JPS6311665Y2 - - Google Patents
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- JPS6311665Y2 JPS6311665Y2 JP4432380U JP4432380U JPS6311665Y2 JP S6311665 Y2 JPS6311665 Y2 JP S6311665Y2 JP 4432380 U JP4432380 U JP 4432380U JP 4432380 U JP4432380 U JP 4432380U JP S6311665 Y2 JPS6311665 Y2 JP S6311665Y2
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- JP
- Japan
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- circuit board
- switch
- conductive rubber
- terminal
- conductive
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- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 claims description 21
- 239000005060 rubber Substances 0.000 claims description 21
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 7
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Electric Clocks (AREA)
- Electromechanical Clocks (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は表裏両面のうち表面側にプリント配
線が施されている回路基板が枠体に組み立てられ
た状態で回路基板の裏面側から電子回路の動作状
態を検査するようにした検査用のスイツチ部の構
造に関する。
線が施されている回路基板が枠体に組み立てられ
た状態で回路基板の裏面側から電子回路の動作状
態を検査するようにした検査用のスイツチ部の構
造に関する。
通常、電子機器、例えば、電子腕時計において
は、その組立工程が終了した段階で電子回路が正
常に動作するか否かの検査作業が行なわれる。こ
のため、回路基板、液晶パネル等が一体化された
モジユールを時計ケースに組み立てた状態で電子
回路の検査が行なえるように、回路基板には検査
用スイツチ端子が設けられている。そして、この
種の回路基板はその表裏両面にプリント配線が
夫々施された構成となつている。すなわち、第1
図1は回路基板1の表面(図中上面)側を示した
ものであり、その基板1の表面には液晶パネル
(図示せず)の端子電極に接続される多数の表示
用電極端子2が形成され、またLSIパツケージ3
と表示用電極端子とを電気的に接続するプリント
配線4が施されている。また、第1図2は回路基
板1の裏面(第1図1において下面)側を示した
ものであり、その裏面にはスルホール5間にプリ
ント配線4が施されていると共に、電子回路の動
作状態を検査する検査用スイツチ端子6a,6b
が形成されており、一方のスイツチ端子6aには
プリント配線4を介して2値論理レベルの高電位
VDDレベルの信号が供給され、また、他方のスイ
ツチ端子6bはプリント配線4を介してLSIパツ
ケージ3内の電子回路、例えば、計時計数回路
(図示せず)のリセツト端子に接続されている。
は、その組立工程が終了した段階で電子回路が正
常に動作するか否かの検査作業が行なわれる。こ
のため、回路基板、液晶パネル等が一体化された
モジユールを時計ケースに組み立てた状態で電子
回路の検査が行なえるように、回路基板には検査
用スイツチ端子が設けられている。そして、この
種の回路基板はその表裏両面にプリント配線が
夫々施された構成となつている。すなわち、第1
図1は回路基板1の表面(図中上面)側を示した
ものであり、その基板1の表面には液晶パネル
(図示せず)の端子電極に接続される多数の表示
用電極端子2が形成され、またLSIパツケージ3
と表示用電極端子とを電気的に接続するプリント
配線4が施されている。また、第1図2は回路基
板1の裏面(第1図1において下面)側を示した
ものであり、その裏面にはスルホール5間にプリ
ント配線4が施されていると共に、電子回路の動
作状態を検査する検査用スイツチ端子6a,6b
が形成されており、一方のスイツチ端子6aには
プリント配線4を介して2値論理レベルの高電位
VDDレベルの信号が供給され、また、他方のスイ
