JPS63124938A - 照明装置 - Google Patents
照明装置Info
- Publication number
- JPS63124938A JPS63124938A JP61269568A JP26956886A JPS63124938A JP S63124938 A JPS63124938 A JP S63124938A JP 61269568 A JP61269568 A JP 61269568A JP 26956886 A JP26956886 A JP 26956886A JP S63124938 A JPS63124938 A JP S63124938A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lamp
- brightness
- light
- lighting device
- photosensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、実装基板検査装置等において用いられる照明
装置に関する。
装置に関する。
(従来の技術)
プリント基板(実装基板)上に部品が正しくマウントさ
れているかどうかを検査する実装基板検査装置などのよ
うに、TVカメラによって被写体を硝酸し、これによっ
て得られた画像を処理して被写体の状態を検査するもの
においては、照明装置などによって被写体の明るさを一
定にする必要がある。
れているかどうかを検査する実装基板検査装置などのよ
うに、TVカメラによって被写体を硝酸し、これによっ
て得られた画像を処理して被写体の状態を検査するもの
においては、照明装置などによって被写体の明るさを一
定にする必要がある。
第3はこのような照明vFL置の一例を示す断面図であ
る。
る。
この図に示す装置は、TVカメラ1の下部側に配置され
るシェード2と、このシェード2内に設けられるランプ
3とを備えており、ランプ3を点灯して得られる光によ
って被写体4を照明する。
るシェード2と、このシェード2内に設けられるランプ
3とを備えており、ランプ3を点灯して得られる光によ
って被写体4を照明する。
(発明が解決しようとする問題点)
ところでこのような照明装置において用いられるランプ
3は、第4図に示すように、周囲渇瓜が変化したり、点
灯総時間が長くなったりしたときに、ランプ輝度が変わ
ってしまう。このため、実装基板検査装置などのように
、TVカメラ1によって得られた被写体の画像の明度レ
ベルまで判定するものにおいては、画像処理装置(図示
略)側で被写体4の画像を処理できなくなってしまうこ
とがある。
3は、第4図に示すように、周囲渇瓜が変化したり、点
灯総時間が長くなったりしたときに、ランプ輝度が変わ
ってしまう。このため、実装基板検査装置などのように
、TVカメラ1によって得られた被写体の画像の明度レ
ベルまで判定するものにおいては、画像処理装置(図示
略)側で被写体4の画像を処理できなくなってしまうこ
とがある。
そこで、第5図に示す如<TVカメラ1の下方に照度セ
ンサ5を設けてランプ3の明るさを測定し、この測定結
束に基づいてランプ3の輝度をコントO−ルすることも
考えられるが、このような方法では照度センサ5の受光
面にゴミやホコリが溜り易く、これらゴミ等によって照
度センサ5の受光用が落ちて測定誤差が生じ易い。
ンサ5を設けてランプ3の明るさを測定し、この測定結
束に基づいてランプ3の輝度をコントO−ルすることも
考えられるが、このような方法では照度センサ5の受光
面にゴミやホコリが溜り易く、これらゴミ等によって照
度センサ5の受光用が落ちて測定誤差が生じ易い。
そこでこのような不都合を除くために、第6図に示す如
くシェード2の内面に照度センサ5を設けることも考え
られるが、このような方法では、ランプ3からの直接光
だけでなく、被写体4からの反射光も照度セン(す5に
入射するので、被写体の色(反射率)が変わると、測定
値自体も変動してしまう。
くシェード2の内面に照度センサ5を設けることも考え
られるが、このような方法では、ランプ3からの直接光
だけでなく、被写体4からの反射光も照度セン(す5に
入射するので、被写体の色(反射率)が変わると、測定
値自体も変動してしまう。
またこのように、TVカメラ1の下方や、ランプ3の側
面に照度センサ5を配置する方法では、ランプ3を多灯
化したとき、各ランプ3の明るさを個々に測定すること
ができないので、各ランプ3を個別に制御することがで
きないという問題がある。
面に照度センサ5を配置する方法では、ランプ3を多灯
化したとき、各ランプ3の明るさを個々に測定すること
ができないので、各ランプ3を個別に制御することがで
きないという問題がある。
本発明は上記の問題点に鑑み、照度センサの受光面部分
にゴミやホコリが付着するのを防止することができると
ともに、被写体の色が変わった場合においても、測定誤
差が生じないようにすることができ、またランプを多灯
化した場合においても各ランプの明るさを個々にコント
ロールすることができる照明装置を提供することを目的
としている。
にゴミやホコリが付着するのを防止することができると
ともに、被写体の色が変わった場合においても、測定誤
差が生じないようにすることができ、またランプを多灯
化した場合においても各ランプの明るさを個々にコント
ロールすることができる照明装置を提供することを目的
としている。
(問題点を解決するための手段)
上記問題点を解決するため本発明による照明装置におい
ては、照明用の光を発するランプと、このランプの近傍
に配置される指向性を持った受光部と、この受光部によ
って得られた前記ランプの明るさに基づいて前記ランプ
の発光量を制御2IIするIII m1部とを備えたこ
とを特徴としている。
ては、照明用の光を発するランプと、このランプの近傍
に配置される指向性を持った受光部と、この受光部によ
って得られた前記ランプの明るさに基づいて前記ランプ
の発光量を制御2IIするIII m1部とを備えたこ
とを特徴としている。
(実施例)
第1図は本発明による照明装置の一実施例を示す概略構
成図である。
成図である。
この図に示す照明装置10は実装基板検査装置9に組み
込んで使用されるものであり、「Vカメラ11の下部に
設けられるカップ状のシ[−ド12と、このシェード1
