすくすることが有効である。
また、除湿機構１２の第２の絞り１１については、単位
時間当りの吸湿能力の大小を制御することが可能で、第
３図における特性ＡＢの傾斜を急にするには絞りの穴径
を大きくすれば良い。
時間当りの吸湿能力の大小を制御することが可能で、第
３図における特性ＡＢの傾斜を急にするには絞りの穴径
を大きくすれば良い。
また、上記一実施例では、可逆性乾燥剤１３どして商品
名°ドライカラットを用いたが、可逆性を有するもので
あれば９例えば商品名二ソソードライーＣ（（株）寛統
商界、東京都豊島区東池袋１−４４−８．取扱い）等を
用いることも可能である。
名°ドライカラットを用いたが、可逆性を有するもので
あれば９例えば商品名二ソソードライーＣ（（株）寛統
商界、東京都豊島区東池袋１−４４−８．取扱い）等を
用いることも可能である。
以上のように、この発明によれば、磁気ディスク装置の
除湿機構を可逆性乾燥剤を用いて構成したので、小形で
かつ長寿命の除湿機構を得ることができ、信幀性の高い
小形磁気ディスク装置が可能となる効果が得られる。
除湿機構を可逆性乾燥剤を用いて構成したので、小形で
かつ長寿命の除湿機構を得ることができ、信幀性の高い
小形磁気ディスク装置が可能となる効果が得られる。
第１図はこの発明の一実施例による磁気ディスク装置の
断面図、第２図（ａｌ、 （ｂ）は可逆性乾燥剤の吸湿
特性を示す図、第３図は実施例の動作特性を示す図、第
４図（ａｌ、 （ｂ）、 （Ｃ）は可逆性乾燥剤の吸水
量の変化を示す図、第５図は従来の磁気ディスク装置を
示す断面図である。 １は磁気ディスク、３はエンクロージャ、６はプレスフ
ィルタ、１０はフィルタ、１１は第２の絞り、１２は除
湿機構、１３は可逆性乾燥剤、１４は容器。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄（ほか２名）ゴイー １゜ ビ＼−１ ％Ｒ
断面図、第２図（ａｌ、 （ｂ）は可逆性乾燥剤の吸湿
特性を示す図、第３図は実施例の動作特性を示す図、第
４図（ａｌ、 （ｂ）、 （Ｃ）は可逆性乾燥剤の吸水
量の変化を示す図、第５図は従来の磁気ディスク装置を
示す断面図である。 １は磁気ディスク、３はエンクロージャ、６はプレスフ
ィルタ、１０はフィルタ、１１は第２の絞り、１２は除
湿機構、１３は可逆性乾燥剤、１４は容器。 なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄（ほか２名）ゴイー １゜ ビ＼−１ ％Ｒ
Claims (4)
- （１）回転駆動される磁気ディスクを密閉構造のエンク
ロージャ内に収納するとともに、内外気圧差を防塵状態
で調整するプレスフィルタと、乾燥剤をフィルタを有す
る容器内に収納し上記プレスフィルタを介して侵入する
湿気を除湿する除湿機構とを備えた磁気ディスク装置に
おいて、上記乾燥剤として、湿度の上昇及び降下に対応
して吸湿作用及び放湿作用を有する可逆性乾燥剤を用い
たことを特徴とする磁気ディスク装置。 - （２）除湿機構は、エンクロージャ内の発熱源近傍で磁
気ディスクの回転により生じる風路に配置されて成るこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の磁気ディス
ク装置。 - （３）乾燥剤を収納する容器には、金属性材料を用いた
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の磁気ディ
スク装置。 - （４）除湿機構は、可逆性乾燥剤の吸湿速度を調整する
絞りを備えて成ることを特徴とする特許請求の範囲第１
項記載の磁気ディスク装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61259135A JPS63113887A (ja) | 1986-10-30 | 1986-10-30 | 磁気デイスク装置 |
| US07/115,734 US4831475A (en) | 1986-10-30 | 1987-10-29 | Magnetic disc device including device for controlling humidity in a disc enclosure |
| GB8725408A GB2198280B (en) | 1986-10-30 | 1987-10-29 | Magnetic disc device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61259135A JPS63113887A (ja) | 1986-10-30 | 1986-10-30 | 磁気デイスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63113887A true JPS63113887A (ja) | 1988-05-18 |
Family
ID=17329809
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61259135A Pending JPS63113887A (ja) | 1986-10-30 | 1986-10-30 | 磁気デイスク装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4831475A (ja) |
| JP (1) | JPS63113887A (ja) |
| GB (1) | GB2198280B (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04181588A (ja) * | 1990-01-19 | 1992-06-29 | Nec Corp | 磁気ディスク装置 |
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| US11783867B2 (en) | 2019-08-07 | 2023-10-10 | Seagate Technology Llc | Electronic device that includes a composition that can actively generate and release a gaseous oxidizing agent component into an interior space of the electronic device, and related subassemblies and methods |
| US11763853B2 (en) | 2019-08-07 | 2023-09-19 | Seagate Technology Llc | Electronic device that includes a composition that can actively generate and release a gaseous oxidizing agent component into an interior space of the electronic device, and related subassemblies and methods |
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| US11270739B1 (en) | 2021-02-09 | 2022-03-08 | Seagate Technology Llc | Electronic device that includes one or more reactants that generate a gaseous oxidizing agent component inside the electronic device, and related subassemblies and methods |
| US11631436B1 (en) | 2021-11-22 | 2023-04-18 | Seagate Technology Llc | Electronic device having an interior gas space that includes one or more desiccants |
| US12183371B1 (en) | 2022-03-23 | 2024-12-31 | Seagate Technology Llc | Electronic device that includes a gas phase component |
| JP2025116975A (ja) * | 2024-01-30 | 2025-08-12 | 株式会社東芝 | ディスク装置 |
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1986
- 1986-10-30 JP JP61259135A patent/JPS63113887A/ja active Pending
-
1987
- 1987-10-29 GB GB8725408A patent/GB2198280B/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-10-29 US US07/115,734 patent/US4831475A/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB8725408D0 (en) | 1987-12-02 |
| GB2198280A (en) | 1988-06-08 |
| US4831475A (en) | 1989-05-16 |
| GB2198280B (en) | 1990-08-29 |
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