ツチ端子6bはプリント配線4を介してLSIパツ
ケージ3内の電子回路、例えば、計時計数回路
(図示せず)のリセツト端子に接続されている。
しかして、前記計時計数回路の動作状態を検査
する場合には、モジユールを時計ケースに組み立
てた状態で時計ケースから裏蓋を外し、その開口
部から導電性工具を挿入し、導電性工具を回路基
板の裏面に形成されているスイツチ端子6a・6
bに同時に接触させることにより、両スイツチ端
子6a・6bが電気的に導通して高電位レベルの
信号が計時計数回路のリセツト端子に入力され、
計時計数回路の内容を強制的にクリアして検査を
行うのである。
する場合には、モジユールを時計ケースに組み立
てた状態で時計ケースから裏蓋を外し、その開口
部から導電性工具を挿入し、導電性工具を回路基
板の裏面に形成されているスイツチ端子6a・6
bに同時に接触させることにより、両スイツチ端
子6a・6bが電気的に導通して高電位レベルの
信号が計時計数回路のリセツト端子に入力され、
計時計数回路の内容を強制的にクリアして検査を
行うのである。
このようにして、回路基板の表裏両面にプリン
ト配線が施されている構成のものにおいては、検
査用スイツチ端子を基板の裏面に形成することが
可能である。しかし、回路基板のローコスト化を
図るために、基板表面にだけプリント配線を施し
た構成のものにおいては、基板の裏面に検査用ス
イツチ端子を形成することができなかつた。
ト配線が施されている構成のものにおいては、検
査用スイツチ端子を基板の裏面に形成することが
可能である。しかし、回路基板のローコスト化を
図るために、基板表面にだけプリント配線を施し
た構成のものにおいては、基板の裏面に検査用ス
イツチ端子を形成することができなかつた。
この考案は前記事情に基づいてなされたもの
で、その目的とするところは、表裏両面のうち表
面側にだけプリント配線が施されているローコス
トの回路基板を用いた場合でも、電子回路の動作
状態を検査する作業を容易かつ確実に行うことが
できるスイツチ部の構造を提供することにある。
で、その目的とするところは、表裏両面のうち表
面側にだけプリント配線が施されているローコス
トの回路基板を用いた場合でも、電子回路の動作
状態を検査する作業を容易かつ確実に行うことが
できるスイツチ部の構造を提供することにある。
以下、この考案の一実施例を第2図ないし第4
図に基づいて詳細に説明する。第2図はこの考案
を適用した電子腕時計モジユールの分解斜視図で
ある。なお、前記従来例と同一部分は同一符号を
もつて示し、その説明を省略する。図において符
号11は、表裏両面のうち表面(図中上面)側に
だけプリント配線が施されている回路基板であ
る。この回路基板11はハウジング(枠体)12
の裏面(図中下面)にネジ13を介して固定され
る。このハウジング12の上面中央部には、その
厚さ方向に貫通する方形状の空間部14が形成さ
れており、この空間部14には液晶パネル15が
嵌合される。また、空間部14の幅方向一側を形
成するハウジング12の壁部16には、所定間隔
離間した2つの直方体切欠部17a・17bが形
成されている。これら各切欠部17a・17bは
ハウジング12の下面側及び空間部14側が夫々
開口し、その他はハウジング12の壁部に囲まれ
るように形成されている。
図に基づいて詳細に説明する。第2図はこの考案
を適用した電子腕時計モジユールの分解斜視図で
ある。なお、前記従来例と同一部分は同一符号を
もつて示し、その説明を省略する。図において符
号11は、表裏両面のうち表面(図中上面)側に
だけプリント配線が施されている回路基板であ
る。この回路基板11はハウジング(枠体)12
の裏面(図中下面)にネジ13を介して固定され
る。このハウジング12の上面中央部には、その
厚さ方向に貫通する方形状の空間部14が形成さ
れており、この空間部14には液晶パネル15が
嵌合される。また、空間部14の幅方向一側を形
成するハウジング12の壁部16には、所定間隔
離間した2つの直方体切欠部17a・17bが形
成されている。これら各切欠部17a・17bは
ハウジング12の下面側及び空間部14側が夫々
開口し、その他はハウジング12の壁部に囲まれ
るように形成されている。
また、回路基板11をハウジング12に組み立
てた状態において、各切欠部17a.17bに対向
する回路基板11の表面には、電子回路の動作状
態を検査する検査用スイツチ端子18a.18bが
夫々配設されている。これら各スイツチ端子18
a.18bはプリント配線4を介してLSIパツケー
ジ3に電気的に接続されている。一方のスイツチ
端子18aには高電位の信号が与えられており、
また、他方のスイツチ端子18bには電子回路、
例えば、計時計数回路のリセツト端子に接続され
ている。また、ハウジング12の各切欠部17a.
17bに対向する回路基板11の表面には、スイ
ツチ端子18a.18bに夫々近接対向し、かつ回
路基板11の裏面側から表面側に貫通する貫通孔
19a.19bが夫々形成されている。なお、各貫
通孔19a.19bの径は、所定の大きさ、例え
ば、既存する導電性工具を挿入し得る大きさに形
成されている。一方、符号20a.20bは各切欠
部17a.17bに夫々圧入される直方体の導電性
ゴムであり、これら各導電性ゴム20a.20bは
時計モジユールの組み立て状態において、回路基
板11のスイツチ端子18a.18b及び貫通孔1
9a.19bの一端開口部に圧接するように、切欠
部17a.17bよりも若干大きめに作られてい
る。
てた状態において、各切欠部17a.17bに対向
する回路基板11の表面には、電子回路の動作状
態を検査する検査用スイツチ端子18a.18bが
夫々配設されている。これら各スイツチ端子18
a.18bはプリント配線4を介してLSIパツケー
ジ3に電気的に接続されている。一方のスイツチ
端子18aには高電位の信号が与えられており、
また、他方のスイツチ端子18bには電子回路、
例えば、計時計数回路のリセツト端子に接続され
ている。また、ハウジング12の各切欠部17a.
17bに対向する回路基板11の表面には、スイ
ツチ端子18a.18bに夫々近接対向し、かつ回
路基板11の裏面側から表面側に貫通する貫通孔
19a.19bが夫々形成されている。なお、各貫
通孔19a.19bの径は、所定の大きさ、例え
ば、既存する導電性工具を挿入し得る大きさに形
成されている。一方、符号20a.20bは各切欠
部17a.17bに夫々圧入される直方体の導電性
ゴムであり、これら各導電性ゴム20a.20bは
時計モジユールの組み立て状態において、回路基
板11のスイツチ端子18a.18b及び貫通孔1
9a.19bの一端開口部に圧接するように、切欠
部17a.17bよりも若干大きめに作られてい
る。
なお、液晶パネル15には、その幅方向鍔部に
液晶パネル15の外部導出端子(図示せず)が設
けられており、この端子はインタコネクタ21a.
21bを介して回路基板11の表示用電極端子2
に電気的に接続されている。また、符号22は液
晶パネルの押え部材であつて、ネジ23を介して
ハウジング12に固定される。また、符号24は
電池を示し、回路基板11の電池挿入用切欠部2
5に装着される。さらに、符号26は回路基板1
1に取り付けられている水晶振動子である。
液晶パネル15の外部導出端子(図示せず)が設
けられており、この端子はインタコネクタ21a.