2内に配置されるランプ13と、前記シェード12の側
面に形成された透孔23部分に取り付けられる受光部1
4と、この受光部14の出力に基づいて前記ランプ13
の明るさを制御するI11御部15とを備えている。
込んで使用されるものであり、「Vカメラ11の下部に
設けられるカップ状のシ[−ド12と、このシェード1
2内に配置されるランプ13と、前記シェード12の側
面に形成された透孔23部分に取り付けられる受光部1
4と、この受光部14の出力に基づいて前記ランプ13
の明るさを制御するI11御部15とを備えている。
この場合、受光部14は第2図に示す如く前記シェード
12の側部外面に取り付けられる通気孔付きのセンサハ
ウジング16と、受光面が前記ランプ13と対向するよ
うな向きで前記センサハウジング16内に配置されるフ
ォトセンサ17と、ランプ13の表面から発つせられた
光のみを前記フォトセンサ17の受光面に集光させるレ
ンズ18と、このレンズ18に入射する光から赤外光を
除去して前記フォトセンサ17の温度が上がらないよう
にする赤外線カットフィルタ19とを備えており、前記
ランプ13が点灯したとき、フォトはンサ17がこれを
検知して前記ランプ13の表面から発せられる光の串に
応じた値の電気信号(光間検知信号)を発生し、これを
制御部]5に供給する。
12の側部外面に取り付けられる通気孔付きのセンサハ
ウジング16と、受光面が前記ランプ13と対向するよ
うな向きで前記センサハウジング16内に配置されるフ
ォトセンサ17と、ランプ13の表面から発つせられた
光のみを前記フォトセンサ17の受光面に集光させるレ
ンズ18と、このレンズ18に入射する光から赤外光を
除去して前記フォトセンサ17の温度が上がらないよう
にする赤外線カットフィルタ19とを備えており、前記
ランプ13が点灯したとき、フォトはンサ17がこれを
検知して前記ランプ13の表面から発せられる光の串に
応じた値の電気信号(光間検知信号)を発生し、これを
制御部]5に供給する。
1制御部15は、前記光量検知信号の値と、光M設定器
20によって設定された値とを比較してその差を算出す
るとともに、この差を増幅して出力するアンプ21と、
このアンプ21から出力される差信号の値に応じて前記
ランプ13の明るさを制御するとともに、この差信号の
値があらかじめ決められた値を越えたときにランプ13
が劣下したことを示すランプ異常信号を発生する照明電
源回路22とを備えており、前記受光部14の出力に基
づいて前記ランプ13の発光量が一定となる・ようにラ
ンプ13の電圧(または、電流)を制御する。
20によって設定された値とを比較してその差を算出す
るとともに、この差を増幅して出力するアンプ21と、
このアンプ21から出力される差信号の値に応じて前記
ランプ13の明るさを制御するとともに、この差信号の
値があらかじめ決められた値を越えたときにランプ13
が劣下したことを示すランプ異常信号を発生する照明電
源回路22とを備えており、前記受光部14の出力に基
づいて前記ランプ13の発光量が一定となる・ようにラ
ンプ13の電圧(または、電流)を制御する。
このようにこの実施例においては、受光部14に指向性
を持たせてランプ13自体の輝石だけを測定するので、
実装基板検査装置のX−Yチーゾル部25にセットされ
る実装基板26の色が変わってもランプ13の発光量を
一定にすることができる。
を持たせてランプ13自体の輝石だけを測定するので、
実装基板検査装置のX−Yチーゾル部25にセットされ
る実装基板26の色が変わってもランプ13の発光量を
一定にすることができる。
また、センサハウジング16と、レンズ18とによって
フォトセンサ17を密閉しているので、フォトセンサ1
7の受光面にゴミや、ホコリ等が付着しないようにする
ことができる。
フォトセンサ17を密閉しているので、フォトセンサ1
7の受光面にゴミや、ホコリ等が付着しないようにする
ことができる。
また、ランプ13の輝度を直接、測定することができる
ので、ランプ13を多灯化しても各ランプ13の横に、
受光部14を各々配置することにより、各ランプ13の
明るさを個々に制御することができる。
ので、ランプ13を多灯化しても各ランプ13の横に、
受光部14を各々配置することにより、各ランプ13の
明るさを個々に制御することができる。
(発明の効果)
以上説明したように本発明によれば、受光素子の受光面
にゴミや、ホコリが付着するのを防止することができる
とともに、被写体の色が変った場合においても、ランプ
の明るさを常時一定にすることができる。また、ランプ
を多灯化した場合においても、各ランプの明るさを個々
にコントロールすることができる。
にゴミや、ホコリが付着するのを防止することができる
とともに、被写体の色が変った場合においても、ランプ
の明るさを常時一定にすることができる。また、ランプ
を多灯化した場合においても、各ランプの明るさを個々
にコントロールすることができる。
第1図は本発明による照明装置の一実施例を示す概略構
成図、第2図は同実施例の詳細な構成図、第3図は従来
の照明装置の一例を示す断面図、第4図はこのような照
明装置で用いられるランプの特性を示す模式図、第5図
は従来の照明装置を改良するために考えられた照明装置
の一例を示す断面図、第6図は従来の照明装置を改良す
るために考えられた照明装置の他の例を示す断面図であ
る。 12・・・シェード、13・・・ランプ、14・・・受
光部、15・・・制御部。 代理人 弁理士 岩自哲二(仙1名)第30 =二=====≧ 第4日 □ランプ周囲濃度 (℃)− 第5図 ピゴー5
成図、第2図は同実施例の詳細な構成図、第3図は従来
の照明装置の一例を示す断面図、第4図はこのような照
明装置で用いられるランプの特性を示す模式図、第5図
は従来の照明装置を改良するために考えられた照明装置
の一例を示す断面図、第6図は従来の照明装置を改良す
るために考えられた照明装置の他の例を示す断面図であ
る。 12・・・シェード、13・・・ランプ、14・・・受
光部、15・・・制御部。 代理人 弁理士 岩自哲二(仙1名)第30 =二=====≧ 第4日 □ランプ周囲濃度 (℃)− 第5図 ピゴー5
Claims (1)
- 照明用の光を発するランプと、このランプの近傍に配
置される指向性を持つた受光部と、この受光部によつて
得られた前記ランプの明るさに基づいて前記ランプの発