21bを介して回路基板11の表示用電極端子2
に電気的に接続されている。また、符号22は液
晶パネルの押え部材であつて、ネジ23を介して
ハウジング12に固定される。また、符号24は
電池を示し、回路基板11の電池挿入用切欠部2
5に装着される。さらに、符号26は回路基板1
1に取り付けられている水晶振動子である。
第3図はスイツチ端子18a、導電性ゴム20
a、貫通孔19a等によつて構成される一方のス
イツチ部の組立構造を示したものである。すなわ
ち、ハウジング12に対して回路基板11を導電
性ゴム20aを介して固定すると、導電性ゴム2
0aの弾性力を受け、スイツチ端子18a及び貫
通孔19aの一端開口部は、導電性ゴム20aに
圧接されるようになる。そして、導電性ゴム20
aは貫通孔19aの他端開口部(回路基板11の
裏面側)より露呈するようになる。なお、スイツ
チ端子18b、導電性ゴム20b、貫通孔19b
等によつて構成される他方のシステム部の組立構
造も前記と同様に組み立てられている。しかし
て、第4図に示すように形成された導電性工具A
を貫通孔19a.19bに挿入し、導電性ゴム20
a.20bを押し当てると、スイツチ端子18a.1
8bは導電性ゴム20a.20b及び導電性工具A
を介して電気的に導通される。これによつて電子
回路(計時計数回路)の動作状態を検査すること
ができるのである。
a、貫通孔19a等によつて構成される一方のス
イツチ部の組立構造を示したものである。すなわ
ち、ハウジング12に対して回路基板11を導電
性ゴム20aを介して固定すると、導電性ゴム2
0aの弾性力を受け、スイツチ端子18a及び貫
通孔19aの一端開口部は、導電性ゴム20aに
圧接されるようになる。そして、導電性ゴム20
aは貫通孔19aの他端開口部(回路基板11の
裏面側)より露呈するようになる。なお、スイツ
チ端子18b、導電性ゴム20b、貫通孔19b
等によつて構成される他方のシステム部の組立構
造も前記と同様に組み立てられている。しかし
て、第4図に示すように形成された導電性工具A
を貫通孔19a.19bに挿入し、導電性ゴム20
a.20bを押し当てると、スイツチ端子18a.1
8bは導電性ゴム20a.20b及び導電性工具A
を介して電気的に導通される。これによつて電子
回路(計時計数回路)の動作状態を検査すること
ができるのである。
このように、回路基板11の裏面側にプリント
配線が施されていないものを用いても、回路基板
11の裏面側から電子回路の動作状態を検査する
ことができる。また導電性ゴム20a.20bが液
晶パネル15を水平方向(第3図左側方向)に押
圧するように構成されているので、液晶パネル1
5を保持する作用も兼ね備えている。また、導電
性工具Aを導電性ゴム20a.20bに強く押し当
てることができるので、工具Aと導電性ゴム20
a.20bとの接続状態ないしはスイツチ端子18
a.18bの導通状態が確実となる。しかも、工具
Aを貫通孔19a.19bに挿入するようにしたか
ら、工具Aの位置合せが容易となり、検査作業を
能率的に行うことができる。
配線が施されていないものを用いても、回路基板
11の裏面側から電子回路の動作状態を検査する
ことができる。また導電性ゴム20a.20bが液
晶パネル15を水平方向(第3図左側方向)に押
圧するように構成されているので、液晶パネル1
5を保持する作用も兼ね備えている。また、導電
性工具Aを導電性ゴム20a.20bに強く押し当
てることができるので、工具Aと導電性ゴム20
a.20bとの接続状態ないしはスイツチ端子18
a.18bの導通状態が確実となる。しかも、工具
Aを貫通孔19a.19bに挿入するようにしたか
ら、工具Aの位置合せが容易となり、検査作業を
能率的に行うことができる。
なお、前記実施例においては、回路基板に貫通
孔を形成したが、回路基板の裏面側から表面側に
貫通するものであれば、ハウジング等に形成して
もよい。また、導電性ゴムをスイツチ端子及び貫
通孔の一端開口部に圧接するように構成したが、
回路基板の所定個所に導電性ゴムを接着等の手段
によつて固着してもよい。さらに、導電性ゴムが
回路基板の裏面側に露出するように、導電性ゴム
の一部を貫通孔に挿入した構成であつてもよい。
孔を形成したが、回路基板の裏面側から表面側に
貫通するものであれば、ハウジング等に形成して
もよい。また、導電性ゴムをスイツチ端子及び貫
通孔の一端開口部に圧接するように構成したが、
回路基板の所定個所に導電性ゴムを接着等の手段
によつて固着してもよい。さらに、導電性ゴムが
回路基板の裏面側に露出するように、導電性ゴム
の一部を貫通孔に挿入した構成であつてもよい。
また、前記実施例は、2つのスイツチ部を設け
たが、その数は特に限定されない。しかも、スイ
ツチの機能は何んであつてもよい。例えば、時計
の計時計数回路に初期時刻データを入力して所定
の検査を行うスイツチであつてもよく、また、回
路全てをリセツトさせるオールクリア端子であつ
てもよい。さらに表示装置を構成する全セグメン
トが点灯するか否かを検査するためのスイツチで
あつてもよい。
たが、その数は特に限定されない。しかも、スイ
ツチの機能は何んであつてもよい。例えば、時計
の計時計数回路に初期時刻データを入力して所定
の検査を行うスイツチであつてもよく、また、回
路全てをリセツトさせるオールクリア端子であつ
てもよい。さらに表示装置を構成する全セグメン
トが点灯するか否かを検査するためのスイツチで
あつてもよい。
しかも、前記実施例は電子腕時計に適用した場
合を示したが、この考案は小型電子計算機等の電
子機器にも勿論適用可能である。
合を示したが、この考案は小型電子計算機等の電
子機器にも勿論適用可能である。
この考案は、以上詳細に説明したように、表裏
両面のうち表面側にだけプリント配線が施されて
いる回路基板が枠体に組み立てられている状態で
あつても電子回路の動作状態を検査する作業を行
うことができるばかりか、その検査作業を容易か
つ確実に行うことができるものである。
両面のうち表面側にだけプリント配線が施されて
いる回路基板が枠体に組み立てられている状態で
あつても電子回路の動作状態を検査する作業を行
うことができるばかりか、その検査作業を容易か
つ確実に行うことができるものである。
第1図1.2は従来の回路基板を示し、第1図
1はその表面図、第1図2はその裏面図、第2図
ないし第4図はこの考案の一実施例を示し、第2
図は時計モジユールの分解斜視図、第3図、第4
図は時計モジユールが組み立てられた状態を示
し、第3図はスイツチ端子18a、貫通孔19a
を通る第2図Y方向の要部拡大断面図、第4図は
貫通孔19a.19bを通る第2図X方向の要部拡
大断面図である。 4……プリント配線、11……回路基板、18
a.18b……スイツチ端子、19a.19b……貫
通孔、20a.20b……導電性ゴム。
1はその表面図、第1図2はその裏面図、第2図
ないし第4図はこの考案の一実施例を示し、第2
図は時計モジユールの分解斜視図、第3図、第4
図は時計モジユールが組み立てられた状態を示
し、第3図はスイツチ端子18a、貫通孔19a
を通る第2図Y方向の要部拡大断面図、第4図は
貫通孔19a.19bを通る第2図X方向の要部拡
大断面図である。 4……プリント配線、11……回路基板、18
a.18b……スイツチ端子、19a.19b……貫
通孔、20a.20b……導電性ゴム。
Claims (1)
- 回路基板の上面側に形成されたスイツチ端子
と、前記回路基板の上面側に設けられて前記スイ
ツチ端子と電気的に接続される導電性ゴムと、前
記回路基板の下面側から前記導電性ゴムが露呈す
るように形成された貫通孔とを具備し、前記回路
基板の下面側から前記貫通孔を介して導電性部材
を前記導電性ゴムに当接させてスイツチングを行
なわせるようにしてなるスイツチ部の構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4432380U JPS6311665Y2 (ja) | 1980-04-01 | 1980-04-01 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4432380U JPS6311665Y2 (ja) | 1980-04-01 | 1980-04-01 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56146269U JPS56146269U (ja) | 1981-11-04 |
| JPS6311665Y2 true JPS6311665Y2 (ja) | 1988-04-05 |
Family
ID=29639587
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4432380U Expired JPS6311665Y2 (ja) | 1980-04-01 | 1980-04-01 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6311665Y2 (ja) |
-
1980
- 1980-04-01 JP JP4432380U patent/JPS6311665Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56146269U (ja) | 1981-11-04 |
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