光量を制御する制御部とを備えたことを特徴とする照明
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61269568A JPH0827239B2 (ja) | 1986-11-14 | 1986-11-14 | 照明装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61269568A JPH0827239B2 (ja) | 1986-11-14 | 1986-11-14 | 照明装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63124938A true JPS63124938A (ja) | 1988-05-28 |
| JPH0827239B2 JPH0827239B2 (ja) | 1996-03-21 |
Family
ID=17474172
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61269568A Expired - Lifetime JPH0827239B2 (ja) | 1986-11-14 | 1986-11-14 | 照明装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0827239B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06138040A (ja) * | 1992-10-26 | 1994-05-20 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 検査装置における光源の照度制御装置 |
| JPH06334390A (ja) * | 1993-05-18 | 1994-12-02 | Sanyo Electric Co Ltd | 部品認識装置 |
| EP0854671A1 (en) * | 1997-01-20 | 1998-07-22 | Yamaha Hatsudoki Kabushiki Kaisha | A method for recognizing at least one component, component recogniton device and machine comprising the same |
| JPH11178894A (ja) * | 1997-12-19 | 1999-07-06 | Ckd Corp | 錠剤の外観検査方法と錠剤の外観検査装置とブリスタシート包装機 |
| JP2000065759A (ja) * | 1998-08-21 | 2000-03-03 | Trw Inc | 基板の欠陥を検出する装置及びその方法 |
| JP2006140519A (ja) * | 2005-12-28 | 2006-06-01 | Yamaha Motor Co Ltd | 実装機の部品認識装置 |
| JP2018138902A (ja) * | 2017-02-24 | 2018-09-06 | 株式会社キーエンス | 外観検査装置及び外観検査用照明装置 |
| CN113892027A (zh) * | 2019-03-14 | 2022-01-04 | 株式会社艾泰克系统 | 光照射系统 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4028728A (en) * | 1976-04-02 | 1977-06-07 | Western Electric Company, Inc. | Method of and video system for identifying different light-reflective surface areas on articles |
| JPS5431834A (en) * | 1977-08-16 | 1979-03-08 | Nippon Carbureter | Feeder of liquefied gas fuel of internal combustion engine |
| JPS56116654U (ja) * | 1980-02-06 | 1981-09-07 | ||
| JPS56116654A (en) * | 1980-02-20 | 1981-09-12 | Nec Corp | Manufacturing of lead frame for semiconductor device |
| JPS60195405A (ja) * | 1984-03-19 | 1985-10-03 | Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd | 認識装置 |
-
1986
- 1986-11-14 JP JP61269568A patent/JPH0827239B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
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| JPS60195405A (ja) * | 1984-03-19 | 1985-10-03 | Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd | 認識装置 |
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| JP2000065759A (ja) * | 1998-08-21 | 2000-03-03 | Trw Inc | 基板の欠陥を検出する装置及びその方法 |
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| CN113892027A (zh) * | 2019-03-14 | 2022-01-04 | 株式会社艾泰克系统 | 光照射系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0827239B2 (ja) | 1996-03-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |